本申請涉及圖像處理領(lǐng)域，提供一種基于工業(yè)視覺的扁形連接器生產(chǎn)缺陷檢測方法，包括：獲取扁形連接器的灰度圖像；基于灰度圖像計(jì)算扁形連接器上端子的特征顯著系數(shù)，基于特征顯著系數(shù)從灰度圖像中確定疑似端子觸點(diǎn)區(qū)域；基于疑似端子觸點(diǎn)區(qū)域確定端子觸點(diǎn)邊緣線，并基于端子觸點(diǎn)邊緣線確定端子觸點(diǎn)特征圖像；基于端子觸點(diǎn)特征圖像對扁形連接器進(jìn)行缺陷檢測。該方法提高了對端子觸點(diǎn)的檢測精度。該方法提高了對端子觸點(diǎn)的檢測精度。該方法提高了對端子觸點(diǎn)的檢測精度。
【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
基于工業(yè)視覺的扁形連接器生產(chǎn)缺陷檢測方法
[0001]本申請涉及圖像處理領(lǐng)域，特別是涉及一種基于工業(yè)視覺的扁形連接器生產(chǎn)缺陷檢測方法。
技術(shù)介紹
[0002]連接器是一種電子元器件，在電路中起著電流橋梁的作用，隨著近幾年科學(xué)技術(shù)的發(fā)展，連接器的生產(chǎn)規(guī)模逐漸擴(kuò)大，人們對連接器產(chǎn)品質(zhì)量的要求也日漸提高，連接器生產(chǎn)步驟中質(zhì)量檢測成為了重要的環(huán)節(jié)。隨著電子行業(yè)的發(fā)展，自動(dòng)光學(xué)檢測在近年來成為質(zhì)檢中最廣泛的檢測方法，但由于連機(jī)器中端子觸點(diǎn)尺寸較小，同時(shí)精度要求較高，傳統(tǒng)的自動(dòng)光學(xué)檢測方法在對端子觸點(diǎn)進(jìn)行檢測時(shí)通常會(huì)檢測出虛邊緣，檢測精度降低，從而影響質(zhì)檢效果。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
[0003]本專利技術(shù)提供一種基于工業(yè)視覺的扁形連接器生產(chǎn)缺陷檢測方法，該方法能夠提高檢測精度。
[0004]第一方面，本申請?zhí)峁┮环N基于工業(yè)視覺的扁形連接器生產(chǎn)缺陷檢測方法，包括：獲取扁形連接器的灰度圖像；基于所述灰度圖像計(jì)算所述扁形連接器上端子的特征顯著系數(shù)，基于所述特征顯著系數(shù)從所述灰度圖像中確定疑似端子觸點(diǎn)區(qū)域；基于所述疑似端子觸點(diǎn)區(qū)域確定端子觸點(diǎn)邊緣線，并基于所述端子觸點(diǎn)邊緣線確定端子觸點(diǎn)特征圖像；基于所述端子觸點(diǎn)特征圖像對所述扁形連接器進(jìn)行缺陷檢測。
[0005]在一實(shí)施例中，基于所述灰度圖像計(jì)算所述扁形連接器上端子的特征顯著系數(shù)，包括：利用閾值分割算法對所述灰度圖像進(jìn)行分割，得到前景區(qū)域，所述前景區(qū)域包括扁形連接器所在的區(qū)域；利用連通域標(biāo)記算法對所述前景區(qū)域進(jìn)行處理，得到多個(gè)連通域；計(jì)算每一所述連通域的邊緣線對應(yīng)的擬合優(yōu)度、每一所述連通域內(nèi)像素點(diǎn)的灰度值方差以及所述連通域的最小外接矩形長寬比；基于每一所述連通域的邊緣線對應(yīng)的擬合優(yōu)度、每一所述連通域內(nèi)像素點(diǎn)的灰度值方差以及所述連通域的最小外接矩形的長寬比計(jì)算得到所述扁形連接器上端子的特征顯著系數(shù)。
