影像擷取系統及其對焦裝置制造方法及圖紙

一種對焦裝置包含一承載座、一線圈組及一磁石單元。承載座供一物鏡設置，并定義一通過物鏡的光軸。線圈組與承載座連接且線圈組圍繞界定出一容置空間。磁石單元設置于容置空間中，且磁石單元具有二磁石及一夾置于磁石之間的導磁薄板，磁石相向面的極性為相同，磁石產生的磁力線受導磁薄板改變的方向實質上是與線圈組的繞線方向垂直，借改變通過線圈組的電流以使線圈組及承載座沿光軸延伸方向移動。

【技術實現步驟摘要】

本專利技術涉及一種影像擷取系統及其對焦裝置，特別是涉及一種利用音圈馬達(Voice Coil Motor)驅動原理的影像擷取系統及具對焦裝置。
技術介紹
一般的數字影像產品，如相機手機、數字相機或攝影機等，已被當作為紀錄影像的重要工作，在這些產品的機構中，都包含有一影像擷取裝置，用以將光學影像轉換為數字影像信號。 在高畫質的影像擷取裝置中通常具有一物鏡模塊及一影像感測模塊(如CCD、CMOS)，此外，還需要有一對焦致動器，用以驅動物鏡模塊，作平行物鏡光軸的聚焦偏差修正，使光學影像可以正確地聚焦在影像感測模塊上。 然而，目前大部分的對焦致動器，都是使用線性馬達或壓電材料來驅動物鏡作偏差修正，不但成本較高且電磁效能也不佳，隨著高像素及薄型趨勢，驅動物鏡作對焦修正的致動器需求也越來越高。
技術實現思路
本專利技術的目的在提供一種成本較低、磁能使用率高的對焦裝置。 本專利技術的另一目的，即在提供一種成本較低、磁能使用率高的影像擷取系統。 本專利技術對焦裝置包含一承載座、一線圈組及一磁石單元。承載座供一物鏡設置，并定義一通過物鏡的光軸。線圈組與承載座連接且線圈組圍繞界定出一容置空間。磁石單元設置于容置空間中，且磁石單元具有二磁石及一夾置于磁石之間的導磁薄板，磁石相向面的極性為相同，磁石產生的磁力線受導磁薄板改變的方向實質上是與線圈組的繞線方向垂直，借改變通過線圈組的電流以使線圈組及承載座沿光軸延伸方向移動。 本專利技術影像擷取系統包含一物鏡、一影像感測模塊及一對焦裝置。定義一通過物鏡的光軸。影像感測模塊是接收通過物鏡的影像光束。對焦裝置包括一承載座、一線圈組及一磁石單元。承載座供物鏡設置，線圈組與承載座連接且線圈組圍繞界定出一容置空間，磁石單元設置于容置空間中，且磁石單元具有二磁石及一夾置于磁石之間的導磁薄板，磁石相向面的極性為相同，磁石產生的磁力線受導磁薄板改變的方向實質上是與線圈組的繞線方向垂直，借改變通過線圈組的電流以使線圈組及承載座沿光軸延伸方向移動。 本專利技術影像擷取系統，不但構造簡單、成本較低、薄型化，且提供一種三明治結構的磁石單元，借由導磁薄板來改變及均勻化磁場，且借輸入電流的改變以達到驅動線圈組、承載座及物鏡沿光軸方向(對焦方向)的移動來修正對焦。附圖說明下面結合附圖及實施例對本專利技術進行詳細說明圖1是本專利技術影像擷取系統的一最佳實施例的立體分解圖。 圖2是所述實施例的一俯視圖。 圖3是所述實施例的一后視圖。 圖4是沿圖3中的直線I-I所取的剖視圖。 圖5是沿圖3中的直線II-II所取的剖視圖。 圖6是沿圖2中的直線III-III所取的剖視圖。 圖7是沿圖2中的直線IV-IV所取的剖視圖。 圖8是所述實施例的一示意圖，說明一磁石單元及一線圈組。 圖9是所述實施例的一示意圖，說明所述磁石單元具有三磁石及二導磁薄板。具體實施方式如圖1、圖2與圖3所述，本專利技術影像擷取系統的最佳實施例包含一物鏡2、一影像感測模塊3及一對焦裝置4。并定義一通過物鏡2的光軸5。 對焦裝置4包括一上蓋板41、一承載座42、一基座43、一線圈組44、一磁石單元45、一電路板46及多彈性導體47。基座43具有一底壁431及一由底壁431周緣向上延伸的側壁432，底壁431上開設有一孔433，且基座43供容置承載座42、線圈組44及磁石單元45，上蓋板41對應基座43外型蓋設于基座43的側壁432頂緣，將承載座42、線圈組44及磁石單元45覆蓋于基座43內，且上蓋板41對應基座43的孔433的位置處開設有一孔411。