多光軸光電開關及其投光器制造技術

多光軸光電開關，有具備多個投光裝置的投光器，和對應于多個投光裝置的多個受光器，以遮斷由上述投光裝置發射而入射到對應的上述受光裝置的光軸為條件檢測被檢物體存在，其特征是：　　　　上述投光裝置由　　　　發射光的投光元件、　　　　使投光電流流過上述投光元件的開關裝置、和　　　　限制上述投光電流的限流電阻組成；　　　　還具有投光電流調整裝置，連接在供給上述投光裝置投光電流的供給路徑上，同時根據來自外部的信號動作，改變流過上述投光元件的投光電流的電流值。（*該技術在2012年保護過期，可自由使用*）

【技術實現步驟摘要】
【國外來華專利技術】
本技術涉及多光軸光電開關，特別是涉及防止多光軸光電開關的干涉。
技術介紹
例如，在工廠的生產線上設置有多臺壓力機和溶接機等生產機器，由于這些生產機器伴隨有危險生，在其周邊的危險區域內禁止有物體侵入。這樣的生產機器中配設檢測作業者侵入危險區域的多光軸光電開關。它是由設有多個投光元件的投光器，和設在正對著這些多個投光元件的多個受光元件的受光器組成，分別正對著的投光元件和受光元件間形成光軸，一旦作業者等由于遮住光軸，就可以檢測出向危險區域的侵入情況。可是，由于工廠的生產線上各生產機器一般互相配置得很近，由此，設在各生產機器上的多光軸光電開關互相位置也變得很近。在此場合，從多光軸光電開關的投光元件發生的光可能入射其它多光軸光電開關的受光元件成為干涉光，產生所謂互相干涉。其結果，即便受光元件形成的光軸被遮斷，恐怕也不能將其檢測出來。還有，作為防止上述多光軸光電開關之間相互干涉的方法，在投光元件的前方設狹縫，由于光線收縮，光不能達到其它多光軸光電開關，或者，在受光元件的前方設狹縫，限制入射到受光元件上的光的范圍，來實現回避干涉光的影響。然而，上述構成中由于必須在所配置的多光軸光電開關的投光器或受光器上安裝狹縫，帶來其安裝作業煩雜的問題。此外，必需對各投光器或受光器中每一個都要準備狹縫而使另件數目增加，招來成本上升的結果。特別是，對光軸數多的，狹縫的尺寸長大，已有的問題更嚴重。本技術根據以上的問題做出，其目的是防止多光軸光電開關之間的互相干涉。
技術實現思路
在將多個多光軸光電開關互相靠近設置時，一個多光軸光電開關的投光元件發出的光可入射到其它多光軸光電開關的受光元件，而其它多光軸光電開關的投光元件發出的光也可射入到該多光軸光電開關的受光元件。由此，例如盡管某一個受光元件形成的光軸被遮斷，因為受光元件上有光入射，恐怕不能進行正確檢測。這點，在本技術，由于在投光電流供給電路上連接投光電流調整裝置，使流過投光元件的投光電流之值可以變化。這樣一來，來自投光元件的投光量減少，此光的到達范圍變狹。結果，多光軸光電開關的受光元件上來自其它多光軸光電開關投光元件的光入射沒有了，因而可以防止相互干涉。又，和在投光器或受光器上安裝狹縫的結構的多光軸光電開關比較，因為不需要使用狹縫，可以降低成本，又因也不需要安裝狹縫的作業，可以獲得簡化作業設定的效果。附圖說明圖1是第一實施例多光軸光電開關的立體圖。圖2是表示多光軸光電開關的電氣構成圖。圖3是表示第二實施例多光軸光電開關的電氣構成圖。圖4是第三實施例多光軸光電開關立體圖。具體實施方式第一實施例參照圖1和圖2說明本技術多光軸光電開關第一實施例。本實施例的多光軸光電開關在工廠的生產機器中的壓力機和溶接機等的周圍禁止作業者進入的危險區域的邊界上設置有多臺，用以檢測出作業者的進入此危險區域。這些多光軸光電開關由棱筒狀的投光器1和受光器2構成，投光器1的外殼中沿縱向的一側面上縱向一列地配置例如由發光二極管組成的N個投光元件11。另一方面，受光器2也在那個外殼中的沿縱向一側面上縱向一列地配置例如由光電二極管組成的N個受光元件21，各自的投光元件11和受光元件21正對而形成N根光軸。投光器1和受光器2之間通過信號線50在1，2兩者之間送取信號。另外，從投光器1和受光器2引出兼作信號傳送的電源線，分別對電源成連接狀態。