一種棉織品絲光處理缺陷識別方法技術

本發明專利技術涉及數據識別技術領域，具體涉及一種棉織品絲光處理缺陷識別方法，該方法包括：通過識別圖形獲取待測棉織品對應的待測圖像，具體可以采用可見光圖像識別電子設備進行可見光圖像識別，然后根據獲取到的待測圖像進行數據處理，具體地，將待測圖像劃分為各待測區域，計算各待測區域的重構差異指數，根據重構差異指數判定各待測區域是否存在缺陷，并獲取存在缺陷的待測區域的缺陷類型。因此，本發明專利技術提供的方法采用圖形識別的方式，并進行相關的數據處理，能夠更加準確的獲取待測棉織品的缺陷及其對應的缺陷類型。陷及其對應的缺陷類型。陷及其對應的缺陷類型。

【技術實現步驟摘要】
一種棉織品絲光處理缺陷識別方法


[0001]本專利技術涉及數據識別
，具體涉及一種棉織品絲光處理缺陷識別方法。

技術介紹

[0002]棉織品是一種具有悠久使用歷史的紡織工業產物，人們日常生活中的穿著使用都不開棉織品。棉織品經過絲光處理后，織物性能得以改善，織物的尺寸穩定性增強，棉纖維強力和對染料的吸附能力。不僅如此，絲光處理后的棉織品表面變得更加光滑，使得棉織品外觀具有真絲般的光澤和手感，絲光處理后的棉織品在服裝行業以及家紡行業中均得以廣泛使用，受到廣大消費者的喜愛。
[0003]棉織品的絲光處理是棉纖維在燒堿溶液中經一定張力作用，纖維膨脹，結晶度增加，由扁平狀成圓柱狀排列整齊，纖維橫截面形狀變成圓形，對光的反射變得更有規律。由于棉織品采用的紡織原料不同，使用對象不同，因此棉織品的絲光處理工藝并不是一成不變的，不同棉織品的絲光處理工藝路線和難易程度是不一致的，在絲光處理的工藝流程中，由于化學溶劑、機械故障等因素的影響，棉織品在絲光處理過程中容易產生油污、破洞、褶皺以及邊緣破損等多種類型的缺陷，因此對絲光處理后的棉織品進行缺陷檢測是生產過程中的必要環節，通過對棉織品的缺陷檢測有利于后續對棉織品的缺陷進行處理，進而提高棉織品的質量，減少經濟損失。
[0004]現階段對棉織品的檢測通常通過獲取待測棉織品的圖像信息，對圖像信息進行分析處理得到棉織品的缺陷，最常用的方法為對待測棉織品的圖像進行閾值分割處理，以得到棉織品的缺陷部位，但是這種方法對閾值的要求較高，一旦閾值選取不當則會導致無法準確獲取棉織品的缺陷部位，該方法對于缺陷的識別準確率有待提高，因此，亟需一種能夠準確識別棉織品缺陷的方法。