承載座42具有一本體421、一形成于本體421上的孔422及多字于本體421兩側的端子423，物鏡2是借由孔422穿設于承載座42上，方式包括但不限于螺合、咬合或點膠固定，線圈組44兩端是各自連接于承載座42的端子423上，且線圈組44圍繞界定出一容置空間441，供磁石單元45設置，磁石單元45底部可貼合于基座43底壁431上且磁石單元45具有上、下設置的二磁石451及一夾置于二磁石451間的導磁薄板452，三者構成一三明治結構，導磁薄板452板面垂直光軸5，且上下兩磁石451相向面的極性相同，須注意的是，磁石單元45是與線圈組44間隔一固定距離，也就是說，磁石單元45與線圈組44不接觸，且線圈組44繞線方向垂直光軸5方向。線圈組44必須圍繞在導磁薄板452周圍，定義導磁薄板452沿光軸5方向的厚度為，線圈組44在光軸5方向的移動范圍為，線圈組44沿光軸5方向的繞線高度為，線圈組44在光軸5方向的移動范圍(s)內必須涵蓋導磁薄板452的厚度(t)，也就是說線圈組44繞線的高度(h)必須大于導磁薄板452厚度(t)加上運動的范圍(s)，即。電路板46是固定于基座43的側壁432外壁面上，且彈性導體47為長條狀，一端固定于電路板46，另一端則延伸進入基座43內部與承載座42的端子423電連接(如焊接)，彈性導體47可將承載座42及線圈組44支撐懸吊在基座43內，且基座43的側壁432供彈性導體47穿過處對應凹設多凹槽空間434。 影像感測模塊3包括一電荷耦合組件31(CCD或CMOS)及一軟性電路板32(FPC)，軟性電路板32是位于基座43及電路板46下方，而電荷耦合組件31則設置于軟性電路板32上且其位置對應基座43底壁431上的孔433。 上述為本實施例的組件介紹，以下將詳述其組裝關系及作動原理。 如圖4～7所示，物鏡2是穿設于承載座42的孔422上，且上蓋板41的孔411的孔徑大于物鏡2的直徑，因此物鏡2可在上蓋板41的孔411內上下移動，且上蓋板41的孔411、承載座42的孔422及基座43的孔433是位于光軸5上，也就是三者聯機方向與光軸5方向(對焦方向)相同，借此，影像光束進入物鏡3后，可依次通過上蓋板41的孔411、承載座42的孔422及基座43的孔433，最后打至CCD31上。接著，磁石單元45設置于基座43及上蓋板41之間，線圈組44圍繞呈方框且磁石單元45設于方框內，線圈組44與承載座42連接，且線圈組44與承載座42借彈性導體47支撐懸吊于電路板47上，而電路板47則裝置于基座43上，彈性導體47材質可為銅合金，例如鈹銅(Beryllium Copper)，彈性導體47借由電路板47可輸入電流至線圈組44，磁石單元45呈三明治結構(參閱圖8)，也就是說，兩磁石451中間夾導磁薄板452，導磁薄板452板面垂直光軸5，導磁薄板452材質包括但不限于硅鋼板或碳鋼板，用以使磁場均勻，本實施例中，磁石451相向面是為N極，磁石單元45最上及最下的面是為S極，而線圈組44位于導磁薄板452旁，圖8右側是表示線圈電流進入紙面，圖8左側是表示線圈電流穿出紙面，受到導磁薄板452影響，兩磁石451產生的磁力線受導磁薄板452改變的方向實質上是與線圈組44的繞線方向垂直，而由安培定律可知，線圈組44受力方向為向上的方向，如果改變電流方向，也就是圖8右側改為線圈電流穿出紙而，圖8左側改為線圈電流進入紙面，則線圈組44受力方向為向下的方向，因此，借改變通過線圈組44的電流可使線圈組44及承載座42沿光軸5延伸方向移動，以達到物鏡2沿光軸5方向的對焦修正。 此外，熟習技藝者當知，磁石單元45并不本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種對焦裝置，包含一承載座、一線圈組及一磁石單元，其特征在于：所述承載座用以供一物鏡設置，并定義一通過所述物鏡的光軸，所述線圈組與所述承載座連接且所述線圈組圍繞界定出一容置空間，所述磁石單元設置于所述容置空間中，且所述磁石單元具有二磁石及一夾置于所述磁石之間的導磁薄板，所述磁石相向面的極性相同，所述磁石產生的磁力線受所述導磁薄板改變的方向實質上是與所述線圈組的繞線方向垂直，借改變通過所述線圈組的電流以使所述線圈組及所述承載座沿所述光軸延伸方向移動。