[0006]在一實(shí)施例中，計(jì)算每一所述連通域的邊緣線對應(yīng)的擬合優(yōu)度，包括：利用角點(diǎn)檢測方法檢測每一連通域的邊緣線；利用最小二乘法對所述邊緣線上的兩個(gè)角點(diǎn)以及兩個(gè)角點(diǎn)之間的采樣點(diǎn)進(jìn)行直線擬合，進(jìn)而確定擬合優(yōu)度，其中，所述擬合優(yōu)度越大，所述邊緣線為所述扁形連接器的邊
緣線可能性越大。
[0007]在一實(shí)施例中，利用如下公式計(jì)算特征顯著系數(shù)：；其中，表示特征顯著系數(shù)，為連通域i邊緣線上兩個(gè)角點(diǎn)以及兩個(gè)角點(diǎn)之間的采樣點(diǎn)的擬合優(yōu)度，為連通域i內(nèi)像素點(diǎn)的灰度值的方差，為連通域i最小外接矩形的長寬比，為調(diào)參因子，防止分母為零。
[0008]在一實(shí)施例中，基于所述特征顯著系數(shù)從所述灰度圖像中確定疑似端子觸點(diǎn)區(qū)域，包括：將特征顯著系數(shù)大于第一閾值的連通域確定疑似端子觸點(diǎn)區(qū)域。
[0009]在一實(shí)施例中，基于所述疑似端子觸點(diǎn)區(qū)域確定端子觸點(diǎn)邊緣線，包括：從所述疑似端子觸點(diǎn)區(qū)域中心選取待測區(qū)域，所述待測區(qū)域的圓心為所述疑似端子觸點(diǎn)區(qū)域的質(zhì)心，半徑大于所述疑似端子觸點(diǎn)區(qū)域的最小外接圓的半徑；利用邊緣檢測算法檢測待測區(qū)域中的邊緣線，確定所述邊緣線的法線，所述邊緣線的法線經(jīng)過所述邊緣線上的任一邊緣像素點(diǎn)；沿著法線從邊緣像素點(diǎn)的兩側(cè)分別取m個(gè)像素點(diǎn)確定邊緣像素點(diǎn)顯著系數(shù)，其中，邊緣像素點(diǎn)為法線與邊緣線相交的像素點(diǎn)，m為大于0的整數(shù)；基于所述邊緣像素點(diǎn)顯著系數(shù)確定端子觸點(diǎn)邊緣線。
[0010]在一實(shí)施例中，沿著法線從邊緣像素點(diǎn)的兩側(cè)分別取m個(gè)像素點(diǎn)確定邊緣像素點(diǎn)顯著系數(shù)，包括：計(jì)算邊緣像素點(diǎn)在法線的一側(cè)選取的m個(gè)像素點(diǎn)灰度值均值與在另一側(cè)選取的m個(gè)像素點(diǎn)灰度值均值之間的均值比；計(jì)算邊緣像素點(diǎn)在法線的一側(cè)選取的m個(gè)像素點(diǎn)灰度值方差與在另一側(cè)選取的m個(gè)像素點(diǎn)灰度值方差之間的方差比；基于所述均值比以及所述方差比確定所述邊緣像素點(diǎn)顯著系數(shù)；基于所述邊緣像素點(diǎn)顯著系數(shù)確定端子觸點(diǎn)邊緣線，包括：將所述邊緣線上所有邊緣像素點(diǎn)的邊緣像素點(diǎn)顯著系數(shù)從大到小進(jìn)行排序，選取前預(yù)設(shè)數(shù)量的像素點(diǎn)作為端子觸點(diǎn)邊緣像素點(diǎn)，端子觸點(diǎn)邊緣像素點(diǎn)組成所述端子觸點(diǎn)邊緣線。
[0011]在一實(shí)施例中，基于所述均值比以及所述方差比確定所述邊緣像素點(diǎn)顯著系數(shù)，包括：；其中，A表示均值比，B表示方差比，表示邊緣像素點(diǎn)顯著系數(shù)。
[0012]在一實(shí)施例中，所述選取前預(yù)設(shè)數(shù)量的像素點(diǎn)作為端子觸點(diǎn)邊緣像素點(diǎn)之后，包括：利用雙線性插值法對端子觸點(diǎn)邊緣像素點(diǎn)進(jìn)行處理，從而得到亞像素級的端子觸點(diǎn)邊緣像素點(diǎn)，亞像素級的端子觸點(diǎn)邊緣像素點(diǎn)組成所述端子觸點(diǎn)邊緣線。
