一種具有結構化閃爍體的高分辨率X射線探測器制造技術

本實用新型專利技術涉及一種具有結構化閃爍體的高分辨率X射線探測器，包括光纖面板，光纖面板一端為由嵌入Gd2O2S:Tb熒光顆粒構成的熒光閃爍體，光纖面板遠離熒光閃爍體的另一端接CCD/CMOS圖像傳感器，X射線從熒光閃爍體進入，探測轉換為典型波長為540nm的綠色光，再經過光纖直接到達光纖面板另一面連接的CCD/CMOS圖像傳感器。Gd2O2S:Tb熒光顆粒直接嵌在光纖中，形成具體結構化的熒光體閃爍體，X射線經Gd2O2S:Tb熒光顆粒轉化后的可見光經過光纖面板FOP直接到達了CCD/CMOS圖像傳感器表面，很大程度的減少的散射現(xiàn)象，避免了未轉換的X射線穿過閃爍體直接到達CCD/CMOS圖像傳感器,從而可以大大提高X射線轉化效率及成像分辨率。大提高X射線轉化效率及成像分辨率。大提高X射線轉化效率及成像分辨率。

【技術實現(xiàn)步驟摘要】
一種具有結構化閃爍體的高分辨率X射線探測器


[0001]本技術涉及一種探測器成像技術，特別涉及一種具有結構化閃爍體的高分辨率X射線探測器。

技術介紹

[0002]X射線探測器常規(guī)結構包括閃爍體、光電轉換陣列和電子學部分，如圖1所示X射線探測器結構示意圖，閃爍體GOS1置于光纖面板2上方，光纖面板2遠離閃爍體GOS1的另一端接CCD/CMOS圖像傳感器3，X射線經GOS轉化后通過光纖面板2將信息導入CCD/CMOS圖像傳感器3。由于閃爍體GOS1與光纖面板2、CCD/CMOS圖像傳感器3不是緊密貼合，中間有間隙，光在傳輸中會存在散射存在，導致了X射線轉化效率大大降低，成像分辨率降低，成像模糊。

技術實現(xiàn)思路

[0003]針對現(xiàn)有的閃爍體結構存在問題，提出了一種具有結構化閃爍體的高分辨率X射線探測器，以降低X射線經GOS轉化后的光散射現(xiàn)象，從而實現(xiàn)提高X射線光轉化效率以及成像質量的目的。
[0004]本技術的技術方案為：一種具有結構化閃爍體的高分辨率X射線探測器，包括光纖面板，光纖面板一端為由嵌入Gd2O2S:Tb熒光顆粒構成的熒光閃爍體，光纖面板遠離熒光閃爍體的另一端接CCD/CMOS圖像傳感器，X射線從熒光閃爍體進入，探測轉換為典型波長為540nm的綠色光，再經過光纖直接到達光纖面板另一面連接的CCD/CMOS圖像傳感器。
[0005]優(yōu)選的，所述光纖面板由數(shù)根光纖組成，在每根光纖遠離CCD/CMOS圖像傳感器的一端有槽；Gd2O2S:Tb熒光顆粒填充光纖面板中的每根光纖的槽，槽的深度為填充的Gd2O2S:Tb熒光顆粒的厚度。
[0006]優(yōu)選的，所述光纖面板中所有光纖上的槽位于同一高度平面上，所有光纖上的槽深度相同。
[0007]優(yōu)選的，所述光纖的槽深度根據(jù)X射線轉換實際需要設計。
[0008]一種結構化閃爍體，由嵌入充滿光纖端部或光纖組端部的熒光顆粒構成。
[0009]本技術的有益效果在于：本技術具有結構化閃爍體的高分辨率X射線探測器，Gd2O2S:Tb熒光顆粒直接嵌在光纖中，X射線經Gd2O2S:Tb熒光顆粒轉化后的光經過光纖面板FOP直接到達了CCD/CMOS圖像傳感器表面，很大程度的減少的散射現(xiàn)象，從而可以大大提高X射線轉化效率及成像分辨率。
附圖說明
[0010]圖1為現(xiàn)有X射線探測器結構示意圖；
[0011]圖2為本技術具有結構化閃爍體的高分辨率X射線探測器結構示意圖；
[0012]圖3為本技術結構化閃爍體結構放大圖。
具體實施方式
[0013]下面結合附圖和具體實施例對本技術進行詳細說明。本實施例以本技術技術方案為前提進行實施，給出了詳細的實施方式和具體的操作過程，但本技術的保護范圍不限于下述的實施例。
[0014]如圖2所示具有結構化閃爍體的高分辨率X射線探測器結構示意圖，光纖面板(FOP)11由很多微小的光纖組成，通常在幾微米到幾十微米；在每根微小的光纖遠離CCD/CMOS圖像傳感器3的一端上挖一定深度的槽，槽的深度根據(jù)X射線轉換實際需要而定；Gd2O2S:Tb熒光顆粒粉末10直接填充到光纖面板11中的每根光纖的槽中，槽的深度決定了填充的Gd2O2S:Tb熒光顆粒粉末10的厚度。如圖3所示放大圖，X射線從由Gd2O2S:Tb熒光顆粒粉末10構成的熒光閃爍體進入，探測轉換為典型波長為540nm的綠色光經過光纖直接到達光纖面板11下的CCD/CMOS圖像傳感器進行成像。X射線經Gd2O2S:Tb熒光顆粒轉化后的可見光經過光纖面板FOP直接到達了CCD/CMOS圖像傳感器表面，避免了中間光的散射，提高X射線轉化效率及成像分辨率。
[0015]以上所述實施例僅表達了本技術的幾種實施方式，其描述較為具體和詳細，但并不能因此而理解為對技術專利范圍的限制。應當指出的是，對于本領域的普通技術人員來說，在不脫離本技術構思的前提下，還可以做出若干變形和改進，這些都屬于本技術的保護范圍。因此，本技術專利的保護范圍應以所附權利要求為準。
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【技術保護點】

【技術特征摘要】
1.一種具有結構化閃爍體的高分辨率X射線探測器，其特征在于，包括光纖面板，光纖面板一端為由嵌入Gd2O2S:Tb熒光顆粒構成的熒光閃爍體，光纖面板遠離熒光閃爍體的另一端接CCD/CMOS圖像傳感器，X射線從熒光閃爍體進入，探測轉換為典型波長為540nm的綠色光，再經過光纖直接到達光纖面板另一面連接的CCD/CMOS圖像傳感器。2.根據(jù)權利要求1所述具有結構化閃爍體的高分辨率X射線探測器，其特征在于，所述光纖面板由數(shù)根光纖組成，在每根光纖遠離CCD/CMOS圖像傳感器的一...

【專利技術屬性】
技術研發(fā)人員：尹旭峰，韓愚，
申請(專利權)人：上海錚實光電技術有限公司，
類型：新型
國別省市：