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    記錄功率的調(diào)節(jié)方法以及光盤裝置制造方法及圖紙

    技術(shù)編號:3769710 閱讀:175 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
    一種記錄功率的調(diào)節(jié)方法以及光盤裝置,在對可改寫光盤的試寫處理中,排除沒有消去的區(qū)域而對記錄功率進行調(diào)節(jié),可以確保高穩(wěn)定性和高精度的試寫處理。光盤裝置具有,用于向光盤的試寫區(qū)域輸出記錄光的輸出電路,對輸出電路輸出的記錄光的記錄功率進行調(diào)節(jié)的控制電路。控制電路消去記錄在試寫區(qū)域的記錄標(biāo)記,在試寫區(qū)域的記錄中,利用比開始記錄動作的閾值功率低的一定的記錄功率進行記錄,一邊改變記錄功率一邊對試寫區(qū)域進行記錄。

    【技術(shù)實現(xiàn)步驟摘要】

    本專利技術(shù)涉及記錄功率的調(diào)節(jié)方法以及光盤裝置,特別涉及對可改寫光盤(CD-RW、 DVD-RAM、 DVD+RW、 DVD-RW、 BD-RE等)進行數(shù)據(jù)的記錄以及再現(xiàn)的光盤裝置。
    技術(shù)介紹
    可以記錄的光盤中,在每一個光盤上記錄著應(yīng)該以怎樣的記錄波形怎樣的激光記錄功率進行記錄。但是,由于實際上介質(zhì)制造商的測 定儀器與實際的記錄機或驅(qū)動器的激光束不同,或是由于記錄波形的前沿的快慢不同等,即使利用記錄于光盤的波形和功率對光盤進行記 錄有時也會結(jié)果不佳。為此,在光盤中準(zhǔn)備有被稱為試寫區(qū)域(PCA (Power Calibration area))的區(qū)域。光盤裝置在該區(qū)域形成記錄標(biāo)記并進行試寫,由此可 以校正進行記錄時的記錄波形和記錄功率,以對該光盤而言最佳的條 件進行處理(以下,稱為試寫處理(OPC (Optimum Power Control))。專利文獻1公開了避開試寫區(qū)域中的、存在有記錄膜惡化、欠缺 的區(qū)域而進行試寫的技術(shù)。專利文獻2公開了基于記錄速度一最佳記錄功率特性,測定由再 現(xiàn)試寫后數(shù)據(jù)而得到的再現(xiàn)信號的品質(zhì),求出最高可記錄速度的技術(shù)。專利文獻3公開了利用高功率的激光對試寫區(qū)域進行消去處理, 可以得到與試寫區(qū)域的狀態(tài)無關(guān)的穩(wěn)定的試寫結(jié)果的技術(shù)。專利文獻l:日本特開2005—182886號公報專利文獻2:日本特開2002—298356號公報專利文獻3:日本特開2005—038466號公報為了確定從未記錄狀態(tài)開始形成記錄標(biāo)記時的記錄功率,光盤裝 置將記錄在試寫區(qū)域的記錄標(biāo)記消去。但是,如果記錄標(biāo)記的半徑方 向的寬度比能夠消去的區(qū)域大,則會導(dǎo)致記錄標(biāo)記不能完全消去,出 現(xiàn)殘留記錄標(biāo)記,或者,以高記錄功率進行記錄時,會發(fā)生光盤記錄
    技術(shù)實現(xiàn)思路
