硬盤預檢方法及系統技術方案

一種硬盤預檢方法及系統，其應用于電性連接多個硬盤的測試裝置，該測試裝置內安裝有測試軟件，本發明專利技術則通過該測試軟件選取待測硬盤進行預檢程序，該預檢程序包括檢查硬盤本身的自檢程序以及檢查硬盤中的系統的主引導記錄檢測，以在執行性能測試作業前，對各該硬盤預先進行檢測，從而提高工作效率。

【技術實現步驟摘要】

本專利技術涉及一種硬盤預檢方法及系統，更詳而言之，涉及一種應 用于電性連接多個硬盤的測試裝置中的硬盤檢測方法及系統。
技術介紹
隨著電子產業的蓬勃發展，使得電子產品得以普遍應用于普通大 眾之中，其中以個人電腦、筆記型電腦或服務器為代表的電子產品，因其強大的數據處理功能，從而得到越來越廣泛的應用。硬盤(Hard Disk)是電腦中一個非常重要的配件，其主要用來儲存電子產品的作業 系統程序數據，因此硬盤性能的優劣將直接決定著配置有該硬盤的電 子產品的品質。因此，生產廠商依據不同規格及產品訴求制造各類的 硬盤，都需要對其進行相關性能測試作業，以確保產品品質。一般，在現有的硬盤測試中，通常要求一次同時對數量比較多的 硬盤(例如幾十個SAS式硬盤或SATA式硬盤)進行性能測試。所述待 測硬盤均連接于裝載有測試軟件的測試裝置上，該測試裝置例如為服 務器。該性能測試作業具體包括例如壓力測試、傳輸速率檢測、溫度 檢測、輸入輸出(I/0)測試盡磁片表面掃搖等測試作業，以驗證所述待 測硬盤的性能，且將其中未通過測試的硬盤分揀出，以在后續檢查其 錯誤并進行維修。但是，在性能測試作業的過程中，除了因為硬盤本身品質的問題(例 如硬盤出現磁軌損壞)導致未能通過測試軟件的測試外，更可能因為硬 盤中作業系統的原因導致測試未通過，甚至因無法辨識硬盤而無法進 行測試；例如，由于有些硬盤的主引導記錄(MasterBootRecord,MBR) 中所記錄的作業系統(例如為微軟視窗Windows系統)與測試服務器所 運行的作業系統(例如為Linux系統)并不相同，導致測試軟件無法進行 測試。因此，在現有技術條件下，后續維修工程師須同時排除上述僅 因具有不允符的主引導記錄(MBR)的不相容錯誤，而無疑加重了工作負擔。而且，對于測試工作而言，尤其是針對某些需要相當長時間測試的項目，例如24/48小時壓力測試(24/48 hours stress)，若反復地進行測試將會嚴重地影響測試產出的進度。因此，如何克服上述
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的缺失，進而在硬盤執行測試前再 提供一種可減輕后續執行測試作業的作業負擔，簡化流程及節省作業 時間，并提高工作的效率，實為目前所亟待解決的課題。
技術實現思路
鑒于上述現有技術的缺失，本專利技術的一個目的在于提供一種硬盤 預檢方法及系統，對欲執行測試的硬盤預先執行檢測，由此提高工作 效率。本專利技術的另一目的在于提供一種可簡化流程及節省作業時間的硬 盤預檢方法及系統。為達上述目的及其他目的，本專利技術即提供一種硬盤預檢方法，其 應用于電性連接多個硬盤的測試裝置，其中，該測試裝置內安裝有測 試軟件，用以在執行性能測試作業前，對硬盤預先進行檢測。該硬盤預檢方法包括啟動測試軟件，以供選取所欲預檢的多個 硬盤；對所選取的所述硬盤進行自檢程序，以判斷所述硬盤是否正常； 以及偵測通過自檢的所述硬盤是否具有主引導記錄(Master Boot Record; MBR)，以刪除該主引導記錄，從而供后續執行性能測試作業。前述的硬盤預檢方法中，該自檢程序可包括硬盤驅動器重定、控 制器內部測試、硬盤驅動器測試與定位、及壞軌偵測的至少其中一個。 同時，該方法還可包括在對所選取的硬盤進行自檢程序，以判斷所述 硬盤是否正常的步驟后，更換未通過自檢的硬盤。此外，該方法也可 選擇包括將通過自檢程序且沒有該主引導記錄的硬盤直接執行性能測 試作業的步驟。本專利技術還揭露一種硬盤預檢系統，其可包括操作選 擇接口，其電性連接該測試裝置，用以供選取所欲預檢的多個硬盤； 自檢模塊，其電性連接該操作選擇接口及該測試裝置，以通過該測試 軟件來檢測所選取的硬盤是否正常；以及刪除模塊，其電性連接該操 作選擇接口及該測試裝置，用于通過該測試軟件來對該自檢模塊列為 正常的硬盤進行檢測，以刪除所述硬盤的主引導記錄(Master BootRecord; MBR)后，從而供后續執行性能測試作業。對應上述的硬盤預檢系統，該操作選擇接口包括操作接口，其 與該測試裝置、該自檢模塊以及該刪除模塊電性連接；以及顯示單元， 其與該操作接口電性連接，以供顯示預檢過程。其中，該操作接口為 鍵盤(Keyboard)、觸碰式面板(Touchpanel)、及鼠標的其中一個， 該顯示單元則可選自包括LCD顯示器、等離子顯示器、及CRT顯示 器的其中一個。對應上述的硬盤預檢系統，該顯示單元還可包括第一顯示視窗， 用以顯示所述硬盤在預先進行檢測前的選取清單；以及第二顯示視窗， 用以顯示在該自檢模塊列為正常的硬盤的選取清單。此外，該自檢模 塊所檢測的項目可包括硬盤驅動器重定、控制器內部測試、硬盤驅 動器測試與定位、及壞軌偵測的至少其中一個。而且，可利用格式化 處理來刪除該主引導記錄。本專利技術的硬盤預檢方法及其系統，主要在多硬盤執行常規的性能 測試之前，對所述待測硬盤提供預檢程序，包括對待測硬盤進行選擇 性自檢程序以及刪除主引導記錄(Master Boot Record; MBR)，以便在 后續進行硬盤性能測試作業，可避免如現有技術中沒有提供硬盤預檢 功能，而在執行測試前不能將一些不符合測試要求的硬盤予以分揀剔 除，導致在測試過程中沒辦法識別硬盤或者報錯而影響測試效果及工 作效率，由此提高工作效率。同時，由于應用本專利技術可避免現有技術 在測試時才發現硬盤出錯或無法辨識的問題，故無需在測試作業中檢 驗有問題的硬盤，相對可簡化流程及節省作業時間。附圖說明圖1顯示本專利技術的硬盤預檢系統一個實施例的基本架構示意圖。 圖2顯示本專利技術的硬盤預檢系統另一實施例的基本架構示意圖。 圖3顯示本專利技術的硬盤預檢方法一個實施例的流程示意圖。主要元件符號說明1至N 硬盤 10 測試裝置 20 操作選擇接口21 接口22 顯示單元221 第一顯示視窗222 第二顯示視窗 30 自檢模塊40 刪除模塊 S100~S107 步驟具體實施例方式以下通過特定的具體實施例說明本專利技術的實施方式，本領域的技 術人員可由本說明書所揭示的內容輕易地了解本專利技術的其他優點及功 效。請參閱圖1，其為本專利技術的硬盤預檢系統一個實施例的基本架構示 意圖，如圖1所示，本專利技術的硬盤預檢系統應用于電性連接多個硬盤1 至N的測試裝置10，其中，該測試裝置10內安裝有測試軟件(未圖 示)，用以在執行性能測試作業前，對硬盤預先進行檢測，該硬盤預 檢系統則包括電性連接該測試裝置10的操作選擇接口20、電性連接 該操作選擇接口 20的自檢模塊30以及刪除模塊40。應注意的是，在本實施例中，該測試裝置10以例如服務器為例進 行說明，但并不以此為限，也可為個人電腦或工作站等其他測試裝置， 該測試裝置IO可一次同時連接有數十甚至幾十個待測硬盤。該測試軟 件可執行的測試內容包括例如壓力測試、傳輸速率檢測、溫度檢測、 輸入輸出(i/o)測試等，但并不以此為限，因該部分技術為本領域的公 知技術且并非本案的訴求，故不在此另行贅述。以下將對照圖1對本專利技術的硬盤預檢系統揭示的各部分進行詳細 的說明。該操作選擇接口 20與該測試裝置10電性連接，用以供使用者選 取所欲預檢的多個硬盤1~N。該操作選擇接口 20可包括操作接口 21 以及顯示單元22，其中該操作接口 21與該測試裝置10、該自檢模塊 30、以及該刪除模塊40電性連接，該本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種硬盤預檢方法，應用于電性連接多個硬盤的測試裝置，其中，該測試裝置內安裝有測試軟件，用以在執行性能測試作業前，對各該硬盤預先進行檢測，該硬盤預檢方法包括：　啟動測試軟件，以供選取所欲預檢的多個硬盤；　對所選取的硬盤進行自檢程序，以判斷所述硬盤是否正常；以及　偵測通過自檢的所述硬盤是否具有主引導記錄，以刪除該主引導記錄，從而供后續執行性能測試作業。

