一種用于DMD的排線檢測治具制造技術

本實用新型專利技術公開了一種用于DMD的排線檢測治具，屬于芯片檢測治具領域，一種用于DMD的排線檢測治具，包括治具本體，所述治具本體上表面固定有定位DMD排線，所述治具本體上表面固定有用于定位DMD排線的推壓機構，所述治具本體上表面位于推壓機構的兩側安裝有固定樁，兩側所述固定樁活動套接有壓桿，所述壓桿的一端固定有推板，所述推板的一側面設置有與DMD排線緊密接觸的壓塊，所述治具本體上表面設置有用于觀測DMD排線的輔助檢測機構，所述輔助檢測機構用于檢測DMD排線，所述治具本體上位于輔助檢測機構的下方設置有調距機構，它可以實現輔助檢驗人員檢測，降低檢驗人員的精力集中強度，具有較高的檢驗精準性。具有較高的檢驗精準性。具有較高的檢驗精準性。

【技術實現步驟摘要】
一種用于DMD的排線檢測治具


[0001]本技術涉及芯片檢測治具領域，更具體地說，涉及一種用于DMD的排線檢測治具。

技術介紹

[0002]數碼光處理投影機以數字微鏡裝置DMD芯片作為成像器件，通過調節反射光實現投射圖像的一種用于DMD的排線檢測治具投影技術，而它的核心技術是DMD芯片，它與液晶投影機有很大的不同，它的成像是通過成千上萬個微小的鏡片反射光線來實現的。
[0003]芯片是半導體元件產品的統稱，或稱微電路、微芯片、晶片，在電子學中是一種用于DMD的排線檢測治具將電路小型化的方式，并時常制造在半導體晶圓表面上，而DMD芯片由于集成密度較高且體積較小，現有技術中依靠人工操作的DMD芯片的檢測治具，需要工人長時間的精力高度集中，檢驗人員的目力持續性辨認排線時較為費力。

