本發明專利技術實施例公開了一種低壓盤柜的測試裝置。該測試裝置包括：插接件、接線切換模塊、測試電路和控制器；其中，接線切換模塊與控制器電連接，測試電路包括多個測試模塊，每個測試模塊均與控制器以及接線切換模塊電連接；多個測試模塊中的各測試模塊分別用于測試待測試低壓盤柜的不同特性，控制器用于控制接線切換模塊切換與待測試低壓盤柜電連接的測試模塊；多個測試模塊包括待測試低壓盤柜的主回路測試模塊和控制回路測試模塊，控制回路測試模塊包括多個測試單元，每個測試單元均有兩路電源輸出端，兩路電源輸出端分別用于提供第一電壓和第二電壓。本發明專利技術實施例提供的技術方案，能夠提高測試效率和可靠性。能夠提高測試效率和可靠性。能夠提高測試效率和可靠性。
【技術實現步驟摘要】
一種低壓盤柜的測試裝置
[0001]本專利技術實施例涉及開關測試技術，尤其涉及一種低壓盤柜的測試裝置。
技術介紹
[0002]對于配電盤，如應用在核電站的低壓盤柜，需要定期進行全面檢修，在檢修過程中需對低壓盤柜進行多種測試，如低壓盤柜的回路電阻測試、絕緣測試等，以便在測試到低壓盤柜有故障時，及時采取相應措施。
[0003]目前，現有的低壓盤柜的測試裝置，通常需要人工輔助，且對盤柜開關的不同功能需使用不同的儀器單獨測試，如繼電器保護校驗儀、機械特性測試儀、直阻測試儀、絕緣電阻測試儀等，測試過程接線繁瑣并且存在短路、錯線風險，影響測試效率和可靠性。
技術實現思路
[0004]本專利技術實施例提供一種低壓盤柜的測試裝置，以提高測試效率和可靠性。
[0005]本專利技術實施例提供了一種低壓盤柜的測試裝置，包括：插接件、接線切換模塊、測試電路和控制器；
[0006]其中，接線切換模塊與控制器電連接，測試電路包括多個測試模塊，每個測試模塊均與控制器以及接線切換模塊電連接，插接件用于連接接線切換模塊與待測試低壓盤柜；
[0007]多個測試模塊中的各測試模塊分別用于測試待測試低壓盤柜的不同特性，控制器用于控制接線切換模塊切換與待測試低壓盤柜電連接的測試模塊，以使不同的測試模塊分別對待測試低壓盤柜進行測試；
[0008]多個測試模塊包括待測試低壓盤柜的主回路測試模塊和控制回路測試模塊，控制回路測試模塊包括多個測試單元，每個測試單元均有兩路電源輸出端，兩路電源輸出端分別用于提供第一電壓和第二電壓。
[0009]可選的，控制回路測試模塊還包括第一開關單元，測試單元通過第一開關單元與待測試低壓盤柜的控制回路電連接，第一開關單元還與控制器電連接；
[0010]控制器還用于通過第一開關單元控制待測試低壓盤柜的分合閘，以使測試單元測試待測試低壓盤柜的分合閘線圈阻值。
[0011]可選的，第一開關單元包括多個開關,各測試單元均連接有開關，控制器還用于控制多個開關的通斷，以使測試單元輸出第一電壓或第二電壓。
[0012]可選的，控制回路測試模塊包括狀態測試單元，控制器還用于控制狀態測試單元與待測試低壓盤柜的控制回路之間通路的通斷。
[0013]可選的，主回路測試模塊包括絕緣電阻單元和第二開關單元，第二開關單元與控制器電連接，絕緣電阻單元通過第二開關單元與待測試低壓盤柜的主回路電連接。
[0014]可選的，第二開關單元包括多個開關，控制器還用于控制多個開關的通斷，以使主回路測試模塊對待測試低壓盤柜的主回路進行絕緣測試和電阻測試。
[0015]可選的，多個測試模塊還包括輔助觸點測試模塊，輔助觸點測試模塊用于對待測
試低壓盤柜的輔助觸點進行通斷測試。
[0016]可選的，插接件包括一次插接件和二次插接件，主回路測試模塊通過一次插接件與待測試低壓盤柜的主回路電連接，控制回路測試模塊通過二次插接件與待測試低壓盤柜的控制回路電連接。
[0017]可選的，接線切換模塊包括一次接線切換模塊和二次接線切換模塊，一次插接件通過一次接線切換模塊與主回路測試模塊電連接，二次插接件通過二次接線切換模塊與控制回路測試模塊電連接。
[0018]可選的，第一電壓為48V，第二電壓為24V。
[0019]本專利技術實施例提供的低壓盤柜的測試裝置，包括插接件、接線切換模塊、測試電路和控制器；其中，接線切換模塊與控制器電連接，測試電路包括多個測試模塊，每個測試模塊均與控制器以及接線切換模塊電連接，插接件用于連接接線切換模塊與待測試低壓盤柜；多個測試模塊中的各測試模塊分別用于測試待測試低壓盤柜的不同特性，控制器用于控制接線切換模塊切換與待測試低壓盤柜電連接的測試模塊，以使不同的測試模塊分別對待測試低壓盤柜進行測試；多個測試模塊包括待測試低壓盤柜的主回路測試模塊和控制回路測試模塊，控制回路測試模塊包括多個測試單元，每個測試單元均有兩路電源輸出端，兩路電源輸出端分別用于提供第一電壓和第二電壓。本專利技術實施例提供的低壓盤柜的測試裝置，通過多個測試模塊可對低壓盤柜進行不同性能的測試，測試過程簡單，不同的功能測試無需使用不同的儀器單獨測試，并且無需人工輔助，從而可提高測試效率和可靠性。
