一種極片對齊度的檢測方法技術(shù)

本發(fā)明專利技術(shù)公開了一種極片對齊度的檢測方法，包括如下步驟：提供卷芯，卷芯包括層疊的正極片、負極片以及隔膜；切割卷芯使卷芯形成剖面，并獲取剖面與卷芯端面形成的夾角α的角度，正極片、負極片以及隔膜在剖面處裸露；獲取隔膜的隔膜端面與負極片端面之間沿剖面的第一間距a，和/或，負極片端面與正極片端面之間沿剖面的第二間距b；根據(jù)第一間距a和夾角α，獲取隔膜端面與負極片端面之間沿垂直于卷芯端面方向的第一寬度h1，和/或，根據(jù)第二間距b和夾角α，獲取負極片端面與正極片端面之間沿垂直于卷芯端面方向的第二寬度h2。本發(fā)明專利技術(shù)的極片對齊度的檢測方法用于在無需拆解卷芯的情況下檢測極片和/或隔膜對齊度，并降低檢測成本。并降低檢測成本。并降低檢測成本。

【技術(shù)實現(xiàn)步驟摘要】
一種極片對齊度的檢測方法


[0001]本專利技術(shù)涉及電池極片檢測
，尤其涉及一種極片對齊度的檢測方法。

技術(shù)介紹

[0002]電池被廣泛應用于生活中的各個領(lǐng)域，例如手機、筆記本電腦、汽車等領(lǐng)域，均需要在設(shè)備內(nèi)安裝電池，實現(xiàn)通過預裝的電池對設(shè)備進行供電。現(xiàn)有的電池包括圓柱形電池、方形電池、軟包電池等類型；而這些電池內(nèi)部的電芯通常會將正負極片以及隔膜采用卷繞或疊片的形式卷芯，電池在生產(chǎn)過程中的一個安全控制要點就是卷芯中極片是否對齊。
[0003]現(xiàn)有檢測卷芯極片對齊的方式之一為測量隔膜的端面與負極片的端面之間沿垂直于卷芯端面方向的隔膜包負極寬度、負極片的端面與正極片的端面之間沿垂直于卷芯端面方向的負極包正極寬度，之后將隔膜包負極寬度與負極包正極寬度分別與其對應的標準值進行比對，判斷卷芯極片是否對齊。
[0004]目前測量隔膜包負極寬度與負極包正極寬度的方式包括逐層拆解測量和采用光學設(shè)備檢測測量等方式。逐層拆解測量需要將卷芯極片拆開進行測量，而卷芯中的極片容易滑動，在測量過程中可能會導致卷芯出現(xiàn)螺旋、抽芯等問題。采用光學設(shè)備檢測時通常采用CCD、X
?
RAY或CT等光學設(shè)備進行檢測，這些光學設(shè)備的檢測成本較高，且需要定期對光學設(shè)備的檢測尺寸進行標定，防止設(shè)備老化等問題造成檢測偏差。

