本發明專利技術涉及光盤裝置，在記錄再生多層光盤時，不受聚焦的信號面以外的信號面反射的干擾光的影響，使控制誤差小、穩定地循軌成為可能。為此，本發明專利技術的光盤裝置的光分離元件具有包含從物鏡入射來的光的光軸位置（２０）的第１區域（２１ｃ～２４ｃ）和位于上述第１區域的周圍、離開上述光軸的位置上的第２區域（２１ａ～２４ａ、２１ｂ～２４ｂ）。光檢測器的檢測面（９ａ）具有檢測來自上述第１區域的入射光的第１檢測區域（９７、９８）和檢測來自上述第２區域的入射光的第２檢測區域（９５、９６）。用第２檢測區域檢測循軌誤差信號。當上述光盤具有多個信號面時，使被聚焦的信號面以外的信號面反射的光中的、從上述第１區域入射到上述光檢測器中的光不會入射到上述第２檢測區域中。
【技術實現步驟摘要】
【國外來華專利技術】
本專利技術涉及用于將信號記錄到光盤中、或者用于將記錄在光盤中的信 號再生的光盤裝置。
技術介紹
作為現有技術，例如日本特開2000-132848號公報(專利文獻l)中公 開了光盤裝置。下面用圖1、圖7和圖8根據該現有技術例，將其一部分修 改進行說明。圖1 (a)表示現有技術例的光盤裝置的主要部分的剖面結構。如圖1 (a)所示，現有技術的光盤裝置具有光檢測基板9和安裝在光檢測基板9 上的光源1。光源1為例如半導體激光器等。并且，該光盤裝置在來自光源 1的激光la的光路上具有校準透鏡4、偏光性全息照相基板2、 1/4波長板 3和物鏡5。 1/4波長板3設置在偏光性全息照相基板2的背面。圖1 (b)為用包含激光la的光路并且與圖1 (a)的截面垂直的面剖 切圖1 (a)的光檢測基板9時的結構的剖視圖。如圖1 (b)所示，光檢測 基板9上設置有具有與基板面傾斜約45°角的反射面的反射鏡10。從光源 1向反射鏡10的反射面照射的激光la被反射面反射向校準透鏡4，由校準 透鏡4變換成平行光。而且，從校準透鏡4射出的平行光透過偏光性全息 照相基板2被1/4波長板3從直線偏振光(S波或P波)變換成圓形偏振光， 被物鏡5聚光后匯聚在光盤6的信號面6a上。被信號面6a反射的光經過 物鏡5被1/4波長板3變換成直線偏振光(S波或P波)。該直線偏振光入 射到偏光性全息照相基板2的全息照相面2a上，該光被衍射，被分成以光 軸7為對稱軸的1次衍射光8和一l次衍射光8'。這些衍射光經過校準透 鏡4變成匯聚光，入射到光檢測基板9的檢測面9a上。另外，1/4波長板3 粘貼在偏光性全息照相基板2上，它們設置在與物鏡5相同的框體內，整 體地移動。檢測面9a位于與校準透鏡4的焦平面位置(即光源1的假想發 光點位置)大致相同的位置上。圖7 (a)和圖7 (b)表示現有技術的光盤裝置的全息照相面2a和檢 測面9a的結構。圖7 (a)為從光盤6—側看檢測面9a時的平面圖，同時 表示了檢測面9a上形成的光點。圖7 (b)為從光盤6 —側看全息照相面 2a時的平面圖。圖7 (b)中，全息照相面2a被在全息照相面2a與光軸7的交點20 上正交的2條直線(X軸、Y軸)分割成第1象限21、第2象限22、第3 象限23和第4象限24這4個象限。Y軸與光盤6的半徑方向平行，由光 盤6的信號面6a上形成的引導槽產生的衍射光80a、 80b沿Y軸方向移動 后重疊在全息照相面2a上的返回光80上。另外，圖7 (b)用虛線表示了 光點的外形。該光通過全息照相面2a時產生士l次衍射光，各衍射光分別 被分成4份，投射到檢測面9a上。如圖7 (a)所示，以在檢測面9a與光軸7的交點90上正交并且與X 軸、Y軸平行的2條直線作為x軸、y軸，在檢測面9a上y軸的正側配置 梯形循軌檢測單元91、 92、 93、 94。并且，在y軸的負側，交錯地配置有 沿y軸成梳齒形狀的聚焦檢測單元95、 96。圖7 (a)中，電氣導通的檢測 單元附加相同的參照符號，本說明書中以下的記載也同樣。這些檢測單元 的外形形狀呈關于y軸大致對稱的形狀。另外，從光源l的發光點射出的 光la在與圖7的圖面平行的面內與x軸平行前進，被反射鏡10反射向光 軸方向(通過點90與圖面正交的方向)。