[0013]在一實(shí)施例中，基于所述端子觸點(diǎn)特征圖像對所述扁形連接器進(jìn)行缺陷檢測，包括：基于所述端子觸點(diǎn)特征圖像確定端子觸點(diǎn)區(qū)域的尺寸；如果端子觸點(diǎn)區(qū)域的尺寸與標(biāo)準(zhǔn)扁形連接器的端子觸點(diǎn)尺寸差距大于第二閾值，則確定所述扁形連接器具有缺陷。
[0014]本申請的有益效果，區(qū)別于現(xiàn)有技術(shù)，本申請的基于工業(yè)視覺的扁形連接器生產(chǎn)缺陷檢測方法包括：獲取扁形連接器的灰度圖像；基于灰度圖像計(jì)算扁形連接器上端子的特征顯著系數(shù)，基于特征顯著系數(shù)從灰度圖像中確定疑似端子觸點(diǎn)區(qū)域；基于疑似端子觸點(diǎn)區(qū)域確定端子觸點(diǎn)邊緣線，并基于端子觸點(diǎn)邊緣線確定端子觸點(diǎn)特征圖像；基于端子觸點(diǎn)特征圖像對扁形連接器進(jìn)行缺陷檢測。該方法提高了對端子觸點(diǎn)的檢測精度。
附圖說明
[0015]圖1為本專利技術(shù)基于工業(yè)視覺的扁形連接器生產(chǎn)缺陷檢測方法的一實(shí)施例的流程示意圖；圖2為圖1中步驟S12的一實(shí)施例的流程示意圖；圖3為圖1中步驟S13的一實(shí)施例的流程示意圖。
具體實(shí)施方式
[0016]下面將結(jié)合本申請實(shí)施例中的附圖，對本申請實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅是本申請的一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例。基于本申請中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本申請保護(hù)的范圍。
[0017]本專利技術(shù)根據(jù)端子觸點(diǎn)在圖像中的特征，首先獲取端子觸點(diǎn)在圖像中的大概輪廓，然后對輪廓進(jìn)行分析，獲得更準(zhǔn)確的端子觸點(diǎn)邊緣線，最后將邊緣線提高到亞像素級，提高邊緣線的精度，獲得更準(zhǔn)確的端子觸點(diǎn)輪廓，將輪廓內(nèi)的區(qū)域作為端子觸點(diǎn)區(qū)域，構(gòu)建對應(yīng)的特征圖像，提高對連接器端子觸點(diǎn)檢測的精度，改善檢測效果。下面結(jié)合附圖和實(shí)施例對本申請進(jìn)行詳細(xì)的說明。
[0018]請參見圖1，圖1為基于工業(yè)視覺的扁形連接器生產(chǎn)缺陷檢測方法的一實(shí)施例的流程示意圖，具體包括：步驟S11：獲取扁形連接器的灰度圖像。
[0019]通過CCD相機(jī)獲取fpc（柔性印刷電路板）連接器對應(yīng)面的圖像，在拍照時(shí)要設(shè)置光源。在獲取fpc連接器內(nèi)槽端子觸點(diǎn)面圖像時(shí)，由于各端子腳均勻排列，為使其成像效果相同，在對應(yīng)端面上設(shè)置條形LED光源，并選擇向前打光的照明方式。在采集圖像的過程中，為精確檢測出內(nèi)槽端子觸點(diǎn)的缺陷，需要獲取三張圖像，一張為內(nèi)槽端子觸點(diǎn)面的RGB圖像，一張為灰度圖像區(qū)域，一張為邊緣區(qū)域。對得到的RGB空間圖像進(jìn)行處理，減少環(huán)境中噪聲對其的影響，通過高斯濾波對得到的RGB圖像進(jìn)行去噪處理，得到去噪后的圖像，設(shè)去噪后的RGB空間圖像為圖像F。對去噪后的圖像進(jìn)行本文檔來自技高網(wǎng)...