附圖說明
[0020]圖1是本專利技術實施例一提供的一種低壓盤柜的測試裝置的結構示意圖；
[0021]圖2是本專利技術實施例一提供的一種低壓盤柜的測試裝置的結構框圖；
[0022]圖3是本專利技術實施例二提供的一種控制回路測試模塊的結構示意圖；
[0023]圖4是本專利技術實施例三提供的一種主回路測試模塊的結構示意圖；
[0024]圖5是本專利技術實施例三提供的一種輔助觸點測試模塊的結構示意圖。
具體實施方式
[0025]下面結合附圖和實施例對本專利技術作進一步的詳細說明。可以理解的是，此處所描述的具體實施例僅僅用于解釋本專利技術，而非對本專利技術的限定。另外還需要說明的是，為了便于描述，附圖中僅示出了與本專利技術相關的部分而非全部結構。
[0026]實施例一
[0027]圖1是本專利技術實施例一提供的一種低壓盤柜的測試裝置的結構示意圖，圖2是本專利技術實施例一提供的一種低壓盤柜的測試裝置的結構框圖。參考圖1和圖2，本實施例可適用于對低壓盤柜進行測試情況，低壓盤柜的測試裝置包括：插接件10、接線切換模塊20、測試電路30和控制器40。
[0028]其中，接線切換模塊10與控制器40電連接，測試電路30包括多個測試模塊，每個測試模塊均與控制器40以及接線切換模塊20電連接，插接件10用于連接接線切換模塊20與待測試低壓盤柜50；多個測試模塊中的各測試模塊分別用于測試待測試低壓盤柜50的不同特性，控制器40用于控制接線切換模塊20切換與待測試低壓盤柜50電連接的測試模塊，以使
不同的測試模塊分別對待測試低壓盤柜50進行測試；多個測試模塊包括待測試低壓盤柜50的主回路測試模塊31和控制回路測試模塊32，控制回路測試模塊32包括多個測試單元，每個測試單元均有兩路電源輸出端，兩路電源輸出端分別用于提供第一電壓和第二電壓。
[0029]具體的，測試電路30可集成在測試儀60中，當測試裝置對待測試低壓盤柜50進行測試時，待測試低壓盤柜50可置于測試抽架70，并與插接件10連接，接線切換模塊20可包括多個開關，接線切換模塊20中的開關與測試模塊一一對應，控制器40可控制接線切換模塊20中開關的通斷，從而控制與插接件10電連接的測試模塊，使得不同的測試模塊分別對待測試低壓盤柜50進行測試。例如，當控制器40控制接線切換模塊20中的一個開關導通時，該開關對應的測試模塊如主回路測試模塊31對待測試低壓盤柜50的主回路進行測試，測試模塊完成測試后可將測試過程中的測試數據傳輸至控制器40，控制器40控制該開關斷開，以此控制其它開關的通斷，使各測試模塊均完成對待測試低壓盤柜50的測試。
[0030]其中，控制回路測試模塊32中的測試單元，可提供第一電壓或第二電壓至待測試低壓盤柜本文檔來自技高網...
【技術保護點】
【技術特征摘要】
1.一種低壓盤柜的測試裝置，其特征在于，包括：插接件、接線切換模塊、測試電路和控制器；其中，所述接線切換模塊與所述控制器電連接，所述測試電路包括多個測試模塊，每個所述測試模塊均與所述控制器以及所述接線切換模塊電連接，所述插接件用于連接所述接線切換模塊與待測試低壓盤柜；所述多個測試模塊中的各測試模塊分別用于測試所述待測試低壓盤柜的不同特性，所述控制器用于控制所述接線切換模塊切換與所述待測試低壓盤柜電連接的測試模塊，以使不同的測試模塊分別對所述待測試低壓盤柜進行測試；所述多個測試模塊包括所述待測試低壓盤柜的主回路測試模塊和控制回路測試模塊，所述控制回路測試模塊包括多個測試單元，每個所述測試單元均有兩路電源輸出端，所述兩路電源輸出端分別用于提供第一電壓和第二電壓。2.根據權利要求1所述的低壓盤柜的測試裝置，其特征在于，所述控制回路測試模塊還包括第一開關單元，所述測試單元通過所述第一開關單元與所述待測試低壓盤柜的控制回路電連接，所述第一開關單元還與所述控制器電連接；所述控制器還用于通過所述第一開關單元控制所述待測試低壓盤柜的分合閘，以使所述測試單元測試所述待測試低壓盤柜的分合閘線圈阻值。3.根據權利要求2所述的低壓盤柜的測試裝置，其特征在于，所述第一開關單元包括多個開關,各所述測試單元均連接有所述開關，所述控制器還用于控制所述多個開關的通斷，以使所述測試單元輸出所述第一電壓或所述第二電壓。4.根據權利要求1所述的低壓盤柜的測試裝置，其特征在于，所述控制回路測試模塊包括狀態測...
【專利技術屬性】
技術研發人員：顧如清，周翌嘉，余劍華，吳旭東，陳志洪，
申請(專利權)人：無錫中科電氣設備有限公司，
類型：發明
國別省市：
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