技術(shù)實現(xiàn)思路

[0005]本專利技術(shù)的目的在于提供一種極片對齊度的檢測方法，用于在無需拆解卷芯的情況下檢測極片和/或隔膜對齊度，并降低檢測成本。
[0006]本專利技術(shù)的目的采用以下技術(shù)方案實現(xiàn)：一種極片對齊度的檢測方法，包括如下步驟：提供卷芯，所述卷芯包括層疊的正極片、負極片以及隔膜，所述隔膜位于所述正極片和負極片之間；切割所述卷芯使所述卷芯形成剖面，并獲取所述剖面與所述卷芯端面形成的夾角α的角度，所述正極片、負極片以及隔膜在所述剖面處裸露；獲取所述隔膜的隔膜端面與所述負極片的負極片端面之間沿所述剖面的第一間距a，和/或，獲取所述負極片的負極片端面與所述正極片的正極片端面之間沿所述剖面的第二間距b；根據(jù)第一間距a和夾角α，獲取所述隔膜的隔膜端面與所述負極片的負極片端面之間沿垂直于所述卷芯端面方向的第一寬度h1，和/或，根據(jù)第二間距b和夾角α，獲取所述負極片的負極片端面與所述正極片的正極片端面之間沿垂直于所述卷芯端面方向的第二寬度h2。
[0007]優(yōu)選的，所述剖面位于所述卷芯端面與卷芯側(cè)面的交界處，所述剖面與卷芯端面形成的夾角α的角度為15～75
°
。
[0008]優(yōu)選的，當所述卷芯是方形卷芯或腰形卷芯或橢圓形卷芯時，所述剖面與卷芯的厚度方向平行。
[0009]優(yōu)選的，所述剖面穿過部分所述正極片、部分負極片和部分隔膜；或所述剖面穿過部分所述隔膜和部分負極片，部分所述正極片的正極片端面的輪廓線的至少一部分位于所述剖面內(nèi)。
[0010]優(yōu)選的，采用切割刀切割所述卷芯使所述卷芯形成剖面；采用角度測量器具測量剖面與卷芯端面形成的夾角α的角度。
[0011]優(yōu)選的，采用預先刻有刻度的測量器具或影像測量儀測量所述第一間距a，和/或，測量所述第二間距b。
[0012]優(yōu)選的，所述第一寬度h1根據(jù)以下公式進行計算：；所述第二寬度h2根據(jù)以下公式進行計算：。
[0013]優(yōu)選的，所述第一間距a為所述隔膜端面以及與該隔膜端面相鄰的負極片端面沿所述剖面的間距，測量多組相鄰的隔膜端面與負極片端面，獲得多個第一間距a；所述第二間距b為所述負極片端面以及與該負極片端面相鄰的正極片端面沿所述剖面的間距，測量多組相鄰的負極片端面與正極片端面，獲得多個第二間距b；根據(jù)多個第一間距a和夾角α，獲得多個第一寬度h1；根據(jù)多個第二間距b和夾角α，獲得多個第二寬度h2。
[0014]優(yōu)選的，所述檢測方法還包括：判斷極片是否對齊，若多個所述第一寬度h1和多個第二寬度h2均滿足極片寬度要求，則判斷極片對齊度合格，若多個所述第一寬度h1中的任意一個和/或多個第二寬度h2中任意一個不符合極片寬度要求則判斷極片對齊度不良。
[0015]優(yōu)選的，所述卷芯還包括固化劑，所述固化劑固定包覆所述正極片、負極片以及隔膜，切割所述卷芯時，同時切割所述固化劑。
[0016]與現(xiàn)有技術(shù)相比，本專利技術(shù)的有益效果至少包括：通過切割卷芯形成剖面的方式，能夠在不采用光學設(shè)備的情況下，簡單便捷的獲取第一間距a、第二間距b以及剖面與卷芯端面形成的夾角α的角度值，之后可通過第一間距a、第二間距b以及夾角α的角度值獲取第一寬度h1和第二寬度h2；相比于采用光學設(shè)備檢測，本專利技術(shù)的檢測方法有效的降低了檢測成本；并且，相比于逐層拆解的檢測方法，本專利技術(shù)的檢測方法無需對卷芯進行拆解，僅需切割卷芯的一小部分結(jié)構(gòu)，切割后卷芯仍可保持緊固，可極大的降低極片錯位的風險；并且，本專利技術(shù)的極片對齊度的檢測方法除可以簡單便捷的檢測極片對齊度外，還可以簡單便捷的檢測隔膜對齊度。
附圖說明
[0017]圖1是本專利技術(shù)實施例的極片對齊度的檢測方法的流程示意圖；圖2是本專利技術(shù)實施例的卷芯切割后的結(jié)構(gòu)示意圖；圖3是本專利技術(shù)實施例的卷芯切割后的側(cè)面示意圖；圖4是本專利技術(shù)實施例的卷芯切割后的局部結(jié)構(gòu)示意圖；圖5是本專利技術(shù)實施例的卷芯切割后部分結(jié)構(gòu)的局部示意圖。
[0018]圖中：1、正極片；11、正極片端面；2、負極片；21、負極片端面；3、隔膜；31、隔膜端
面；4、剖面；5、卷芯端面；6、卷芯側(cè)面。
具體實施方式
[0019]現(xiàn)在將參考附圖更全面地描述示例實施方式。然而，示例實施方式能夠以多種形式實施，且不應被理解為限于在此闡述的實施方式；相反，提供這些實施方式使得本專利技術(shù)更全面和完整，并將示例實施方式的構(gòu)思全面地傳達給本領(lǐng)域的技術(shù)人員。在圖中相同的附圖標記表示相同或類似的結(jié)構(gòu)，因而將省略對它們的重復描述。
[0020]本專利技術(shù)中所描述的表達位置與方向的詞，均是以附圖為例進行的說明，但根據(jù)需要也可以做出改變，所做改變均包含在本專利技術(shù)保護范圍內(nèi)。
[0021]參照圖1至圖5，本專利技術(shù)提供了一種極片對齊度的檢測方法，包括如下步驟：步驟S101
?
步驟S104，還可以包括步驟S105。
[0022]步驟S101：提供卷芯，其中，卷芯包括層疊的正極片1、負極片2以及隔膜3，隔膜3設(shè)置于正極片1與負極片2之間以分隔正負極片。
[0023]步驟S102：切割卷芯以使卷芯形成有剖面4，獲取該剖面4與卷芯端面5形成的夾角α的角度，且正極片1、負極片2以及隔膜3在該剖面4處均裸露，以便于后續(xù)測量。
[0024]其中，至少需要進行測量的部分正極片1、部分負極片2、部分隔膜3在剖面4處裸露，不需進行測量的部分正極片1、部分負極片2、部分隔膜3可以在剖面4裸露或不裸露，由此，測量后的卷芯可以繼續(xù)使用。
[0025]步驟S103：獲取隔膜3的隔膜端面31與負極片2的負極片端面21之間沿剖面4的第一間距a，和/或，獲取負極片2的負極片端面21與正極片1的正極片端面11之間沿所述剖本文檔來自技高網(wǎng)...

