本實用新型專利技術屬于激光測距技術領域,具體涉及一種激光測量系統及機械旋轉式激光雷達,所述激光測量系統包括:支架,所述支架包括第一安裝孔和第二安裝孔;發射模塊,設置在所述第一安裝孔內,用于產生第一發射光;反射元件,設置在所述支架一側,用于將所述第一發射光轉換為第二發射光,所述第二發射光被探測物反射后形成反射光;接收模塊,設置在所述第二安裝孔內,用于接收所述反射光;本實用新型專利技術在第二發射光的偏轉角度需要進行調整時,只需要對反射元件的放置角度進行調整即可實現對第二發射光偏轉角度進行調整,而無需對發射模塊或接收模塊進行重新設計和制造,降低了制造成本。降低了制造成本。降低了制造成本。
【技術實現步驟摘要】
激光測量系統及機械旋轉式激光雷達
[0001]本技術屬于激光測量
,具體涉及激光測量系統及機械旋轉式激光雷達。
技術介紹
[0002]如中國專利文獻CN206892339U、CN108318886A記載,激光雷達是以發射激光束探測目標的位置等特征量的雷達系統。激光雷達的光敏傳感器可以將獲取到的光脈沖信號轉變為電信號,基于比較器獲取該電信號對應的時間信息,從而得到激光雷達與目標物之間的距離信息。
[0003]但是,現有的機械旋轉式激光雷達在第一發射光的偏轉角度需要進行調整時,需要對激光測量系統中的發射模塊或接收模塊進行重新設計或制造,增加了制造成本。
技術實現思路
[0004]為了克服現有技術的不足,本技術提供激光測量系統及機械旋轉式激光雷達,以解決現有技術在第一發射光的偏轉角度需要進行調整時,需要對激光測量系統中的發射模塊或接收模塊進行重新設計或制造,增加制造成本的問題。
[0005]本技術其中一方案提供了一種激光測量系統,包括:
[0006]支架,所述支架包括第一端和第二端;
[0007]發射模塊,設置在所述第一端內,用于產生第一發射光;
[0008]反射元件,設置在所述支架一側,用于將所述第一發射光轉換為第二發射光,所述第二發射光被探測物反射后形成反射光;
[0009]接收模塊,設置在所述第二端內,用于接收所述反射光;
[0010]其中,所述發射模塊的光軸與所述接收模塊的光軸相交且均在同一水平面上。
[0011]在本技術其中一個優選方案中,所述第一端與所述第二端相連且形成預定角度;
[0012]所述第一端上具有第一安裝孔,所述第二端上具有第二安裝孔,所述第一安裝孔的中軸線與所述第二安裝孔的中軸線相交且位于同一水平面上。
[0013]在本技術其中一個優選方案中,所述反射元件為反射鏡,所述反射元件具有第一反射面,用于將所述第一發射光轉換為第二發射光;
[0014]所述反射元件通過連接塊可調角度的設置在所述支架上。
[0015]在本技術其中一個優選方案中,所述第一反射面與發射模塊的光軸形成的夾角為α,所述夾角α的數值區間為30
?
45度;
[0016]和/或,所述第一反射面與所述第二發射光形成的夾角為α1,所述夾角α1的數值區間為30
?
45度,所述夾角α>所述夾角α1。
[0017]在本技術其中一個優選方案中,所述反射元件一端具有旋轉支點,所述反射元件沿所述旋轉支點轉動,所述反射元件可以在兩種狀態切換;
[0018]在第一狀態下,所述第一反射面與所述第一發射光形成的夾角為α2,可以適用于長距離測量;
[0019]在第二狀態下,所述第一反射面與所述第一發射光形成的夾角為α3,可以適用于短距離測量。
[0020]在本技術其中一個優選方案中,還包括:
[0021]第一電路板,沿垂直方向設置,所述第一電路板設置在所述支架的第二端,所述第一電路板與所述發射模塊、所述接收模塊連接;
[0022]第二電路板,沿水平方向設置,所述支架設置在所述第二電路板上;
[0023]所述第二電路板具有一沿豎直方向設置的旋轉中心軸線,所述旋轉中心軸線與所述第二電路板垂直,所述第一電路板圍繞所述旋轉中心軸線旋轉。
[0024]在本技術其中一個優選方案中,所述發射模塊包括:
[0025]光源,所述光源的光軸與水平面平行設置
[0026]第一透鏡,所述透鏡的光軸與水平面平行設置,所述第一透鏡的光軸與所述光源的光軸同軸設置,所述光源發出的光線經過所述第一透鏡后形成所述第一發射光。
[0027]在本技術其中一個優選方案中,所述接收模塊包括:
[0028]第二透鏡,用于會聚所述反射光;
[0029]接收端,設置于所述第二透鏡的光軸上,用于接收所述第二透鏡會聚的反射光;
[0030]其中,所述第一發射光、所述第二發射光、所述反射光的光路在同一水平面上。
[0031]在本技術其中一個優選方案中,所述第一電路板至少設有激光發射電路、激光接收電路;所述第二電路板至少設有光通訊接收電路、無線電源發射電路、轉速及位置測量電路、接收光信號處理電路中的一種或多種。
