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    巖石的層理識別方法、裝置、設備及存儲介質制造方法及圖紙

    技術編號:33119275 閱讀:18 留言:0更新日期:2022-04-17 00:15
    本申請屬于油氣勘探開發技術領域,具體提供一種巖石的層理識別方法、裝置、設備及存儲介質,方法包括:獲取所述巖石的多組CT切片圖像,每組CT切片圖像包括第一CT切片圖像和第二CT切片圖像,所述第一CT切片圖像和第二CT切片圖像為對所述巖石的同一深度切面掃描得到的,所述第一CT切片圖像與所述第二CT切片圖像對應的掃描能量不同;根據所述多組CT切片圖像,確定所述巖石的多個雙能量指數;根據所述多個雙能量指數確定所述巖石的層理??梢圆捎肅T識別大尺度巖石的層理。別大尺度巖石的層理。別大尺度巖石的層理。

    【技術實現步驟摘要】
    巖石的層理識別方法、裝置、設備及存儲介質


    [0001]本申請涉及油氣勘探開發
    ,尤其涉及一種巖石的層理識別方法、裝置、設備及存儲介質。

    技術介紹

    [0002]沉積巖是由層層巖石組成,不同巖石的層理可以反映不同地層的沉積和成巖過程。沉積巖中包括大量礦產,通過準確識別沉積巖的層理,可以有效判斷沉積巖中油氣富集的層理,進而提高油氣勘探開發的效率。
    [0003]相關技術中,巖石的層理可以通過巖石的成分和結構特征來識別。具體可以使用微米電子計算機斷層掃描(Computed Tomography,CT)來識別巖石的層理。但是微米CT的分析范圍較小,只能識別小尺度巖石的層理,無法識別大尺度巖石的層理。

    技術實現思路

    [0004]本申請提供一種巖石的層理識別方法、裝置、設備及存儲介質,可以采用CT識別大尺度巖石的層理。
    [0005]第一方面,本申請提供一種巖石的層理識別方法,包括:獲取所述巖石的多組電子計算機斷層掃描CT切片圖像,每組CT切片圖像包括第一CT切片圖像和第二CT切片圖像,所述第一CT切片圖像和第二CT切片圖像為對所述巖石的同一深度切面掃描得到的,所述第一CT切片圖像與所述第二CT切片圖像對應的掃描能量不同;根據所述多組CT切片圖像,確定所述巖石的多個雙能量指數;根據所述多個雙能量指數確定所述巖石的層理。
    [0006]在一種可能的實施方式中,針對任意一組CT切片圖像,根據所述多組CT切片圖像,確定所述巖石的雙能量指數,包括:確定所述第一CT切片圖像的第一平均CT數值;確定所述第二CT切片圖像的第二平均CT數值;根據所述第一平均CT數值和所述第二平均CT數值確定所述巖石的雙能量指數。
    [0007]在一種可能的實施方式中,根據所述第一CT平均CT數值和所述第二平均CT數值確定所述巖石的雙能量指數,包括:確定所述第一平均CT數值與所述第二平均CT數值的差值;確定所述第一平均CT數值與所述第二平均CT數值的相加值;根據所述差值和所述相加值確定所述巖石的雙能量指數。
    [0008]在一種可能的實施方式中,所述巖石的雙能量指數滿足以下公式:
    其中,所述DEI
    i
    為所述巖石的深度為i時的所述雙能量指數;所述CTL
    i
    為所述巖石的深度為i時的所述第一平均CT數值;所述CTH
    i
    為所述巖石的深度為i時的所述第二平均CT數值;所述m為常量。
    [0009]在一種可能的實施方式中,根據所述多個雙能量指數確定所述巖石的層理,包括:根據所述雙能量指數確定雙能量曲線;根據所述雙能量曲線確定所述巖石的層理。
    [0010]在一種可能的實施方式中,根據所述雙能量曲線確定所述巖石的層理,包括:獲取巖石的巖石圖像;根據所述雙能量曲線和所述巖石圖像確定所述巖石的層理的界限值;根據所述巖石的層理的界限值確定所述巖石的層理。
    [0011]在一種可能的實施方式中,根據所述雙能量曲線和所述巖石圖像確定所述巖石的層理的界限值,包括:根據所述雙能量曲線確定多個峰值;根據所述巖石圖像確定多個灰度值;根據所述多個峰值和所述多個灰度值確定所述巖石的層理的界限值。
    [0012]在一種可能的實施方式中,所述方法還包括:根據所述巖石的層理的界限值確定目標層理的界限值;根據目標層理的界限值確定目標層理,所述目標層理為存儲礦產的層理。
    [0013]第二方面,本申請提供一種巖石的層理識別裝置,包括獲取模塊、第一確定模塊和第二確定模塊,其中,所述獲取模塊用于,獲取所述巖石的多組電子計算機斷層掃描CT切片圖像,每組CT切片圖像包括第一CT切片圖像和第二CT切片圖像,所述第一CT切片圖像和第二CT切片圖像為對所述巖石的同一深度切面拍攝得到的,所述第一CT切片圖像與所述第二CT切片圖像對應的掃描能量不同;所述第一確定模塊用于,根據所述多組CT切片圖像,確定所述巖石的多個雙能量指數;所述第二確定模塊用于,根據所述多個雙能量指數和所述巖石圖像確定所述巖石的層理。
    [0014]在一種可能的實施方式中,針對任意一組CT切片圖像,所述第一確定模塊具體用于:確定所述第一CT切片圖像的第一平均CT數值;確定所述第二CT切片圖像的第二平均CT數值;根據所述第一平均CT數值和所述第二平均CT數值確定所述巖石的雙能量指數。
    [0015]在一種可能的實施方式中,所述第一確定模塊具體用于:確定所述第一平均CT數值與所述第二平均CT數值的差值;確定所述第一平均CT數值與所述第二平均CT數值的相加值;根據所述差值和所述相加值確定所述巖石的雙能量指數。
    [0016]在一種可能的實施方式中,所述巖石的雙能量指數滿足以下公式:
    其中,所述DEI
    i
    為所述巖石的深度為i時的所述雙能量指數;所述CTL
    i
    為所述巖石的深度為i時的所述第一平均CT數值;所述CTH
    i
    為所述巖石的深度為i時的所述第二平均CT數值;所述m為常量。
    [0017]在一種可能的實施方式中,所述第二確定模塊具體用于:根據所述多個雙能量指數確定雙能量曲線;根據所述雙能量曲線確定所述巖石的層理。
    [0018]在一種可能的實施方式中,所述第二確定模塊具體用于:獲取巖石的巖石圖像;根據所述雙能量曲線和所述巖石圖像確定所述巖石的層理的界限值;根據所述巖石的層理的界限值確定所述巖石的層理。
    [0019]在一種可能的實施方式中,所述第二確定模塊具體用于:根據所述雙能量曲線確定多個峰值;根據所述巖石圖像確定多個灰度值;根據所述多個峰值和所述多個灰度值確定所述巖石的層理的界限值。
    [0020]在一種可能的實施方式中,所述裝置還包括第三確定模塊,所述第三確定模塊用于:根據所述巖石的層理的界限值確定目標層理的界限值;根據目標層理的界限值確定目標層理,所述目標層理為存儲礦產的層理。
    [0021]第三方面,本申請提供一種電子設備,包括:處理器、存儲器;所述存儲器存儲計算機執行指令;所述處理器執行所述存儲器存儲的計算機執行命令,使得所述處理器執行如第一方面任一項所述的巖石的層理識別方法。
    [0022]第四方面,本申請提供一種計算機可讀存儲介質,所述計算機可讀存儲介質中存儲有計算機執行指令,當所述計算機執行指令被處理器執行時用于實現第一方面任一項所述的巖石的層理識別方法。
    [0023]第五方面,本申請提供一種計算機程序產品,包括計算機程序,該計算機程序被處理器執行時,可實現第一方面任一項所述的巖石的層理識別方法。
    [0024]本申請提供一種巖石的層理識別方法、裝置、設備及存儲介質,先獲取多組CT切片圖像;再根據多組CT切片圖像,確定巖石的多個雙能量指數;最后根據多個雙能量指數和巖石圖像確定巖石的層理。通過引入雙能量指數,可以有效實現大尺度和高分辨率的巖石層理識別。
    附圖說明
    [0025]此處的附圖被并入說明書中并構成本說明書的一部分,示出了符合本申請的實施例,并與說明書一起用于解釋本申請的原理。
    [本文檔來自技高網
    ...

