本實用新型專利技術公開了一種汽車MCU耐久測試設備，包括測試箱、控制箱和溫度控制器，測試箱鉸接有箱門，溫度控制器和控制箱電性連接，還包括移動板，移動板滑動連接在測試箱的內部，測試箱連接有移動機構；放置盤，放置盤和移動板轉動連接，移動板連接有轉動機構；連接座，連接座和控制箱電性連接，連接座和放置盤固定連接；拔插機構，拔插機構包括第一電動缸和第二電動缸，第一電動缸固定安裝在放置盤上，第一電動缸的輸出端固定連接有安裝架，第二電動缸安裝在安裝架上，安裝架固定連接有用于放置汽車MCU的連接頭的限位架，第二電動缸的輸出端固定連接有壓塊。本實用新型專利技術便于將汽車MCU放入測試箱的內部，便于將汽車MCU從測試箱的內部取出。部取出。部取出。
【技術實現步驟摘要】
一種汽車MCU耐久測試設備
[0001]本技術涉及汽車測試
，具體涉及一種汽車MCU耐久測試設備。
技術介紹
[0002]汽車MCU的意思是電機控制單元(Motor control unit)，就是控制電機動作的模塊，MCU即微控制器，主要是在汽車的各種外圍電路與接口電路連接控制，汽車MCU是新能源汽車特有的核心功率電子單元，通過接收VCU的車輛行駛控制指令，控制電動機輸出指定的扭矩和轉速，驅動車輛行駛，實現把動力電池的直流電能轉換為所需的高壓交流電、并驅動電機本體輸出機械能，是新能源汽車電子的核心，汽車MCU最重要的是可靠性與溫度范圍，溫度民用級一般0
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70，工業級
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20
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85，汽車級
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40
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85，其在生產后需要進行耐久測試，測試其在特定溫度范圍內的工作狀況，以檢測其可靠性和穩定性。
[0003]現有的汽車MCU耐久測試設備包括測試箱和控制器，汽車MCU放置在測試箱的內部，通過控制器對測試箱內的溫度進行控制，測試汽車MCU在不同溫度環境下的工作狀態，從而對汽車MCU進行耐久測試。
[0004]如專利號為CN213457766U的一種汽車單片機的測試設備，其能夠快速的對單片機進行定位，從而方便進行不同溫度時單片機狀態下的測試，但是在對汽車MCU進行測試后，一般由人工直接將汽車MCU從測試箱的內部取出，同時需要人手進行插頭的拔插對汽車MCU和控制器進行斷開或連接，由于汽車MCU的溫度范圍較大，測試箱內的溫度可能處于較高或較低狀態，同時汽車MCU表面的溫度也可能處于較高或較低狀態，在將汽車MCU取出時可能造成人手部的燙傷或凍傷，在拿取過程中人手感受到高溫后可能松開汽車MCU造成其掉落損壞，存在安全隱患，同時可能造成財產損失，同時人工取放的效率較低，較為費時費力，由此我們提出一種汽車MCU耐久測試設備，便于對汽車MCU進行取放。
技術實現思路
[0005](一)解決的技術問題
[0006]針對現有技術的不足，本技術提供了一種汽車MCU耐久測試設備，以解決
技術介紹
中提出的現有技術測試完畢后測試設備的內部以及汽車MCU表面的溫度過高或過低，不便于對其進行取放，同時取放效率較低的問題。
[0007](二)技術方案
[0008]為實現上述目的，本技術提供如下技術方案：一種汽車MCU耐久測試設備，包括測試箱、控制箱和溫度控制器，所述測試箱鉸接有箱門，所述溫度控制器位于所述測試箱的內部，所述溫度控制器和所述控制箱電性連接，還包括：
[0009]移動板，所述移動板滑動連接在所述測試箱的內部，所述測試箱連接有用于驅動所述移動板移動的移動機構；
[0010]用于放置汽車MCU的放置盤，所述放置盤轉動連接在所述移動板的頂端，所述移動板連接有用于驅動所述放置盤轉動的轉動機構；
[0011]和汽車MCU的連接頭匹配的連接座，所述連接座和所述控制箱電性連接，所述連接座和所述放置盤固定連接；
[0012]用于對汽車MCU的連接頭進行拔插的拔插機構，所述拔插機構包括第一電動缸和第二電動缸，所述第一電動缸固定安裝在所述放置盤上，所述第一電動缸的輸出端固定連接有安裝架，所述第二電動缸安裝在所述安裝架上，所述安裝架固定連接有用于放置汽車MCU的連接頭的限位架，所述第二電動缸的輸出端固定連接有壓塊。
[0013]為了驅動移動板進行移動，本申請進一步的，所述移動機構包括電機、齒條和多個齒輪，所述電機安裝在所述測試箱的內部，所述測試箱的內部固定連接有多個轉架，所述齒輪和對應的所述轉架轉動連接，所述齒條固定連接在所述移動板的底端，多個所述齒輪均和所述齒條嚙合，所述電機的輸出端和靠近所述箱門的齒輪固定連接。
