一種光盤裝置及光盤制造方法及圖紙

一種用于通過把光點(diǎn)（Ｌｓ）聚焦于光盤（１）上的記錄道上從該記錄道還原信號(hào)（Ｓｄ）的光盤裝置（Ｐ７），所述裝置中包括： 一個(gè)用于產(chǎn)生一個(gè)引起還原信號(hào)發(fā)生抖動(dòng)的第一圖案（ＳＰ）的第一圖案發(fā)生器裝置（ＲＯＭ）； 一個(gè)用于把所述第一圖案（ＳＰ）寫到所述光盤（１）的第一記錄道（３３）的寫入裝置（１２２）。（*該技術(shù)在2016年保護(hù)過期，可自由使用*）

【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
【國(guó)外來華專利技術(shù)】
本專利技術(shù)涉及一種用于把信息記錄到光盤及從光盤中讀出的光盤裝置，特別是涉及一種能夠正確地訪問形成于所述光盤上的記錄道而不受光盤跟蹤系統(tǒng)電失真的影響的光盤裝置。
技術(shù)介紹
近年來，光盤作為一種大容量的存取數(shù)據(jù)的工具得到了蓬勃地發(fā)展。為了提高容量，現(xiàn)在已經(jīng)開發(fā)出許多提高記錄密度的方法。而為了達(dá)到高記錄密度，就要求減小記錄刻痕之間的干擾，提高信噪比，并且補(bǔ)償由于光盤介質(zhì)及光盤裝置不穩(wěn)定所引起的信號(hào)失真。特別地，這種不穩(wěn)定現(xiàn)象主要是由于光盤的物理變形及用于光盤裝置的電路性能所引起的。現(xiàn)在參照?qǐng)D44說明關(guān)于光盤物理變形的第一種情形。首選，當(dāng)光盤D放于光盤電機(jī)Md上時(shí)要求光盤D保持為平面狀，這樣光讀出裝置Os在存取操作中能夠保持其光軸垂直于盤D的記錄面。該光讀出裝置Os沿徑向在與光盤半徑其線的一條直線LR上移動(dòng)(如圖中箭頭Dr所示)以掃描記錄道。但是，放置于光盤電機(jī)Md上的光盤D的外沿會(huì)因其自重而下垂。換句話說，光盤D會(huì)形成一個(gè)圓錐狀而不是保持平面狀。嚴(yán)格地說，光盤D沿徑向及切線方向都會(huì)發(fā)生彎曲。因此，由于光盤D會(huì)發(fā)生這樣的形變，則光讀出裝置Os就不能在掃描記錄道時(shí)保持其光軸與光盤D的記錄面垂直。而且，光軸與盤面的交角隨著光讀出裝置Os相對(duì)于光盤D的不同位置(于直線LR上)而變化。在這種情況下，光軸Ax與光盤D記錄面之間所形成的角θr稱為“徑向傾角”。光軸Ax與光盤D記錄道的切線(或垂直于半徑的直線)LD之間所形成的角θt稱為“切向傾角”。一盤來說，光盤(如CD)的徑向傾角θr大小為-0.5°至0.5°之間。關(guān)于電路性能的第二種情形是這樣的，即使在聚焦和跟蹤信號(hào)表明激光點(diǎn)已正確聚焦及跟蹤時(shí)，激光束也不能正確地聚焦及跟蹤于目標(biāo)記錄道上。因此除了象徑向傾角或切向傾角這樣的物理形變外，還要補(bǔ)償這種聚焦誤差及跟蹤誤差。由于上述的不穩(wěn)定情況，當(dāng)讀出裝置不能使激光點(diǎn)聚焦在所對(duì)準(zhǔn)的記錄道上或跟蹤該記錄道。尤其是，激光點(diǎn)會(huì)聚焦于兩相鄰道之間，并以變化的交叉角掃描記錄道，而且只是掃描被對(duì)準(zhǔn)的記錄道上的一小部分。進(jìn)而，激光點(diǎn)不能夠跟蹤該記錄道，并可能跟丟了被對(duì)準(zhǔn)的記錄道。因此，信號(hào)的讀取面臨著串?dāng)_、振幅不足、噪音、波形干擾以及抖動(dòng)(與原始信號(hào)異步)等問題。這樣所讀出的記錄信號(hào)就會(huì)抖動(dòng)。