本發明專利技術提供一種基于光電倍增管快速避光封裝裝置的遠程測試系統，包括避光封裝裝置、放射源、晶體、光電倍增管、讀出裝置和遠程測試裝置。第一屏蔽組件和第三屏蔽組件分別卡接于第二屏蔽組件的兩端，放射源設置于第一屏蔽組件內，光電倍增管設置在所述第一屏蔽組件和所述第二屏蔽組件之間，晶體設置于所述第一屏蔽組件內且位于放射源和光電倍增管之間，讀出裝置設置于第三屏蔽組件內，遠程測試裝置與讀出裝置信號連接。將放射源、晶體、光電倍增管和讀出裝置依次放置在避光封裝裝置內，不需要將晶體和光電倍增管封裝在一起，拆卸比較方便，有利于不同尺寸的光電倍增管和晶體組合使用，檢測效率較高。還可以遠程測試，使用時較方便，安全性較高。全性較高。全性較高。
【技術實現步驟摘要】
基于光電倍增管快速避光封裝裝置的遠程測試系統
[0001]本專利技術涉及核輻射探測
，特別是涉及一種基于光電倍增管快速避光封裝裝置的遠程測試系統。
技術介紹
[0002]隨著我國核工業的快速發展，核能在我國清潔能源中的地位越來越顯著。在核輻射探測領域中，光電倍增管(PMT)是一種重要的電子元器件，其應用領域非常廣泛，為了使核輻射探測結果更加精確，通常需要在將光電倍增管安裝到核輻射探測設備之前對光電倍增管進行測試。由于光電倍增管的靈敏度很高，通電后不能受強光照射，否則將會損壞，因此在測試光電倍增管時，必須把光電倍增管放在避光處。但是傳統的測試方法是將光電倍增管用黑色膠帶和金屬進行避光封裝，在使用時再將光電倍增管和晶體封裝在一起，避光效果不佳且拆卸困難，進而導致測量結果不準確、測試效率較低。在測試時，需要操作人員在測試現場進行控制，外界環境可能會對測試結果造成影響，同時放射源產生的放射性物質的泄漏也會對操作人員的身體健康產生危害。
技術實現思路
[0003]本專利技術旨在至少解決相關技術中存在的技術問題之一。為此，本專利技術提出一種基于光電倍增管快速避光封裝裝置的遠程測試系統，光電倍增管與晶體不需要封裝在一起，拆卸方便，適用于不同的光電倍增管與晶體組合，測試效率較高。同時，讀出裝置與遠程測試裝置信號連接，可以進行遠程測試，使用時較方便，安全性較高。
[0004]根據本專利技術實施例提供的一種基于光電倍增管快速避光封裝裝置的遠程測試系統，包括：
[0005]避光封裝裝置，包括第一屏蔽組件、第二屏蔽組件和第三屏蔽組件，所述第二屏蔽組件設有相對的第一端和第二端，所述第一屏蔽組件卡接于所述第一端，所述第三屏蔽組件卡接于所述第二端；
[0006]放射源，設置于所述第一屏蔽組件內；
[0007]晶體，設置于所述第一屏蔽組件內，且位于所述放射源朝向所述第二屏蔽組件的一側；
[0008]光電倍增管，設置于所述第一屏蔽組件和所述第二屏蔽組件之間，且耦合連接于所述晶體遠離所述放射源的一側；
[0009]讀出裝置，設置于所述第三屏蔽組件內，且電連接于所述光電倍增管；
[0010]遠程測試裝置，與所述讀出裝置通過信號傳輸線連接。
[0011]根據本專利技術的一個實施例，所述第一屏蔽組件形成具有第一開口的第一容納腔；
[0012]所述第二屏蔽組件形成有第二容納腔，所述第二容納腔沿所述第一端和所述第二端連通于外部，所述第一屏蔽組件卡接于所述第一端的端面，所述第一容納腔沿所述第一開口連通于所述第二容納腔；
[0013]所述第三屏蔽組件形成具有第二開口的第三容納腔，所述第三屏蔽組件卡接于所述第二端的端面，所述第三容納腔沿所述第二開口連通于所述第二容納腔；
[0014]所述放射源設置在所述第一容納腔內，所述光電倍增管設置在所述第一容納腔和所述第二容納腔之間，所述讀出裝置設置在所述第三容納腔內。
[0015]根據本專利技術的一個實施例，所述第一端的端面沿所述第一開口的周緣開設有第一環狀插槽，所述第一屏蔽組件卡接于所述第一環狀插槽。
[0016]根據本專利技術的一個實施例，所述第二端和所述第三屏蔽組件的相鄰兩個端面的其中一個設有第二環狀插槽，另一個設置有第二環狀凸沿，所述第二環狀凸沿活動插設在所述第二環狀插槽內。
[0017]根據本專利技術的一個實施例，所述第一屏蔽組件包括遮光內筒、套設在所述遮光內筒外側的遮光外筒以及連接于所述遮光內筒和所述遮光外筒的頂蓋，所述第一環狀插槽的數量為兩個，所述遮光內筒和所述遮光外筒遠離所述頂蓋的一端插設在兩個所述第一環狀插槽內。
[0018]根據本專利技術的一個實施例，所述第二屏蔽組件包括多個屏蔽筒，多個所述屏蔽筒沿所述第一端向所述第二端延伸的方向堆疊設置，且相鄰的兩個所述屏蔽筒之間可拆卸連接。
[0019]根據本專利技術的一個實施例，所述第三屏蔽組件上遠離所述第二開口的一端設有第三開口，所述第三開口處設置有底座，所述底座與所述第三屏蔽組件之間設置有密封圈。
[0020]根據本專利技術的一個實施例，所述讀出裝置和所述光電倍增管之間設置有數字轉換座。
