一種汽車微波雷達(dá)支架快速檢具和檢測(cè)方法技術(shù)

本發(fā)明專利技術(shù)公開(kāi)了一種汽車微波雷達(dá)支架快速檢具和檢測(cè)方法，包括微波雷達(dá)支架本體和快速檢具，所述快速檢具包括底座、檢具型體、仿形檢測(cè)銷、孔組檢測(cè)工具、主定位銷、次定位銷以及把手，其中所述微波雷達(dá)支架通過(guò)主定位銷和次定位銷定位在檢具型體上，所述檢具型體的底部固定在底座上。本發(fā)明專利技術(shù)結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，操作方便，能夠快速有效地檢測(cè)雷達(dá)支架上孔的空間位置，滿足批量檢測(cè)的要求。量檢測(cè)的要求。量檢測(cè)的要求。

【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
一種汽車微波雷達(dá)支架快速檢具和檢測(cè)方法

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[0001]本專利技術(shù)涉及汽車零部件檢測(cè)
，特別是涉及一種汽車微波雷達(dá)支架快速檢具和檢測(cè)方法。

技術(shù)介紹
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[0002]汽車微波雷達(dá)是一種電學(xué)器具，它由電磁波往返時(shí)間，測(cè)得阻波物的距離。這種雷達(dá)通過(guò)汽車微波雷達(dá)支架安裝在汽車車身上，雷達(dá)在支架上的安裝精度直接影響到其測(cè)量精度。這對(duì)汽車微波雷達(dá)支架相關(guān)區(qū)域的空間位置提出更嚴(yán)格的要求。
[0003]如圖8所示，汽車微波雷達(dá)支架設(shè)有主定位孔、次定位孔以及異形孔，其中主定位孔、次定位孔的位置，特別是異型孔相對(duì)主、副定位孔的位置，三個(gè)異型孔之間的相對(duì)位置都需要檢測(cè)控制以滿足裝配和雷達(dá)性能的需求?，F(xiàn)有技術(shù)中，大多通過(guò)三坐標(biāo)測(cè)量上述孔的位置，即利用將被測(cè)零件放入三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)允許的測(cè)量空間范圍內(nèi)，精確地測(cè)出被測(cè)零件表面的點(diǎn)在空間三個(gè)坐標(biāo)位置的數(shù)值，將這些點(diǎn)的坐標(biāo)數(shù)值經(jīng)過(guò)計(jì)算機(jī)處理，擬合形成測(cè)量元素，如圓、球、圓柱、圓錐、曲面等，經(jīng)過(guò)數(shù)學(xué)計(jì)算的方法得出其形狀、位置公差及其他幾何量數(shù)據(jù)，這種檢測(cè)方式效率低、成本高，無(wú)法滿足批量檢測(cè)的要求。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
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[0004]本專利技術(shù)所要解決的技術(shù)問(wèn)題是現(xiàn)有技術(shù)汽車微波雷達(dá)支架的異形孔檢測(cè)方式效率低、成本高，無(wú)法滿足批量檢測(cè)的要求，提供一種結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，操作方便，能夠快速有效地檢測(cè)雷達(dá)支架上孔的空間位置，滿足批量檢測(cè)的要求的汽車微波雷達(dá)支架快速檢具和檢測(cè)方法。
[0005]為實(shí)現(xiàn)上述目的，本專利技術(shù)提供一種汽車微波雷達(dá)支架快速檢具，包括微波雷達(dá)支架本體和快速檢具，所述快速檢具包括底座、檢具型體、仿形檢測(cè)銷、孔組檢測(cè)工具、主定位銷、次定位銷以及把手，其中所述微波雷達(dá)支架通過(guò)主定位銷和次定位銷定位在檢具型體上，所述檢具型體的底部固定在底座上。
[0006]作為優(yōu)選，所述檢具型體主體部分為檢具型面，所述檢具型面的上表面外形根據(jù)所述微波雷達(dá)支架理論外形仿形設(shè)計(jì)，以便雷達(dá)支架能夠放置在檢具上而不與檢具發(fā)生干涉。
[0007]進(jìn)一步地，所述檢具型面上設(shè)有用于引導(dǎo)主定位銷的導(dǎo)向孔，且此孔為圓孔；所述檢具型面上還設(shè)有用于引導(dǎo)次定位銷6的導(dǎo)向孔，且此孔為“D”形孔；檢具型面上還設(shè)有用于引導(dǎo)仿形檢測(cè)銷的導(dǎo)向孔，此孔為“D”形孔；所述檢具型面上還均勻設(shè)有三個(gè)基準(zhǔn)塊，用于支撐雷達(dá)支架；所述基準(zhǔn)塊具有磁性，在磁力的作用下，所述微波雷達(dá)支架被吸在檢具上，達(dá)到固定夾緊的功能。
[0008]進(jìn)一步地，所述主定位銷包括手柄A、定位軸A、導(dǎo)向軸A，其中定位軸A與導(dǎo)向軸A均為圓銷，所述導(dǎo)向軸A與檢具型體上的導(dǎo)向孔間隙配合，實(shí)現(xiàn)主定位銷在檢具型體上的導(dǎo)向與定位；所述定位軸A與微波雷達(dá)支架的主定位孔配合，實(shí)現(xiàn)微波雷達(dá)支架在檢具上主定
位。
