本公開提供了一種校準(zhǔn)方法，包括：獲取當(dāng)前狀態(tài)下的第一主光路光功率以及監(jiān)測設(shè)備對應(yīng)的第一監(jiān)測口光功率，并根據(jù)第一主光路光功率和第一監(jiān)測口光功率確定當(dāng)前插損；根據(jù)當(dāng)前插損進(jìn)行監(jiān)測設(shè)備的校準(zhǔn)。本公開還提供了一種光鏈路監(jiān)測方法、校準(zhǔn)設(shè)備、光鏈路監(jiān)測裝置和計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì)。計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì)。計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì)。
【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
校準(zhǔn)方法、監(jiān)測方法、設(shè)備、裝置和計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì)
[0001]本公開涉及光網(wǎng)絡(luò)
，特別涉及一種校準(zhǔn)方法、光鏈路監(jiān)測方法、校準(zhǔn)設(shè)備、光鏈路監(jiān)測裝置和計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì)。
技術(shù)介紹
[0002]在光網(wǎng)絡(luò)中，對主光路對應(yīng)的光功率進(jìn)行監(jiān)測可通過按通道進(jìn)行濾波，或者將每一單通道的光信號進(jìn)行分離的方式進(jìn)行，但這兩種方式難度大、操作性差且成本較高，因此，從效率出發(fā)，一般采用單一監(jiān)測器針對多個主光路的光信號進(jìn)行監(jiān)測。而為了保證監(jiān)測過程的準(zhǔn)確性和有效性，現(xiàn)階段通常僅在上線前人工執(zhí)行一次校準(zhǔn)，而在系統(tǒng)上線運(yùn)行后，沒有相應(yīng)動態(tài)實(shí)時校準(zhǔn)的機(jī)制存在。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
[0003]本公開旨在至少解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的技術(shù)問題之一，提出了一種校準(zhǔn)方法、光鏈路監(jiān)測方法、校準(zhǔn)設(shè)備、光鏈路監(jiān)測裝置和計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì)。
[0004]為實(shí)現(xiàn)上述目的，第一方面，本公開實(shí)施例提供了一種校準(zhǔn)方法，包括：
[0005]獲取當(dāng)前狀態(tài)下的第一主光路光功率以及監(jiān)測設(shè)備對應(yīng)的第一監(jiān)測口光功率，并根據(jù)所述第一主光路光功率和所述第一監(jiān)測口光功率確定當(dāng)前插損；
[0006]根據(jù)所述當(dāng)前插損進(jìn)行所述監(jiān)測設(shè)備的校準(zhǔn)。
[0007]第二方面，本公開實(shí)施例還提供了一種光鏈路監(jiān)測方法，包括：
[0008]采用如上述實(shí)施例中所述的校準(zhǔn)方法對監(jiān)測設(shè)備進(jìn)行校準(zhǔn)，并使用校準(zhǔn)完成的所述監(jiān)測設(shè)備對光鏈路進(jìn)行監(jiān)測。
[0009]第三方面，本公開實(shí)施例還提供了一種校準(zhǔn)設(shè)備，包括：
[0010]一個或多個處理器；
[0011]存儲裝置，用于存儲一個或多個程序；
[0012]當(dāng)所述一個或多個程序被所述一個或多個處理器執(zhí)行，使得所述一個或多個處理器實(shí)現(xiàn)如上述實(shí)施例中所述的校準(zhǔn)方法。
[0013]第四方面，本公開實(shí)施例還提供了一種光鏈路監(jiān)測裝置，包括：校準(zhǔn)設(shè)備和監(jiān)測設(shè)備；
[0014]其中，所述校準(zhǔn)設(shè)備采用如上述實(shí)施例所述的校準(zhǔn)設(shè)備；所述監(jiān)測設(shè)備用于在經(jīng)所述校準(zhǔn)設(shè)備校準(zhǔn)后對光鏈路進(jìn)行監(jiān)測。
[0015]第五方面，本公開實(shí)施例還提供了一種計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì)，其上存儲有計(jì)算機(jī)程序，其中，所述程序被處理器執(zhí)行時實(shí)現(xiàn)如上述實(shí)施例中所述的校準(zhǔn)方法中的步驟。
[0016]本公開具有以下有益效果：
