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    一種放射性表面污染模擬與檢測系統(tǒng)及其工作方法技術方案

    技術編號:38040182 閱讀:41 留言:0更新日期:2023-06-30 11:06
    本發(fā)明專利技術涉及放射性污染與核輻射探測技術領域,提供一種放射性表面污染模擬與檢測系統(tǒng)及其工作方法。該系統(tǒng)包括放射性表面污染模擬裝置,放射性表面污染模擬檢測裝置,所述放射性表面污染模擬裝置,主要由一組電子標簽模塊組成,該電子標簽模塊可以注入并存儲數(shù)據(jù),通過采用單個電子標簽模塊來模擬單點α/β放射性表面污染,并將電子標簽模塊進行陣列組合,來模擬任意面積的表面污染,所述放射性表面污染模擬檢測裝置,用于對模擬的α/β放射性表面污染進行模擬探測。本發(fā)明專利技術系統(tǒng)能夠模擬α/β放射性表面污染,并能夠對模擬的α/β放射性表面污染進行檢測訓練,從而實現(xiàn)放射性表面污染檢測模擬訓練,提升檢測人員的表面污染檢測能力。測能力。測能力。

    【技術實現(xiàn)步驟摘要】
    一種放射性表面污染模擬與檢測系統(tǒng)及其工作方法


    [0001]本專利技術涉及放射性污染與核輻射探測
    ,具體涉及一種放射性表面污染模擬與檢測系統(tǒng)及其工作方法。

    技術介紹

    [0002]隨著核與輻射技術的發(fā)展成熟,在能源電力、武器裝備、工業(yè)探傷、醫(yī)學診斷、食品輻照、集裝箱檢測等各個方面的應用越來越廣泛。然而,在核與輻射應用中,一旦使用不當,或發(fā)生核泄漏甚至事故時,就會對環(huán)境、人員等造成放射性輻照和放射性污染。α/β放射性表面污染是一種典型的放射性污染,且α/β射線一般射程小、穿透力弱。如果α/β放射性物質附著在人員體表或者不規(guī)則物體表面,其檢測難度將會增大,往往需要有經(jīng)驗的檢測人員、通過規(guī)范熟練的操作,才能對α/β放射性表面污染進行快速、精準、全面的檢測,進而對污染部位進行洗消,避免污染殘留和進一步擴大,對環(huán)境安全和人員生命健康造成持續(xù)傷害與致命威脅。
    [0003]α/β放射性表面污染模擬檢測訓練是提升檢測人員檢測能力的必要手段。但由于放射性物質污染的嚴重性且難以安全有效處置,無法采用真實的α/β放射性物質來模擬表面污染,并進行模擬檢測訓練。通過α/β放射性表面污染模擬并對模擬的放射性污染提供檢測方法,將很好的解決α/β放射性表面污染模擬檢測訓練難題,對保護環(huán)境和人員安全起到重要作用。

