本實用新型專利技術公開了一種偏光片的缺陷檢測裝置，屬于偏光片缺陷檢測技術領域，包括底板，所述底板頂部的一側安裝有第一電磁滑軌，所述第一電磁滑軌的一端活動連接有滑動塊，所述滑動塊的一側安裝有第二電磁滑軌，所述第二電磁滑軌的一側活動連接有燈罩，所述燈罩靠近滑動塊的一側設置有與第二電磁滑軌相匹配的滑塊。本實用新型專利技術通過將待測物件插在第一卡件內，然后將墨色IN面板插在第二卡件內，然后燈罩內部的燈泡散射出的光線直接照射在待測物件表面，經過待測物件投射至墨色IN面板上，利用墨色IN面板將反射的光線強度放大，并利用標尺和標線使肉眼的觀測更為清晰，從而可準確觀測到光線分散的范圍，在一定程度上降低了觀測的難度，提高了準確性。提高了準確性。提高了準確性。
【技術實現步驟摘要】
一種偏光片的缺陷檢測裝置
[0001]本技術涉及偏光片缺陷檢測
，具體為一種偏光片的缺陷檢測裝置。
技術介紹
[0002]偏光片的全稱是偏振光片，液晶顯示器的成像必須依靠偏振光，所有的液晶都有前后兩片偏振光片緊貼在液晶玻璃，組成總厚度1mm左右的液晶片，偏振光片之所以叫偏光片，是因為普通液晶顯示器面對眼睛的那張偏光片是磨砂處理的，以消散表面反光，并且把光散射以增加液晶顯示器的視角，對于投影機來說，任何散射都會造成光線的損失，投影機用的液晶片理想狀態應該是0度視角，即偏離垂直方向看液晶片，就沒有光線了。
[0003]在對偏光片進行缺陷檢測時，由于偏光片具有一定的透光性，并對光線起到一定的分散性，若直接觀測，無法準確觀測到光線分散的范圍，在一定程度上增加了觀測的難度，降低了準確性，且現有的偏光片進行缺陷檢測時，光線在移動使容易受摩擦力影響，從而使光線晃動幅度較大，需要靜止一段時間，在一定程度上降低了檢測的穩定性和檢測效率。
技術實現思路
[0004]本技術的目的在于：為了解決由于偏光片具有一定的透光性，并對光線起到一定的分散性，若直接觀測，無法準確觀測到光線分散的范圍，在一定程度上增加了觀測的難度，降低了準確性，且現有的偏光片進行缺陷檢測時，光線在移動使容易受摩擦力影響，從而使光線晃動幅度較大，需要靜止一段時間，在一定程度上降低了檢測的穩定性和檢測效率的問題，提供一種偏光片的缺陷檢測裝置。
[0005]為實現上述目的，本技術提供如下技術方案：一種偏光片的缺陷檢測裝置，包括底板，所述底板頂部的一側安裝有第一電磁滑軌，所述第一電磁滑軌的一端活動連接有滑動塊，所述滑動塊的一側安裝有第二電磁滑軌，所述第二電磁滑軌的一側活動連接有燈罩，所述燈罩靠近滑動塊的一側設置有與第二電磁滑軌相匹配的滑塊，所述滑塊的底部設置有滾球，所述底板的兩端皆設置有滑槽，所述底板頂部的中間位置處活動連接有第一U型架，所述底板靠近第一電磁滑軌一側的兩端皆設置有第一卡件，兩組所述第一卡件相鄰的一端卡設有待測物件，所述底板的頂部遠離第一電磁滑軌的一側設置有第二U型架，所述第二U型架靠近第一U型架一側的兩端皆設置有第二卡件，兩組所述第二卡件相鄰的一端卡設有墨色IN面板，所述墨色IN面板靠近第一U型架一側的頂部和一端皆設置有標尺。
[0006]優選地，所述墨色IN面板靠近第一U型架的一側均勻設置有多組標線。
[0007]優選地，所述第一U型架內側兩端的底部皆設置有與滑槽相匹配的移動塊，所述第一U型架通過滑槽和移動塊的相互配合與底板活動連接。
[0008]優選地，所述標線包括縱線和橫線，且縱線和橫線皆縱橫交錯呈網狀結構。
[0009]優選地，所述移動塊靠近滑槽的一側皆設置有阻尼墊，且阻尼墊的一端皆均勻設置有多組摩擦紋路。
[0010]優選地，所述燈罩通過滑塊和滾球的相互配合與第二電磁滑軌滑動連接，所述滾球的底部和頂部分別與滑塊的底部和第二電磁滑軌內部的底端滾動連接。
[0011]與現有技術相比，本技術的有益效果是：
[0012]1、本技術通過設置的第一U型架、第一卡件、待測物件、移動塊、滑槽、第二U型架、第二卡件、墨色IN面板和標尺，將待測物件插在第一卡件內，然后將墨色IN面板插在第二卡件內，然后燈罩內部的燈泡散射出的光線直接照射在待測物件表面，經過待測物件投射至墨色IN面板上，利用墨色 IN面板將反射的光線強度放大，并利用標尺和標線使肉眼的觀測更為清晰，從而可準確觀測到光線分散的范圍，在一定程度上降低了觀測的難度，提高了準確性；
[0013]2、本技術通過設置的滾球、第一電磁滑軌、滑動塊、第二電磁滑軌和滑塊，利用滾球降低了滑塊與第二電磁滑軌內部的接觸面積，同時降低了滑塊移動時產生的摩擦力和阻力，從而使燈罩的前后移動更為省力，降低了燈罩受摩擦力影響產生的晃動幅度，從而使光線的晃動幅度更小，在一定程度上提高了檢測的穩定性和檢測效率。
附圖說明
[0014]圖1為本技術的結構示意圖；
[0015]圖2為本技術的局部立體圖；
[0016]圖3為本技術的局部結構示意圖；
[0017]圖4為本技術圖1中A的放大圖。
