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    一種用于GIS設備缺陷區(qū)域X-DR圖像超分辨率方法技術

    技術編號:36423434 閱讀:20 留言:0更新日期:2023-01-20 22:32
    本發(fā)明專利技術提供了一種用于GIS設備缺陷區(qū)域X

    【技術實現(xiàn)步驟摘要】
    一種用于GIS設備缺陷區(qū)域X
    ?
    DR圖像超分辨率方法


    [0001]本專利技術涉及圖像處理
    ,具體而言,涉及一種用于GIS設備缺陷區(qū)域X
    ?
    DR圖像超分辨率方法。

    技術介紹

    [0002]氣體絕緣全封閉組合電器(gas insulated switchgear,GIS)憑借維護量小、集成性好及供電可靠性高的優(yōu)勢,被廣泛應用于變電站中。然而,受生產工藝和長時間運行的影響,GIS設備內部不可避免的存在絕緣缺陷(如裂縫、氣泡、金屬異物等),容易導致設備絕緣故障,使其在電網(wǎng)中的保護和控制作用失效,嚴重時,甚至會引發(fā)停電事故。因此,為了保證GIS設備安全、穩(wěn)定、可靠運行,對其內部各部件進行定期的狀態(tài)檢測具有重要的意義。X射線數(shù)字成像(X
    ?
    digital radiography,X
    ?
    DR)技術具有免接觸、強穿透力和無損檢測的優(yōu)點,可在GIS設備不拆解、不破壞的前提下,直觀地展現(xiàn)其內部元件的損壞程度。
    [0003]由于GIS設備的X
    ?
    DR成像圖片存在紋理模糊、缺乏細節(jié)信息和空間信息、特征不突出等缺點,導致后續(xù)的缺陷檢測方法難以取得理想的效果。因此,非常需要對GIS設備的X
    ?
    DR圖像進行預處理。在現(xiàn)有技術中,基于超分辨注意力機制改進的GIS內部細微缺陷X
    ?
    DR圖像檢測方法,只是簡單的將注意力機制與神經網(wǎng)絡結合,無法針對GIS設備X
    ?
    DR圖像缺陷故障區(qū)域進行重點處理,生成的GIS設備高分辨率圖像清晰度欠佳,難以在后續(xù)的缺陷檢測與診斷中發(fā)揮作用,有待改進。

    技術實現(xiàn)思路

    [0004]基于此,為了解決現(xiàn)有技術生成的GIS設備高分辨率圖像清晰度欠佳,難以在后續(xù)的缺陷檢測與診斷中發(fā)揮作用的問題,本專利技術提供了一種用于GIS設備缺陷區(qū)域X
    ?
    DR圖像超分辨率方法,其具體技術方案如下:
    [0005]一種用于GIS設備缺陷區(qū)域X
    ?
    DR圖像超分辨率方法,其包括如下步驟:
    [0006]S1,構建GIS設備X
    ?
    DR圖像退化模型以對GIS設備X
    ?
    DR原始圖像進行退化處理,生成GIS設備X
    ?
    DR低分辨率圖像;
    [0007]S2,構建GIS設備X
    ?
    DR超分辨率圖像生成器;
    [0008]S3,構建GIS設備X
    ?
    DR圖像鑒別器;
    [0009]S4,設計圖像鑒別器的總損失函數(shù)L
    D
    =λ1L
    D1
    +λ2L
    D2
    以及圖像生成器的總損失函數(shù)L
    G
    =L
    precep
    +λ3L
    G1
    +λ4L
    G2
    +ηL1;
    [0010]S5,根據(jù)GIS設備X
    ?
    DR超分辨率圖像生成器、GIS設備X
    ?
    DR圖像鑒別器以及總損失函數(shù),構建GIS設備X
    ?
    DR圖像超分辨網(wǎng)絡;
    [0011]S6,通過GIS設備X
    ?
    DR圖像超分辨網(wǎng)絡對GIS設備X
    ?
    DR原始圖像進行處理,生成GIS設備X
    ?
    DR超分辨率圖像;
    [0012]其中,L
    D1
    表示第一個鑒別器的損失函數(shù),L
    D2
    表示第二個鑒別器的損失函數(shù),λ1、λ2、λ3、λ4以及η表示調節(jié)系數(shù),L
    precep
    表示感知損耗,L1表示L1損失函數(shù),L
    G1
    表示第一個鑒別器對
    應的生成器的損失函數(shù),L
    G2
    表示第二個鑒別器對應的生成器的損失函數(shù)。
    [0013]通過將鑒別器與現(xiàn)有生成對抗網(wǎng)絡的生成器結合,組成所述用于GIS設備缺陷區(qū)域X
    ?
    DR圖像超分辨率方法,其生成的GIS設備X
    ?
    DR超分辨率圖像有利于提高缺陷檢測的精確度,可以為GIS設備的狀態(tài)檢測和安全運行提供重要的技術手段,解決了現(xiàn)有技術生成的GIS設備高分辨率圖像清晰度欠佳,難以在后續(xù)的缺陷檢測與診斷中發(fā)揮作用的問題。
    [0014]進一步地,GIS設備X
    ?
    DR圖像退化模型為二階退化模型,退化處理包括模糊、調整、噪聲和壓縮。
    [0015]進一步地,GIS設備X
    ?
    DR超分辨率圖像生成器由多個殘差密集塊構成,殘差密集塊具有殘差
    ?
    殘差結構,并且殘差密集塊的主干路徑上包括多個dense block,dense block和主干路徑之間設有殘差縮放因子γ,γ∈[0,1]。
    [0016]進一步地,在步驟S3中,構建GIS設備X
    ?
    DR圖像鑒別器的具體方法包括如下步驟:
    [0017]S30,構建帶有跳躍式連接結構的U
    ?
    NET;
    [0018]S31,將上下文變壓器模塊引入到U
    ?
    Net的跳躍式連接結構中;
    [0019]S32,使用連接模塊將上下文變壓器模塊的輸出與來自U
    ?
    Net的特征融合;
    [0020]S33,對來自U
    ?
    Net的特征進行上采樣。
    [0021]進一步地,在步驟S4中,設計圖像鑒別器的總損失函數(shù)的具體方法包括如下步驟:使用sigmoid函數(shù)將輸出歸一化,并使用二元交叉熵損耗來計算損耗,單個鑒別器的損失函數(shù)為
    [0022]其中,M為輸出矩陣W
    ×
    H,定義D=σ(M),x
    r
    表示真實數(shù)據(jù),x
    f
    表示虛假數(shù)據(jù),和分別表示x
    r
    和x
    f
    的二元交叉熵損耗函數(shù)。
    [0023]進一步地,鑒別器對應的生成器的損失函數(shù)為
    [0024]進一步地,λ3、λ4均為1。
    [0025]進一步地,一種計算機可讀存儲介質,其存儲有計算機程序,當計算機程序被處理器執(zhí)行時實現(xiàn)所述的用于GIS設備缺陷區(qū)域X
    ?
    DR圖像超分辨率方法。
    附圖說明
    [0026]從以下結合附圖的描述可以進一步理解本專利技術。圖中的部件不一定按比例繪制,而是將重點放在示出實施例的原理上。在不同的視圖中,相同的附圖標記指定對應的部分。
    [0027]圖1是本專利技術一實施例中一種用于GIS設備缺陷區(qū)域X
    ?
    DR圖像超分辨率方法的整體流程示意圖;
    [0028]圖2是本專利技術一實施例中退化處理過程的流程示意圖。
    [0029]圖3是本專利技術一實施例中殘差密集塊的結構示意圖。
    [0030]圖4是本專利技術一實施例中鑒別器的結構示意圖。
    [0031]圖5是本專利技術一實施例中上下文變壓器模塊的結構示意圖。
    [0032]圖6是本專利技術一實施例中GIS設備X
    ...