    技術實現(xiàn)思路

    [0004]本專利技術的目的是為了克服上述現(xiàn)有技術的不足,提供一種放射性表面污染模擬與檢測系統(tǒng)及其工作方法,該系統(tǒng)能夠模擬α/β放射性表面污染,并能夠對模擬的α/β放射性表面污染進行檢測訓練,從而實現(xiàn)放射性表面污染檢測模擬訓練,提升檢測人員的表面污染檢測能力。
    [0005]本專利技術的目的是通過如下技術措施來實現(xiàn)的。
    [0006]本專利技術提供一種放射性表面污染模擬與檢測系統(tǒng),包括放射性表面污染模擬裝置,放射性表面污染模擬檢測裝置。
    [0007]所述放射性表面污染模擬裝置,主要由一組電子標簽模塊組成。電子標簽模塊采用成熟的電子標簽技術,如RFID標簽等。該電子標簽模塊可以注入并存儲數(shù)據(jù)。通過采用單個電子標簽模塊來模擬單點α/β放射性表面污染,并將電子標簽模塊進行陣列組合,來模擬任意面積的表面污染。電子標簽模塊的外形設計可采用紐扣、貼片等設計,使其便于附著在物體、設備或人員衣物表面。
    [0008]所述放射性表面污染模擬檢測裝置,用于對模擬的α/β放射性表面污染進行模擬探測。包括測距模塊、檢測模塊和處理與顯示模塊。也可根據(jù)需要增加通信模塊,用于與其他系統(tǒng)進行數(shù)據(jù)傳輸。所述測距模塊用于測量放射性表面污染模擬檢測裝置的探測面,到模擬的污染表面即電子標簽模塊表面的距離,測距模塊采用成熟的測距技術,如紅外、激光
    等。所述探測模塊用于讀取電子標簽模塊里的數(shù)據(jù),探測模塊采用成熟的技術,如RFID電子標簽對應的電子標簽閱讀器等。所述處理與顯示模塊用于采集測距模塊和探測模塊的數(shù)據(jù),并對數(shù)據(jù)進行計算獲得表面污染模擬檢測數(shù)據(jù),并對數(shù)據(jù)進行顯示。
    [0009]本專利技術還提供一種上述的放射性表面污染模擬與檢測系統(tǒng)的工作方法,包括以下步驟:
    [0010](1)放射性表面污染模擬裝置構建,根據(jù)放射性表面污染模擬需求,在需要模擬污染的表面處放置電子標簽模塊陣列,然后,對每個電子標簽模塊注入數(shù)據(jù);
    [0011](2)放射性表面污染模擬檢測,通過放射性表面污染模擬檢測裝置的探測模塊從電子標簽模塊讀取數(shù)據(jù),包括該電子標簽模塊對應的污染部位位置、該污染部位位置的模擬污染數(shù)值,放射性表面污染模擬檢測裝置接收到電子標簽模塊的數(shù)據(jù),解析后即可獲得檢測部位的表面污染模擬數(shù)據(jù),實現(xiàn)對表面污染的模擬檢測。
    [0012]本專利技術放射性表面污染模擬與檢測系統(tǒng)及其工作方法,采用電子標簽方式進行放射性表面污染模擬以及模擬檢測,具有如下有益效果:(1)無需放射源或其他化學物質即可模擬放射性表面污染,屬于完全無害方式的模擬。(2)通過電子標簽陣列組合可附著于任何物體表面執(zhí)行放射性表面污染模擬,并通過向電子標簽注入數(shù)據(jù)即可執(zhí)行各種放射性表面污染模擬需求,可在電子標簽壽命內無限次復用,基本沒有耗材損耗。
    附圖說明
    [0013]圖1為本專利技術的系統(tǒng)組成圖。
    [0014]圖2為本專利技術中放射性表面污染模擬檢測裝置組成圖。
    [0015]圖3為放射性表面污染模擬檢測裝置中處理與顯示模塊電路圖。
    具體實施方式
    [0016]為使本專利技術的目的、技術方案及優(yōu)點更加清楚明白,以下結合附圖,對本專利技術進行進一步詳細說明。應當理解,此處所描述的具體實施方案僅用以解釋專利技術,并不用于限定本專利技術。此外,下面所描述的本專利技術各個實施方式中所涉及到的技術特征只要彼此之間未構成沖突就可以相互結合。
    [0017]如圖1所示,本專利技術實施例提供一種放射性表面污染模擬與檢測系統(tǒng),包括放射性表面污染模擬裝置,放射性表面污染模擬檢測裝置。
    [0018]放射性表面污染模擬裝置,主要由一組電子標簽模塊組成。電子標簽模塊采用成熟的電子標簽技術,如RFID標簽等。該電子標簽模塊可以注入并存儲數(shù)據(jù)。通過采用單個電子標簽模塊來模擬單點α/β放射性表面污染,并將電子標簽模塊進行陣列組合,來模擬任意面積的表面污染。電子標簽模塊的外形設計可采用紐扣、貼片等設計,使其便于附著在物體、設備或人員衣物表面。所述放射性表面污染模擬裝置,主要由一組微型無源通信模塊組成。
    [0019]如圖2所示,放射性表面污染模擬檢測裝置,用于對模擬的α/β放射性表面污染進行模擬探測,包括測距模塊、探測模塊和處理與顯示模塊。也可根據(jù)需要增加通信模塊,用于與其他系統(tǒng)進行數(shù)據(jù)傳輸。所述測距模塊用于測量放射性表面污染模擬檢測裝置的探測面,到模擬的污染表面即電子標簽模塊表面的距離,測距模塊采用成熟的測距技術,如紅
    外、激光等。所述探測模塊用于讀取電子標簽模塊里的數(shù)據(jù),探測模塊采用成熟的技術,如RFID電子標簽對應的電子標簽閱讀器等。所述處理與顯示模塊用于采集測距模塊和探測模塊的數(shù)據(jù),并對數(shù)據(jù)進行計算獲得表面污染模擬檢測數(shù)據(jù),并對數(shù)據(jù)進行顯示。
    [0020]本實施例還提供一種上述的放射性表面污染模擬與檢測系統(tǒng)的工作方法,包括以下步驟:
    [0021]S1,放射性表面污染模擬裝置構建。根據(jù)放射性表面污染模擬需求,如污染部位或位置、污染面積、各污染部位處的模擬污染數(shù)據(jù)等,在需要模擬污染的表面處放置電子標簽模塊陣列。該陣列中電子標簽模塊可按一定規(guī)律放置,也可隨機放置。為了便于識別模擬污染部位信息,可對電子標簽模塊進行編號或標識位置信息。然后,對每個電子標簽模塊注入數(shù)據(jù),包括污染部位位置p
    i
    、該位置的模擬污染數(shù)據(jù)等,如α、β放射性污染模擬數(shù)據(jù)表示為α
    si
    、β
    si
    ,從而實現(xiàn)表面污染的模擬。
    [0022]S2,放射性表面污染模擬檢測。通過放射性表面污染模擬檢測裝置的探測模塊從電子標簽模塊讀取數(shù)據(jù),包括該模塊對應的污染部位位置、該位置的模擬污染數(shù)值等數(shù)據(jù)。放射性表面污染模擬檢測裝置接收到電子標簽模塊的數(shù)據(jù),解析后本文檔來自技高網(wǎng)
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    【技術保護點】