當(dāng)該抖動(dòng)變大時(shí)，讀出信號(hào)的質(zhì)量就會(huì)大大下降。而且光讀出裝置的讀出錯(cuò)誤會(huì)隨之增加。在圖45中展示了由實(shí)驗(yàn)獲得的抖動(dòng)量(％)與徑向傾角(θr)之間的關(guān)系。在相對(duì)于零徑向傾斜位置+0.1至-0.1度的范圍內(nèi)，抖動(dòng)量有最小值。當(dāng)徑向傾角θr變大時(shí)，抖動(dòng)就會(huì)明顯地以增加的步調(diào)變大。換句話說，當(dāng)徑向傾角θr設(shè)為最小時(shí)抖動(dòng)也最小。因此，為了在這種不穩(wěn)定因素下從記錄道中讀出原始信號(hào)就要求根據(jù)物理的變動(dòng)(如徑向傾斜和切向傾斜)和電的方面的起伏(如聚焦誤差和跟蹤誤差)來調(diào)整光盤裝置。下面參考圖46說明一種傳統(tǒng)的用于補(bǔ)償徑向傾斜的光盤裝置。該傳統(tǒng)光盤裝置中包括一個(gè)光盤8101、一個(gè)光頭8102、一個(gè)傾斜傳感器8103、一個(gè)前置放大器8104、一個(gè)徑向傾斜控制器8105以及一個(gè)徑向傾斜調(diào)整器8106。在這種結(jié)構(gòu)的傳統(tǒng)光盤裝置的操作中，傾斜傳感器8103輸出一個(gè)具有對(duì)應(yīng)于光盤8101相對(duì)于光頭8102的傾斜量的電壓的傾斜信號(hào)Sr。前置放大器8104放大該傾斜信號(hào)Sr。徑向傾斜控制器8105驅(qū)動(dòng)徑向傾斜調(diào)整器8106使得該放大后的傾斜信號(hào)變?yōu)榱恪＿@樣，光頭8102就能夠保持在與光盤8101平行的位置，從而就能夠?qū)獗P進(jìn)行優(yōu)質(zhì)信號(hào)的存取。但是，在上述的構(gòu)造中，傾斜傳感器(8103)是一個(gè)基本的部件，它會(huì)使生產(chǎn)成本增高，而且由于它要放在光頭(8103)旁，這樣就防礙了光盤裝置的小型化。另外，傾斜傳感器應(yīng)準(zhǔn)確地平行于光頭，否則光頭與光盤之間的平行關(guān)系就不能得到正確地調(diào)節(jié)。專利技術(shù)公開本專利技術(shù)的目的之一在于提供一種能夠解決上述問題的光盤裝置。本專利技術(shù)是針對(duì)解決上述缺點(diǎn)而作出改進(jìn)，其基本目的是提供一種改進(jìn)的光盤裝置。為了實(shí)現(xiàn)上述目的，在此提供一種通過把光點(diǎn)聚焦于光盤的記錄道上而從該記錄道讀取信號(hào)的光盤裝置，該裝置中包括一個(gè)用于產(chǎn)生一個(gè)引起所述讀出信號(hào)抖動(dòng)的第一圖案的第一圖案發(fā)生器，以及一個(gè)用于把所述第一圖案寫入所述光盤的一個(gè)第一記錄道的寫入裝置。附圖簡(jiǎn)述在如下結(jié)合附圖的最佳實(shí)施例中，本專利技術(shù)的上述和其它目的和特點(diǎn)將變得清楚明白。在各附圖中，對(duì)相似的部分標(biāo)以相同的參考數(shù)字，其中附圖說明圖1A為簡(jiǎn)要表示根據(jù)本專利技術(shù)的一種帶有一個(gè)校正數(shù)據(jù)區(qū)的光盤的俯視圖；圖1B為簡(jiǎn)要表示圖1A所示的光盤的一種變型的俯視圖；圖1C為簡(jiǎn)要表示根據(jù)本專利技術(shù)的一種帶有兩個(gè)校正數(shù)據(jù)區(qū)的光盤的俯視圖；圖2示意性地表示一種可擦除(可重寫)的光盤的圖形；圖3為圖1A中用圓圈R圈起來的部分校正數(shù)據(jù)區(qū)的放大圖；圖4是示意性地表示記錄于圖1A、1B和1C中的校正數(shù)據(jù)區(qū)中的信號(hào)的第一個(gè)例子的視圖。