    【技術保護點】

    【技術特征摘要】
    1.一種用于GIS設備缺陷區(qū)域X
    ?
    DR圖像超分辨率方法,其特征在于,包括如下步驟:S1,構建GIS設備X
    ?
    DR圖像退化模型以對GIS設備X
    ?
    DR原始圖像進行退化處理,生成GIS設備X
    ?
    DR低分辨率圖像;S2,構建GIS設備X
    ?
    DR超分辨率圖像生成器;S3,構建GIS設備X
    ?
    DR圖像鑒別器;S4,設計圖像鑒別器的總損失函數(shù)L
    D
    =λ1L
    D1
    +λ2L
    D2
    以及圖像生成器的總損失函數(shù)L
    G
    =L
    precep
    +λ3L
    G1
    +λ4L
    G2
    +ηL1;S5,根據(jù)GIS設備X
    ?
    DR超分辨率圖像生成器、GIS設備X
    ?
    DR圖像鑒別器以及總損失函數(shù),構建GIS設備X
    ?
    DR圖像超分辨網(wǎng)絡;S6,通過GIS設備X
    ?
    DR圖像超分辨網(wǎng)絡對GIS設備X
    ?
    DR原始圖像進行處理,生成GIS設備X
    ?
    DR超分辨率圖像;其中,L
    D1
    表示第一個鑒別器的損失函數(shù),L
    D2
    表示第二個鑒別器的損失函數(shù),λ1、λ2、λ3、λ4以及η表示調節(jié)系數(shù),L
    precep
    表示感知損耗,L1表示L1損失函數(shù),L
    G1
    表示第一個鑒別器對應的生成器的損失函數(shù),L
    G2
    表示第二個鑒別器對應的生成器的損失函數(shù)。2.如權利要求1所述的一種用于GIS設備缺陷區(qū)域X
    ?
    DR圖像超分辨率方法,其特征在于,GIS設備X
    ?
    DR圖像退化模型為二階退化模型,退化處理包括模糊、調整、噪聲和壓縮。3.如權利要求1所述的一種用于GIS設備缺陷區(qū)域X
    ?
    DR圖...

    【專利技術屬性】
    技術研發(fā)人員:劉國特周妮娜周錦輝文湧華許淋強宋宇昕陳思軍
    申請(專利權)人:廣東雙電科技有限公司
    類型:發(fā)明
    國別省市:

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