本實用新型專利技術公開了一種盲孔孔深輔助檢測裝置，該裝置包括定位體、輔助測量桿、標定板和水平轉軸；所述定位體的上端面和下端面均為定位平面，所述定位體的中部開有導向孔；所述輔助測量桿的上端為與導向孔相匹配的導向頭，所述輔助測量桿的下端為細桿狀結構的測量頭；所述輔助測量桿通過導向頭滑動連接在所述定位體中部的導向孔內，所述標定板通過水平轉軸連接在所述定位體下端面導向孔的外側，且所述水平轉軸上安裝有扭簧；在扭簧自由狀態下，所述標定板繞所述水平轉軸向導向孔一側翻轉，且所述標定板的上板面貼合在所述導向孔的正下方。本實用新型專利技術的輔助檢測裝置能夠準確測量底面非平面盲孔的深度。非平面盲孔的深度。非平面盲孔的深度。
【技術實現步驟摘要】
一種盲孔孔深輔助檢測裝置
[0001]本技術涉及一種盲孔孔深輔助檢測裝置，屬于產品質量檢測領域。
技術介紹
[0002]盲孔結構產品裝配中重要的組成結構，盲孔尺寸準確產品是否能夠可靠裝配的主要指標之一。傳統工藝對盲孔深度的測量時采用深度尺來實現的，傳統深度尺的測量桿是由具有一定寬度的條狀結構制成，測量桿的前端面作為定位面，因此只能測量孔徑小于測量桿寬度且底面為平面的盲孔。對于某些底面非平面的盲孔，如錐形孔、半球形盲孔等，由于深度尺的測量桿無法伸入到該類盲孔的最底部，因此無法測量該類盲孔的準確深度。現有工藝對于底面非平面的盲孔時，只能采用與盲孔內形公差相匹配的量規進行測量，這樣就需要對每個待測盲孔加工對應的量規，增加了量規的制造成本；另外，由于頻繁測量，會造成量規的磨損，需要定期校驗，超過磨損公差后必須更換新的量規。
技術實現思路
[0003]本技術的目的是為了解決傳統深度尺無法準確測量底面非平面盲孔的深度，用量規方式測量成本較高的問題，而提供一種能夠測量底面非平面盲孔深度的裝置。
[0004]本技術的目的是通過以下技術方案實現的：
[0005]本技術的一種盲孔孔深輔助檢測裝置，包括定位體、輔助測量桿、標定板和水平轉軸；
[0006]所述定位體的上端面和下端面為相互平行的定位平面，所述定位體的中部豎直開有上下貫穿的導向孔；
[0007]所述輔助測量桿的上端為外形與所述定位體中部導向孔內形相匹配的導向頭，所述輔助測量桿的下端為細桿狀結構的測量頭，所述測量頭的下端端部為尖頭結構；
[0008]所述輔助測量桿通過其上端的導向頭滑動連接在所述定位體中部的導向孔內，所述標定板通過水平轉軸連接在所述定位體下端面導向孔的外側，且所述水平轉軸上安裝有扭簧；在扭簧自由狀態下，所述標定板繞所述水平轉軸向導向孔一側翻轉，且所述標定板的上板面貼合在所述導向孔的正下方。
[0009]所述定位體導向孔的下端口部設有向內延伸的環形限位臺，所述輔助測量桿通過所述環形限位臺向下限位。
[0010]所述定位體下端面導向孔的外側設有與所述標定板相對應的讓位缺口，當所述標定板向外翻轉時，不會對所述定位體的下端面進行定位干擾。
[0011]工作過程
[0012]測量前，在保持所述標定板上板面貼合在所述定位體導向孔正下方的狀態下，將深度尺的定位框支撐定位在所述定位體的上端面，所述深度尺的測量桿插入所述定位體的導向孔內，使深度尺的測量桿前端緊貼所述輔助測量桿的導向頭上端面，并將深度尺此時的伸出長度的讀數標記為測量零位。
[0013]測量底面非平面的盲孔時，先將所述標定板向外翻轉并讓開所述定位體導向孔，然后將所述定位體放置在待測盲孔零件的上表面，使所述定位體的導向孔與待測盲孔零件的盲孔對正；此時所述輔助測量桿在重力作用下滑入待測盲孔內，使所述輔助測量桿的測量頭伸入待測盲孔的最底端；再次控制深度尺的測量桿向下伸出，使深度尺的測量桿前端再次緊貼所述輔助測量桿的導向頭上端面，并記錄深度尺二次伸出長度的讀數；二次伸出長度的讀數與測量零位的讀數差值即為待測盲孔的深度。
[0014]有益效果
[0015]本技術的輔助檢測裝置，結構簡單，加工方便，無需針對不同的盲孔制作專用的量規，降低了檢測成本，提高了檢測效率和檢測可靠性。本技術的輔助檢測裝置能夠準確測量底面非平面盲孔的深度；在輔助測量桿發生磨損的情況下，可通過調整測量零位進行修正，提高了輔助檢測裝置的使用壽命。
附圖說明