    【技術特征摘要】
    1.一種放射性表面污染模擬與檢測系統(tǒng),其特征在于:包括放射性表面污染模擬裝置、放射性表面污染模擬檢測裝置,所述放射性表面污染模擬裝置包括一組電子標簽模塊,所述電子標簽模塊可以注入并存儲數(shù)據(jù),通過采用單個電子標簽模塊來模擬單點α/β放射性表面污染,并將電子標簽模塊進行陣列組合,來模擬任意面積的表面污染,所述放射性表面污染模擬檢測裝置,用于對模擬的α/β放射性表面污染進行模擬探測,包括測距模塊、探測模塊和處理與顯示模塊,所述測距模塊用于測量放射性表面污染模擬檢測裝置的探測面,到模擬的污染表面即電子標簽模塊表面的距離,所述探測模塊用于讀取電子標簽模塊里的數(shù)據(jù),所述處理與顯示模塊用于采集測距模塊和探測模塊的數(shù)據(jù),并對數(shù)據(jù)進行計算獲得表面污染模擬檢測數(shù)據(jù),并對數(shù)據(jù)進行顯示。2.根據(jù)權利要求1所述的放射性表面污染模擬與檢測系統(tǒng),其特征在于:所述電子標簽模塊采用紐扣、或貼片結構,使其便于附著在物體、設備或人員衣物表面。3.根據(jù)權利要求1所述的放射性表面污染模擬與檢測系統(tǒng),其特征在于:所述放射性表面污染模擬檢測裝置包括通信模塊,用于將檢測數(shù)據(jù)傳輸給其他系統(tǒng)。4.一種如權利要求1所述的放射性表面污染模擬與檢測系統(tǒng)的工作方法,其特征在于包括以下步驟:(1)放射性表面污染模擬裝置構建,根據(jù)放射性表面污染模擬需求,在需要模擬污染的表面處放置電子標簽模塊陣列,然后,對每個電子標簽模塊注入數(shù)據(jù);(2)放射性表面污染模擬檢測,通過放射性表面污染模擬檢測裝置的探測模塊從電子標簽模塊讀取數(shù)據(jù),包括該電子標簽模塊對應的污染部位位置、該污染部位位置的模擬污染數(shù)值,放射性表面污染...

    【專利技術屬性】
    技術研發(fā)人員:程芳權劉海峰胡玉杰秦子凱梁英超邵勇馬暢
    申請(專利權)人:中國船舶重工集團公司第七一九研究所
    類型:發(fā)明
    國別省市:

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