【技術特征摘要】
1、一種硬盤預檢方法，應用于電性連接多個硬盤的測試裝置，其中，該測試裝置內安裝有測試軟件，用以在執行性能測試作業前，對各該硬盤預先進行檢測，該硬盤預檢方法包括啟動測試軟件，以供選取所欲預檢的多個硬盤；對所選取的硬盤進行自檢程序，以判斷所述硬盤是否正常；以及偵測通過自檢的所述硬盤是否具有主引導記錄，以刪除該主引導記錄，從而供后續執行性能測試作業。2、 根據權利要求1所述的硬盤預檢方法，其中，該自檢程序所檢 測的項目包括硬盤驅動器重定、控制器內部測試、硬盤驅動器測試與 定位、及壞軌偵測的至少其中一個。3、 根據權利要求1所述的硬盤預檢方法，還包括在對所選取的硬 盤進行自檢程序，以判斷所述硬盤是否正常的步驟后，更換或修復未 通過自檢的硬盤。4、 根據權利要求1所述的硬盤預檢方法，還包括將通過自檢程序 且沒有該主引導記錄的硬盤直接執行性能測試作業的步驟。5、 根據權利要求1所述的硬盤預檢方法，其中，以格式化處理來 刪除該主引導記錄。6、 一種硬盤預檢系統，應用于電性連接多個硬盤的測試裝置，其 中，該測試裝置內安裝有測試軟件，用以在執行性能測試作業前，對 所述硬盤預先進行檢測，該硬盤預檢系統包括操作選擇接口，其電性連接該測試裝置，以供選取所欲...

【專利技術屬性】
技術研發人員：羅梓桂，陳志豐，
申請(專利權)人：英業達股份有限公司，
類型：發明
國別省市：71[中國|臺灣]