技術實現思路

[0005]為了解決上述由于閾值選取不當從而導致無法準確獲取棉織品的缺陷的技術問題，本專利技術的目的在于提供一種棉織品絲光處理缺陷識別方法，所采用的技術方案具體如下：識別得到待測棉織品對應的灰度圖像記為待測圖像，設置模板圖像，分別構建模板圖像與待測圖像對應的圖像字典，記為第一圖像字典和第二圖像字典；根據第一圖像字典與第二圖像字典，獲取第一特征圖與第二特征圖；按照設定的窗口大小分別將待測圖像劃分為各待測區域，將模板圖像劃分為各模板區域；待測區域與模板區域一一對應，對于任意一個待測區域，根據該待測區域在第二特征圖上的特征信息和與該待測區域對應的模板區域在第一特征圖上的特征信息，計算該待測區域的重構差異指數，根據重構差異指數判定該待測區域是否存在缺陷；獲取存在缺陷的待測區域的缺陷類型；其中，模板圖像對應的圖像字典的構建方法為：按照設定的窗口大小將模板圖像
劃分為各模板區域；對于任意一個模板區域，根據該模板區域中各行各列像素點的灰度值及其人為設置的設定范圍內像素點的最大灰度值與最小灰度值，計算各行各列像素點對應的絲光表面缺陷指數；根據各行各列像素點對應的絲光表面缺陷指數，構建該模板區域對應的組成元素；所有模板區域對應的組成元素構成模板圖像的圖像字典。
[0006]優選的，待測圖像對應的圖像字典的構建方法為：按照設定的窗口大小將待測圖像劃分為各待測區域，對于任意一個待測區域，根據該待測區域中各行各列像素點的灰度值及其人為設置的設定范圍內像素點的最大灰度值與最小灰度值，計算各行各列像素點對應的絲光表面缺陷指數；根據各行各列像素點對應的絲光表面缺陷指數，構建該待測區域對應的組成元素；所有待測區域對應的組成元素構成待測圖像的圖像字典。
[0007]優選的，所述根據該模板區域中各行各列像素點的灰度值及其人為設置的設定范圍內像素點的最大灰度值與最小灰度值，計算各行各列像素點對應的絲光表面缺陷指數，包括：選擇任意一行中任意一個像素點記為第一目標像素點，計算第一目標像素點的灰度值與其人為設置的設定范圍內像素點的最大灰度值之間的差值，記為第一差值，計算第一目標像素點的灰度值與其人為設置的設定范圍內像素點的最小灰度值之間的差值，記為第二差值，計算第一差值與第二差值的平方和的開平方，得到第一目標像素點的第一差異特征值，該行所有第一目標像素點的第一差異特征值的平均值為該行像素點對應的絲光表面缺陷指數；選擇任意一列中任意一個像素點記為第二目標像素點，計算第二目標像素點的灰度值與其人為設置的設定范圍內像素點的最大灰度值之間的差值，記為第三差值，計算第二目標像素點的灰度值與其人為設置的設定范圍內像素點的最小灰度值之間的差值，記為第四差值，計算第三差值與第四差值的平方和的開平方，得到第二目標像素點的第二差異特征值，該列所有第二目標像素點的第二差異特征值的平均值為該列像素點對應的絲光表面缺陷指數，進而得到各行各列像素點對應的絲光表面缺陷指數。
[0008]優選的，所述根據各行各列像素點對應的絲光表面缺陷指數，構建該模板區域對應的組成元素的方法為：所述組成元素具有兩個維度；將各行像素點對應的絲光表面缺陷指數作為組成元素中第一個維度的元素，將各列像素點對應的絲光表面缺陷指數作為組成元素中第二個維度的元素。
[0009]優選的，所述根據第一圖像字典與第二圖像字典，獲取第一特征圖與第二特征圖的方法為：根據第一圖像字典，計算模板圖像的系數矩陣，將第一圖像字典與模板圖像的系數矩陣的乘積作為第一特征圖；根據第二圖像字典計算待測圖像的系數矩陣，將第一圖像字典與待測圖像的系數矩陣的乘積作為第二特征圖。
[0010]優選的，所述根據該待測區域在第二特征圖上的特征信息和與該待測區域對應的模板區域在第一特征圖上的特征信息，計算該待測區域的重構差異指數的方法為：模板區域所在位置對應在第一特征圖上的值構成模板區域在第一特征圖上的特征信息；待測區域所在位置對應在第二特征圖上的值構成待測區域對應在第二特征圖上的特征信息；所述特征信息的表現形式為矩陣，將與該待測區域對應的模板區域在第一特征圖上的特征信息記為第一矩陣，將該待測區域在第二特征圖上的特征信息記為第二矩陣，則第一矩陣與第二矩陣對應的差值矩陣的L2范數為該待測區域的重構差異指數。
[0011]優選的，所述根據重構差異指數判定該待測區域是否存在缺陷的方法為：設置缺
陷閾值，當重構差異指數大于等于缺陷閾值時，則判定該待測區域存在缺陷，當重構差異指數小于缺陷閾值時，則判定該待測區域不存在缺陷。
[0012]本專利技術實施例至少具有如下有益效果：本專利技術通過將待測圖像劃分為各待測區域，計算待測區域中各行各列像素點對應的絲光表面缺陷指數，根據絲光表面缺陷指數構建各待測區域對應的組成元素；進而得到待測圖像對應的圖像字典，得到模板圖像對應的圖像字典，記為第二圖像字典和第一圖像字典；其中，絲光表面缺陷指數根據該待測區域中各行各列像素點的灰度值及其人為設置的設定范圍內像素點的最大灰度值與最小灰度值獲取，表征待測圖像中各行或各列像素點的灰度差異程度，當任意一行像素點存在缺陷與不存在缺陷時，該行像素點對應的灰度差異程度不同，即絲光表面缺陷指數不同，因此絲光表面缺陷指數能夠粗略反應出各行各列像素點是否存在缺陷，為后續的缺陷識別提供了基礎信息；然后根據圖像字典獲取第一特征圖、第二特征圖；根據各待測區域在第本文檔來自技高網...