【技術(shù)保護點】

【技術(shù)特征摘要】
1.一種極片對齊度的檢測方法，其特征在于，包括如下步驟：提供卷芯，所述卷芯包括層疊的正極片（1）、負極片（2）以及隔膜（3），所述隔膜（3）位于所述正極片（1）和負極片（2）之間；切割所述卷芯使所述卷芯形成剖面（4），并獲取所述剖面（4）與所述卷芯端面（5）形成的夾角α的角度，所述正極片（1）、負極片（2）以及隔膜（3）在所述剖面（4）處裸露；獲取所述隔膜（3）的隔膜端面（31）與所述負極片（2）的負極片端面（21）之間沿所述剖面（4）的第一間距a，和/或，獲取所述負極片（2）的負極片端面（21）與所述正極片（1）的正極片端面（11）之間沿所述剖面（4）的第二間距b；根據(jù)第一間距a和夾角α，獲取所述隔膜（3）的隔膜端面（31）與所述負極片（2）的負極片端面（21）之間沿垂直于所述卷芯端面（5）方向的第一寬度h1，和/或，根據(jù)第二間距b和夾角α，獲取所述負極片（2）的負極片端面（21）與所述正極片（1）的正極片端面（11）之間沿垂直于所述卷芯端面（5）方向的第二寬度h2。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的極片對齊度的檢測方法，其特征在于，所述剖面（4）位于所述卷芯端面（5）與卷芯側(cè)面（6）的交界處，所述剖面（4）與卷芯端面（5）形成的夾角α的角度為15～75
°
。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的極片對齊度的檢測方法，其特征在于，當所述卷芯是方形卷芯或腰形卷芯或橢圓形卷芯時，所述剖面（4）與卷芯的厚度方向平行。4.根據(jù)權(quán)利要求1至3任一項所述的極片對齊度的檢測方法，其特征在于，所述剖面（4）穿過部分所述正極片（1）、部分負極片（2）和部分隔膜（3）；或所述剖面（4）穿過部分所述隔膜（3）和部分負極片（2），至少部分所述正極片（1）的正極片端面（11）的輪廓線的至少一部...

【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：袁丹丹，王林，胡先剛，尚隨軍，
申請(專利權(quán))人：蘇州宇量電池有限公司，
類型：發(fā)明
國別省市：