一種電芯可靠性測試方法及測試設備技術

本發明專利技術提出一種電芯可靠性測試方法及測試設備，通過以對應電芯測試裝置的通孔數量的電芯為一組，使用排列裝置從傳送裝置系每次取出一組電芯按照與電芯固定框架相匹配的排列方式放置在等候測試區，將所述電芯固定框架套設在所述等候測試區的電芯上，使所述電芯固定框架的上表面與所述電芯的上表面大致持平，控制所述電芯固定框架的套環收縮以夾緊所述電芯，將所述電芯固定框架及其所固定的電芯放入電芯測試裝置中，在所述電芯測試裝置的上表面及下表面分別安裝上電極板和下電極板，通過所述電芯測試裝置對所述電芯進行可靠性測試，能夠提高電芯測試效率、降低電芯測試成本。降低電芯測試成本。降低電芯測試成本。

【技術實現步驟摘要】
一種電芯可靠性測試方法及測試設備


[0001]本專利技術涉及測試
，特別涉及一種電芯可靠性測試方法及測試設備。

技術介紹

[0002]電芯的應用非常廣泛，無論是在民用領域還是工業領域，電芯都是人們經常需要使用到的電源之一，小到鬧鐘、玩具，大到電動自行車、新能源汽車等，因此電芯的可靠性關系到人們的生命財產安全，符合電池安全標準是電芯進入市場的準入條件，在每一個電芯入市前對其進行可靠性測試是非常重要的。熱失控測試是電池的可靠性測試中非常關鍵的一環，導致電芯發生熱失控的因素有很多，例如快充、過充、過放、沖擊、震動、針刺、擠壓等等，一旦電池發生熱失控，其有可能會帶來很嚴重的后果。電芯可靠性測試的測試周期長、成本高、難度大，在龐大的市場需求量的背景下，如此巨量的電芯每一個都需要對其進行完整的可靠性測試非常困難，現有的測試方法往往是在同批次電芯中選擇具有代表性的樣品進行測試，這種情況下不可避免的會導致一些未經測試的存在安全隱患的電芯流入市場。