【技術保護點】

【技術特征摘要】
1.一種棉織品絲光處理缺陷識別方法，其特征在于，該方法包括以下步驟：識別得到待測棉織品對應的灰度圖像記為待測圖像，設置模板圖像，分別構建模板圖像與待測圖像對應的圖像字典，記為第一圖像字典和第二圖像字典；根據第一圖像字典與第二圖像字典，獲取第一特征圖與第二特征圖；按照設定的窗口大小分別將待測圖像劃分為各待測區域，將模板圖像劃分為各模板區域；待測區域與模板區域一一對應，對于任意一個待測區域，根據該待測區域在第二特征圖上的特征信息和與該待測區域對應的模板區域在第一特征圖上的特征信息，計算該待測區域的重構差異指數，根據重構差異指數判定該待測區域是否存在缺陷；獲取存在缺陷的待測區域的缺陷類型；其中，模板圖像對應的圖像字典的構建方法為：按照設定的窗口大小將模板圖像劃分為各模板區域；對于任意一個模板區域，根據該模板區域中各行各列像素點的灰度值及其人為設置的設定范圍內像素點的最大灰度值與最小灰度值，計算各行各列像素點對應的絲光表面缺陷指數；根據各行各列像素點對應的絲光表面缺陷指數，構建該模板區域對應的組成元素；所有模板區域對應的組成元素構成模板圖像的圖像字典。2.根據權利要求1所述的一種棉織品絲光處理缺陷識別方法，其特征在于，待測圖像對應的圖像字典的構建方法為：按照設定的窗口大小將待測圖像劃分為各待測區域，對于任意一個待測區域，根據該待測區域中各行各列像素點的灰度值及其人為設置的設定范圍內像素點的最大灰度值與最小灰度值，計算各行各列像素點對應的絲光表面缺陷指數；根據各行各列像素點對應的絲光表面缺陷指數，構建該待測區域對應的組成元素；所有待測區域對應的組成元素構成待測圖像的圖像字典。3.根據權利要求1所述的一種棉織品絲光處理缺陷識別方法，其特征在于，所述根據該模板區域中各行各列像素點的灰度值及其人為設置的設定范圍內像素點的最大灰度值與最小灰度值，計算各行各列像素點對應的絲光表面缺陷指數，包括：選擇任意一行中任意一個像素點記為第一目標像素點，計算第一目標像素點的灰度值與其人為設置的設定范圍內像素點的最大灰度值之間的差值，記為第一差值，計算第一目標像素點的灰度值與其人為設置的設定范圍內像素點的最小灰度值之間的差值，記為第二差值，計算第一差值與第二差值的平方和的開平方，得到第一目標像素點的第一差異特征值，該行所有第一目標像素點的第一差異特征值的平均值為該行像素...

【專利技術屬性】
技術研發人員：張建成，章元華，張鑫，顧健，朱海燕，
申請(專利權)人：南通恒綺紡織有限公司，
類型：發明
國別省市：