[0017]本公開實(shí)施例提供了一種校準(zhǔn)方法、光鏈路監(jiān)測方法、校準(zhǔn)設(shè)備、光鏈路監(jiān)測裝置和計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì),可通過根據(jù)主光路對應(yīng)的光功率以及監(jiān)測設(shè)備對應(yīng)的光功率確定當(dāng)前插損，根據(jù)當(dāng)前插損對監(jiān)測設(shè)備進(jìn)行校準(zhǔn)，實(shí)現(xiàn)實(shí)時動態(tài)的校準(zhǔn)，保證光鏈路監(jiān)測的準(zhǔn)確
性。
附圖說明
[0018]圖1為本公開實(shí)施例提供的一種校準(zhǔn)方法的流程圖；
[0019]圖2為本公開實(shí)施例提供的一種光鏈路監(jiān)測系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)框圖；
[0020]圖3為本公開實(shí)施例提供的另一種校準(zhǔn)方法的流程圖；
[0021]圖4為本公開實(shí)施例提供的又一種校準(zhǔn)方法的流程圖；
[0022]圖5為本公開實(shí)施例提供的再一種校準(zhǔn)方法的流程圖；
[0023]圖6為本公開實(shí)施例提供的一種光鏈路監(jiān)測方法的流程圖；
[0024]圖7為本公開實(shí)施例提供的一種校準(zhǔn)設(shè)備的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0025]圖8為本公開實(shí)施例提供的一種光鏈路監(jiān)測裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0026]圖9為本公開實(shí)施例提供的一種計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì)的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式
[0027]為使本領(lǐng)域的技術(shù)人員更好地理解本公開的技術(shù)方案，下面結(jié)合附圖對本公開提供的校準(zhǔn)方法、光鏈路監(jiān)測方法、校準(zhǔn)設(shè)備、光鏈路監(jiān)測裝置和計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì)進(jìn)行詳細(xì)描述。
[0028]在下文中將參考附圖更充分地描述示例實(shí)施例，但是所述示例實(shí)施例可以以不同形式來體現(xiàn)且不應(yīng)當(dāng)被解釋為限于本文闡述的實(shí)施例。反之，提供這些實(shí)施例的目的在于使本公開透徹和完整，并將使本領(lǐng)域技術(shù)人員充分理解本公開的范圍。
[0029]本文所使用的術(shù)語僅用于描述特定實(shí)施例，且不意欲限制本公開。如本文所使用的，單數(shù)形式“一個”和“該”也意欲包括復(fù)數(shù)形式，除非上下文另外清楚指出。還將理解的是，當(dāng)本說明書中使用術(shù)語“包括”和/或“由
……
制成”時，指定存在所述特征、整體、步驟、操作、元件和/或組件，但不排除存在或添加一個或多個其他特征、整體、步驟、操作、元件、組件和/或其群組。
[0030]將理解的是，雖然本文可以使用術(shù)語第一、第二等來描述各種元件，但這些元件不應(yīng)當(dāng)受限于這些術(shù)語。這些術(shù)語僅用于區(qū)分一個元件和另一元件。因此，在不背離本公開的指教的情況下，下文討論的第一元件、第一組件或第一模塊可稱為第二元件、第二組件或第二模塊。
[0031]除非另外限定，否則本文所用的所有術(shù)語(包括技術(shù)和科學(xué)術(shù)語)的含義與本領(lǐng)域普通技術(shù)人員通常理解的含義相同。還將理解，諸如那些在常用字典中限定的那些術(shù)語應(yīng)當(dāng)被解釋為具有與其在相關(guān)技術(shù)以及本公開的背景下的含義一致的含義，且將不解釋為具有理想化或過度形式上的含義，除非本文明確如此限定。
[0032]本公開所提供的校準(zhǔn)方法、光鏈路監(jiān)測方法、校準(zhǔn)設(shè)備、光鏈路監(jiān)測裝置和計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì)，可用于根據(jù)主光路對應(yīng)的光功率以及監(jiān)測設(shè)備對應(yīng)的光功率確定當(dāng)前插損，根據(jù)當(dāng)前插損對監(jiān)測設(shè)備進(jìn)行校準(zhǔn)，實(shí)現(xiàn)實(shí)時動態(tài)的校準(zhǔn)，保證光鏈路監(jiān)測的準(zhǔn)確性。
[0033]該校準(zhǔn)方法和光鏈路監(jiān)測方法適用于包括相應(yīng)光鏈路監(jiān)測設(shè)備的光網(wǎng)絡(luò)系統(tǒng)中，例如，包括光學(xué)性能監(jiān)測單元(Optical Performance Monitoring，簡稱OPM，又稱光監(jiān)測單板)的密集型波分復(fù)用(Dense Wavelength Division Multiplexing，簡稱DWDM)系統(tǒng)，包括