技術實現思路

[0003]本專利技術正是基于上述問題，提出了一種電芯可靠性測試方法及測試設備，能夠提高電芯測試效率、降低電芯測試成本。
[0004]有鑒于此，本專利技術的第一方面提出了一種電芯可靠性測試方法，包括：
[0005]以對應電芯測試裝置的通孔數量的電芯為一組，使用排列裝置從傳送裝置系每次取出一組電芯按照與電芯固定框架相匹配的排列方式放置在等候測試區；
[0006]將所述電芯固定框架套設在所述等候測試區的電芯上，使所述電芯固定框架的上表面與所述電芯的上表面大致持平；
[0007]控制所述電芯固定框架的套環收縮以夾緊所述電芯；
[0008]將所述電芯固定框架及其所固定的電芯放入電芯測試裝置中；
[0009]在所述電芯測試裝置的上表面及下表面分別安裝上電極板和下電極板；
[0010]通過所述電芯測試裝置對所述電芯進行可靠性測試。
[0011]進一步的，在上述的電芯可靠性測試方法中，在通過所述電芯測試裝置對所述電芯進行可靠性測試前，所述電芯處于虧電狀態，通過所述電芯測試裝置對所述電芯進行可靠性測試的步驟具體包括：
[0012]配置快充可靠性測試功率范圍，所述快充可靠性測試功率范圍的下限大于或等于所述電芯的快充功率標準范圍的上限；
[0013]為所述電芯測試裝置中每個通孔的電芯配置所述快充可靠性測試功率范圍內的快充可靠性測試功率，所述電芯的快充可靠性測試功率按其對應的通孔編號順序依次遞增；
[0014]接通每個通孔對應的上電極板和下電極板中各個電極的電源以使用所述快充可靠性測試功率對所述電芯進行充電；
[0015]使用所述電芯測試裝置每個通孔內的溫度傳感器測量相應電芯在快充可靠性測試過程中的溫度，直到所述電芯的電量充滿或者所述電芯的溫度到達臨界值；
[0016]構建對應所述快充可靠性測試功率的溫度相對于充電時間的變化曲線；
[0017]將所述電芯固定框架及其所固定的電芯從所述電芯測試裝置中取出放置在降溫區；
[0018]使用風機對所述電芯測試裝置進行降溫處理。
[0019]進一步的，在上述的電芯可靠性測試方法中，為所述電芯測試裝置中每個通孔的電芯配置所述快充可靠性測試功率范圍內的快充可靠性測試功率的步驟具體包括：
[0020]獲取所述電芯測試裝置內的電芯數量n；
[0021]獲取所述快充可靠性測試功率范圍的下限P
tmin
以及上限P
tmax
；
[0022]確定n個大于或等于所述快充可靠性測試功率范圍的下限P
tmin
且小于或等于所述快充可靠性測試功率范圍的上限P
tmax
的快充可靠性測試功率以按照所述電芯對應的通孔編號順序為其配置所述n個快充可靠性測試功率中的一個。
[0023]進一步的，在上述的電芯可靠性測試方法中，確定n個大于或等于所述快充可靠性測試功率范圍的下限P
tmin
且小于或等于所述快充可靠性測試功率范圍的上限P
tmax
的快充可靠性測試功率以按照所述電芯對應的通孔編號順序為其配置所述n個快充可靠性測試功率中的一個的步驟具體包括：
[0024]獲取每個電芯對應的通孔編號i，其中i＝(1,2,
…
,n)；
[0025]將通孔編號為配置i的電芯的快充可靠性測試功率配置為將通孔編號為配置i的電芯的快充可靠性測試功率配置為
[0026]進一步的，在上述的電芯可靠性測試方法中，在將所述電芯固定框架及其所固定的電芯從所述電芯測試裝置中取出放置在降溫區的步驟之后，還包括：
[0027]從所述降溫區取出已完成降溫的電芯固定框架及其所固定的另一組電芯放入所述電芯測試裝置中；
[0028]在所述電芯測試裝置的上表面及下表面分別安裝上電極板和下電極板；
[0029]配置過充電壓范圍，所述過充電壓范圍的下限大于或等于所述電芯滿電狀態下的電壓上限；
[0030]為所述電芯測試裝置中每個通孔的電芯配置所述過充電壓范圍內的過充可靠性測試電壓，所述電芯的過充可靠性測試電壓按其對應的通孔編號順序依次遞增；
[0031]接通每個通孔對應的上電極板和下電極板中各個電極的電源以使用預設的過充可靠性測試功率對所述電芯進行充電；
[0032]使用所述電芯測試裝置每個通孔內的溫度傳感器測量相應電芯在過充可靠性測試過程中的溫度，直到所述電芯的電壓到達相應的過充可靠性測試電壓或者所述電芯的溫度到達臨界值；
[0033]構建對應所述過充可靠性測試電壓的溫度相對于充電時間的變化曲線；
[0034]將所述電芯固定框架及其所固定的電芯從所述電芯測試裝置中取出放置在降溫區；
[0035]使用風機對所述電芯測試裝置進行降溫處理。
[0036]進一步的，在上述的電芯可靠性測試方法中，為所述電芯測試裝置中每個通孔的電芯配置所述過充電壓范圍內的過充可靠性測試電壓的步驟具體包括：
[0037]獲取所述電芯測試裝置內的電芯數量n；
[0038]獲取所述過充可靠性測試電壓范圍的下限V
tmin
以及上限V
tmax
；
[0039]確定n個大于或等于所述過充可靠性測試電壓范圍的下限V
tmin
且小于或等于所述過充可靠性測試電壓范圍的上限V
tmax
的過充可靠性測試電壓以按照所述電芯對應的通孔編號順序為其配置所述n個過充可靠性測試電壓中的一個。
[0040]進一步的，在上述的電芯可靠性測試方法中，對同一組電芯分別執行兩輪快充可靠性測試以及過充可靠性測試，在第一輪快充可靠性測試以及過充可靠性測試中，采用所述電芯的快充可靠性測試功率按其對應的通孔編號順序依次遞增的方式對所述電芯執行快充可靠性測試，以及采用所述電芯的過充可靠性測試電壓按其對應的通孔編號順序依次遞增的方式對所述電芯執行過充可靠性測試本文檔來自技高網...

