【技術實現步驟摘要】
【國外來華專利技術】
本專利技術涉及通過使用由火焰打孔方法制成的孔隙掩模來制造電子 電路元件、制造那些掩模的方法、以及如此制成的孔隙掩模。
技術介紹
電子電路包括電子電路元件諸如電阻器、電容器、感應器、二極 管、晶體管、以及其它有源和無源元件的組合,這些元件通過導電連 接聯系在一起。薄膜集成電路包括若干層諸如金屬層、介質層、以及 典型地由半導體材料諸如硅形成的活性層。典型地,薄膜電路元件和 薄膜集成電路通過如下方式產生沉積各種材料層,然后使用加成或 減成法中的光刻法來圖案化這些層,所述加成或減成法可包括化學蝕 刻步驟以限定各種電路元件。另外,孔隙掩模已用來沉積成圖案層, 而無需使用蝕刻步驟或任何光刻法。美國專利No. 6,821,348 B2公開了涉及孔隙掩模和相關系統的某 些方法和裝置,因而以引用的方式并入本文。美國專利申請公布No. 2004/0070100 Al禾P 2005/0073070 Al公開了涉及薄膜的火焰打孔的某些方法和裝置,因而以引用的方式并 入本文。美國專利申請序列號11/179,418公開了涉及巻狀物品孔隙掩模 和相關的滾筒式或連續運動系統的某些方法和裝置,因而以引用的方 式并入本文。
技術實現思路
簡而言之,本專利技術提供一種孔隙掩模,包括細長的柔性薄膜幅 材;以及至少一個在薄膜中形成的沉積掩模圖案,其中沉積掩模圖案 限定貫穿薄膜延伸的沉積孔隙,所述孔隙限定一個或多個電子電路元 件的至少一部分,并且其中沉積孔隙由邊緣界定,所述邊緣為掩模的 一部分,其具有大于掩模的平均厚度的厚度??紫堆谀?砂ǘ鄠€獨 立的沉積掩模圖案,所述圖案可基本上相同或不同。該薄膜幅 ...
【技術保護點】
一種孔隙掩模,包括: 細長的柔性薄膜幅材;以及 至少一個在所述薄膜中形成的沉積掩模圖案, 其中所述沉積掩模圖案限定貫穿薄膜延伸的沉積孔隙,所述孔隙限定一個或多個電子電路元件的至少一部分,并且 其中沉積孔隙由邊緣界定,所述邊緣為所述掩模的一部分,所述邊緣具有大于所述掩模的平均厚度的厚度。
【技術特征摘要】
【國外來華專利技術】US 2005-12-22 11/315,1111.一種孔隙掩模,包括細長的柔性薄膜幅材;以及至少一個在所述薄膜中形成的沉積掩模圖案,其中所述沉積掩模圖案限定貫穿薄膜延伸的沉積孔隙,所述孔隙限定一個或多個電子電路元件的至少一部分,并且其中沉積孔隙由邊緣界定,所述邊緣為所述掩模的一部分,所述邊緣具有大于所述掩模的平均厚度的厚度。2. 根據權利要求1所述的孔隙掩模,其中所述孔隙掩模包括多 個獨立的沉積掩模圖案。3. 根據權利要求2所述的孔隙掩模,其中每個沉積掩模圖案基 本上相同。4. 根據權利要求1所述的孔隙掩模,其中所述薄膜幅材為足夠 柔性的,使其可被巻繞以形成巻材。5. 根據權利要求1所述的孔隙掩模,其中所述薄膜幅材為可拉 伸的,使其可在至少幅材縱向方向上被拉伸。6. 根據權利要求1所述的孔隙掩模,其中所述薄膜幅材在至少幅材橫向方向上為可拉伸的。7. 根據權利要求1所述的孔隙掩模,其中所述薄膜幅材包含聚合物薄膜。8. 根據權利要求1所述的孔隙掩模,其中所述薄膜幅材包含聚 酰亞胺薄膜。9. 根據權利要求1所述的孔隙掩模,其中所述薄膜幅材包含聚 酯薄膜。10. 根據權利要求1所述的孔隙掩模,其中至少一個沉積孔隙具 有小于約1000微米的最小直徑。11. 根據權利要求1所述的孔隙掩模,其中至少一個沉積孔隙具有小于約250微米的最小直徑。12. —種制造孔隙掩模的方法,包括 細長的柔性薄膜幅材;以及 在所述薄膜中形成的沉積掩模圖案,其中所述沉積掩模圖案限定貫穿所述薄膜延伸的沉積孔隙,所述 孔隙限定一個或多個電子電路元件的至少一部分; 所述方法包括以下步驟提供支承表面,其中所述支承表面包括多個降低部分; 提供噴焰器,其中所述噴焰器支承火焰,并且其中所述火焰包括與所述噴焰器相對的焰舌;使細長的柔性薄膜幅材的至少一部分頂靠接觸所述支承表面;以及用源自噴焰器的火焰加熱所述薄膜,以在所述薄膜的覆蓋所述多 個降低部分的區域中產生孔隙。