眼鏡片表面微透鏡陣列的屈光測量裝置及方法制造方法及圖紙

本發明專利技術公開了一種眼鏡片表面微透鏡陣列的屈光測量裝置及方法，微透鏡陣列的屈光測量裝置包括：測試模組，用于容置待測眼鏡片，所述待測眼鏡片的表面包括微透鏡陣列；光源模組，用于提供口徑可變且準直的測量光束；所述測量光束覆蓋并通過所述微透鏡陣列；接收模組，同時接收通過所述微透鏡陣列后的所述測量光束，并獲得其強度分布，根據所述強度分布的變化確定每個所述微透鏡的屈光值。本發明專利技術不僅提高了微透鏡陣列屈光測量的精度，還提高了微透鏡陣列的測量效率。列的測量效率。列的測量效率。

【技術實現步驟摘要】
眼鏡片表面微透鏡陣列的屈光測量裝置及方法


[0001]本專利技術涉及眼鏡片屈光度檢測領域，尤其涉及眼鏡片表面微透鏡陣列的屈光度測量裝置及方法。

技術介紹

[0002]近視是不能看清楚遠處對象但是能看清楚近處對象的眼部疾病。看不清楚的原因是遠處對象被聚焦成像至視網膜的前側，在視網膜處呈現模糊散斑。科學證實，近視眼發生和度數增加的主要原因是眼軸延長，而眼軸延長與視網膜周邊離焦密切相關。焦點落在視網膜前面者稱為近視性離焦，落在視網膜后面者稱為遠視性離焦。近視眼的視網膜中央呈近視性離焦，而周邊呈遠視性離焦，眼球具有依賴視網膜周邊成像誘導眼球發育的特點，尤其是18歲以下青少年近視眼，如果視網膜周邊成像為遠視性離焦，眼球長度就將進一步延長，近視不斷發展。而近視問題已然成為兒童青少年的成長造成了嚴重的影響。在生理方面，近視會導致眼球形態的改變，包括眼軸、角膜厚度、眼前房、晶狀體等。而高度近視的晶狀體平均厚度和寬度會增加的更多，這些結構的改變會導致眼壓的改變，隨著屈光程度的加深，眼壓會不斷提高，近視也會不斷加劇，如果不加以防控，將會發展為高度近視。
[0003]矯正近視最傳統、最直接的方法就是佩戴單光眼鏡，利用眼鏡前后彎曲表面產生的屈光補償人眼屈光不正，實現遠處對象在視網膜出的準確成像。然而，普通的單光眼鏡雖然可以保證視網膜黃斑位置處的清晰成像，但是周邊依然呈現遠視性離焦。青少年在配戴單光眼鏡，僅僅能保證短時間內的視力清晰，無法有效抑制近視的進一步發展。
[0004]角膜塑形鏡作為一種特殊的透氣性硬質角膜接觸材料鏡片，是通過改變角膜集合形態來提高人眼視力的，它雖然能在一定程度上抑制近視，但是由于它是一種隱形眼鏡，對角膜具有一定的損傷，另外，目標群體是兒童，兒童戴了塑形鏡以后，對人眼衛生情況要求較高，否則很容易發生感染。離焦軟性隱形眼鏡作為一種近視防控的產品，其環形的屈光躍變使人眼周邊產生了部分周邊近視性離焦，可以在一定程度上抑制近視的發展，但為了保證成像質量，減小成像的畸變效應，離焦軟性隱形眼鏡產生的近視性周邊離焦量較小，因此，對于近視抑制的效果有限。
[0005]離焦框架鏡因其低成本且對近視防控具有更好的效果的市場潛力更大，其對近視防控效果更好的根本原因在于其前表面排布這環形分布的微透鏡陣列，該微透鏡可提供人眼數個屈光度的周邊近視離焦量，遠大于離焦軟性隱形眼鏡，有效抑制近視的增加，另外，對于具有一定距離間隔的微透鏡陣列，在提供周邊近視性離焦的同時，并不會大幅度降低人眼觀察周邊的清晰度，保證了佩戴者的舒適性。
[0006]然而，離焦框架鏡前表面微透鏡對于離焦框架鏡表面的微透鏡陣列的實際屈光度測量，始終缺乏有效手段。如傳統的測量鏡片屈光的方法包括焦度計掃描法、哈特曼傳感器測量法、朗奇光柵法及莫爾偏折法等，這些方式均存在很大的缺陷，或者測量屈光度的耗時長，或僅能測量微透鏡陣列的平均屈光度，對單個微透鏡的屈光測量的準確性不高，存在明顯誤差。而傳統的微透鏡陣列屈光測量方法包括轉角法、放大率測量法、顯微鏡測量法、矢
高測量法、浮雕深度測量法等。但上述方法僅僅適用于基底面型為平面的微透鏡陣列屈光測量。對于離焦框架鏡這種在曲面上存在微透鏡陣列的結構屈光測量，目前缺乏針對性的準確測量方法。首先，離焦框架鏡前表面存在彎度和屈光，同時，離焦框架鏡后表面的面型多種多樣，除一般的球面外，還可以是柱面、復曲面、自由曲面等，這些均會對測試光束整體的強度分布造成影響，從而大大提高前表面的微透鏡屈光測量的誤差，其次，后表面的屈光由于每個微透鏡的直徑在毫米量級至百微米量級，光經過微透鏡后的衍射效應明顯，實際屈光值與基于微透鏡實際輪廓測量計算得到的屈光值存在明顯偏差；最后，對離焦鏡表面微透鏡陣列的微透鏡進行逐一屈光度測量，測量耗時長，且測量一致性無法保證。

