一種矢量網絡分析儀發射參考測量系統技術方案

本實用新型專利技術涉及一種矢量網絡分析儀發射參考測量系統，包括發射系統、參考系統以及測量系統，發射系統包括第一倍頻器、功率放大器、第二倍頻器和隔離器，參考系統包括第二混頻器，測量系統包括第一混頻器和第三倍頻器。本實用新型專利技術一種矢量網絡分析儀發射參考測量系統，可以減少測量精度在系統誤差上的影響；通過光學耦合器與三個系統之間的連接關系，一方面可以減小插入損耗以及增大端口之間的隔離度，另一方面可以降低耦合器的主路輸出口的發射信號泄漏到耦合器的輸出端。射信號泄漏到耦合器的輸出端。射信號泄漏到耦合器的輸出端。

【技術實現步驟摘要】
一種矢量網絡分析儀發射參考測量系統


[0001]本技術涉及矢量網絡分析儀相關
，尤其涉及一種矢量網絡分析儀發射參考測量系統。

技術介紹

[0002]矢量網絡分析儀是一種電磁波能量的測試設備。它既能測量單端口網絡的各種參數幅度，也能測相位。矢量網絡分析儀的原理與使用力直接取決于系統的動態范圍指標。矢量網絡分析儀本身自帶一個信號源發生器，可以對一個頻段進行頻率掃描。單端口測量將激勵信號加在端口上，通過測量反射回來信號的幅度和相位，就可以判斷出阻抗或者反射情況。而對于雙端口測量，則還可以測量傳輸參數。
[0003]目前，大多數矢量網絡分析儀擴展模塊的測量精度來源于系統誤差、隨機誤差以及漂移誤差，且大多數誤差來源于系統誤差，這些誤差對模塊的發射以及傳輸測量都會造成影響。比如現有技術中常見的一種矢量網絡分析儀擴展模塊包括發射參考模塊以及測量接收模塊，測量接收模塊中定向耦合器中一部分輸入信號會泄露到耦合器輸出端，且從耦合器的主路輸出口也會有少量發射信號到耦合器的輸出端，給測量結果帶來不確定因素。
[0004]有鑒于上述的缺陷，本設計人積極加以研究創新，以期創設一種矢量網絡分析儀發射參考測量系統，使其更具有產業上的利用價值。