在圖7 (a)和圖7 (b)中，被全息照相面2a的第1象限21衍射的1 次衍射光匯聚在收斂于檢測單元91中的光點81S上，一l次衍射光匯聚在 橫跨檢測單元95與檢測單元96的邊界的光點81S'上。被第2象限22衍 射的1次衍射光匯聚在收斂于檢測單元92中的光點82S上，一l次衍射光 匯聚在橫跨檢測單元95與檢測單元96的邊界的光點82S'上。被第3象 限23衍射的1次衍射光匯聚在收斂于檢測單元93中的光點83S上，一l 次衍射光匯聚在橫跨檢測單元95與檢測單元96的邊界的光點83S'上。 被第4象限24衍射的1次衍射光匯聚在收斂于檢測單元94中的光點84S 上，一1次衍射光匯聚在橫跨檢測單元95與檢測單元96的邊界的光點84S' 上。另外，各聚光點中y軸方向上的焦線可以位于檢測面9a的任一側，但 x軸方向上的焦線對于1次衍射光來說位于從全息照相面2a —側看去的檢 測面9a的里側，對于一 1次衍射光來說位于從全息照相面2a —側看去的檢 測面9a的靠身邊一側。圖7(a)中使y軸方向上的焦線與x軸方向上的焦 線的位置一致(所謂沒有象散性聚光)。另外，上述日本特開2000-132848號公報中記載的裝置繼續將全息照 相面的每個象限分割成沿X軸的長方形形狀，以橫跨同一檢測單元95和檢 測單元96的邊界線的方式透過隔開一個的長方形區域的光匯聚在檢測面 9a的里面一側，使透過存在于其間的隔開一個的長方形區域的光匯聚在檢 測面9a的靠身邊一側(1次衍射光時)。但是，由于是否將全息照相面分割 成長方形區域是與本專利技術的特征無關的事情，因此下面為了簡單用沒有長 方形區域的形態進行說明。另外，雖然后述的實施形態也用沒有將全息照 相面分割成長方形區域的形態進行說明，但將全息照相面分割成長方形區 域的實施形態也屬于本專利技術的技術范圍。圖7 (a)和圖7 (b)所示的結構能夠用各檢測單元95、 96獲得以下6 個信號。假設Tl為檢測單元91獲得的信號、T2為檢測單元92獲得的信號、 T3為檢測單元93獲得的信號、T4為檢測單元94獲得的信號、Fl為檢測 單元95獲得的信號、F2為檢測單元96獲得的信號。利用這些檢測信號根據以下公式(1) (3)生成跟蹤光盤6的光軌 的循軌誤差信號TE、聚焦光盤6的信號面6a的聚焦誤差信號FE、再生光 盤6的信號面6a的再生信號RF。TE=T1+T2—T3—T4 …(1)FE=F1—F2 …(2)RF=F1+F2+T1+T2+T3+T4 …(3)這種現有技術的光盤裝置存在以下問題。圖8 (a)和圖8 (b)為表示現有技術例中相對于光盤6的信號面6a 匯聚光散焦時檢測面9a上的光點的樣子的圖。圖8 (a)為信號面6a離物 鏡5的距離比聚焦時近的情形的圖，圖8 (b)為信號面6a離物鏡5的距離 比聚焦時遠的情形的圖。另外，圖8 (a)和圖8 (b)只表示了檢測面9a 上y軸正方向上形成的1次衍射光的光點，一l次衍射光的光點為以圖7(a) 所示的點90為原點、與1次衍射光的光點大致點對稱的形狀。圖8 (a)中， 光點81S、 83S和84S的一部分分別入射到檢測單元92、 94和91中。圖8 (b)中光點81S、 82S和84S的一部分也分別入射到檢測單元94、 91和 93中。DVD-R和Blu-Ray光盤等已經被商品化，在2個信號面夾著粘接層 構成雙層結構的所謂雙層盤的情況下，當聚焦在一個信號面上時，假設粘 接層的厚度為d、折射率為n，則被另一個信號面反射回來的光僅在往返2d/n 散焦的狀態下回到檢測面9a上。因此，如圖8 (a)或圖8 (b)所示，記 錄再生對象信號面以外的信號面反射的光變成干擾光混入循軌誤差檢測器 中，妨礙正常的循軌控制，引起偏離光軌或光軌跳躍。
技術實現思路
本專利技術就是鑒于這樣的問題，目的是要提供一種在記錄再生多層光盤 時不受聚焦的信號面以外的信號面反射的干擾光的影響，使控制誤差小、 穩本文檔來自技高網...