[0014]為了驅動放置盤轉動，本申請再進一步的，所述轉動機構包括第三電動缸，所述第三電動缸通過第一鉸接座轉動安裝在所述移動板的頂端，所述第三電動缸的輸出端轉動連接有第二鉸接座，所述第二鉸接座和所述放置盤固定連接，所述移動板的頂端固定連接有兩個支撐架，所述放置盤靠近所述箱門的一側和所述支撐架轉動連接。
[0015]為了實現汽車MCU的便捷取出，本申請優選的，所述放置盤包括轉動框和多個轉輥，所述轉輥轉動連接在所述轉動框的內部，所述第二鉸接座和所述放置盤固定連接，所述轉動框和所述支撐架轉動連接。
[0016]為了實現移動板的平穩滑動，本申請在前述方案的基礎上，所述測試箱的內部通過多個固定桿固定連接有兩個固定座，所述移動板位于兩個所述固定座之間，所述移動板靠近對應的固定座的一端均固定連接有滑塊，所述固定座上開設有和所述滑塊匹配的滑槽，所述測試箱固定連接有多個滑桿，所述移動板上開設有多個和所述滑桿匹配的滑孔。
[0017]為了保證汽車MCU的穩定性，本申請在前述方案的基礎上進一步的，所述壓塊的底端固定連接有多個防滑墊。
[0018](三)有益效果
[0019]與現有技術相比，本技術提供了一種汽車MCU耐久測試設備，具備以下有益效果：
[0020]本技術中，通過移動機構可帶動移動板和放置盤進行移動，將放置盤移動至測試箱的外部可對汽車MCU進行取放，將汽車MCU的連接頭放置在限位架上，通過第二電動缸可帶動壓塊和限位架配合對汽車MCU的連接頭進行夾緊，通過第一電動缸可帶動安裝架和限位架靠近或遠離連接座，從而實現連接頭的拔插，實現汽車MCU和控制箱的連接或斷開，通過移動機構可帶動移動板和放置盤移動至測試箱的內部，通過控制箱對溫度控制器的溫度進行控制，從而對測試箱內的溫度進行調節，同時通過控制器使汽車MCU正常工作，測試汽車MCU的耐久性，第二電動缸帶動壓塊遠離汽車MCU的連接頭解除對其限位，通過轉動機構可對放置盤進行轉動，從而使汽車MCU從放置盤上滑落，對其進行收集即可，對比上述的現有技術，該方案便于將汽車MCU放入測試箱的內部，同時便于將汽車MCU從測試箱的內部取出，以機械代替人工，減少了安全隱患。
附圖說明
[0021]圖1為本申請一較佳實施例中局部剖視的立體結構示意圖；
[0022]圖2為本申請一較佳實施例中圖1中A處的局部放大結構示意圖；
[0023]圖3為本申請一較佳實施例中圖1中B處的局部放大結構示意圖；
[0024]圖4為本申請一較佳實施例中整體的立體結構示意圖；
[0025]圖5為本申請一較佳實施例中第二鉸接座、支撐架、轉動框和轉輥等配合的立體結構示意圖；
[0026]圖6為本申請一較佳實施例中圖5中C處的局部放大結構示意圖；
[0027]圖7為本申請一較佳實施例中電機、齒條、齒輪和轉架等配合的立體結構示意圖；
[0028]圖8為本申請一較佳實施例中第二電動缸、安裝架、限位架和壓塊等配合的分解的立體結構示意圖。
[0029]圖中：1、測試箱；2、控制箱；3、溫度控制器；4、移動板；5、放置盤；6、連接座；7、第一電動缸；8、第二電動缸；9、本文檔來自技高網...
【技術保護點】
【技術特征摘要】
1.一種汽車MCU耐久測試設備，包括測試箱(1)、控制箱(2)和溫度控制器(3)，所述測試箱(1)鉸接有箱門，所述溫度控制器(3)位于所述測試箱(1)的內部，所述溫度控制器(3)和所述控制箱(2)電性連接，其特征在于，還包括：移動板(4)，所述移動板(4)滑動連接在所述測試箱(1)的內部，所述測試箱(1)連接有用于驅動所述移動板(4)移動的移動機構；用于放置汽車MCU的放置盤(5)，所述放置盤(5)轉動連接在所述移動板(4)的頂端，所述移動板(4)連接有用于驅動所述放置盤(5)轉動的轉動機構；和汽車MCU的連接頭匹配的連接座(6)，所述連接座(6)和所述控制箱(2)電性連接，所述連接座(6)和所述放置盤(5)固定連接；用于對汽車MCU的連接頭進行拔插的拔插機構，所述拔插機構包括第一電動缸(7)和第二電動缸(8)，所述第一電動缸(7)固定安裝在所述放置盤(5)上，所述第一電動缸(7)的輸出端固定連接有安裝架(9)，所述第二電動缸(8)安裝在所述安裝架(9)上，所述安裝架(9)固定連接有用于放置汽車MCU的連接頭的限位架(10)，所述第二電動缸(8)的輸出端固定連接有壓塊(11)。2.根據權利要求1所述的一種汽車MCU耐久測試設備，其特征在于，所述移動機構包括電機(12)、齒條(13)和多個齒輪(14)，所述電機(12)安裝在所述測試箱(1)的內部，所述測試箱(1)的內部固定連接有多個轉架(15)，所述齒輪(14)和對應的所述轉架(15)轉動連接，所述齒條(13)固定連接在所述移動板(4)的底端，多...
【專利技術屬性】
技術研發人員：余正虎，呂良偉，鄭大偉，張鋒，陳圻釗，
申請(專利權)人：北京東方中科集成科技股份有限公司，
類型：新型
國別省市：
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