本發明專利技術實施例提供一種組合導航板卡的檢測方法，方法包括：對樣本組合導航板卡的試驗數據進行降維處理，得到樣本降維數據；根據所述樣本降維數據，訓練得到分類超平面；根據目標組合導航板卡的目標數據與所述分類超平面對所述目標組合導航板卡進行分類檢測，其中，所述目標數據與所述樣本降維數據具有相同的維數。通過對樣本組合導航板卡的試驗數據進行降維處理，降低了組合導航板卡的合格性判斷涉及的檢測項目，利用降維后的樣本降維數據訓練出的分類超平面，只需要用維數較低的目標數據即可對目標組合導航板卡進行檢測，降低了組合導航板卡的合格性檢測復雜度，提高了組合導航板卡的篩選效率。板卡的篩選效率。板卡的篩選效率。
【技術實現步驟摘要】
組合導航板卡的檢測方法、裝置、系統及相關設備
[0001]本專利技術涉及組合導航板卡的檢測
，尤其涉及一種組合導航板卡的檢測方法、裝置、系統及相關設備。
技術介紹
[0002]組合導航是指綜合各種導航設備，由監視器和計算機進行控制的導航系統。INS/GNSS組合導航系統是指基于GPS衛星導航系統和慣性導航系統的組合導航系統。組合導航板卡主要是指實現組合導航功能的集成電路，其生產工藝復雜，生產過程中易出現有缺陷的組合導航板卡。對于組合導航板卡的合格性判斷，往往涉及的要素眾多，無法從眾多要素中挑選出合適的要素作為組合導航板卡是否合格的判斷標準。具體來說，在實際生產過程中，由于制作工藝等因素，組合導航板卡生產會出現一定的不良率，對于組合導航板卡的檢測往往通過人工設置若干閾值的方式進行檢測，但是所生產組合導航板卡的合格性判斷涉及的檢測項目非常多，很難定量的進行組合導航板卡篩選。因此，現有的組合導航板卡由于合格性判斷涉及的檢測項目非常多，導致組合導航板卡的合格性檢測復雜，使得組合導航板卡篩選存在效率不高的問題。
技術實現思路
[0003]本專利技術實施例提供一種組合導航板卡的檢測方法，旨在解決現有的組合導航板卡由于合格性判斷涉及的檢測項目非常多，導致組合導航板卡的合格性檢測復雜，使得組合導航板卡篩選效率不高的問題，通過對樣本組合導航板卡的試驗數據進行降維處理，降低了組合導航板卡的合格性判斷涉及的檢測項目，利用降維后的樣本降維數據訓練出的分類超平面，只需要用維數較低的目標數據即可對目標組合導航板卡進行檢測，降低了組合導航板卡的合格性檢測復雜度，提高了組合導航板卡的篩選效率。
[0004]第一方面，本專利技術實施例提供一種組合導航板卡的檢測方法，包括以下步驟：
[0005]對樣本組合導航板卡的試驗數據進行降維處理，得到樣本降維數據；
[0006]根據所述樣本降維數據，訓練得到分類超平面；
[0007]根據目標組合導航板卡的目標數據與所述分類超平面對所述目標組合導航板卡進行分類檢測，其中，所述目標數據與所述樣本降維數據具有相同的維數。
[0008]可選的，所述對樣本組合導航板卡的試驗數據進行降維處理，得到樣本降維數據的步驟包括：
[0009]對第一數量個所述樣本組合導航板卡進行性能試驗，得到所述樣本組合導航板卡的第二數量個性能指標數據；
[0010]通過第一數量個所述樣本組合導航板卡對應的第二數量個所述性能指標數據，得到第一數量個所述樣本組合導航板卡對應的試驗數據；
[0011]對第一數量個所述樣本組合導航板卡對應的試驗數據進行降維處理，得到所述樣本降維數據，所述樣本降維數據包括第三數量個所述性能指標數據，所述第三數量小于所
述第二數量。
[0012]可選的，所述對第一數量個所述樣本組合導航板卡對應的試驗數據進行降維處理，得到所述樣本降維數據，所述樣本降維數據包括第三數量個所述性能指標數據的步驟包括：
[0013]將第一數量個所述樣本組合導航板卡對應的第二數量個所述性能指標數據構建成第一矩陣，所述第一矩陣包括第一數量個所述樣本組合導航板卡以及第二數量個所述性能指標數據；
[0014]計算所述第一矩陣的協方差矩陣，并根據所述協方差矩陣進行降維處理，得到第二矩陣；
[0015]基于所述第一矩陣和所述第二矩陣，得到所述樣本降維數據。
[0016]可選的，所述計算所述第一矩陣的協方差矩陣，并根據所述協方差矩陣進行降維處理，得到第二矩陣的步驟包括：
[0017]計算所述第一矩陣的協方差矩陣；
[0018]計算所述協方差矩陣的特征值以及所述特征值對應的特征向量；
[0019]根據所述特征值最大的第三數量個所述特征向量得到所述第二矩陣。
[0020]可選的，所述基于所述第一矩陣和所述第二矩陣，得到所述樣本降維數據的步驟包括：
[0021]將所述第一矩陣與所述第二矩陣進行相乘，得到第三矩陣；
[0022]根據所述第三矩陣，確定所述樣本降維數據。
[0023]可選的，所述根據所述樣本降維數據，計算得到分類超平面的步驟包括：
[0024]計算所述樣本降維數據到超平面的距離；
[0025]以最大化所述樣本降維數據到超平面的距離為目標，訓練得到分類超平面。