還有，也可以各多光軸光電開關連接在共同的電源上，或者也可以分別接到其它電源上。以下，參照圖2說明多光軸光電開關的電氣構成。由于各多光軸光電開關的電氣構成是一樣的，只表示一多光軸光電開關構成，省略受光器2側的電氣構成的圖示。多個投光元件11的陽極分別通過共同連接線接在電源線Vcc上，陰極接在對應于各自的投光元件11設置的NPN型晶體三極管12(以下稱為晶體三極管12，相當于本技術的開關裝置)的集電極上。這些晶體管12的基極連接到后述的N個AND回路18的輸出端子，發射極上接有電阻13(相當于本技術的限流電阻)。各電阻13以共同連線連接起來，通過場效應三極管14(以下稱為FET14)和電阻15的并聯電路(相當于本技術的投光電流調整裝置)接在接地線GND上。CPU16設兩個輸出端子，一個接在移位寄存器17的輸入端子上，另一個接到各AND電路18的輸入端子。移位寄存器17設N個輸出端子，它們分別接到AND電路18的輸入端子。CPU16的一個輸出端子輸出規定周期的脈沖信號(投光定時信號)，從另一個輸出端子通常輸出高電平信號。因此，移位寄存器17從圖的上側的輸出端子到下側的輸出端子順次輸出脈沖信號，對AND電路18從圖的上側的電路到下側的電路的輸出端子順次輸出脈沖信號。這樣一來，從上側的晶體三極管12到下側的晶體三極管12順次地接通，同時從上側的投光元件11到下側的投光元件11順次地供給投光電流，進行投光。又，FET14的門極接到CPU16，根據來自CPU16的信號作ON-OFF動作，此FET14在ON的時候，各投光元件11的投光電流通過FET14流過，而OFF時通達電阻15流過。從而投光電流在FET14OFF時的電流值比在ON時的要少。另一方面，受光器2(相當于本技術的檢測裝置)接受從投光器1的CPU16來的投光定時信號，與此信號同步進行投光的投光元件11同時使來自形成光軸的受光元件21的受光信號有效化，此受光信號和閥門值比較，判斷光軸是否被遮斷。外部的控制器3(相當本技術的外部機器)從其外殼引出兩根信號電線，連接投光器1的電源線60和電壓之間。外殼上備有操作部和顯示部，操作部輸入為了想變更設定的是指定投光器1或受光器2，以及為了增加或減少投光量的指令，然而進行決定操作，根據此操作發送含有指定投光器1或受光器2的識別碼和投光量變更命令的投光量設定信號。在投光器1的CPU16上設有連接電源線50的輸入端子16A、輸出端子16B，接收從外部控制器3來的投光量設定信號，此投光量設定信號一收到，參照含有此信號識別碼，判斷為是指定自己時就讀取命令內容。當命令內容是要提高投光量的命令時給FET14的門極發送的信號切換為高電平，當是要下降投光量的命令時給FET14的門極發送的信號切換為低電平。另方面，在不指定自己時，CPU16對FET14的信號輸出不切換。此投光量設定信號是給受光器2的話就在受光器2這邊對命令內容進行處理。在多光軸光電開關各自接近地配置時，從一個多光軸光電開關的投光元件11來的光射入到其它多光軸光電開關的受光元件21而恐怕要發生干涉的場合可以如下述調整投光元件的投光量。下面假設圖1中最左側的多光軸光電開關的投光元件11來的光入射到中間的多光軸光電開關的受光元件21的場合來進行說明。首先，將外部控制器3的一個信號電線連接來自最左側的多光軸光電開關的投光器1的電源線60，另一個信號電線接到電源。然后，操作外部控制器3的操作部，指定投光器1，輸入要下降投光量的命令而進行決定操作，之后將來自外部控制器3的投光量設定信號發送到投光器1。CPU16根據包含在接收的投光量設定信號中的識別碼判斷出是指定自己時，讀取要下降投光量的命令，將向FET14的門極發送的信號切換為低電平信號。此后，FET14為OFF。由此，投光電流的電流值減少，投光元件11發生的投光量減少。本文檔來自技高網...

【技術保護點】

【技術特征摘要】
【國外來華專利技術】

【專利技術屬性】
技術研發人員：渡邊義幸，永井宏升，
申請(專利權)人：仙克斯股份有限公司，
類型：實用新型
國別省市：