【技術實現步驟摘要】
一種基于軸徑雙向補償的大型回轉裝備公差分配方法
[0001]本專利技術屬于表面輪廓測量和發動機裝配公差分配領域；具體涉及一種基于軸徑雙向補償的大型回轉裝備公差分配方法。
技術介紹
[0002]在大型回轉裝備裝配中多級間隙裝配轉子的裝配質量會顯著影響發動機的整機性能。間隙轉子的裝配誤差會隨著轉子的堆疊通過轉子間的裝配面接觸而不斷累加放大，因此對精準測量轉子裝配面是分析多級大型回轉裝備間隙裝配的基礎。
[0003]大型回轉裝備裝配的同軸度及垂直度是體現轉子系統的靜態裝配性能的核心指標，其超差將會導致發動機在高速運行時產生明顯振動，一旦振動嚴重，將會導致轉子和機匣碰磨，直接導致發動機磨損乃至損毀。由裝配不合理導致的裝配后多級裝備的同軸度誤差較大等問題，會在高速運轉時將其振動放大100至1000倍。
技術實現思路
[0004]本專利技術提供了一種基于軸徑雙向補償的大型回轉裝備公差分配方法，用以解決大型高速回轉裝備裝配同軸度低、裝配質量差，振動大的問題。
[0005]本專利技術通過以下技術方案實現：
[0006]一種基于軸徑雙向補償的大型回轉裝備公差分配方法，所述大型回轉裝備公差分配方法具體包括以下步驟：
[0007]步驟1：建立的七參數誤差圓柱輪廓測量模型；
[0008]步驟2：基于步驟1的測量模型，使用冪級數展開得到簡化的軸徑七偏置誤差圓柱輪廓測量模型；
[0009]步驟3：基于步驟2簡化的軸徑七偏置誤差圓柱輪廓測量模型，估計被測面偏心誤差進而得到被測零部件偏...
【技術保護點】
【技術特征摘要】
1.一種基于軸徑雙向補償的大型回轉裝備公差分配方法，其特征在于，所述大型回轉裝備公差分配方法具體包括以下步驟：步驟1：建立的七參數誤差圓柱輪廓測量模型；步驟2：基于步驟1的測量模型，使用冪級數展開得到簡化的軸徑七偏置誤差圓柱輪廓測量模型；步驟3：基于步驟2簡化的軸徑七偏置誤差圓柱輪廓測量模型，估計被測面偏心誤差進而得到被測零部件偏心誤差目標函數；步驟4：基于步驟3的被測零部件偏心誤差目標函數，得到測量面偏心誤差概率密度及接觸面跳動與偏心誤差概率關系；步驟5：基于步驟4的測量面偏心誤差概率密度及接觸面跳動與偏心誤差概率關系得到大型回轉裝備被測零部件的公差分配方案。2.根據權利要求1所述一種基于軸徑雙向補償的大型回轉裝備公差分配方法，其特征在于，所述步驟1的七參數誤差圓柱輪廓測量模型分為徑向的七參數誤差圓柱輪廓測量模型與軸向的七參數誤差圓柱輪廓測量模型；其中軸向的七參數誤差圓柱輪廓測量模型具體為，當在0到π范圍內時：當在π到2π范圍內時：在π到2π范圍內時：其中i、j分別為第i個測點和第j個端面；所述徑向的七參數誤差圓柱輪廓測量模型與軸向的七參數誤差圓柱輪廓測量模型相同。3.根據權利要求1所述一種基于軸徑雙向補償的大型回轉裝備公差分配方法，其特征在于，基于步驟1的測量模型建立復合偏心、傾斜、測頭偏移、測頭半徑、測頭支桿傾斜、水平及豎直導軌傾斜的七偏置誤差圓柱輪廓測量模型，得出七偏置誤差測量模型方程最終形式：
其中p為采樣截面數，各截面采樣點數為n，P
ij
為截面j的測點i，O
11
和O
1j
為底面和截面j的測量回轉中心，被測件底面和截面j的幾何中心分別為O
21
和O
2j
，幾何軸線傾斜角和豎直導軌傾斜角分別為γ和φ。4.根據權利要求1所述一種基于軸徑雙向補償的大型回轉裝備公差分配方法，其特征在于，所述步驟2使用冪級數展開得到簡化的軸徑七偏置誤差圓柱輪廓測量模型具體為，以d
j
+L
j
tanw sinτ
ij
+z
j
tanφsinε
ij
+e
j
sin(σ
ij
?
α
j
)為展開參數，并略去高次項可得七偏置誤差測量模型為：5.根據權利要求1所述一種基于軸徑雙向補償的大型回轉裝備公差分配方法，其特征在于，所述步驟3具體為，依據蒙特卡羅法生成各級大型高速回轉裝備的徑向偏心及軸向垂直度數據10000組，旋轉各級大型高速回轉裝備的旋轉角度，進而得到10000組多級裝備的同軸度參數；所述步驟4具體為，根據多級裝備的同軸度參數繪制的分布函數求出概率密度函數；所述步驟5具體為，進而得到各級大型高速回...
【專利技術屬性】
技術研發人員：譚久彬，邵春雨，孫傳智，劉永猛，
申請(專利權)人：哈爾濱工業大學，
類型：發明
國別省市：
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