[0026]可選的，所述根據目標組合導航板卡的目標數據與所述分類超平面對所述目標組合導航板卡進行分類檢測的步驟包括：
[0027]計算目標組合導航板卡的目標數據與所述分類超平面的位置關系；
[0028]根據所述位置關系確定所述目標組合導航板卡的類型檢測結果，所述類型檢測結果包括合格和有缺陷。
[0029]第二方面，本專利技術實施例提供一種組合導航板卡的檢測裝置，包括：
[0030]數據處理模塊，用于對樣本組合導航板卡的試驗數據進行降維處理，得到樣本降維數據；
[0031]計算模塊，用于根據所述樣本降維數據，計算得到分類超平面；
[0032]分類檢測模型，用于根據目標組合導航板卡的目標數據與所述分類超平面對所述目標組合導航板卡進行分類檢測，其中，所述目標數據與所述樣本降維數據具有相同的維數。
[0033]第三方面，本專利技術實施例提供一種電子設備，包括：存儲器、處理器及存儲在存儲器上并可在處理器上運行的計算機程序，處理器執行計算機程序時實現本專利技術實施例提供的組合導航板卡的檢測方法中的步驟。
[0034]第四方面，本專利技術實施例提供一種計算機可讀存儲介質，計算機可讀存儲介質上存儲有計算機程序，計算機程序被處理器執行時實現專利技術實施例提供的組合導航板卡的檢
測方法中的步驟。
[0035]本專利技術實施例中，對樣本組合導航板卡的試驗數據進行降維處理，得到樣本降維數據；根據所述樣本降維數據，訓練得到分類超平面；根據目標組合導航板卡的目標數據與所述分類超平面對所述目標組合導航板卡進行分類檢測，其中，所述目標數據與所述樣本降維數據具有相同的維數。通過對樣本組合導航板卡的試驗數據進行降維處理，降低了組合導航板卡的合格性判斷涉及的檢測項目，利用降維后的樣本降維數據訓練出的分類超平面，只需要用維數較低的目標數據即可對目標組合導航板卡進行檢測，降低了組合導航板卡的合格性檢測復雜度，提高了組合導航板卡的篩選效率。
附圖說明
[0036]為了更清楚地說明本專利技術實施例或現有技術中的技術方案，下面將對實施例或現有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本專利技術的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。
[0037]圖1是本專利技術實施例提供的一種組合導航板卡的檢測方法的流程圖；
[0038]圖2是本專利技術實施例提供的一種組合導航板卡的檢測裝置的結構圖；
[0039]圖3是本專利技術實施例提供的一種電子設備的結構示意圖。
具體實施方式
[0040]下面將結合本專利技術實施本文檔來自技高網...
【技術保護點】
【技術特征摘要】
1.一種組合導航板卡的檢測方法，其特征在于，包括以下步驟：對樣本組合導航板卡的試驗數據進行降維處理，得到樣本降維數據；根據所述樣本降維數據，訓練得到分類超平面；根據目標組合導航板卡的目標數據與所述分類超平面對所述目標組合導航板卡進行分類檢測，其中，所述目標數據與所述樣本降維數據具有相同的維數。2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述對樣本組合導航板卡的試驗數據進行降維處理，得到樣本降維數據的步驟包括：對第一數量個所述樣本組合導航板卡進行性能試驗，得到所述樣本組合導航板卡的第二數量個性能指標數據；通過第一數量個所述樣本組合導航板卡對應的第二數量個所述性能指標數據，得到第一數量個所述樣本組合導航板卡對應的試驗數據；對第一數量個所述樣本組合導航板卡對應的試驗數據進行降維處理，得到所述樣本降維數據，所述樣本降維數據包括第三數量個所述性能指標數據，所述第三數量小于所述第二數量。3.如權利要求2所述的方法，其特征在于，所述對第一數量個所述樣本組合導航板卡對應的試驗數據進行降維處理，得到所述樣本降維數據，所述樣本降維數據包括第三數量個所述性能指標數據的步驟包括：將第一數量個所述樣本組合導航板卡對應的第二數量個所述性能指標數據構建成第一矩陣，所述第一矩陣包括第一數量個所述樣本組合導航板卡以及第二數量個所述性能指標數據；計算所述第一矩陣的協方差矩陣，并根據所述協方差矩陣進行降維處理，得到第二矩陣；基于所述第一矩陣和所述第二矩陣，得到所述樣本降維數據。4.如權利要求3所述的方法，其特征在于，所述計算所述第一矩陣的協方差矩陣，并根據所述協方差矩陣進行降維處理，得到第二矩陣的步驟包括：計算所述第一矩陣的協方差矩陣；計算所述協方差矩陣的特征值以及所述特征值對應的特征向量；根據所...
【專利技術屬性】
技術研發人員：向為，陳濟洲，楚翔超，鄭彬，王東會，
申請(專利權)人：湖南北云科技有限公司，
類型：發明
國別省市：
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