【技術實現步驟摘要】
透射式輻射成像設備的調整方法和輔助調整裝置
[0001]本公開涉及輻射成像領域,特別是涉及一種透射式輻射成像設備的調整方法和輔助調整裝置。
技術介紹
[0002]輻射成像設備分為透射式輻射成像設備和散射式輻射成像設備兩種。
[0003]透射式輻射成像設備是由輻射源向被檢測物體發射輻射束,并使用探測器接收從被檢測物體透射的輻射信號。探測器接收到的輻射信號能夠反映被檢測物體的密度、厚度甚至材料等信息,可顯示被檢測物體的內部結構。因此,可以根據探測器探測到的輻射信號形成被檢測物體的透射圖像。
[0004]為了保證透射式輻射成像設備的成像質量,需要使用屏蔽材料制成的準直器對輻射源發出的輻射束的形狀(張角和寬度)進行約束,以形成滿足探測器靈敏區域形狀尺寸要求的有用輻射束。同時,還需要精確調整輻射源、輻射源屏蔽裝置、準直器以及探測器的位置,以保證經由輻射源屏蔽裝置和準直器出射的輻射束與探測器對中。
[0005]對中調整是透射式輻射成像設備安裝調試中一個關鍵環節,直接影響到系統的成像質量?,F有技術多采用激光標線儀或經緯儀進行輻射成像裝置對中調整,調整繁瑣、難度大,并且調整精度不佳。
[0006]因此,針對透射式輻射成像設備需要一種更為方便、實用的對中調整方案。
技術實現思路
[0007]本公開要解決的一個技術問題是提供一種更為方便、實用的對中調整方案。
[0008]根據本公開的第一個方面,提供了一種透射式輻射成像設備的調整方法,其中,透射式輻射成像設備包括輻射源、輻射源屏蔽裝 ...
【技術保護點】
【技術特征摘要】
1.一種透射式輻射成像設備的調整方法,其中,所述透射式輻射成像設備包括輻射源、輻射源屏蔽裝置、準直器以及探測器,所述調整方法包括:利用拉線表征所述輻射源發出的有用輻射束;調整所述拉線以使所述有用輻射束的第一中心面與所述探測器的靈敏區域的第二中心面重合,所述有用輻射束為具有張角和寬度的扇形輻射束,所述第一中心面為所述扇形輻射束在寬度方向上的二面角的平分面,所述第二中心面包含由所述靈敏區域的入射面的中心點和出射面的中心點組成的連線,且垂直于所入射面和/或出射面;以及基于重合狀態下所述拉線所表征的有用輻射束的寬度范圍,調整所述準直器的束流縫的寬度和/或位置,并且/或者基于重合狀態下所述拉線的引出位置,確定所述輻射源的安裝位置。2.根據權利要求1所述的方法,還包括:基于重合狀態下所述拉線所表征的有用輻射束的寬度范圍,調整所述輻射源屏蔽裝置的束流縫的寬度和/或位置。3.根據權利要求1所述的方法,其中,所述拉線經由引出位置和固定位置而拉緊,所述引出位置用于表征所述輻射源的輻射束發射位置,所述固定位置為所述探測器的靈敏區域之內或之外的預定位置,調整所述拉線以使所述有用輻射束的第一中心面與所述探測器的靈敏區域的第二中心面重合的步驟包括:調整所述引出位置以使所述有用輻射束的第一中心面與所述探測器的靈敏區域的第二中心面重合。4.根據權利要求1所述的方法,其中,利用拉線表征所述輻射源發出的有用輻射束的步驟包括:利用一條或多條拉線表征所述輻射源發出的有用輻射束的寬度范圍。5.根據權利要求4所述的方法,其中,所述探測器包括多個探測器模塊,所述多個探測器模塊的靈敏區域的中心面位于同一平面,利用一條或多條拉線表征所述輻射源發出的有用輻射束的寬度范圍的步驟包括:設置第一組拉線和第二組拉線,所述第一組拉線用于表征所述有用輻射束中入射到所述探測器一端的探測器模塊的靈敏區域的輻射束的寬度范圍,所述第二組拉線用于表征所述有用輻射束中入射到所述探測器另一端的探測器模塊的靈敏區域的輻射束的寬度范圍。6.根據權利要求5所述的方法,其中,所述第一組拉線或所述第二組拉線包括:第一拉線,所述第一拉線的固定位置用于表征所述探測器模塊的靈敏區域的左側邊緣位置或左側邊緣位置外預定寬度位置;和/或第二拉線,所述第二拉線的固定位置用于表征所述探測器模塊的靈敏區域的右側邊緣位置或右側邊緣位置外預定寬度位置;和/或第三拉線,所述第三拉線的固定位置用于表征所述探測器模塊的靈敏區域的中心位置。7.根據權利要求6所述的方法,其中,所述第一組拉線和/或所述第二組拉線包括所述第一拉線和所述第二拉線,調整所述準直器的束流縫的寬度和/或位置步驟包括:以所述第一拉線和所述第二拉線為參照物,調整所述準直器的束流縫的寬度和/或位置,以使所述束流縫在束流縫寬度方向上的兩側分別與所述第一拉線和所述第二拉線貼合。
8.根據權利要求1至7中任何一項所述的方法,還包括:拆除所述拉線以及與所述拉線相關的裝置。9.一種透射式輻射成像設備的輔助調整裝置,其中,所述透射式輻射成像設備包括輻射源、輻射源屏蔽裝置、準直器以及探測器,所述輔助調整裝置包括:拉線引出裝置,用于...
【專利技術屬性】
技術研發人員:曹艷鋒,郭近賢,張超,
申請(專利權)人:北京君和信達科技有限公司,
類型:發明
國別省市:
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