本實用新型專利技術公開了一種用于IGBT模塊的測試工裝，包括測試底座；所述測試底座的上表面設置有定位槽，待測IGBT模塊水平安裝在所述定位槽內；所述測試盒體設置在所述測試底座的上方，所述PCB板安裝在所述測試盒體中；所述彈性連接端子布設在所述PCB板的的下表面，所述彈性連接端子的上端與所述PCB板電性連接；所述彈性連接端子的下端貫穿所述測試盒體的下表面后，并與所述待測IGBT模塊的電極端子緊密接觸；所述連接導線的一端與所述PCB板相連，所述連接導線的另一端與所述測試設備的資源端相連；本實用新型專利技術無需采用測試線夾與電極端子直接相連，避免了測試線夾的斷裂以及電極端子的損傷，測試效率及結果準確性較高。測試效率及結果準確性較高。測試效率及結果準確性較高。
【技術實現步驟摘要】
一種用于IGBT模塊的測試工裝
[0001]本技術屬于IGBT模塊測試設備
，特別涉及一種用于IGBT模塊的測試工裝。
技術介紹
[0002]IGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor，絕緣柵雙極型晶體管)作為一種復合型電力電子器件，具有高頻率、高電壓及大電流的特點，廣泛用于電力設備和航天航空領域；為確保IGBT模塊使用的可靠性，在使用前需對其進行全面電性能參數測試。
[0003]目前，現有針對IGBT模塊的電性能測試方法，通常為：首先，利用從測試設備的資源端引出的測試線夾，連接IGBT模塊的電極端子進行單路測試；之后，通過手動切換測試線夾的連接方式，進行其余路的測試；其中，每次測試僅能滿足單個期間的測試要求；因此，現有的測試方法存在以下弊端：一、測試線夾較多，且需詳細對照管腳定義圖進行手動連接，測試效率低下，占用機時；二、測試線夾容易斷裂，頻繁重新焊制，耗費大量的人力物力；三、測試線夾頻繁切換，容易混淆，存在極性連接錯誤的隱患；四、線夾咬合力強，容易造成器件電極端子的機械損傷；五、測試線夾與電極端子的接觸面較小，易影響測試結果的準確性。
技術實現思路
[0004]針對現有技術中存在的技術問題，本技術提供了一種用于IGBT模塊的測試工裝，以解決現有利用測試設備資源端引出的測試線夾，通過手動切換測試線夾的連接方式，測試效率低，測試線夾容易斷裂，易影響測試結果的準確性的技術問題。
[0005]為達到上述目的，本技術采用的技術方案為：
[0006]本技術提供了一種用于IGBT模塊的測試工裝，包括測試底座、測試盒體、彈性連接端子、連接導線及PCB板；
[0007]所述測試底座的上表面設置有定位槽，待測IGBT模塊水平安裝在所述定位槽內；其中，所述待測IGBT模塊的電極端子位于遠離測試底座的一側設置；
[0008]所述測試盒體設置在所述測試底座的上方，所述PCB板水平安裝在所述測試盒體中；所述彈性連接端子布設在所述PCB板的下表面，所述彈性連接端子的上端與所述PCB板電性連接；所述彈性連接端子的下端貫穿所述測試盒體的下表面后，并與所述待測IGBT模塊的電極端子緊密接觸；
[0009]所述連接導線的一端與所述PCB板相連，所述連接導線的另一端用于與所述測試設備相連。
[0010]進一步的，還包括開關，所述開關設置在測試盒體的端部外側，并延伸至測試盒體的內側后與所述PCB板電性連接；其中，所述開關，用于導通或關斷所述彈性連接端子與所述PCB板之間的電性連接。
[0011]進一步的，所述彈性連接端子，包括若干測試彈簧探針及兩個測試彈簧夾片；其中，若干測試彈簧探針布設在所述PCB板的下表面中部，兩個測試彈簧夾片布設在所述PCB
板的下表面端部。
[0012]進一步的，還包括壓緊機構；所述壓緊機構的一端與所述測試底座相連，所述壓緊機構的另一端與所述測試盒體的上表面相連；所述壓緊機構，用于對所述測試盒體進行壓緊固定，以使所述彈性連接端子與所述待測IGBT模塊的電極端子緊密接觸。
[0013]進一步的，所述壓緊機構包括上固定板、左固定柱、右固定柱、活動桿、控制手柄及壓緊板；
[0014]所述上固定板與所述壓緊板上下平行設置，且均位于所述測試盒體的上表面上方；其中，所述壓緊板的前側與所述測試盒體的上表面固定，所述壓緊板的后側一端設置有左導孔，所述壓緊板的后側另一端設置有右導孔；
[0015]所述左固定柱與所述右固定柱豎向平行設置；
[0016]其中，所述左固定柱的底端與所述測試底座的后側一端固定連接，所述左固定柱的中部滑動貫穿所述左導孔，所述左固定柱的頂端與所述上固定板的一端固定連接；所述右固定柱的底端與所述測試底座的后側另一端固定連接，所述右固定柱的中部滑動貫穿所述右導孔，所述右固定柱的頂端與所述上固定板的另一端固定連接；
[0017]所述活動桿豎向設置在所述左固定柱與所述右固定柱之間，所述控制手柄設置在所述上固定板的上方，用于對所述活動桿進行豎向提拉；所述活動桿的下端與所述壓緊板的后側中部固定連接，所述活動桿的上端貫穿所述上固定板的中部后與所述控制手柄相連。
[0018]進一步的，所述壓緊機構還包括左滑動導軌及右滑動導軌；所述左滑動導軌同心穿設在所述左導孔中，且套設在所述左固定柱的中部外側；所述右滑動導軌同心穿設在所述右導孔中，且套設在所述右固定柱的中部外側。