    因此,本專利技術(shù)的目的在于,提供一種記錄功率的調(diào)節(jié)方法以及光 盤裝置,在對可改寫光盤進行試寫處理時,排除沒能消去的區(qū)域而對 記錄功率進行調(diào)節(jié),從而確保高穩(wěn)定性和高精度的試寫處理。為了解決上述課題,本專利技術(shù)提供一種具有用于向光盤的試寫區(qū)域 輸出記錄光的輸出電路,和調(diào)節(jié)所述輸出電路輸出的記錄光的記錄功 率的控制電路的光盤裝置的記錄功率的調(diào)節(jié)方法,其具有如下步驟 所述控制電路消去記錄在所述試寫區(qū)域的記錄標(biāo)記;在所述試寫區(qū)域 的記錄中,以比開始記錄動作的閾值功率低的預(yù)定記錄功率進行記錄; 一邊改變所述記錄功率一邊對所述試寫區(qū)域進行記錄。另外,本專利技術(shù)提供一種光盤裝置,具有,用于向光盤的試寫區(qū)域 輸出記錄光的輸出電路,和調(diào)節(jié)所述輸出電路輸出的記錄光的記錄功 率的控制電路,其中,在消去記錄在所述試寫區(qū)域的記錄標(biāo)記的消去 處理和一邊改變所述記錄功率一邊對所述試寫區(qū)域進行記錄的記錄處 理之間,所述控制電路控制所述記錄功率,從而利用比開始記錄動作 的閾值功率低的預(yù)定記錄功率在所述試寫區(qū)域的記錄中進行記錄。根據(jù)本專利技術(shù),在對可改寫光盤進行試寫處理時,排除由消去時的 殘留物等造成的、得不到對應(yīng)于記錄功率的特性的區(qū)域而進行記錄功 率的調(diào)節(jié),從而能夠確保高穩(wěn)定性和高精度的試寫處理。附圖說明圖1是表示本專利技術(shù)實施方式中的光盤裝置的整體構(gòu)成的框圖。圖2 (A)是表示說明標(biāo)記計數(shù)方式的試寫區(qū)域的說明圖。圖2 (B) 是表示說明標(biāo)記計數(shù)方式的記錄處理的說明圖。圖2 (C)是表示說明 標(biāo)記計數(shù)方式的標(biāo)記計數(shù)處理的說明圖。圖3是表示記錄功率的調(diào)節(jié)處理的流程圖。圖4是表示不良扇區(qū)的檢測處理的流程圖。圖5是表示不良扇區(qū)的檢測處理的流程圖。圖6 (A)是表示標(biāo)記計數(shù)方式中的試寫區(qū)域的說明圖。圖6 (B) 是表示標(biāo)記計數(shù)方式中、以一定的低功率進行消去處理的說明圖。圖6 (C)是表示標(biāo)記計數(shù)處理的說明圖。圖6 (D)是表示標(biāo)記計數(shù)方式 中的判定結(jié)果的說明圖。圖6 (E)是表示標(biāo)記計數(shù)方式中的記錄處理 的說明圖。圖6 (F)是表示標(biāo)記計數(shù)處理的說明圖。圖7 (A)是表示標(biāo)記計數(shù)方式中的試寫區(qū)域的說明圖。圖7 (B) 是表示標(biāo)記計數(shù)方式中、以一定的低功率進行消去處理的說明圖。圖7 (C)是表示標(biāo)記計數(shù)的說明圖。圖7 (D)是表示標(biāo)記計數(shù)方式中的 判定結(jié)果的說明圖。圖8 (A)是表示標(biāo)記計數(shù)方式中的試寫區(qū)域的說明圖。圖8 (B) 是表示標(biāo)記計數(shù)方式中、以一定的低功率進行消去處理的說明圖。圖8 (C)是表示標(biāo)記計數(shù)處理的說明圖。圖8 (D)是表示標(biāo)記計數(shù)方式 中的判定結(jié)果的說明圖。圖8 (E)是表示標(biāo)記計數(shù)方式中的記錄處理 的說明圖。圖8 (F)是表示標(biāo)記計數(shù)的說明圖。圖9 (A)是表示標(biāo)記計數(shù)方式中的試寫區(qū)域的說明圖。圖9 (B) 是表示標(biāo)記計數(shù)方式中、以一定的低功率進行消去處理的說明圖。圖9 (C)是表示標(biāo)記計數(shù)的說明圖。圖9 (D)是表示標(biāo)記計數(shù)方式中的 判定結(jié)果的說明圖。圖9 (E)是表示標(biāo)記計數(shù)方式中的記錄處理的說 明圖。圖9 (F)是表示標(biāo)記計數(shù)的說明圖。圖10 (A)是表示說明電平方式的試寫區(qū)域的說明圖。