【技術特征摘要】
1.一種對焦裝置，包含一承載座、一線圈組及一磁石單元，其特征在于所述承載座用以供一物鏡設置，并定義一通過所述物鏡的光軸，所述線圈組與所述承載座連接且所述線圈組圍繞界定出一容置空間，所述磁石單元設置于所述容置空間中，且所述磁石單元具有二磁石及一夾置于所述磁石之間的導磁薄板，所述磁石相向面的極性相同，所述磁石產生的磁力線受所述導磁薄板改變的方向實質上是與所述線圈組的繞線方向垂直，借改變通過所述線圈組的電流以使所述線圈組及所述承載座沿所述光軸延伸方向移動。2.如權利要求1項所述的對焦裝置，其特征在于所述承載座設有一孔，用以供所述物鏡穿設。3.如權利要求1項所述的對焦裝置，其特征在于所述線圈組的繞線方向是垂直所述光軸。4.如權利要求1項所述的對焦裝置，其特征在于所述線圈組圍繞在所述導磁薄板周圍，定義所述導磁薄板沿所述光軸方向的厚度為，所述線圈組在所述光軸方向的移動范圍為，所述線圈組沿所述光軸方向的繞線高度為h，則滿足h≥t+s。5.如權利要求1項所述的對焦裝置，其特征在于所述線圈組與所述磁石單元間隔有一距離。6.如權利要求1項所述的對焦裝置，其特征在于所述磁石單元具有具有三磁石及二分別夾置于所述磁石之間的導磁薄板，所述磁石相向面的極性為相同。7.如權利要求1項所述的對焦裝置，其特征在于所述對焦裝置還包含一基座及一上蓋板，所述基座供所述磁石單元、所述承載座及所述線圈組容設，且所述上蓋板蓋設于所述基座上。8.如權利要求7項所述的對焦裝置，其特征在于所述上蓋板開設有一孔，用以供所述物鏡穿過。9.如權利要求8項所述的對焦裝置，其特征在于所述基座具有一底壁及一形成于所述底壁上的孔，所述基座的孔是對應所述上蓋板的孔。10.如權利要求9項所述的對焦裝置，其特征在于所述承載座具有一本體及一形成于所述本體上的孔，所述孔用以供所述物鏡穿設，且所述上蓋板的孔、所述承載座的孔及所述基座的孔是對應位于所述光軸上。11.如權利要求1項所述的對焦裝置，其特征在于所述對焦裝置還包含一電路板及多彈性導體，所述電路板裝設于所述基座的一側壁上，所述彈性導體一端連接所述電路板，另一端連接所述承載座。12.如權利要求11項所述的對焦裝置，其特征在于所述線圈組是與所述彈性導體電連接。13.如權利要求11項所述的對焦裝置，其特征在于每一彈性導體材顧為銅合金。14.如權利要求11項所述的對焦裝置，其特征在于每一彈性導體材質為鈹銅。15.如權利要求1項所述的對焦裝置，其特征在于所述導磁薄板材質為硅鋼板及碳鋼板其中一種。16.一種影像擷取系統，其包含一物鏡、一影像感測模塊及一對焦裝置，定義一通過所述物鏡的光軸，且所述影像感測模塊接收通過所述物鏡的影像光束，其特征在于所述對焦裝置包括一承載座、一線圈組及...

【專利技術屬性】
技術研發人員：陳寶全，黃倩靈，
申請(專利權)人：鑫視科技股份有限公司，
類型：發明
國別省市：71[中國|臺灣]