13. 根據權利要求12所述的方法,其中所述支承表面被冷卻至 低于120下(29°(3)的溫度;并且所述方法另外包括以下步驟使所述薄膜的所述第一側面接觸受熱表面,其中所述受熱表面的 溫度大于165。F(74。C);并且隨后在用源自噴焰器的火焰加熱所述薄膜以在所述薄膜的覆蓋所述 多個降低部分的區域中產生孔隙之前,將所述受熱表面從所述薄膜的所述第一側面移除。14. 根據權利要求12所述的方法,另外包括以下步驟 將所述噴焰器定位成使得所述火焰的未侵入焰舌和所述噴焰器之間的所述距離比所述薄膜和所述噴焰器之間的所述距離大至少三分 之一。15. 根據權利要求14所述的方法,其中所述定位步驟包括將所述噴焰器定位成使得所述火焰的所述未侵入焰舌和所述噴焰器之間的所述距離比所述薄膜和所述噴焰器之間的所述距離大至少2毫米。16. 根據權利要求12所述的方法,另外包括以下步驟將所述噴焰器定位成使得在所述噴焰器和所述軋輥之間測得的所述角度小于45° ,其中所述角度的頂點定位在所述背襯輥的軸線 處。17. 根據權利要求12所述的方法,其中所述孔隙掩模包括多個 獨立的沉積掩模圖案。18. 根據權利要求12所述的方法,其中所述薄膜幅材為足夠柔 性的,使得其可被巻繞以形成巻材。19. 根據權利要求12所述的方法,其中所述薄膜幅材包含聚合 物薄膜。20. 根據權利要求12所述的方法,其中所述薄膜幅材包含聚酰 亞胺薄膜。21. 根據權利要求12所述的方法,其中所述薄膜幅材包含聚酯 薄膜。22. —種制造電子電路元件的方法,包括以下步驟 提供支承表面,其中所述支承表面包括多個降低部分; 提供噴焰器,其中所述噴焰器支承火焰,并且其中所述火焰包括與所述噴焰器相對的焰舌;使細長的柔性薄膜幅材的至少一部分頂靠接觸所述支承表面; 用源自噴焰器的火焰加熱所述薄膜以在所述薄膜的覆蓋所述多個降低部分的區域中產生孔隙,從而制成孔隙掩模; 提供第一薄膜幅材;將所述孔隙掩模和第一薄膜幅材定位成彼此鄰近;以及 將沉積材料通過所述孔隙掩模中的所述孔隙沉積在所述第一薄 膜幅材上,以產生一個或多個電子電路元件的至少一部分。23. 根據權利要求22所述的方法,另外包括通過排除所述孔隙 掩模的再使用的方法來回收累積在所述孔隙掩模上的沉積材料的步 驟。24. 根據權利要求22所述的方法,另外包括回收累積在所述孔 隙掩模上的沉積材料的步驟,其中回收所述沉積材料的方法包括選自 由下列組成的組的步驟局部或完全地燃燒所述孔隙掩模、局部或完 全地熔融所述孔隙掩模、局部或完全地將所述孔隙掩模分割成片件、 以及局部或完全地溶解所述孔隙掩模。25. 根據權利要求22所述的方法,其中所述支承表面被冷卻至 低于120下(29。C)的溫度;并且另外包括以下步驟使所述薄膜的所述第一側面接觸受熱表面,其中所述受熱表面的 溫度大于165。F(74。C);并且隨后在用源自噴焰器的火焰加熱所述薄膜以在所述薄膜的覆蓋所述 多個降低部分的區域中產生孔隙之前,將所述受熱表面從所述薄膜的 所述第一側面移除。26. 根據權利要求22所述的方法,另外包括以下步驟 將所述噴焰器定位成使得所述火焰的未侵入焰舌和所述噴焰器之間的距離比所述薄膜和所述噴焰器之間的距離大至少三分之一。27. 根據權利要求26所述的方法,其中所述定位步驟包括定位噴焰器使得所述火焰的所述未侵入焰舌和所述噴焰器之間的距離比所 述薄膜和所述噴焰器之間的距離大至少2毫米。28. 根據權利要求22所述的方法,另外包括以下步驟 將所述噴焰器定位成使得在所述噴焰器和所述軋輥之間測得的角度小于45° ,其中所述角度的頂點定位在所述背襯輥的軸線處。29. 根據權利要求22所述的方法,其中所述孔隙掩模包括多個 獨...
【專利技術屬性】
技術研發人員:喬納森A尼科爾斯,杰弗里H托奇,邁克爾W本奇,馬克A斯特羅貝爾,喬爾A熱舍爾,唐納德J穆克盧爾,
申請(專利權)人:三M創新有限公司,
類型:發明
國別省市:US[美國]
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