[0021]根據本專利技術的一個實施例，所述遠程測試裝置包括數據處理模塊、通信模塊和存儲模塊，所述數據處理模塊分別與所述通信模塊和所述存儲模塊信號連接，所述通信模塊通過信號傳輸線與所述讀出裝置連接。
[0022]根據本專利技術的一個實施例，所述讀出裝置為數字多道分析器。
[0023]本專利技術中的上述一個或多個技術方案，至少具有如下技術效果之一：
[0024]根據本專利技術實施例提供的基于光電倍增管快速避光封裝裝置的遠程測試系統，包括避光封裝裝置、放射源、晶體、讀出裝置以及遠程測試裝置。避光封裝裝置包括第一屏蔽組件、第二屏蔽組件和第三屏蔽組件，第一屏蔽組件和第三屏蔽組件分別卡接在第二屏蔽組件的兩端。放射源設置在第一屏蔽組件內，光電倍增管設置在第一屏蔽組件和第二屏蔽組件之間，晶體設置在第一屏蔽組件內且位于放射源和光電倍增管之間，用以提升光電倍增管的探測效率，讀出裝置設置在第三屏蔽組件內。遠程測試系統工作時，將放射源、晶體、光電倍增管以及讀出裝置依次放置在第一屏蔽組件、第二屏蔽組件和第三屏蔽組件內，不需要將晶體和光電倍增管封裝在一起，拆卸比較方便，有利于不同尺寸的光電倍增管和晶體組合使用，檢測效率較高。與此同時，讀出裝置與遠程測試裝置通過信號傳輸線連接，可以進行遠程測試，使用時較方便，安全性較高。
[0025]進一步地，避光封裝裝置模塊化組裝，遮光效果好，減少了外界的干擾因素，檢測精度較高。
附圖說明
[0026]圖1為本專利技術實施例提供的基于光電倍增管快速避光封裝裝置的遠程測試系統的A
?
A剖面圖；
[0027]圖2為本專利技術實施例提供的基于光電倍增管快速避光封裝裝置的遠程測試系統的側視圖。
[0028]附圖標記：
[0029]110、第一屏蔽組件；112、第一容納腔；114、遮光內筒；116、遮光外筒；118、頂蓋；120、第二屏蔽組件；122、第一端；124、第二端；126、第二容納腔；128、屏蔽筒；1220、第一環狀插槽；1240、第二環狀插槽；130、第三屏蔽組件；132、第三容納腔；134、環狀臺階；136、密封圈；138、第二通孔；1310、第二環狀凸沿；140、底座；142、底板；144、連接筒；1440、第一通孔；146、電纜接頭；210、放射源；212、放射源盒；220、晶體；230、光電倍增管；232、探針連接器；240、讀出裝置；250、數字轉換座。
具體實施方式
[0030]為使專利技術的目的、技術方案和優點更加清楚，下面將結合專利技術中的附圖，對專利技術中的技術方案進行清楚地描述，顯然，所描述的實施例是專利技術一部分實施例，而不是全部的實施例?；趯＠夹g中的實施例，本領域普通技術人員在沒有做出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于專利技術保護的范圍。
[0031]在本專利技術實施例的描述中，需本文檔來自技高網...
【技術保護點】
【技術特征摘要】
1.一種基于光電倍增管快速避光封裝裝置的遠程測試系統，其特征在于，包括：避光封裝裝置，包括第一屏蔽組件、第二屏蔽組件和第三屏蔽組件，所述第二屏蔽組件設有相對的第一端和第二端，所述第一屏蔽組件卡接于所述第一端，所述第三屏蔽組件卡接于所述第二端；放射源，設置于所述第一屏蔽組件內；晶體，設置于所述第一屏蔽組件內，且位于所述放射源朝向所述第二屏蔽組件的一側；光電倍增管，設置于所述第一屏蔽組件和所述第二屏蔽組件之間，且耦合連接于所述晶體遠離所述放射源的一側；讀出裝置，設置于所述第三屏蔽組件內，且電連接于所述光電倍增管；遠程測試裝置，與所述讀出裝置通過信號傳輸線連接。2.根據權利要求1所述的基于光電倍增管快速避光封裝裝置的遠程測試系統，其特征在于，所述第一屏蔽組件形成具有第一開口的第一容納腔；所述第二屏蔽組件形成有第二容納腔，所述第二容納腔沿所述第一端和所述第二端連通于外部，所述第一屏蔽組件卡接于所述第一端的端面，所述第一容納腔沿所述第一開口連通于所述第二容納腔；所述第三屏蔽組件形成具有第二開口的第三容納腔，所述第三屏蔽組件卡接于所述第二端的端面，所述第三容納腔沿所述第二開口連通于所述第二容納腔；所述放射源設置在所述第一容納腔內，所述光電倍增管設置在所述第一容納腔和所述第二容納腔之間，所述讀出裝置設置在所述第三容納腔內。3.根據權利要求2所述的基于光電倍增管快速避光封裝裝置的遠程測試系統，其特征在于，所述第一端的端面沿所述第一開口的周緣開設有第一環狀插槽，所述第一屏蔽組件卡接于所述第一環狀插槽。4.根據權利要求2所述的基于光電倍增管快速避光封裝裝置的遠程測試系統，其特征...
【專利技術屬性】
技術研發人員：董翀，沈楊，張雨帆，
申請(專利權)人：北京中科核安科技有限公司，
類型：發明
國別省市：
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