[0009]進(jìn)一步地，所述次定位銷包括手柄B、定位軸B、導(dǎo)向軸B，其中所述導(dǎo)向軸B為“D”形銷，用于與檢具型體上的“D”形導(dǎo)向孔間隙配合，實(shí)現(xiàn)次定位銷B在檢具型體上的導(dǎo)向與定位，所述定位軸B設(shè)計(jì)為長(zhǎng)圓形銷，便于與微波雷達(dá)支架的長(zhǎng)圓形次定位孔配合，實(shí)現(xiàn)雷達(dá)支架在檢具上次定位。
[0010]進(jìn)一步地，所述仿形檢測(cè)銷包括手柄C、異型軸、導(dǎo)向軸C，所述導(dǎo)向軸C為“D”形銷，用于與檢具型體上的“D”形導(dǎo)向孔間隙配合，實(shí)現(xiàn)仿形檢測(cè)銷在檢具型體上的導(dǎo)向與定位，所述異型軸的外形根據(jù)微波雷達(dá)支架上異型孔理論外形而仿形設(shè)計(jì)，其外形尺寸略小于異型孔的尺寸。
[0011]進(jìn)一步地，所述孔組檢測(cè)工具包括L板，L板上固定設(shè)置有三個(gè)檢測(cè)軸，檢測(cè)軸的外形根據(jù)微波雷達(dá)支架上異型孔理論外形而仿形設(shè)計(jì)，其外形尺寸略小于異型孔的尺寸。
[0012]本專利技術(shù)還提供另一種技術(shù)方案：一種權(quán)利要求1
?
7所述的汽車微波雷達(dá)支架快速檢具的檢測(cè)方法，包括如下步驟：
[0013](1)孔徑檢測(cè)：采用常規(guī)通止規(guī)檢測(cè)，合格后利用檢具檢測(cè)位置度，即把微波雷達(dá)支架放在檢具上，依靠檢具上的三個(gè)基準(zhǔn)塊支撐，調(diào)整微波雷達(dá)支架的位置使得微波雷達(dá)支架的主定位孔與次定位孔盡可能分別對(duì)準(zhǔn)檢具上的導(dǎo)向孔與導(dǎo)向孔，主定位銷與次定位銷分別對(duì)準(zhǔn)微波雷達(dá)支架的主定位孔與次定位孔插入，若主定位銷能插入主定位孔和導(dǎo)向孔，并且次定位銷能插入次定位孔和導(dǎo)向孔，則主、次定位孔位置度合格，否則，為不合格；當(dāng)這兩個(gè)孔位置度合格后，依靠磁鐵吸住雷達(dá)支架，這樣就實(shí)現(xiàn)了雷達(dá)支架在檢具上的定位與固定；
[0014](2)異型孔位置度檢測(cè)：仿形檢測(cè)銷插入雷達(dá)支架異型孔，若導(dǎo)向軸C通過(guò)導(dǎo)向孔，并且異型軸能夠通過(guò)異型孔則為位置度合格，否則，為不合格；
[0015](3)三個(gè)異型孔之間的相對(duì)位置檢測(cè)：手持孔組檢測(cè)工具的L板，三個(gè)檢測(cè)軸(42)對(duì)準(zhǔn)雷達(dá)支架的三個(gè)異型孔同時(shí)插入，若均能插入，則為三個(gè)異型孔之間的相對(duì)位置合格，否則，為不合格。
[0016]采用以上結(jié)構(gòu)后與現(xiàn)有技術(shù)相比，本專利技術(shù)具有以下優(yōu)點(diǎn)：本專利技術(shù)結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，操作方便，能夠快速有效地檢測(cè)雷達(dá)支架上孔的空間位置，滿足批量檢測(cè)的要求。
附圖說(shuō)明：
[0017]下面對(duì)本說(shuō)明書(shū)各附圖所表達(dá)的內(nèi)容及圖中的標(biāo)記作簡(jiǎn)要說(shuō)明
[0018]圖1為一種汽車微波雷達(dá)支架快速檢具示意圖；
[0019]圖2為檢具型體示意圖；
[0020]圖3為主定位銷示意圖；
[0021]圖4為次定位銷示意圖；
[0022]圖5為仿形檢測(cè)銷示意圖；
[0023]圖6為孔組檢測(cè)工具示意圖；
[0024]圖7為雷達(dá)支架在檢具上檢測(cè)時(shí)的示意圖；
[0025]圖8為汽車微波雷達(dá)支架示意圖。
具體實(shí)施方式：
[0026]下面結(jié)合附圖和具體實(shí)施方式對(duì)本專利技術(shù)作進(jìn)一步說(shuō)明：
[0027]如圖1所示，一種汽車微波雷達(dá)支架快速檢具包括底座1、檢具型體2、仿形檢測(cè)銷3(共3個(gè))、孔組檢測(cè)工具4、主定位銷5、次定位銷6、把手7(共2個(gè))，其中所述微波雷達(dá)支架通過(guò)主定位銷5和次定位銷6定位在檢具型體上，所述檢具型體2的底部固定在底座1上。
[0028]如圖2所示，檢具型體2主體部分為檢具型面21。檢具型面21的上表面外形根據(jù)微波雷達(dá)支架理論外形仿形設(shè)計(jì)，以便雷達(dá)支架能夠放置在檢具上而不與檢具發(fā)生干涉。檢具型面21底部固定在底座1上。檢具型面21上設(shè)有用于引導(dǎo)主定位銷5的導(dǎo)向孔22，此孔為圓孔。檢具型面21上還設(shè)有用于引導(dǎo)次定位銷6的導(dǎo)向孔23，此孔為“D”形孔。檢具型面21上還設(shè)有用于引導(dǎo)仿形檢測(cè)銷3的導(dǎo)向孔25(共3個(gè))，此孔為“D”形孔。檢具型面21上還均勻設(shè)有三個(gè)基準(zhǔn)塊24，用于支撐雷達(dá)支架?；鶞?zhǔn)塊具有磁性，在磁力的作用下，雷達(dá)支架被吸在檢具上，達(dá)到固定夾緊的功能。
[0029]如圖3所示，主定位銷5主要分為三個(gè)部分：手柄A 51、定位軸A 52、導(dǎo)向軸A 53。定位軸A52與導(dǎo)向軸A53均為圓銷。導(dǎo)向軸A 53與檢具型體2上的導(dǎo)向孔22間隙配合，實(shí)現(xiàn)主定位銷5在檢具型體2上的導(dǎo)向與定位。定位軸A 52與微波雷達(dá)支架的主定位孔配合，實(shí)現(xiàn)雷達(dá)支架在檢具上主定位。
[0030]如圖4所示，次定位銷6主要分為本文檔來(lái)自技高網(wǎng)...