[0019]進一步的，所述控制手柄包括手柄本體、V型連接桿、連接直桿及手柄底座；
[0020]所述手柄底座固定設置在所述上固定板的上表面中心，所述手柄底座的中心設置豎向通孔；所述上固定板的中心設置有貫穿通孔，所述貫穿通孔與所述豎向通孔同心設置；所述活動桿的上端依次貫穿所述貫穿通孔及所述豎向通孔后，并向所述手柄底座的上端外側方向延伸；
[0021]所述V型連接桿包括第一桿件及第二桿件，所述第一桿件的一端與所述活動桿的上端端部轉動連接，所述第一桿件的另一端與所述第二桿件的一端固定連接，所述第二桿件的另一端與所述手柄本體固定連接；
[0022]所述連接直桿的下端與所述手柄底座的側壁轉動連接，所述連接直桿的上端與所述V型連接件的節點轉動連接；其中，所述V型連接件的節點為所述第一桿件與所述第二桿件的連接節點。
[0023]進一步的，所述定位槽為U型槽結構；所述測試底座1的上表面設置有左定位板、右定位板及后定位板，所述左定位板、右定位板及后定位板合圍形成所述U型槽結構。
[0024]與現有技術相比，本技術的有益效果為：
[0025]本技術提供了一種用于IGBT模塊的測試工裝，通過在測試底座上設置定位槽，將定位槽作為待測IGBT模塊的測試工位；通過在測試盒體的下表面設置帶有彈性連接端子的PCB板，利用彈性連接端子與待測IGBT模塊的電極端子的緊密接觸，并通過連接導向將PCB板與測試設備的資源端相連，實現待測IGBT模塊與測試設備的連接，滿足對IGBT模塊
的電性能參數的測試要求；裝置結構簡單，無需采用測試線夾與電極端子直接相連，避免了測試線夾的斷裂以及電極端子的損傷，測試效率及結果準確性較高。
[0026]進一步的，通過在測試盒體的端部外側設置開關，利用開關導通或關斷所述彈性連接端子與所述PCB板之間的電性連接，實現根據不同待測IGBT模塊的型號，選擇對應的彈性連接端子與PCB板導通，進而實現待測IGBT模塊與測試設備的電連接，操作便捷，有效提高了試驗效率；能夠支持多路切換的IGBT模塊的測試要求。
[0027]進一步的，利用壓緊機構對測試盒體進行壓緊固定，確保了PCB板上的彈性連接端子與IGBT模塊的電極端子的緊密接觸，有效保證了測試結果的準確性。
[0028]進一步的，采用左定位板、右定位板及后定位板合圍形成U型槽結構，并將其作為待測IGBT模塊的試驗工位，確保了待測IGBT模塊的試驗安裝精度。
附圖說明
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【技術保護點】
【技術特征摘要】
1.一種用于IGBT模塊的測試工裝，其特征在于，包括測試底座(1)、測試盒體(14)、彈性連接端子、連接導線(17)及PCB板(18)；所述測試底座(1)的上表面設置有定位槽，待測IGBT模塊水平安裝在所述定位槽內；其中，所述待測IGBT模塊的電極端子位于遠離測試底座(1)的一側設置；所述測試盒體(14)設置在所述測試底座(1)的上方，所述PCB板(18)水平安裝在所述測試盒體(14)中；所述彈性連接端子布設在所述PCB板(18)的下表面，所述彈性連接端子的上端與所述PCB板(18)電性連接；所述彈性連接端子的下端貫穿所述測試盒體(14)的下表面后，并與所述待測IGBT模塊的電極端子緊密接觸；所述連接導線(17)的一端與所述PCB板(18)相連，所述連接導線(17)的另一端用于與測試設備相連。2.根據權利要求1所述的一種用于IGBT模塊的測試工裝，其特征在于，還包括開關(13)，所述開關(13)設置在測試盒體(14)的端部外側，并延伸至測試盒體(14)的內側后與所述PCB板(18)電性連接；其中，所述開關(13)，用于導通或關斷所述彈性連接端子與所述PCB板(18)之間的電性連接。3.根據權利要求1所述的一種用于IGBT模塊的測試工裝，其特征在于，所述彈性連接端子，包括若干測試彈簧探針(15)及兩個測試彈簧夾片(16)；其中，若干測試彈簧探針(15)布設在所述PCB板(18)的下表面中部，兩個測試彈簧夾片(16)布設在所述PCB板(18)的下表面端部。4.根據權利要求1所述的一種用于IGBT模塊的測試工裝，其特征在于，還包括壓緊機構；所述壓緊機構的一端與所述測試底座(1)相連，所述壓緊機構的另一端與所述測試盒體(14)的上表面相連；所述壓緊機構，用于對所述測試盒體(14)進行壓緊固定，以使所述彈性連接端子與所述待測IGBT模塊的電極端子緊密接觸。5.根據權利要求4所述的一種用于IGBT模塊的測試工裝，其特征在于，所述壓緊機構包括上固定板(5)、左固定柱(6)、右固定柱(7)、活動桿(10)、控制手柄(11)及壓緊板(12)；所述上固定板(5)與所述壓緊板(12)上下平行設置，且均位于所述測試盒體(14)的上表面上方；其中，所述壓緊板(12)的前側與所述測試盒體(14)的上表面固定，所述壓緊板(12)的后側一端設置有左導孔，所述壓緊板(12)的后側另一端設置有右導孔；所述左...
【專利技術屬性】
技術研發人員：邢星，呂立峰，徐輝，
申請(專利權)人：西安太乙電子有限公司，
類型：新型
國別省市：
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