一種用于液晶屏導電粒子檢測的光學鏡制造技術

本實用新型專利技術涉及導電粒子檢測設備技術領域，提供一種用于液晶屏導電粒子檢測的光學鏡,包括：主體，所述主體包括第一管道與第二管道；集光組件，其設置在所述第一管道內，所述集光組件具有從下至上依次排列的光源、第一集光鏡、第二集光鏡以及第一膠合組；成像組件，其設置在所述第二管道內部，所述成像組件具有從下至上依次排列的帶通截止鏡、第一管鏡、第二膠合組、第二管鏡、分光鏡、微分干涉棱鏡以及物鏡；線陣相機，其設置在所述成像組件的底端。與現有技術相比，本實用新型專利技術的優點在于通過在第一管道內設置的集光組件，在第一管道內設置的成像組件以及自動對焦模塊實現了液晶屏的自動檢測功能，其檢測速度更快，檢測精準度更高。檢測精準度更高。檢測精準度更高。

【技術實現步驟摘要】
一種用于液晶屏導電粒子檢測的光學鏡


[0001]本技術涉及導電粒子檢測設備
，具體為一種用于液晶屏導電粒子檢測的光學鏡。

技術介紹

[0002]液晶面板是決定液晶顯示器亮度、對比度、色彩、可視角度的材料，液晶面板價格走勢直接影響到液晶顯示器的價格，液晶面板質量、技術的好壞關系到液晶顯示器整體性能的高低，隨著人們對液晶面板的需求日益提高，制造廠商對于液晶面板缺陷檢測的要求也越來越高，現有技術中對液晶面板生產過程中檢測工序往往是通過人工檢測，因此存在檢測工序工作量大，檢測結果無法保證等問題。