【技術保護點】

【技術特征摘要】
1.一種電芯可靠性測試方法，其特征在于，包括：以對應電芯測試裝置的通孔數量的電芯為一組，使用排列裝置從傳送裝置系每次取出一組電芯按照與電芯固定框架相匹配的排列方式放置在等候測試區；將所述電芯固定框架套設在所述等候測試區的電芯上，使所述電芯固定框架的上表面與所述電芯的上表面大致持平；控制所述電芯固定框架的套環收縮以夾緊所述電芯；將所述電芯固定框架及其所固定的電芯放入電芯測試裝置中；在所述電芯測試裝置的上表面及下表面分別安裝上電極板和下電極板；通過所述電芯測試裝置對所述電芯進行可靠性測試。2.根據權利要求1所述的電芯可靠性測試方法，其特征在于，在通過所述電芯測試裝置對所述電芯進行可靠性測試前，所述電芯處于虧電狀態，通過所述電芯測試裝置對所述電芯進行可靠性測試的步驟具體包括：配置快充可靠性測試功率范圍，所述快充可靠性測試功率范圍的下限大于或等于所述電芯的快充功率標準范圍的上限；為所述電芯測試裝置中每個通孔的電芯配置所述快充可靠性測試功率范圍內的快充可靠性測試功率，所述電芯的快充可靠性測試功率按其對應的通孔編號順序依次遞增；接通每個通孔對應的上電極板和下電極板中各個電極的電源以使用所述快充可靠性測試功率對所述電芯進行充電；使用所述電芯測試裝置每個通孔內的溫度傳感器測量相應電芯在快充可靠性測試過程中的溫度，直到所述電芯的電量充滿或者所述電芯的溫度到達臨界值；構建對應所述快充可靠性測試功率的溫度相對于充電時間的變化曲線；將所述電芯固定框架及其所固定的電芯從所述電芯測試裝置中取出放置在降溫區；使用風機對所述電芯測試裝置進行降溫處理。3.根據權利要求2所述的電芯可靠性測試方法，其特征在于，為所述電芯測試裝置中每個通孔的電芯配置所述快充可靠性測試功率范圍內的快充可靠性測試功率的步驟具體包括：獲取所述電芯測試裝置內的電芯數量n；獲取所述快充可靠性測試功率范圍的下限P
tmin
以及上限P
tmax
；確定n個大于或等于所述快充可靠性測試功率范圍的下限P
tmin
且小于或等于所述快充可靠性測試功率范圍的上限P
tmax
的快充可靠性測試功率以按照所述電芯對應的通孔編號順序為其配置所述n個快充可靠性測試功率中的一個。4.根據權利要求3所述的電芯可靠性測試方法，其特征在于，確定n個大于或等于所述快充可靠性測試功率范圍的下限P
tmin
且小于或等于所述快充可靠性測試功率范圍的上限P
tmax
的快充可靠性測試功率以按照所述電芯對應的通孔編號順序為其配置所述n個快充可靠性測試功率中的一個的步驟具體包括：獲取每個電芯對應的通孔編號i，其中i＝(1,2,
…
,n)；將通孔編號為配置i的電芯的快充可靠性測試功率配置為將通孔編號為配置i的電芯的快充可靠性測試功率配置為
5.根據權利要求2
?
4任一項所述的電芯可靠性測試方法，其特征在于，在將所述電芯固定框架及其所固定的電芯從所述電芯測試裝置中取出放置在降溫區的步驟之后，還包括：從所述降溫區取出已完成降溫的電芯固定框架及其所固定的另一組電芯放入所述電芯測試裝置中；在所述電芯測試裝置的上表面及下表面分別安裝上電極板和下電極板；配置過充電壓范圍，所述過充電壓范圍的下限大于或等于所述電芯滿電狀態下的電壓上限；為所述電芯測試裝置中每個通孔的電芯配置所述過充電壓范圍內的過充可靠性測試電壓，所述電芯的過充可靠性測試電壓按其對應的通孔編號順序依次遞增；接通每個通孔對應的上電極板和下電極板中各個電極的電源以使用預設的過充可靠性測試功率對所述電芯進行充電；使用所述電芯...

【專利技術屬性】
技術研發人員：李濤，龐皓元，陳冠通，蔡成鋼，
申請(專利權)人：深圳市卓訊達科技發展有限公司，
類型：發明
國別省市：