[0032]在本技術其中一個優選方案中,還包括一種機械旋轉式激光雷達,設置有如上述多個優選方案中任意一個所述的激光測量系統。
[0033]本技術以上方案所提供的一種激光測量系統及機械旋轉式激光雷達具有以下有益效果:
[0034]本技術通過反射元件將發射模塊產生的第一發射光轉換為第二發射光,從而實現第二發射光以預定的偏轉角度射出;當第二發射光的偏轉角度需要進行調整時,只需要對反射元件的放置角度進行調整即可實現對第二發射光偏轉角度進行調整,而無需對發射模塊或接收模塊進行重新設計和制造,降低了制造成本。
附圖說明
[0035]為了更清楚地說明本技術實施例或現有技術中的技術方案,下面將對實施例或現有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹,顯而易見地,下面描述中的附圖僅僅是本技術的一些實施例,對于本領域普通技術人員來講,在不付出創造性勞動的前提下,還可以根據這些附圖示出的結構獲得其他的附圖。
[0036]圖1表示現有技術的激光測量系統的結構示意圖;
[0037]圖2表示本技術其中一實施例的激光測量系統的立體結構示意圖;
[0038]圖3表示本技術其中一實施例的應用示意圖;
[0039]圖4表示本技術其中一實施例的激光測量系統的俯視結構示意圖;
[0040]圖5表示本技術其中一實施例的發射模塊、接收模塊的結構示意圖;
[0041]圖6表示本技術其中一實施例的反射元件與第一發射光形成夾角的示意圖。
具體實施方式
[0042]下面將結合本技術實施例中的附圖,對本技術實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述,顯然,所描述的實施例僅僅是本技術的一部分實施例,而不是全部的實施例。基于本技術中的實施例,本領域普通技術人員在沒有作出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例,都屬于本技術保護的范圍。
[0043]需要說明,若本技術實施例中有涉及方向性指示(諸如上、下、左、右、前、后
……
),則該方向性指示僅用于解釋在某一特定姿態下各部件之間的相對位置關系、運動情況等,如果該特定姿態發生改變時,則該方向性指示也相應地隨之改變。
[0044]另外,若本技術實施例中有涉及“第一”、“第二”等的描述,則該“第一”、“第二”等的描述僅用于描述目的,而不能理解為指示或暗示其相對重要性或者隱含指明所指示的技術特征的數量。由此,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隱含地包括至少一個該特征。另外,若全文中出現的“和/或”或者“及/或”,其含義包括三本文檔來自技高網...
【技術保護點】
【技術特征摘要】
1.一種激光測量系統,其特征在于,包括:支架,所述支架包括第一端和第二端;發射模塊,設置在所述第一端內,用于產生第一發射光;反射元件,設置在所述支架一側,用于將所述第一發射光轉換為第二發射光,所述第二發射光被探測物反射后形成反射光;接收模塊,設置在所述第二端內,用于接收所述反射光;其中,所述發射模塊的光軸與所述接收模塊的光軸相交且均在同一水平面上。2.如權利要求1所述的激光測量系統,其特征在于,所述第一端與所述第二端相連且形成預定角度;所述第一端上具有第一安裝孔,所述第二端上具有第二安裝孔,所述第一安裝孔的中軸線與所述第二安裝孔的中軸線相交且位于同一水平面上。3.如權利要求2所述的激光測量系統,其特征在于,所述反射元件為反射鏡,所述反射元件具有第一反射面,用于將所述第一發射光轉換為第二發射光;所述反射元件通過連接塊可調角度的設置在所述支架上。4.如權利要求3所述的激光測量系統,其特征在于,所述第一反射面與發射模塊的光軸形成的夾角為α,所述夾角α的數值區間為30
?
45度;和/或,所述第一反射面與所述第二發射光形成的夾角為α1,所述夾角α1的數值區間為30
?
45度,所述夾角α>所述夾角α1。5.如權利要求4所述的激光測量系統,其特征在于,所述反射元件一端具有旋轉支點,所述反射元件沿所述旋轉支點轉動,所述反射元件可以在兩種狀態切換;在第一狀態下,所述第一反射面與所述第一發射光形成的夾角為α2,可以適用于...
【專利技術屬性】
技術研發人員:黃柏良,
申請(專利權)人:湖南阿秒光學科技有限公司,
類型:新型
國別省市:
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