技術實現思路

[0007]本專利技術的主要目的在于提供一種眼鏡片表面微透鏡陣列的屈光測量裝置及方法，旨在解決如何提高微透鏡陣列屈光測量的精度及效率的技術問題。
[0008]為實現上述目的，本專利技術提供一種眼鏡片表面微透鏡陣列的屈光測量裝置，包括：
[0009]測試模組，用于容置待測眼鏡片；所述待測眼鏡片的表面包括微透鏡陣列；
[0010]光源模組，用于提供口徑可變且準直的測量光束；所述測量光束覆蓋并通過所述微透鏡陣列；
[0011]接收模組，同時接收通過所述微透鏡陣列后的所述測量光束，并獲得其強度分布，根據所述強度分布的變化確定每個所述微透鏡的屈光值。
[0012]可選地，接收模組包括面型光電傳感器，所述面型光電傳感器沿著測量光束的光軸移動，同時獲得不同移動位置或移動距離的所述強度分布。
[0013]可選地，接收模組還包括數據處理器，所述數據處理器獲得所述強度分布對應的移動位置或移動距離。
[0014]可選地，強度分布包括眼鏡片前表面所形成的光斑的強度。
[0015]可選地，測試模組還包括補償元件，所述補償元件的前表面與所述待測眼鏡片的后表面面型互補。
[0016]可選地，測試模組還包括補償元件，所述補償元件的后表面與所述待測眼鏡片的前表面的曲率半徑相同，或所述補償元件的后表面為平面。
[0017]可選地，補償元件的折射率與所述待測微透鏡陣列的相同。
[0018]可選地，測試模組還包括設置于待測眼鏡片和所述補償元件之間的匹配介質；所述匹配介質為流體或柔性固體材料；所述流體為折射率匹配液，所述柔性固體材料可以是透明的塑料、橡膠，或甘油、硅油、硅膠等粘性較大的材料。
[0019]可選地，微透鏡陣列的屈光測量裝置還包括采樣模組，用于將所述測試光束分束得到第一光束和第二光束。
[0020]可選地，光源模組包括可調光闌和準直鏡。
[0021]此外，為實現上述目的，本申請還提供一種眼睛片表面微透鏡陣列的屈光測量方法，包括，
[0022]形成口徑可變的準直光束，作為測量光束；
[0023]調節測量光束口徑，使所述測量光束覆蓋并通過待測微透鏡陣列；
[0024]同時接收通過所述微透鏡陣列后的所述測量光束，并獲得其強度分布；
[0025]根據所述強度分布的變化確定每個所述微透鏡的屈光值。
[0026]本專利技術提供的眼鏡片表面微透鏡陣列的屈光測量裝置及方法，一方面，光源模組能夠形成口徑可變的準直光束，其光束口徑可根據被測微透鏡陣列的尺寸進行適應性調整，確保測量光束能夠一次性覆蓋被測微透鏡陣列，針對微透鏡陣列的多個微透鏡實現同時測量，無需針對每個微透鏡進行逐一照明和測量，因此能夠實現快速測量，避免了傳統測量技術測量微透鏡耗時長的問題，提高了測量效率。
[0027]另一方面，采用補償元件補償待測微透鏡后表面對測量光束的折射，避免了由于待測微透鏡后表面的各種球面、非球面面型、柱面、復曲面、自由曲面等面型，以及加工誤差等因素對屈光度測量產生的干擾，提高了微透鏡屈光測量的精度。其次，采樣模組將測量光束分為第一光束和第二光束，采用第二光束作為參考光標定所述第一光束的強度分布，消本文檔來自技高網...

【技術保護點】

【技術特征摘要】
1.一種眼鏡片表面微透鏡陣列的屈光測量裝置，其特征在于，包括：測試模組，用于容置待測眼鏡片，所述待測眼鏡片的表面包括微透鏡陣列；光源模組，用于提供口徑可變且準直的測量光束；所述測量光束覆蓋并通過所述微透鏡陣列；接收模組，同時接收通過所述微透鏡陣列后的所述測量光束，并獲得其強度分布，根據所述強度分布的變化確定每個所述微透鏡的屈光值。2.如權利要求1所述的屈光測量裝置，其特征在于，所述接收模組包括面型光電傳感器，所述面型光電傳感器沿著測量光束的光軸移動，同時獲得不同移動位置或移動距離的所述強度分布。3.如權利要求2所述的屈光測量裝置，其特征在于，所述接收模組還包括數據處理器，所述數據處理器獲得所述強度分布對應的移動位置或移動距離。4.如權利要求1所述的屈光測量裝置，其特征在于，所述測試模組還包括補償元件，所述補償元件的前表面與所述待測眼鏡片的后表面面型互補。5.如權利要求1所述的屈光測量裝置，其特征在于，所...

【專利技術屬性】
技術研發人員：高帆，崔焱，許鵬飛，黃葉權，
申請(專利權)人：深圳盛達同澤科技有限公司，
類型：發明
國別省市：