光學(xué)監(jiān)控信道(Optical Supervisory Channel，簡稱OSC)單元的波分復(fù)用系統(tǒng)，以及采用類似監(jiān)控技術(shù)的光傳送網(wǎng)絡(luò)(Optical Transport Network，簡稱OTN)系統(tǒng)等。
[0034]圖1為本公開實(shí)施例提供的一種校準(zhǔn)方法的流程圖。如圖1所示，該方法包括：
[0035]步驟S1、獲取當(dāng)前狀態(tài)下的第一主光路光功率以及監(jiān)測設(shè)備對應(yīng)的第一監(jiān)測口光功率，并根據(jù)第一主光路光功率和第一監(jiān)測口光功率確定當(dāng)前插損。
[0036]其中，當(dāng)前狀態(tài)體現(xiàn)實(shí)時性，表現(xiàn)為當(dāng)下正在進(jìn)行校準(zhǔn)的時刻所對應(yīng)的狀態(tài)；第一主光路光功率為監(jiān)測設(shè)備負(fù)責(zé)監(jiān)測的主光路所對應(yīng)的光功率。在一些實(shí)施例中，可基于第一主光路光功率和第一監(jiān)測口光功率通過相減、加權(quán)計(jì)算以及引入預(yù)設(shè)誤差補(bǔ)充值進(jìn)行計(jì)算等方式確定當(dāng)前插損。相應(yīng)光功率數(shù)據(jù)的獲取可通過實(shí)時采集的方式進(jìn)行，或者通過查詢數(shù)據(jù)庫的方式進(jìn)行。
[0037]具體地，由于多個主光路連接到監(jiān)測設(shè)備的過程中存在插損，并且，不同時刻、不同方向上的插損存在較大差異，因此會對監(jiān)測結(jié)果的準(zhǔn)確性產(chǎn)生影響。
[0038]在一些實(shí)施例中，主光路所傳輸?shù)墓庑盘柊I(yè)務(wù)光信號和鏈路噪聲，第一主光路光功率由業(yè)務(wù)光信號的功率和鏈路噪聲的功率得出；相應(yīng)地，監(jiān)測設(shè)備捕捉的光譜信息包括本文檔來自技高網(wǎng)...
【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
【技術(shù)特征摘要】
1.一種校準(zhǔn)方法，其中，包括：獲取當(dāng)前狀態(tài)下的第一主光路光功率以及監(jiān)測設(shè)備對應(yīng)的第一監(jiān)測口光功率，并根據(jù)所述第一主光路光功率和所述第一監(jiān)測口光功率確定當(dāng)前插損；根據(jù)所述當(dāng)前插損進(jìn)行所述監(jiān)測設(shè)備的校準(zhǔn)。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的校準(zhǔn)方法，其中，在所述獲取當(dāng)前狀態(tài)下的第一主光路光功率和監(jiān)測設(shè)備對應(yīng)的第一監(jiān)測口光功率的步驟之前，還包括：獲取初始狀態(tài)下的第二主光路光功率和所述監(jiān)測設(shè)備對應(yīng)的第二監(jiān)測口光功率，并根據(jù)所述第二主光路光功率和所述第二監(jiān)測口光功率確定靜態(tài)插損，其中，所述初始狀態(tài)為在所述當(dāng)前狀態(tài)之前的狀態(tài)；根據(jù)所述靜態(tài)插損進(jìn)行所述監(jiān)測設(shè)備的校準(zhǔn)。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的校準(zhǔn)方法，其中，所述根據(jù)所述當(dāng)前插損進(jìn)行所述監(jiān)測設(shè)備的校準(zhǔn)的步驟，包括：根據(jù)所述當(dāng)前插損和所述靜態(tài)插損確定動態(tài)插損，并根據(jù)所述動態(tài)插損進(jìn)行所述監(jiān)測設(shè)備的校準(zhǔn)。4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的校準(zhǔn)方法，其中，還包括：根據(jù)所述第一主光路光功率和所述第二主光路光功率確定主光路光功率變化值，并根據(jù)所述第一監(jiān)測口光功率和所述第二監(jiān)測口光功率確定監(jiān)測口光功率變化值；根據(jù)所述主光路光功率變化值和所述監(jiān)測口光功率變化值確定動態(tài)插損，并根據(jù)所述動態(tài)插損進(jìn)行所述監(jiān)測設(shè)備的校準(zhǔn)。5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的校準(zhǔn)方法，其中，所述監(jiān)測設(shè)備包括：光放大器和光通道監(jiān)測器；所述第一主光路光功率為所述光放大器的輸出光功率，所...
【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：吳瓊，劉建國，富佳音，
申請(專利權(quán))人：中興通訊股份有限公司，
類型：發(fā)明
國別省市：
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