圖10 (B) 是表示說明電平方式的記錄處理的說明圖。圖10 (C)是表示說明電 平方式的再現(xiàn)信號的說明圖。圖10 (D)是表示說明電平方式的調(diào)制 度處理的說明圖。圖10 (E)是表示說明電平方式的Y的說明圖。圖ll-l (A)是表示電平方式的試寫區(qū)域的說明圖。圖ll-l (B) 是表示電平方式中、利用一定的低功率進行消去處理的說明圖。圖11-1 (C)是表示電平方式的再現(xiàn)信號的說明圖。圖11-1 (D)是表示電平 方式的調(diào)制度處理的說明圖。圖11-2 (E)是表示電平方式的判定結(jié)果的說明圖。圖11-2 (F) 是表示電平方式的記錄處理的說明圖。圖11-2 (G)是表示電平方式的 再現(xiàn)信號的說明圖。圖11-2 (H)是表示電平方式的調(diào)制度處理的說明 圖 圖ll-2 (E)是表示電平方式的Y的說明圖。 7圖12 (A)是表示電平方式的試寫區(qū)域的說明圖。圖12 (B)是 表示電平方式中、利用一定的低功率進行消去處理的說明圖。圖12(C) 是表示電平方式的再現(xiàn)信號的說明圖。圖12 (D)是表示電平方式的 調(diào)制度處理的說明圖。圖12(E)是表示電平方式的判定結(jié)果的說明圖。圖13 (A)是表示說明抖動方式的試寫區(qū)域的說明圖。圖13 (B) 是表示說明抖動方式的記錄處理的說明圖。圖13 (C)是表示說明抖 動方式的抖動的說明圖。圖14 (A)是表示抖動方式的試寫區(qū)域的說明圖。圖14 (B)是 表示抖動方式中、以一定的低功率進行消去處理的說明圖。圖14 (C) 是表示抖動方式的抖動的說明圖。圖14 (D)是表示抖動方式的判定 結(jié)果的說明圖。圖14 (E)是表示說明抖動方式的記錄處理的說明圖。 圖14 (D)是表示抖動方式的抖動的說明圖。圖15 (A)是表示抖動方式的試寫區(qū)域的說明圖。圖15 (B)是 表示抖動方式中、以一定的低功率進行消去處理的說明圖。圖15 (C) 是表示抖動方式的抖動的說明圖。圖15 (D)是表示抖動方式的判定 結(jié)果的說明圖。符號說明-1:光盤裝置2:主計算機3:光盤4:微機控制電路5:旋轉(zhuǎn)控制部6:主軸電動機7:錯誤改正器8:調(diào)制器9:時間控制器10:特殊模式輸出器11:記錄功率控制部12:激光驅(qū)動器13:光拾取器14:物鏡15: IV放大器 16: 2值化器17: PLL18:解調(diào)器19:標(biāo)記計數(shù)本文檔來自技高網(wǎng)
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    【技術(shù)保護點】
    一種光盤裝置的記錄功率的調(diào)節(jié)方法,該光盤裝置具有用于向光盤的試寫區(qū)域輸出記錄光的輸出電路,和調(diào)節(jié)所述輸出電路輸出的記錄光的記錄功率的控制電路,該方式的特征在于,具有如下步驟: 所述控制電路消去記錄在所述試寫區(qū)域的記錄標(biāo)記; 在所 述試寫區(qū)域的記錄中,以比開始記錄動作的閾值功率低的預(yù)定記錄功率進行記錄; 一邊改變所述記錄功率一邊對所述試寫區(qū)域進行記錄。

    【技術(shù)特征摘要】
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    【專利技術(shù)屬性】
    技術(shù)研發(fā)人員:伏見哲也山田敦史池田仁也
    申請(專利權(quán))人:日立樂金資料儲存股份有限公司
    類型:發(fā)明
    國別省市:JP[]

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