    【技術保護點】

    【技術特征摘要】
    1.一種巖石的層理識別方法,其特征在于,包括:獲取所述巖石的多組電子計算機斷層掃描CT切片圖像,每組CT切片圖像包括第一CT切片圖像和第二CT切片圖像,所述第一CT切片圖像和第二CT切片圖像為對所述巖石的同一深度切面掃描得到的,所述第一CT切片圖像與所述第二CT切片圖像對應的掃描能量不同;根據所述多組CT切片圖像,確定所述巖石的多個雙能量指數;根據所述多個雙能量指數確定所述巖石的層理。2.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,針對任意一組CT切片圖像,根據所述多組CT切片圖像,確定所述巖石的多個雙能量指數,包括:確定所述第一CT切片圖像的第一平均CT數值;確定所述第二CT切片圖像的第二平均CT數值;根據所述第一平均CT數值和所述第二平均CT數值確定所述巖石的雙能量指數。3.根據權利要求2所述的方法,其特征在于,根據所述第一CT平均CT數值和所述第二平均CT數值確定所述巖石的雙能量指數,包括:確定所述第一平均CT數值與所述第二平均CT數值的差值;確定所述第一平均CT數值與所述第二平均CT數值的相加值;根據所述差值和所述相加值確定所述巖石的雙能量指數。4.根據權利要求3所述的方法,其特征在于,所述巖石的雙能量指數滿足以下公式:其中,所述DEI
    i
    為所述巖石的深度為i時的所述雙能量指數;所述CTL
    i
    為所述巖石的深度為i時的所述第一平均CT數值;所述CTH
    i
    為所述巖石的深度為i時的所述第二平均CT數值;所述m為常量。5.根據權利要求1
    ?
    4任一項所述的方法,其特征在于,根據所述多個雙能量指數確定所述巖石的層理,包括:根據所述多個雙能量指數確定雙能量曲線;根據所述雙能量曲線確定所述巖石的層理。6.根據權利要求5所述的方法,其特征在于,根據所述雙能量曲線確定所述巖石的層理,包括:獲取巖石的巖石圖像;根據所述...

    【專利技術屬性】
    技術研發人員:郝進楊繼進,李國梁,周潤青,
    申請(專利權)人:中國科學院地質與地球物理研究所,
    類型:發明
    國別省市:

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