【技術實現步驟摘要】
觸摸檢測方法及裝置、芯片、電子設備和存儲介質
[0001]本公開涉及觸摸檢測
,尤其涉及一種觸摸檢測方法及裝置、芯片、電子設備和存儲介質。
技術介紹
[0002]現階段,電容式觸摸按鍵在外形美觀和使用壽命等方面都優于傳統的機械按鍵,因此電容式觸摸按鍵廣泛應用于包括家電、消費電子、工業控制和移動設備等領域,然而,在進行觸摸按鍵檢測時,由于電路設計及觸摸按鍵所處外圍環境不同,導致觸摸按鍵計數的準確率和效率會有不同程度的下降,尤其當觸摸按鍵容易受到外界強干擾時,誤觸發的情況更容易發生。
技術實現思路
[0003]根據本公開的一方面,提供了一種觸摸檢測方法,所述方法包括:
[0004]控制觸摸按鍵模塊對一個或多個按鍵分別進行N次觸摸按鍵掃描,得到各個按鍵各次觸摸按鍵掃描完成掃描時的掃描計數值,其中,所述觸摸按鍵模塊根據充放電單元的充放電次數得到針對按鍵的觸摸操作的檢測結果,所述掃描計數值根據按鍵完成掃描時對應的充放電次數確定,N為正整數;
[0005]對各按鍵各次觸摸按鍵掃描的掃描計數值進行濾波,得到各次觸摸按鍵掃描對應的濾波值;
[0006]確定各按鍵的第一異常濾波次數,若所述第一異常濾波次數大于第一預設數目,則對第N次觸摸按鍵掃描的掃描計數值再次進行濾波,其中,所述第一異常濾波次數對應的按鍵滿足:第N次觸摸按鍵掃描的掃描計數值與對應的濾波值的差值不為0、第N次觸摸按鍵掃描的掃描計數值與第N
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1次觸摸按鍵掃描的掃描計數值的變化趨勢相同、且所述差值大于第一預設 ...
【技術保護點】
【技術特征摘要】
1.一種觸摸檢測方法,其特征在于,所述方法包括:控制觸摸按鍵模塊對一個或多個按鍵分別進行N次觸摸按鍵掃描,得到各個按鍵各次觸摸按鍵掃描完成掃描時的掃描計數值,其中,所述觸摸按鍵模塊根據充放電單元的充放電次數得到針對按鍵的觸摸操作的檢測結果,所述掃描計數值根據按鍵完成掃描時對應的充放電次數確定,N為正整數;對各按鍵各次觸摸按鍵掃描的掃描計數值進行濾波,得到各次觸摸按鍵掃描對應的濾波值;確定各按鍵的第一異常濾波次數,若所述第一異常濾波次數大于第一預設數目,則對第N次觸摸按鍵掃描的掃描計數值再次進行濾波,其中,所述第一異常濾波次數對應的按鍵滿足:第N次觸摸按鍵掃描的掃描計數值與對應的濾波值的差值不為0、第N次觸摸按鍵掃描的掃描計數值與第N
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1次觸摸按鍵掃描的掃描計數值的變化趨勢相同、且所述差值大于第一預設系數與預設觸摸閾值之積;若再次濾波后的濾波值大于預設掃描計數值,確定檢測到按鍵的觸摸操作。2.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法還包括:確定各按鍵的第二異常濾波次數,若所述第二異常濾波次數大于第二預設數目,則對第N次觸摸按鍵掃描的掃描計數值再次進行濾波,所述第二異常濾波次數對應的按鍵滿足:第N次觸摸按鍵掃描的掃描計數值與對應的濾波值的差值不為0、第N次觸摸按鍵掃描的掃描計數值與第N
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1次觸摸按鍵掃描的掃描計數值的變化趨勢相同、所述差值小于或等于第一預設系數與預設觸摸閾值之積、且所述差值大于第二預設系數與預設觸摸閾值之積,其中,所述第二預設系數小于所述第一預設系數,所述第二預設數目小于所述第一預設數目。3.根據權利要求2所述的方法,其特征在于,所述方法包括:確定各按鍵的第三異常濾波次數,若所述第三異常濾波次數大于第三預設數目,則對第N次觸摸按鍵掃描的掃描計數值再次進行濾波,所述第三異常濾波次數對應的按鍵滿足:第N次觸摸按鍵掃描的掃描計數值與對應的濾波值的差值不為0、第N次觸摸按鍵掃描的掃描計數值與第N
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1次觸摸按鍵掃描的掃描計數值的變化趨勢相同、所述差值小于或等于第二預設系數與預設觸摸閾值之積、且所述差值大于第三預設系數與預設觸摸閾值之積,其中,所述第三預設系數小于所述第二預設系數,所述第三預設數目小于所述第二預設數目。4.根據權利要求1
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3任一項所述的方法,其特征在于,所述方法還包括:若第N次觸摸按鍵掃描的掃描計數值與第N
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1次觸摸按鍵掃描的掃描計數值均分別大于對應的濾波值或均分別小于對應的濾波值,則確定第N次觸摸按鍵掃描的掃描計數值與第N
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1次觸摸按鍵掃描的掃描計數值的變化趨勢相同。5.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述觸摸按鍵模塊包括控制單元、多個檢測通道、比較單元、電壓產生單元、第一電容及第一開關,每個檢測通道與每個觸摸按鍵對應,用于進行觸摸檢測,其中,所述比較單元的正向輸入端連接于各個檢測通道、所述第一電容的第一端、所述第一開關的第一端,所述第一電容的第二端及所述第一開關的第二端接地,所述電壓產生單元的第一輸出端連接于所述比較單元的負向輸入端,用于依次...
【專利技術屬性】
技術研發人員:張玉鑫,楊駿,
申請(專利權)人:晟矽微電子南京有限公司,
類型:發明
國別省市:
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