[0018]圖中：1、底板；2、第一電磁滑軌；3、滑動塊；4、第二電磁滑軌；5、滑塊；6、滾球；7、燈罩；8、第一U型架；9、第一卡件；10、待測物件； 11、移動塊；12、滑槽；13、第二U型架；14、第二卡件；15、墨色IN面板； 16、標尺。
具體實施方式
[0019]下面將結合本技術實施例中的附圖，對本技術實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本技術一部分實施例，而不是全部的實施例。基于本技術中的實施例，本領域普通技術人員在沒有做出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本技術保護的范圍。
[0020]在本技術的描述中，需要說明的是，術語“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“豎直”、“水平”、“內”、“外”等指示的方位或位置關系為基于附圖所示的方位或位置關系，僅是為了便于描述本技術和簡化描述，而不是指示或暗示所指的裝置或元件必須具有特定的方位、以特定的方位構造和操作，因此不能理解為對本技術的限制。此外，術語“第一”、“第二”、“第三”僅用于描述目的，而不能理解為指示或暗示相對重要性。在本技術的描述中，需要說明的是，除非另有明確的規定和限定，術語“安裝”、“相連”、“連接”、“設置”應做廣義理解，例如，可以是固定連接，也可以是可拆卸連接，或一體地連接；可以是機械連接，也可以是電連接；可以是直接相連，也可以通過中間媒介間接相連，可以是兩個元件內部的連通。對于本領域的普通技術人員而言，可以具體情況理解上述術語在本技術中的具體含義。下面根據本技術的整體結構，對其實施例進行說明。
[0021]本技術中提到的第一電磁滑軌和第二電磁滑軌(型號為 ECP
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RN
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SI
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104W
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09ZH
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1600L
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5B)均可在市場或者私人訂購所得。
[0022]請參閱圖1
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4，一種偏光片的缺陷檢測裝置，包括底板1，底板1頂部的一側安裝有第一電磁滑軌2，第一電磁滑軌2的一端活動連接有滑動塊3，滑動塊3的一側安裝有第二電磁滑軌4，第二電磁滑軌4的一側活動連接有燈罩 7，燈罩7靠近滑動塊3的一側設置有與第二電磁滑軌4相匹配的滑塊5，滑塊5的底部設置有滾球6，底板1的兩端皆設置有滑槽12，底板1頂部的中間位置處活動連接有第一U型架8，底板1靠近第一電磁滑軌2一側的兩端皆設置有第一卡件9，兩組第一卡件9相鄰的一端卡設有待測物件10，底板1 的頂部遠離第一電磁滑軌2的一側設置有第二U型架13，第二U型架13靠近第一U型架8一側的兩端皆設置有第二卡件14，兩組第二卡件14相鄰的一端本文檔來自技高網...
【技術保護點】
【技術特征摘要】
1.一種偏光片的缺陷檢測裝置，包括底板(1)，其特征在于：所述底板(1)頂部的一側安裝有第一電磁滑軌(2)，所述第一電磁滑軌(2)的一端活動連接有滑動塊(3)，所述滑動塊(3)的一側安裝有第二電磁滑軌(4)，所述第二電磁滑軌(4)的一側活動連接有燈罩(7)，所述燈罩(7)靠近滑動塊(3)的一側設置有與第二電磁滑軌(4)相匹配的滑塊(5)，所述滑塊(5)的底部設置有滾球(6)，所述底板(1)的兩端皆設置有滑槽(12)，所述底板(1)頂部的中間位置處活動連接有第一U型架(8)，所述底板(1)靠近第一電磁滑軌(2)一側的兩端皆設置有第一卡件(9)，兩組所述第一卡件(9)相鄰的一端卡設有待測物件(10)，所述底板(1)的頂部遠離第一電磁滑軌(2)的一側設置有第二U型架(13)，所述第二U型架(13)靠近第一U型架(8)一側的兩端皆設置有第二卡件(14)，兩組所述第二卡件(14)相鄰的一端卡設有墨色IN面板(15)，所述墨色IN面板(15)靠近第一U型架(8)一側的頂部和一端皆設置有標尺...
【專利技術屬性】
技術研發人員：蘇博，
申請(專利權)人：深圳市德宏電子有限公司，
類型：新型
國別省市：
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