圖5A是表示圖3中特定圖案信號(hào)的記錄刻痕分布情況的示意圖；圖5B是表示圖5A中刻痕分布的一個(gè)特例的示意圖；圖6表示圖4中特定圖案信號(hào)的一個(gè)扇區(qū)結(jié)構(gòu)；圖7是表示記錄刻痕的圖形以及從該記錄刻痕中讀出的信號(hào)之間關(guān)系的示意圖；圖8為表示本專利技術(shù)第一實(shí)施例中的光盤裝置的方框圖； 圖9為表示圖8所示的抖動(dòng)量測(cè)量器和鎖相環(huán)電路單元(PLL)的方框圖；圖10是表示圖8所示的徑向傾斜調(diào)整器的結(jié)構(gòu)的示意圖；圖11為表示帶有圖1A中的光盤的圖8中的光盤裝置的主要操作流程的流程圖；圖12是輔助說明根據(jù)本專利技術(shù)的徑向傾斜調(diào)整方法的圖形；圖13為表示圖11的塊#5及圖14的塊#15和#23的徑向傾斜估計(jì)流程的流程圖；圖14為表示帶有圖1C的光盤的圖8中光盤裝置的主要操作流程的流程圖；圖15是表示地址與最佳徑向傾斜調(diào)整位置之間的關(guān)系的視圖；圖16簡(jiǎn)要表示記錄于圖1A、1B和1C的校正數(shù)據(jù)區(qū)中的信號(hào)的第二個(gè)例子；圖17是表示圖16的11T信號(hào)一個(gè)扇區(qū)結(jié)構(gòu)的圖形；圖18為表示記錄于圖1A、1B和1C的校正數(shù)據(jù)區(qū)中的信號(hào)的第三個(gè)例子的示意圖；圖19是表示圖3中校正數(shù)據(jù)區(qū)的一種變型的圖形；圖20為表示記錄于圖19中校正數(shù)據(jù)區(qū)的信號(hào)的第一個(gè)例子的示意圖；圖21為表示記錄于圖19中校正數(shù)據(jù)區(qū)的信號(hào)的第二個(gè)例子的示意圖；圖22為表示記錄于圖19中校正數(shù)據(jù)區(qū)的信號(hào)的第三個(gè)例子的示意圖；圖23是表示圖3中校正數(shù)據(jù)區(qū)的另一種變型的示意圖；圖24為表示記錄于圖23中校正數(shù)據(jù)區(qū)的信號(hào)的第一個(gè)例子的示意圖；圖25是表示記錄于圖23中校正數(shù)據(jù)區(qū)的信號(hào)的第二個(gè)例子的示意圖；圖26是表示記錄于圖23中校正數(shù)據(jù)區(qū)的信號(hào)的第三個(gè)例子的示意圖；圖27是圖3中校正數(shù)據(jù)區(qū)的第三種變型的圖形； 圖28是表示記錄于圖27中校正數(shù)據(jù)區(qū)的信號(hào)的第一個(gè)例子的示意圖；圖29是表示記錄于圖27中校正數(shù)據(jù)區(qū)的信號(hào)的第二個(gè)例子的示意圖；圖30是表示記錄于圖27中校正數(shù)據(jù)區(qū)的信號(hào)的第三個(gè)例子的示意圖；圖31為表示本專利技術(shù)第二實(shí)施例中的一種光盤裝置的方框圖；圖32為表示圖31中切向傾斜調(diào)整器的結(jié)構(gòu)的示意圖；圖33輔助說明根據(jù)本專利技術(shù)的切向傾斜調(diào)整方法的圖形；圖34為表示本專利技術(shù)第三實(shí)施例中的一種光盤裝置的方框圖；圖35為表示本專利技術(shù)第四實(shí)施例中的一種光盤裝置的方框圖；圖36為表示圖37中光盤裝置所用的光盤的校正數(shù)據(jù)區(qū)的第一個(gè)例子的圖形；圖3本文檔來自技高網(wǎng)...

