本實用新型專利技術屬于氦檢機技術領域,公開了一種雙工位氦檢機,包括:上機架,所述上機架設置于下機體上方,所述上機架與所述下機體之間設置有平臺板,所述上機架正面頂端還設置有顯示器總封;雙工位氦檢機構,雙工位氦檢機構包括2組氦檢機構,所述氦檢機構橫向設在所述平臺板上,所述氦檢機構包括上料平臺、氦檢組件和精定位機構,所述氦檢組件固定在所述平臺板上,所述上料平臺的行程尾端位于所述氦檢組件下方,所述精定位機構用于對所述上料平臺上的帶模測試件進行精定位。本實用新型專利技術設置有雙工位氦檢機構,單組氦檢機構設置了上料平臺和氦檢組件,能夠獨自完成氦檢作業,結構穩定,操作簡單,大大提升氦檢效率,從而提升產品的生產效率。率。率。
【技術實現步驟摘要】
雙工位氦檢機
[0001]本技術屬于氦檢機
,具體涉及一種雙工位氦檢機。
技術介紹
[0002]氦質譜檢漏法是利用氦質譜檢漏儀的氦分壓力測量原理,實現被檢件的氦泄漏量測量。當被檢件密封面上存在漏孔時,示漏氣體氦氣及其它成分的氣體均會從漏孔泄出,泄漏出來的氣體進入氦質譜檢漏儀后,由于氦質譜檢漏儀的選擇性識別能力,僅給出氣體中的氦氣分壓力信號值。在獲得氦氣信號值的基礎上,通過標準漏孔比對的方法就可以獲得漏孔對氦泄漏量。
[0003]現有的氦檢機一般都是單工位,即只能進行單組產品的氦檢,效率較低,影響整個生產效率,因此亟需提供一種雙工位氦檢機來解決上述問題。
技術實現思路
[0004]為解決上述技術問題,本技術提供了一種雙工位氦檢機,以解決上述
技術介紹
中提出的氦檢機一般都是單工位,即只能進行單組產品的氦檢,效率較低,影響整個生產效率的問題。
[0005]為達到上述目的,本技術的技術方案如下:
[0006]雙工位氦檢機,包括:
[0007]上機架,所述上機架設置于下機體上方,所述上機架與所述下機體之間設置有平臺板,所述上機架正面頂端還設置有顯示器總封;
[0008]雙工位氦檢機構,雙工位氦檢機構包括2組氦檢機構,所述氦檢機構橫向設在所述平臺板上,所述氦檢機構包括上料平臺、氦檢組件和精定位機構,所述氦檢組件固定在所述平臺板上,所述上料平臺的行程尾端位于所述氦檢組件下方,所述精定位機構用于對所述上料平臺上的帶模測試件進行精定位。
[0009]作為對本技術的進一步改進,所述上料平臺包括氦檢擋臺、第一底板、無桿氣缸和第二底板,所述氦檢擋臺安裝在所述平臺板上,所述氦檢擋臺包括側架和頂板,所述無桿氣缸的固定部位于所述氦檢擋臺內部,所述第一底板安裝在所述無桿氣缸的移動部上,所述第一底板的頂面設置有第二底板。
[0010]作為對本技術的進一步改進,所述氦檢擋臺的頂板穿過所述第一底板與所述第二底板之間。
[0011]作為對本技術的進一步改進,所述氦檢擋臺內部的所述平臺板上還設置有滑軌,所述滑軌上滑動連接有滑塊,所述滑塊和所述第一底板的底面固定連接。
[0012]作為對本技術的進一步改進,所述氦檢組件包括立柱軸、上固定板、氣缸和上卡槽,所述上固定板通過立柱軸安裝在所述平臺板上,所述氣缸安裝在所述上固定板上,所述氣缸的延伸端貫穿所述上固定板,所述氣缸的延伸端安裝有上卡槽。
[0013]作為對本技術的進一步改進,所述精定位組件包括后頂氣缸,所述后頂氣缸
位于所述上料平臺正后方的所述平臺板上,所述后頂氣缸的延伸端還設置有抵塊。
[0014]通過上述技術方案,本技術技術方案的有益效果是:
[0015]本技術設置有雙工位氦檢機構,單組氦檢機構設置了上料平臺和氦檢組件,能夠獨自完成氦檢作業,結構穩定,操作簡單,大大提升氦檢效率,從而提升產品的生產效率。
[0016]上料平臺設置有滑軌、滑塊、第一底板和無桿氣缸,無桿氣缸實現驅動,使得第一底板以及其上的第二底板能夠平順移動,上下料方便,還設置有后頂氣缸,實現精定位,可以確保氦檢機構對待檢測產品進行準確的檢測。
附圖說明
[0017]為了更清楚地說明本技術實施例或現有技術中的技術方案,下面將對實施例或現有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹,顯而易見地,下面描述中的附圖是本技術的一些實施例,對于本領域普通技術人員來講,在不付出創造性勞動的前提下,還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。
[0018]圖1為本技術的整體立體示意圖。
[0019]圖2為本技術的結構正視示意圖。
[0020]圖3為本技術的雙工位檢測機構立體示意圖。
[0021]圖4為本技術的雙工位檢測機構正面示意圖。
[0022]圖5為本技術中下機體的立體結構示意圖。
[0023]示意圖中的標號說明:
[0024]1、下機體;2、上機架;3、中平板;4、顯示器總封;5、立柱軸;6、上固定板;7、氣缸;8、上卡槽;9、導向組件;10、氦檢擋臺;11、滑軌;12、滑塊;13、第一底板;14、無桿氣缸;15、第二底板;16、后頂氣缸。
具體實施方式
[0025]下面將結合本技術實施例,對本技術實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述。顯然,所描述的實施例僅僅是本技術一部分實施例,而不是全部的實施例。基于本技術中的實施例,本領域普通技術人員在沒有作出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例,都屬于本技術保護的范圍。
[0026]參閱圖1
?