【技術保護點】
一種光盤裝置，具有：光源、光分離元件、物鏡和光檢測器，其特征在于：上述物鏡使從上述光源射出的光匯聚在光盤的信號面上，并且使該信號面反射的光入射到上述光分離元件中； 上述光分離元件具有包含從上述物鏡入射來的光的光軸位置的第１區域和在上述第１區域的周圍位于離開上述光軸的位置上的第２區域，使入射到上述第１區域內的光和入射到上述第２區域內的光分離并入射到上述光檢測器中； 上述光檢測器的檢測面具有：檢測來自上述光分離元件的第１區域的入射光的第１檢測區域；和設置在離開上述第１檢測區域的位置上，并檢測來自上述光分離元件的第２區域的入射光的第２檢測區域，使用上述第２檢測區域的檢測信號檢測上述光盤的循軌誤差信號； 當上述光盤具有多個信號面時，被上述物鏡聚焦的信號面以外的信號面反射的光中的、從上述光分離元件的第１區域入射到上述光檢測器中的光不會入射到上述第２檢測區域中。
【技術特征摘要】
【國外來華專利技術】JP 2006-3-14 068777/20061. 一種光盤裝置，具有光源、光分離元件、物鏡和光檢測器，其特征在于上述物鏡使從上述光源射出的光匯聚在光盤的信號面上，并且使該信號面反射的光入射到上述光分離元件中；上述光分離元件具有包含從上述物鏡入射來的光的光軸位置的第1區域和在上述第1區域的周圍位于離開上述光軸的位置上的第2區域，使入射到上述第1區域內的光和入射到上述第2區域內的光分離并入射到上述光檢測器中；上述光檢測器的檢測面具有檢測來自上述光分離元件的第1區域的入射光的第1檢測區域；和設置在離開上述第1檢測區域的位置上，并檢測來自上述光分離元件的第2區域的入射光的第2檢測區域，使用上述第2檢測區域的檢測信號檢測上述光盤的循軌誤差信號；當上述光盤具有多個信號面時，被上述物鏡聚焦的信號面以外的信號面反射的光中的、從上述光分離元件的第1區域入射到上述光檢測器中的光不會入射到上述第2檢測區域中。2. 如權利要求1所述的光盤裝置，其特征在于上述光檢測器使用上 述第1檢測區域檢測到的信號，檢測上述光盤的聚焦誤差信號。3. 如權利要求1所述的光盤裝置，其特征在于如果將上述光盤中上 述物鏡聚焦的信號面與其他的信號面之間的距離表示為d，則以當上述d 在40um 70iim的范圍內時，使被上述其他的信號面反射的光中的、從 上述光分離元件的第1區域入射到上述光檢測器中的光不會入射到上述第 2檢測區域中的方式，形成上述光分離元件。4. 如權利要求3所述的光盤裝置，其特征在于以當上述d為55um 時，使被上述其他的信號面反射的光中的、從上述光分離元件的第1區域 入射到上述光檢測器中的光不會入射到上述第2檢測區域中的方式，形成 上述光分離元件。5. 如權利要求l所述的光盤裝置，其特征在于如果將上述光盤中上 述物鏡聚焦的信號面與其他的信號面之間的距離表示為d,則以當上述d在20um 30nm的范圍內時，使被上述其他的信號面反射的光中的、從 上述光分離元件的第1區域入射到上述光檢測器中的光不會入射到上述第 2檢測區域中的方式，形成上述光分離元件。6. 如權利要求5所述的光盤裝置，其特征在于以當上述d為2...
【專利技術屬性】
技術研發人員：西脅青兒，百尾和雄，麻田潤一，
申請(專利權)人：松下電器產業株式會社，
類型：發明
國別省市：JP[日本]
還沒有人留言評論。發表了對其他瀏覽者有用的留言會獲得科技券。