技術實現思路

[0005]為解決上述技術問題，本技術的目的是提供一種矢量網絡分析儀發射參考測量系統。
[0006]為實現上述目的，本技術采用如下技術方案：
[0007]一種矢量網絡分析儀發射參考測量系統，包括發射系統、參考系統以及測量系統，發射系統包括第一倍頻器、功率放大器、第二倍頻器和隔離器，參考系統包括第二混頻器，測量系統包括第一混頻器和第三倍頻器，第一倍頻器的輸出端與功率放大器的輸入端相連接，功率放大器的輸出端與第二倍頻器的輸入端相連接，第二倍頻器的輸出端與隔離器的輸入端相連接，隔離器的輸出端與光學耦合器的輸入端相連接，光學耦合器的第一耦合端與第二混頻器的第一輸入端相連接，本振功分器的第一輸出端與第二混頻器的第二輸入端相連接，光學耦合器的第二耦合端與第一混頻器的第一輸入端相連接，本振功分器的第二輸出端與第三倍頻器的輸入端相連接，第三倍頻器的輸出端與第一混頻器的第二輸入端相連接。
[0008]作為本技術的進一步改進，測量系統還包括低噪聲放大器，第一混頻器的輸出端與低噪聲放大器的輸入端相連接。
[0009]作為本技術的進一步改進，光學耦合器為法拉第旋轉耦合器。
[0010]作為本技術的進一步改進，第一混頻器為分諧波混頻器。
[0011]作為本技術的進一步改進，第二混頻器為高次諧波混頻器。
[0012]借由上述方案，本技術至少具有以下優點：
[0013]本技術一種矢量網絡分析儀發射參考測量系統，可以減少測量精度在系統誤差上的影響；通過光學耦合器與三個系統之間的連接關系，一方面可以減小插入損耗以及增大端口之間的隔離度，另一方面可以降低耦合器的主路輸出口的發射信號泄漏到耦合器的輸出端。
[0014]上述說明僅是本技術技術方案的概述，為了能夠更清楚了解本技術的技術手段，并可依照說明書的內容予以實施，以下以本技術的較佳實施例并配合附圖詳細說明如后。
附圖說明
[0015]為了更清楚地說明本技術實施例的技術方案，下面將對實施例中所需要使用的附圖作簡單地介紹，應當理解，以下附圖僅示出了本技術的某些實施例，因此不應被看作是對范圍的限定，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他相關的附圖。
[0016]圖1是本技術一種矢量網絡分析儀發射參考測量系統的結構示意圖；
[0017]圖2是圖1中光學耦合器的結構示意圖。
[0018]其中，圖中各附圖標記的含義如下。
[0019]1第一倍頻器
??????????
2功率放大器
[0020]3第二倍頻器
???????????
4隔離器
[0021]5光學耦合器
???????????
6第一混頻器
[0022]7第三倍頻器
???????????
8本振功分器
[0023]9第二混頻器
???????????
10低噪聲放大器
具體實施方式
[0024]下面結合附圖和實施例，對本技術的具體實施方式作進一步詳細描述。以下實施例用于說明本技術，但不用來限制本技術的范圍。
[0025]為了使本
的人員更好地理解本技術方案，下面將結合本技術實施例中附圖，對本技術實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本技術一部分實施例，而不是全部的實施例。通常在此處附圖中描述和示出的本技術實施例的組件可以以各種不同的配置來布置和設計。因此，以下對在附圖中提供的本技術的實施例的詳細描述并非旨在限制要求保護的本技術的范圍，而是僅僅表示本技術的選定實施例。基于本技術的實施例，本領域技術人員在沒有做出創造性勞動的前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本技術保護的范圍。
[0026]實施例
[0027]如圖1～圖2所示，
[0028]一種矢量網絡分析儀發射參考測量系統，包括發射系統、參考系統以及測量系統，發射系統包括第一倍頻器1、功率放大器2、第二倍頻器3和隔離器4，參考系統包括第二混頻器9，測量系統包括第一混頻器6和第三倍頻器7，第一倍頻器1的輸出端與功率放大器2的輸入端相連接，功率放大器2的輸出端與第二倍頻器3的輸入端相連接，第二倍頻器3的輸出端
與隔離器4的輸入端相連接，隔離器4的輸出端與光學耦合器5的輸入端相連接，光學耦合器5的第一耦合端與第二混頻器9的第一輸入端相連接，本振功分器8的第一輸出端與第二混頻器9的第二輸入端相連接，光學耦合器5的第二耦合端與第一混頻器6的第一輸入端相連接，本振功分器8的第二輸出端與第三倍頻器7的輸入端相連接，第三倍頻器7的輸出端與第一混頻器6的第二輸入端相連接。
[0029]其中，測量系統還包括低噪聲放大器10，第一混頻器6的輸出端與低噪聲放大器10的輸入端相連接。
[0030]其中，上述零部件的類型選擇，光學耦合器5為法拉第旋轉耦合器。第一混頻器6為分諧波混頻器。第二混頻器9為高次諧波混頻器。
[0031]本技術一種矢量網絡分析儀發射參考測量系統的工作過程或工作原理簡述：
[0032]一種矢量網絡分析儀發射參考測量系統，包括發射系統、參考系統以及測量系統三個模塊。
[0033]其中，
[0034]發射系統是由基波信號經過第一倍頻器1后，得到的信號再經過功率放大器2后，然后經過第二倍頻器3之后，得到的信號經過隔離器4，最后經過光學耦合器5得到發射信號；
[0035]由本振功分器8的第一輸出端與參考系統的第二混頻器9中第二輸入端的(本振端)相連接，光本文檔來自技高網...

【技術保護點】

【技術特征摘要】
1.一種矢量網絡分析儀發射參考測量系統，包括發射系統、參考系統以及測量系統，其特征在于，所述發射系統包括第一倍頻器(1)、功率放大器(2)、第二倍頻器(3)和隔離器(4)，所述參考系統包括第二混頻器(9)，所述測量系統包括第一混頻器(6)和第三倍頻器(7)，所述第一倍頻器(1)的輸出端與功率放大器(2)的輸入端相連接，所述功率放大器(2)的輸出端與第二倍頻器(3)的輸入端相連接，所述第二倍頻器(3)的輸出端與隔離器(4)的輸入端相連接，所述隔離器(4)的輸出端與光學耦合器(5)的輸入端相連接，所述光學耦合器(5)的第一耦合端與第二混頻器(9)的第一輸入端相連接，本振功分器(8)的第一輸出端與第二混頻器(9)的第二輸入端相連接，所述光學耦合器(5)的第二耦合端與第一混...

【專利技術屬性】
技術研發人員：滑婷婷，
申請(專利權)人：蘇州伏波電子科技有限公司，
類型：新型
國別省市：