技術實現思路

[0004]1.要解決的技術問題
[0005]針對現有技術中存在的問題，本技術的目的在于提供一種用于DMD的排線檢測治具，它可以實現輔助檢驗人員檢測，降低檢驗人員的精力集中強度，具有較高的檢驗精準性。
[0006]2.技術方案
[0007]為解決上述問題，本技術采用如下的技術方案。
[0008]一種用于DMD的排線檢測治具，包括治具本體，所述治具本體上表面設置有用于操控治具本體的指令按鈕，所述治具本體上表面固定有定位DMD排線，所述治具本體上表面固定有用于定位DMD排線的推壓機構，所述治具本體上表面位于推壓機構的兩側安裝有固定樁，兩側所述固定樁活動套接有壓桿，所述壓桿的一端固定有推板，所述推板的一側面設置有與DMD排線緊密接觸的壓塊；
[0009]所述治具本體上表面設置有用于觀測DMD排線的輔助檢測機構，所述輔助檢測機構用于檢測DMD排線；
[0010]所述治具本體上位于輔助檢測機構的下方設置有調距機構，所述調距機構用于控制輔助檢測機構的移動。
[0011]進一步的，所述輔助檢測機構包括有窺視鏡、檢測部件、以及檢測通道，所述檢測通道開設在檢測部件上方，所述窺視鏡對應安裝在檢測部件上表面，并且檢測通道與窺視鏡在同一軸線上。
[0012]進一步的，所述調距機構包括有用于承載輔助檢測機構的載物板，所述載物板的底部設置有升降板，所述升降板的內部轉動等距安裝有螺桿，載物板通過螺桿移動設置在升降板的內部。
[0013]進一步的，所述螺桿的一端均固定有調節柱，所述調節柱的環壁上還設置有用于
驅動調節柱轉動的調節環帶，所述調節環帶的內壁與調節柱的外壁對應設置有齒凸與齒槽，調節環帶與調節柱嚙合連接。
[0014]進一步的，所述調距機構還包括有依次安裝在升降板底部的升降撐板、調距螺塊和調距齒環，所述升降撐板螺紋套接在調距螺塊的外部，所述調距螺塊與調距齒環固定連接，所述調距齒環的一側嚙合設置有調距蝸桿。
[0015]進一步的，所述升降撐板的環壁上對向設置有滑塊，所述治具本體的內部對應升降撐板上的滑塊開設有滑槽。
[0016]3.有益效果
[0017]相比于現有技術，本技術的優點在于：
[0018]本方案，窺視鏡的一端可放大待檢測部位，檢測人員通過檢測通道檢測到DMD排線S的局部放大畫面，由于原先的DMD排線S的體積小，不便觀測，通過窺視鏡放大后的DMD排線S方便檢測人員目力辨認，通過轉動調節環帶驅動調節柱旋轉，與調節柱一體連接的螺桿共同旋轉，通過調整螺桿的正反旋轉，使載物板左右位移，達到輔助檢測機構平面移動的功能，通過轉動調距蝸桿驅動調距齒環轉動，與調距齒環固定連接的調距螺塊聯動轉動，由于與調距螺塊螺紋套接的升降撐板環壁上設置有滑塊，治具本體的內部對應滑塊開設有滑槽，當調距螺塊轉動時，升降撐板沿滑槽上升或下降，實現升降功能，軸向移動與直線升降相互配合，可使輔助檢測機構針對DMD排線S部位放大檢測，實現輔助檢驗人員檢測，降低檢驗人員的精力集中強度，具有較高的檢驗精準性。
附圖說明
[0019]圖1為本技術中整體的結構示意圖；
[0020]圖2為本技術中X的結構示意圖；
[0021]圖3為本技術中X的爆炸分解結構示意圖；
[0022]圖4為本技術中圖3中A處細節放大的結構示意圖。
[0023]圖中標號說明：
[0024]1、治具本體；1a、推壓機構；2、固定樁；3、壓桿；4、推板；5、壓塊；6、輔助檢測機構；7、調距機構；8、窺視鏡；9、檢測部件；10、檢測通道；11、載物板；12、升降板；13、螺桿；14、調節柱；15、調節環帶；16、升降撐板；17、調距螺塊；18、調距齒環；19、調距蝸桿；S、DMD排線。
具體實施方式
[0025]下面將結合本技術實施例中的附圖，對本技術實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述；顯然，所描述的實施例僅僅是本技術一部分實施例，而不是全部的實施例，基于本技術中的實施例，本領域普通技術人員在沒有做出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本技術保護的范圍。
[0026]實施例1：
[0027]請參閱圖1，一種用于DMD的排線檢測治具，包括治具本體1上表面設置有用于操控治具本體1的指令按鈕，治具本體1上表面固定有定位DMD排線S，治具本體1上表面固定有用于定位DMD排線S的推壓機構1a，治具本體1上表面位于推壓機構1a的兩側安裝有固定樁2，兩側固定樁2活動套接有壓桿3，壓桿3的一端固定有推板4，推板4的一側面設置有與DMD排
線S緊密接觸的壓塊5；
[0028]治具本體1上表面設置有用于觀測DMD排線S的輔助檢測機構6，輔助檢測機構6用于檢測DMD排線S；
[0029]治具本體1上位于輔助檢測機構6的下方設置有調距機構7，調距機構7用于控制輔助檢測機構6的移動。
[0030]進一步的，推壓機構1a為現有的公知結構，具體通過反向或正向拉動拉桿，使與拉桿鉸接的桿部前進或后退，帶動推板4上的壓塊5對DMD排線S緊密接觸或是放松，壓塊5對DMD排線S緊密接觸時處于固定狀態，壓塊5對DMD排線S放松時，人工取下DMD排線S，完成檢測動作。
[0031]請參閱圖2，輔助檢測機構6包括有窺視鏡8、檢測部件9、以及檢測通道10，檢測通道10開設在檢測部件9上方，窺視鏡8對應安裝在檢測部件9上表面，并且檢測通道10與窺視鏡8在同一軸線上。
[0032]其中，窺視鏡8的一端可放大待檢測部位，檢測人員通過檢測通道10檢測到DMD排線S的局部放大畫面，由于原先的DMD排線S的體積小，不便觀測，通過窺視鏡8放大后的DMD排線S方便檢測人員目力辨認。
[0033]請參閱圖2
?
3，調距機構7包括有用于承載輔助檢測機構6的載物板11，載物板11的底部設置有升降板12，升降板12的內部轉動等距安裝有螺桿13，載物板11通過螺桿13移動設置在升降板12的內部。
[0034]請參閱圖3
?
4，螺桿13的一端均本文檔來自技高網...

【技術保護點】

【技術特征摘要】
1.一種用于DMD的排線檢測治具，包括治具本體(1)，所述治具本體(1)上表面設置有用于操控治具本體(1)的指令按鈕，其特征在于：所述治具本體(1)上表面固定有定位DMD排線(S)，所述治具本體(1)上表面固定有用于定位DMD排線(S)的推壓機構(1a)，所述治具本體(1)上表面位于推壓機構(1a)的兩側安裝有固定樁(2)，兩側所述固定樁(2)活動套接有壓桿(3)，所述壓桿(3)的一端固定有推板(4)，所述推板(4)的一側面設置有與DMD排線(S)緊密接觸的壓塊(5)；所述治具本體(1)上表面設置有用于觀測DMD排線(S)的輔助檢測機構(6)，所述輔助檢測機構(6)用于檢測DMD排線(S)；所述治具本體(1)上位于輔助檢測機構(6)的下方設置有調距機構(7)，所述調距機構(7)用于控制輔助檢測機構(6)的移動。2.根據權利要求1所述的一種用于DMD的排線檢測治具，其特征在于：所述輔助檢測機構(6)包括有窺視鏡(8)、檢測部件(9)、以及檢測通道(10)，所述檢測通道(10)開設在檢測部件(9)上方，所述窺視鏡(8)對應安裝在檢測部件(9)上表面，并且檢測通道(10)與窺視鏡(8)在同一軸線上。3.根據權利要求1所述的一種用于DMD的排線檢測治具，...

【專利技術屬性】
技術研發人員：劉強兵，呂旭鋼，
申請(專利權)人：成都迅達光電有限公司，
類型：新型
國別省市：