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【技術實現(xiàn)步驟摘要】
一種用于GIS設備缺陷區(qū)域X
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DR圖像超分辨率方法
[0001]本專利技術涉及圖像處理
,具體而言,涉及一種用于GIS設備缺陷區(qū)域X
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DR圖像超分辨率方法。
技術介紹
[0002]氣體絕緣全封閉組合電器(gas insulated switchgear,GIS)憑借維護量小、集成性好及供電可靠性高的優(yōu)勢,被廣泛應用于變電站中。然而,受生產工藝和長時間運行的影響,GIS設備內部不可避免的存在絕緣缺陷(如裂縫、氣泡、金屬異物等),容易導致設備絕緣故障,使其在電網(wǎng)中的保護和控制作用失效,嚴重時,甚至會引發(fā)停電事故。因此,為了保證GIS設備安全、穩(wěn)定、可靠運行,對其內部各部件進行定期的狀態(tài)檢測具有重要的意義。X射線數(shù)字成像(X
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digital radiography,X
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DR)技術具有免接觸、強穿透力和無損檢測的優(yōu)點,可在GIS設備不拆解、不破壞的前提下,直觀地展現(xiàn)其內部元件的損壞程度。
[0003]由于GIS設備的X
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DR成像圖片存在紋理模糊、缺乏細節(jié)信息和空間信息、特征不突出等缺點,導致后續(xù)的缺陷檢測方法難以取得理想的效果。因此,非常需要對GIS設備的X
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DR圖像進行預處理。在現(xiàn)有技術中,基于超分辨注意力機制改進的GIS內部細微缺陷X
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DR圖像檢測方法,只是簡單的將注意力機制與神經網(wǎng)絡結合,無法針對GIS設備X
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DR圖像缺陷故障區(qū)域進行重點處理,生成
【技術保護點】
【技術特征摘要】
1.一種用于GIS設備缺陷區(qū)域X
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DR圖像超分辨率方法,其特征在于,包括如下步驟:S1,構建GIS設備X
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DR圖像退化模型以對GIS設備X
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DR原始圖像進行退化處理,生成GIS設備X
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DR低分辨率圖像;S2,構建GIS設備X
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DR超分辨率圖像生成器;S3,構建GIS設備X
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DR圖像鑒別器;S4,設計圖像鑒別器的總損失函數(shù)L
D
=λ1L
D1
+λ2L
D2
以及圖像生成器的總損失函數(shù)L
G
=L
precep
+λ3L
G1
+λ4L
G2
+ηL1;S5,根據(jù)GIS設備X
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DR超分辨率圖像生成器、GIS設備X
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DR圖像鑒別器以及總損失函數(shù),構建GIS設備X
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DR圖像超分辨網(wǎng)絡;S6,通過GIS設備X
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DR圖像超分辨網(wǎng)絡對GIS設備X
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DR原始圖像進行處理,生成GIS設備X
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DR超分辨率圖像;其中,L
D1
表示第一個鑒別器的損失函數(shù),L
D2
表示第二個鑒別器的損失函數(shù),λ1、λ2、λ3、λ4以及η表示調節(jié)系數(shù),L
precep
表示感知損耗,L1表示L1損失函數(shù),L
G1
表示第一個鑒別器對應的生成器的損失函數(shù),L
G2
表示第二個鑒別器對應的生成器的損失函數(shù)。2.如權利要求1所述的一種用于GIS設備缺陷區(qū)域X
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DR圖像超分辨率方法,其特征在于,GIS設備X
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DR圖像退化模型為二階退化模型,退化處理包括模糊、調整、噪聲和壓縮。3.如權利要求1所述的一種用于GIS設備缺陷區(qū)域X
?
DR圖...
【專利技術屬性】
技術研發(fā)人員:劉國特,周妮娜,周錦輝,文湧華,許淋強,宋宇昕,陳思軍,
申請(專利權)人:廣東雙電科技有限公司,
類型:發(fā)明
國別省市:
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