【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】

【技術(shù)特征摘要】
【國(guó)外來華專利技術(shù)】1.一種用于通過把光點(diǎn)(Ls)聚焦于光盤(1)上的記錄道上從該記錄道還原信號(hào)(Sd)的光盤裝置(P7)，所述裝置中包括一個(gè)用于產(chǎn)生一個(gè)引起還原信號(hào)發(fā)生抖動(dòng)的第一圖案(SP)的第一圖案發(fā)生器裝置(ROM)；一個(gè)用于把所述第一圖案(SP)寫到所述光盤(1)的第一記錄道(33)的寫入裝置(122)。2.如權(quán)利要求1所述的光盤裝置(P7)，其特征在于被寫入所述第一記錄道(33)中的所述第一圖案(SP)包括一個(gè)位于沿所述記錄道(33)延伸的準(zhǔn)直線上的大于所述光點(diǎn)(Ls)的第一刻痕(3204)；一個(gè)位于所述記錄道準(zhǔn)直線上的大于所述光點(diǎn)(Ls)的第二刻痕(3206)，其與所述第一刻痕(3204)相隔小于所述光點(diǎn)(Ls)大小的第一預(yù)定距離(3205)。3.如權(quán)利要求2所述的光盤裝置(P7)，其特征在于所述的第一和第二刻痕(3204和3206)交替地分布所述第一記錄道(33)上。4.如權(quán)利要求2所述的光盤裝置(P7)，其特征在于被寫入所述第一記錄道(33)中的第一圖案(SP)包括多個(gè)位于沿所述記錄道(33)延伸的準(zhǔn)直線上，小于所述光點(diǎn)(Ls)，并與其他任何第三刻痕(3202)相隔第二預(yù)定距離(3201和3203)的第三刻痕(3202)。5.如權(quán)利要求1所述的光盤裝置(P7)，其特征在于還包括一個(gè)用于產(chǎn)生第二預(yù)定圖案(SR)的第二圖案發(fā)生器裝置(ROM)，所述寫入裝置(122)把所述第二圖案(SR)寫入位于所述第一記錄道(33)兩側(cè)的第二和第三記錄道(32和34)中，用于通過從所述第二和第三記錄道(32和34)中還原的信號(hào)(Sd)在從所述第一記錄道(33)還原的信號(hào)(Sd)中引起串?dāng)_。6.如權(quán)利要求5所述的光盤裝置(P7)，其特征在于所述第二和第三道(32和34)中包括多個(gè)隨機(jī)分布的刻痕。7.如權(quán)利要求5所述的光盤裝置(P7)，其特征在于所述第一、第二和第三道(33、32和34)分別具有預(yù)定的第一、第二和第三道寬(TP)。8.如權(quán)利要求7所述的光盤裝置(P7)，其特征在于所述第一、第二和第三預(yù)定道寬(Tp)是相同的(T1)。9.如權(quán)利要求7所述的光盤裝置(P7)，其特征在于所述第一預(yù)定道寬(T2)小于所述第二和第三預(yù)定道寬(T1)。10.如權(quán)利要求7所述的光盤裝置(P7)，其特征在于所述第一預(yù)定道寬(T1)大于所述第二和第三預(yù)定道寬(T3)。11.如權(quán)利要求11所述的光盤裝置(P4)，其特征在于其中還包括一個(gè)用于把所述光點(diǎn)(Ls)打到所述記錄道上以從其上還原所述信號(hào)(Sd)的光讀出裝置(Os)；一個(gè)用于按預(yù)定的間距改變所述光讀出裝置(Os)的聚焦位置的跟蹤位置控制裝置(140)；一個(gè)用于在從所述第一記錄道(33)中還原的信號(hào)(Sd)中測(cè)量抖動(dòng)量的抖動(dòng)量測(cè)量裝置(41)；一個(gè)用于檢測(cè)使得所述測(cè)量到的抖動(dòng)量(Sj)為最小的最小抖動(dòng)跟蹤位置的最小抖動(dòng)位置檢測(cè)裝置(120)；一個(gè)用于控制所述跟蹤位置控制裝置(140)去把所述光讀出裝置(Os)設(shè)置于所述檢測(cè)到的最小抖動(dòng)跟蹤位置上的跟蹤控制裝置(130)。12.