[0016]圖1為本技術輔助檢測裝置調整測量零位時結構示意圖；
[0017]圖2為本技術輔助檢測裝置測量狀態結構示意圖
[0018]圖中，1
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深度尺；2
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定位體；3
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標定板；4
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水平轉軸；5
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輔助測量桿。
具體實施方式
[0019]下面結合附圖和實施例對本技術的內容作進一步描述。
[0020]實施例
[0021]本技術的一種盲孔孔深輔助檢測裝置，包括定位體2、輔助測量桿5、標定板3和水平轉軸4；
[0022]所述定位體2的上端面和下端面為相互平行的定位平面，所述定位體2的中部豎直開有上下貫穿的導向孔；
[0023]所述輔助測量桿5的上端為外形與所述定位體2中部導向孔內形相匹配的導向頭，所述輔助測量桿5的下端為細桿狀結構的測量頭，所述測量頭的下端端部為尖頭結構；
[0024]所述輔助測量桿5通過其上端的導向頭滑動連接在所述定位體2中部的導向孔內，所述標定板3通過水平轉軸4連接在所述定位體2下端面導向孔的外側，且所述水平轉軸4上安裝有扭簧；在扭簧自由狀態下，所述標定板3繞所述水平轉軸4向導向孔一側翻轉，且所述標定板3的上板面貼合在所述導向孔的正下方。
[0025]所述定位體2導向孔的下端口部設有向內延伸的環形限位臺，所述輔助測量桿5通過所述環形限位臺向下限位。
[0026]所述定位體2下端面導向孔的外側設有與所述標定板3相對應的讓位缺口，當所述標定板3向外翻轉時，不會對所述定位體2的下端面進行定位干擾。
[0027]圖1為本技術輔助檢測裝置調整測量零位時結構示意圖；
[0028]測量前，在保持所述標定板3上板面貼合在所述定位體2導向孔正下方的狀態下，將深度尺1的定位框支撐定位在所述定位體2的上端面，所述深度尺1的測量桿插入所述定位體2的導向孔內，使深度尺1的測量桿前端緊貼所述輔助測量桿5的導向頭上端面，并將深度尺1此時的伸出長度的讀數標記為測量零位。
[0029]圖2為本技術輔助檢測裝置測量狀態結構示意圖；
[0030]測量底面非平面的盲孔時，先將所述標定板3向外翻轉并讓開所述定位體2導向孔，然后將所述定位體2放置在待測盲孔零件的上表面，使所述定位體2的導向孔與待測盲孔零件的盲孔對正；此時所述輔助測量桿5在重力作用下滑入待測盲孔內，使所述輔助測量桿5的測量頭伸入待測盲孔的最底端；再次控制深度尺1的測量桿向下伸出，使深度尺1的測量桿前端再次緊貼所述輔助測量桿5的導向頭上端面，并記錄深度尺1二次伸出長度的讀數；二次伸出長度的讀數與測量零位的讀數差值即為待測盲孔的深度。
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【技術保護點】
【技術特征摘要】
1.一種盲孔孔深輔助檢測裝置，其特征是：包括定位體、輔助測量桿、標定板和水平轉軸；所述定位體的上端面和下端面為相互平行的定位平面，所述定位體的中部豎直開有上下貫穿的導向孔；所述輔助測量桿的上端為外形與所述定位體中部導向孔內形相匹配的導向頭，所述輔助測量桿的下端為細桿狀結構的測量頭，所述測量頭的下端端部為尖頭結構；所述輔助測量桿通過其上端的導向頭滑動連接在所述定位體中部的導向孔內，所述標定板通過水平轉軸連接在所述定位體下端面導向孔的外側，且所述水平轉軸上安裝...
【專利技術屬性】
技術研發人員：侯永剛，白禹茹，段锃鏘，徐俞，屈曉曉，曹新紅，張茜，宗巖巖，夏思思，馬婷，趙偉杰，張立明，申炯炯，
申請(專利權)人：晉西工業集團有限責任公司，
類型：新型
國別省市：
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