5,本技術提供如下實施例:
[0027]雙工位氦檢機,包括:下機體1、上機架2、平臺板3、顯示器總封4、安裝在平臺板3上的雙工位氦檢機構,雙工位設計的氦檢機構能夠單獨完成氦檢工作,從而大大提升氦檢效率,加快產品生產。
[0028]下機體1中設置有氦檢用的氦檢主機、泵組、氣路管道以及電路模塊等,包含了完整的氦檢所需期間,可以參考圖5。
[0029]上機架2設置于下機體1上方,上機架2與下機體1之間設置有平臺板3,平臺板3作為平臺,上機架2正面頂端還設置有顯示器總封4,顯示器總封4包括安裝在封板上的顯示屏。
[0030]雙工位氦檢機構包括2組氦檢機構,氦檢機構橫向設在平臺板3上,氦檢機構包括
上料平臺、氦檢組件和精定位機構,氦檢組件固定在平臺板 3上,位于平臺板3的中后端,上料平臺的行程尾端位于氦檢組件下方,平臺上料完成后,位于氦檢組件下方,精定位機構用于對上料平臺上的帶模測試件進行精定位,通過推動的方式調整帶模測試件的準確位置。
[0031]作為本技術的一個優選方案,上料平臺包括氦檢擋臺10、第一底板13、無桿氣缸14和第二底板15,氦檢擋臺10安裝在平臺板3上,氦檢擋臺10包括側架和頂板,無桿氣缸14的固定部位于氦檢擋臺10內部,第一底板13安裝在無桿氣缸14的移動部上,無桿氣缸14的移動部帶動第一底板13進行移動,第一底板13的頂面設置有第二底板15,結構穩定,第一底板13上的第二底板15能夠進行平順的移動。
[0032]作為本技術的另一個優選方案,氦檢擋臺10的頂板穿過第一底板 13與第二底板15之間,頂板和側擋之間存在一定縫隙,第一底板13位于氦檢擋臺10頂板的下方。
[0033]作為本技術的另一個優選方案,氦檢擋臺10內部的平臺板3上還設置有滑軌11,滑軌11上滑動連接有滑塊12,滑塊12和第一底板13的底面固定連接,滑軌11和滑塊12設置有2組,皆位于第一底板13下方,增加第一底板13移動的平順性。
[0034]作為本技術的另一個優選方案,氦檢組件包括立柱軸5、上固定板6、氣缸7和上卡槽8,上固定板6通過立柱軸5安裝在平臺板3上,立柱軸5設在上固定板6下表面的拐角處,上固定板6上設置有穿孔,氣缸 7安裝在上固定板6上,氣缸7設置本文檔來自技高網...
【技術保護點】
【技術特征摘要】
1.雙工位氦檢機,其特征在于,包括:上機架(2),所述上機架(2)設置于下機體(1)上方,所述上機架(2)與所述下機體(1)之間設置有平臺板(3),所述上機架(2)正面頂端還設置有顯示器總封(4);雙工位氦檢機構,雙工位氦檢機構包括2組氦檢機構,所述氦檢機構橫向設在所述平臺板(3)上,所述氦檢機構包括上料平臺、氦檢組件和精定位機構,所述氦檢組件固定在所述平臺板(3)上,所述上料平臺的行程尾端位于所述氦檢組件下方,所述精定位機構用于對所述上料平臺上的帶模測試件進行精定位。2.根據權利要求1所述的雙工位氦檢機,其特征在于,所述上料平臺包括氦檢擋臺(10)、第一底板(13)、無桿氣缸(14)和第二底板(15),所述氦檢擋臺(10)安裝在所述平臺板(3)上,所述氦檢擋臺(10)包括側架和頂板,所述無桿氣缸(14)的固定部位于所述氦檢擋臺(10)內部,所述第一底板(13)安裝在所述無桿氣缸(14)的移動部上,所述第一底板(13)的頂面設置有第二底板(15)...
【專利技術屬性】
技術研發人員:季力,黃剛,徐曙,
申請(專利權)人:因仁智能科技無錫有限公司,
類型:新型
國別省市:
還沒有人留言評論。發表了對其他瀏覽者有用的留言會獲得科技券。