技術實現思路

[0003]本技術所要解決的技術問題是針對現有技術的現狀，而提供一種用于液晶屏導電粒子檢測的光學鏡。
[0004]本技術解決上述技術問題所采用的技術方案為：提出一種用于液晶屏導電粒子檢測的光學鏡包括：
[0005]主體，所述主體包括第一管道與第二管道，所述第一管道設置在所述第二管道的側邊，并且所述第一管道與第二管道的內部連通；
[0006]集光組件，其設置在所述第一管道內，所述集光組件具有從下至上依次排列的光源、第一集光鏡、第二集光鏡以及第一膠合組；
[0007]成像組件，其設置在所述第二管道內部，所述成像組件具有從下至上依次排列的帶通截止鏡、第一管鏡、第二膠合組、第二管鏡、分光鏡、微分干涉棱鏡以及物鏡；
[0008]線陣相機，其設置在所述成像組件的底端。
[0009]在上述的一種用于液晶屏導電粒子檢測的光學鏡，所述集光組件還包括集光鏡場鏡，所述集光鏡場鏡設置在所述第一管道內并處于所述第一膠合組的上方。
[0010]在上述的一種用于液晶屏導電粒子檢測的光學鏡，所述集光組件還包括光欄，所述光欄設置在所述集光鏡場鏡與所述第一膠合組之間。
[0011]在上述的一種用于液晶屏導電粒子檢測的光學鏡，還包括自動對焦模塊，所述自動對焦模塊設置在所述第二管道設有第一管道的對側。
[0012]與現有技術相比，本技術的優點在于通過在第一管道內設置的集光組件，在第一管道內設置的成像組件以及自動對焦模塊實現了液晶屏的自動檢測功能，其檢測速度更快，檢測精準度更高。
附圖說明
[0013]圖1是本技術一種用于液晶屏導電粒子檢測的光學鏡的剖視圖；
[0014]圖中，主體1、集光組件2、線陣相機4、自動對焦模塊5、第一管道6、第二管道7、光源
8、第一集光鏡9、第二集光鏡10、第一膠合組11、帶通截止鏡12、第一管鏡13、第二膠合組14、第二管鏡15、分光鏡16、微分干涉棱鏡17以及物鏡18、集光鏡場鏡19、光欄20。
具體實施方式
[0015]以下是本技術的具體實施例并結合附圖，對本技術的技術方案作進一步的描述，但本技術并不限于這些實施例。
[0016]如圖1所示，本技術的一種用于液晶屏導電粒子檢測的光學鏡，包括：主體1、集光組件2、成像組件、線陣相機4以及自動對焦模塊5。
[0017]主體1包括第一管道6與第二管道7，第一管道6設置在第二管道7的側邊，并且第一管道6與第二管道7的內部連通；集光組件2設置在第一管道6內，集光組件2具有從下至上依次排列的光源8、第一集光鏡9、第二集光鏡10以及第一膠合組11；成像組件設置在第二管道7的內部，成像組件具有從下至上依次排列的帶通截止鏡12、第一管鏡13、第二膠合組14、第二管鏡15、分光鏡16、微分干涉棱鏡17以及物鏡18；線陣相機4設置在成像組件的底端；自動對焦模塊5設置在第二管道7設有第一管道6的對側。
[0018]使用時，將物鏡1對準需要檢測的液晶屏，檢測開關啟動后自動對焦模塊5自動的調整物鏡18與被檢測的液晶屏之間的距離，從而達到自動對焦的目的。焦距調整好了之后，光源8發射平行激光束穿過第一集光鏡9、第二集光鏡10以及第一膠合組11經反射后到達并照亮檢測區域，液晶面板檢測區域的照亮光束依次穿過微分干涉棱鏡17、分光鏡16、第二管鏡15、第二膠合組14、第一管鏡13以及帶通截止鏡12之后到達線陣相機4，并顯現出檢測結果。
[0019]作為本技術的一種優選方案，集光組件2還包括集光鏡場鏡19，集光鏡場鏡19設置在第一管道6內并且處于第一膠合組11的上方，集光鏡場鏡19能夠起到集中光源8發射出來的光束的作用。
[0020]作為本技術的又一種優選方案，集光組件2還包括光欄20，光欄20設置在集光鏡場鏡19與第一膠合組11之間，光欄20能夠起到改變光源8發射出來的光束的亮度的作用。
[0021]需要說明，本技術實施例中所有方向性指示(諸如上、下、左、右、前、后
……
)僅用于解釋在某一特定姿態(如附圖所示)下各部件之間的相對位置關系、運動情況等，如果該特定姿態發生改變時，則該方向性指示也相應地隨之改變。
[0022]另外，在本技術中如涉及“第一”、“第二”、“一”等的描述僅用于描述目的，而不能理解為指示或暗示其相對重要性或者隱含指明所指示的技術特征的數量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隱含地包括至少一個該特征。在本技術的描述中，“多個”的含義是至少兩個，例如兩個，三個等，除非另有明確具體的限定。
[0023]在本技術中，除非另有明確的規定和限定，術語“連接”、“固定”等應做廣義理解，例如，“固定”可以是固定連接，也可以是可拆卸連接，或成一體；可以是機械連接，也可以是電連接；可以是直接相連，也可以通過中間媒介間接相連，可以是兩個元件內部的連通或兩個元件的相互作用關系，除非另有明確的限定。對于本領域的普通技術人員而言，可以根據具體情況理解上述術語在本技術中的具體含義。
[0024]另外，本技術各個實施例之間的技術方案可以相互結合，但是必須是以本領域普通技術人員能夠實現為基礎，當技術方案的結合出現相互矛盾或無法實現時應當認為
這種技術方案的結合不存在，也不在本技術要求的保護范圍之內。
[0025]本文中所描述的具體實施例僅僅是對本技術精神作舉例說明。本技術所屬
的技術人員可以對所描述的具體實施例做各種各樣的修改或補充或采用類似的方式替代，但并不會偏離本技術的精神所定義的范圍。
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【技術保護點】

【技術特征摘要】
1.一種用于液晶屏導電粒子檢測的光學鏡，其特征在于,包括：主體，所述主體包括第一管道與第二管道，所述第一管道設置在所述第二管道的側邊，并且所述第一管道與第二管道的內部連通；集光組件，其設置在所述第一管道內，所述集光組件具有從下至上依次排列的光源、第一集光鏡、第二集光鏡以及第一膠合組；成像組件，其設置在所述第二管道內部，所述成像組件具有從下至上依次排列的帶通截止鏡、第一管鏡、第二膠合組、第二管鏡、分光鏡、微分干涉棱鏡以及物鏡；線陣相機，其設置在所述成像組件的底端...

【專利技術屬性】
技術研發人員：譚凡，鄭興好，
申請(專利權)人：寧波圖銳自動化設備有限公司，
類型：新型
國別省市：