一種用于從記錄著使得還原信號(hào)(Sd)發(fā)生抖動(dòng)的預(yù)定圖案(SP)的光盤(1)的記錄道(2和33)中還原出信號(hào)(S)的光盤裝置(P1)，其中包括一個(gè)用于通過把光點(diǎn)(Ls)打到所述記錄道(2和33)上來從中還原所述信號(hào)(Sd)的光讀出裝置(Os)；一個(gè)用于在預(yù)定方向上把所述光讀出裝置傾斜預(yù)定的角度(Δt)的傾斜裝置(60)；一個(gè)用于從所述記錄道(33)中還原的信號(hào)(Sd)中測(cè)量抖動(dòng)量(Sj)的抖動(dòng)量測(cè)量裝置(41)；一個(gè)用于檢測(cè)使得所述測(cè)量到的抖動(dòng)量(Sj)為最小的最小抖動(dòng)角(θa)的最小抖動(dòng)角檢測(cè)裝置(50)；一個(gè)用于控制所述傾斜裝置(60)把所述光讀出裝置(Os)傾斜到所述檢測(cè)到的最小抖動(dòng)角(Qa)的傾斜控制裝置(54和67)。13.如權(quán)利要求12所述的光盤裝置(P1)，其特征在于所述預(yù)定方向?yàn)橐幌鄬?duì)于所述光盤(1)的徑向方向。14.如權(quán)利要求12所述的光盤裝置(P2)，其特征在于所述預(yù)定方向?yàn)橄鄬?duì)于所述光盤(1)半徑的切向方向。15.一種用于從記錄著使得還原信號(hào)(Sd)發(fā)生抖動(dòng)的預(yù)定圖案(SP)的光盤(1)的記錄道(2和33)中還原出信號(hào)(Sd)的光盤裝置(P3)，其中包括一個(gè)用于通過把光點(diǎn)(Ls)打到所述記錄道(2和33)上來從中還原所述信號(hào)(Sd)的光讀出裝置(Os)；一個(gè)用于按預(yù)定的間距改變所述光讀出裝置(Os)的聚焦位置的聚焦位置控制裝置(110)；一個(gè)用于在從所述第一記錄道(33)中還原的信號(hào)(Sd)中測(cè)量抖動(dòng)量(Sj)的抖動(dòng)量測(cè)量裝置(41)；一個(gè)用于檢測(cè)使得所述測(cè)量的抖動(dòng)量(Sj)為最小的最小抖動(dòng)聚焦位置的最小抖動(dòng)位置檢測(cè)裝置(90)；一個(gè)用于控制所述聚焦位置控制裝置(110)以將所述光讀出裝置(OS)設(shè)在所述檢測(cè)到的最小抖動(dòng)聚焦位置的聚焦控制裝置(100)。16.一種用于從記錄著使得還原信號(hào)(Sd)發(fā)生抖動(dòng)的預(yù)定圖案(SP)的光盤(1)的記錄道(2和33)中還原出信號(hào)(Sd)的光盤裝置(P4)，其中包括一個(gè)用于通過把光點(diǎn)(Ls)打到所述記錄道以從其中還原所述信號(hào)(Sd)的光讀出裝置(Os)；一個(gè)用于按預(yù)定的間距改變所述光讀出裝置(Os)的聚焦位置的跟蹤位置控制裝置；一個(gè)用于在從所述第一記錄道(33)還原的信號(hào)(Sd)中測(cè)量抖動(dòng)量(Sj)的抖動(dòng)量測(cè)量裝置(41)；一個(gè)用于檢測(cè)使得所述測(cè)量的抖動(dòng)量(Sj)為最小的最小抖動(dòng)跟蹤位置的最小抖動(dòng)位置檢測(cè)裝置(120)；一個(gè)用于控制所述跟蹤位置控制裝置(140)以把所述光讀出裝置(Os)設(shè)置于所述測(cè)到的最小抖動(dòng)跟蹤位置的跟蹤控制裝置(130)。17.一種通過把光點(diǎn)(Ls)聚焦于形成光盤(1)上的記錄道上，用于使信號(hào)(Sd)記錄于所述光盤(1)的記錄...

【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：島田敏幸，東海林衛(wèi)，石田隆，大原俊次，
申請(qǐng)(專利權(quán))人：松下電器產(chǎn)業(yè)株式會(huì)社，
類型：發(fā)明
國(guó)別省市：