【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】

【技術(shù)特征摘要】
1.一種汽車微波雷達(dá)支架快速檢具，包括微波雷達(dá)支架本體和快速檢具，其特征在于，所述快速檢具包括底座(1)、檢具型體(2)、仿形檢測(cè)銷(3)、孔組檢測(cè)工具(4)、主定位銷(5)、次定位銷(6)以及把手(7)，其中所述微波雷達(dá)支架通過(guò)主定位銷(5)和次定位銷(6)定位在檢具型體上，所述檢具型體(2)的底部固定在底座(1)上。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種汽車微波雷達(dá)支架快速檢具，其特征在于，所述檢具型體(2)主體部分為檢具型面(21)，所述檢具型面的上表面外形根據(jù)所述微波雷達(dá)支架理論外形仿形設(shè)計(jì)，以便微波雷達(dá)支架能夠放置在快速檢具上而不與快速檢具發(fā)生干涉。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種汽車微波雷達(dá)支架快速檢具，其特征在于：所述檢具型面(21)上設(shè)有用于引導(dǎo)主定位銷(5)的導(dǎo)向孔(22)，且此孔為圓孔；所述檢具型面(21)上還設(shè)有用于引導(dǎo)次定位銷6的導(dǎo)向孔(23)，且此孔為“D”形孔；檢具型面(21)上還設(shè)有用于引導(dǎo)仿形檢測(cè)銷(3)的導(dǎo)向孔(25)，此孔為“D”形孔；所述檢具型面(21)上還均勻設(shè)有三個(gè)基準(zhǔn)塊(24)，用于支撐微波雷達(dá)支架；所述基準(zhǔn)塊(24)具有磁性，在磁力的作用下，所述微波雷達(dá)支架被吸在檢具上，達(dá)到固定夾緊的功能。4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種汽車微波雷達(dá)支架快速檢具，其特征在于：所述主定位銷(5)包括手柄A(51)、定位軸A(52)、導(dǎo)向軸A(53)，其中定位軸A(52)與導(dǎo)向軸A(53)均為圓銷，所述導(dǎo)向軸A(53)與檢具型體(2)上的導(dǎo)向孔(22)間隙配合，實(shí)現(xiàn)主定位銷(5)在檢具型體(2)上的導(dǎo)向與定位；所述定位軸A(52)與微波雷達(dá)支架的主定位孔配合，實(shí)現(xiàn)微波雷達(dá)支架在檢具上主定位。5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種汽車微波雷達(dá)支架快速檢具，其特征在于：所述次定位銷(6)包括手柄B(61)、定位軸B(62)、導(dǎo)向軸B(63)，其中所述導(dǎo)向軸B(63)為“D”形銷，用于與檢具型體(2)上的“D”形導(dǎo)向孔(23)間隙配合，實(shí)現(xiàn)次定位銷B(6)在檢具型體(2)上的導(dǎo)向與定位，所述定位軸B(62)...

【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：鮑婷婷，牛磊，易范利，
申請(qǐng)(專利權(quán))人：浙江交通職業(yè)技術(shù)學(xué)院，
類型：發(fā)明
國(guó)別省市：