【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
【技術(shù)特征摘要】
1.基于工業(yè)視覺的扁形連接器生產(chǎn)缺陷檢測方法，其特征在于，包括：獲取扁形連接器的灰度圖像；基于所述灰度圖像計(jì)算所述扁形連接器上端子的特征顯著系數(shù)，基于所述特征顯著系數(shù)從所述灰度圖像中確定疑似端子觸點(diǎn)區(qū)域；基于所述疑似端子觸點(diǎn)區(qū)域確定端子觸點(diǎn)邊緣線，并基于所述端子觸點(diǎn)邊緣線確定端子觸點(diǎn)特征圖像；基于所述端子觸點(diǎn)特征圖像對所述扁形連接器進(jìn)行缺陷檢測。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于工業(yè)視覺的扁形連接器生產(chǎn)缺陷檢測方法，其特征在于，基于所述灰度圖像計(jì)算所述扁形連接器上端子的特征顯著系數(shù)，包括：利用閾值分割算法對所述灰度圖像進(jìn)行分割，得到前景區(qū)域，所述前景區(qū)域包括扁形連接器所在的區(qū)域；利用連通域標(biāo)記算法對所述前景區(qū)域進(jìn)行處理，得到多個(gè)連通域；計(jì)算每一所述連通域的邊緣線對應(yīng)的擬合優(yōu)度、每一所述連通域內(nèi)像素點(diǎn)的灰度值方差以及所述連通域的最小外接矩形長寬比；基于每一所述連通域的邊緣線對應(yīng)的擬合優(yōu)度、每一所述連通域內(nèi)像素點(diǎn)的灰度值方差以及所述連通域的最小外接矩形的長寬比計(jì)算得到所述扁形連接器上端子的特征顯著系數(shù)。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的基于工業(yè)視覺的扁形連接器生產(chǎn)缺陷檢測方法，其特征在于，計(jì)算每一所述連通域的邊緣線對應(yīng)的擬合優(yōu)度，包括：利用角點(diǎn)檢測方法檢測每一連通域的邊緣線；利用最小二乘法對所述邊緣線上的兩個(gè)角點(diǎn)以及兩個(gè)角點(diǎn)之間的采樣點(diǎn)進(jìn)行直線擬合，進(jìn)而確定擬合優(yōu)度，其中，所述擬合優(yōu)度越大，所述邊緣線為所述扁形連接器的邊緣線可能性越大。4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的基于工業(yè)視覺的扁形連接器生產(chǎn)缺陷檢測方法，其特征在于，利用如下公式計(jì)算特征顯著系數(shù)：；其中，表示特征顯著系數(shù)，為連通域i邊緣線上兩個(gè)角點(diǎn)以及兩個(gè)角點(diǎn)之間的采樣點(diǎn)的擬合優(yōu)度，為連通域i內(nèi)像素點(diǎn)的灰度值的方差，為連通域i最小外接矩形的長寬比，為調(diào)參因子，防止分母為零。5.根據(jù)權(quán)利要求1~4任一項(xiàng)所述的基于工業(yè)視覺的扁形連接器生產(chǎn)缺陷檢測方法，其特征在于，基于所述特征顯著系數(shù)從所述灰度圖像中確定疑似端子觸點(diǎn)區(qū)域，包括：將特征顯著系數(shù)大于第一閾值的連通域確定疑似端子觸點(diǎn)區(qū)域。6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于工業(yè)視覺的扁形連接器生產(chǎn)缺陷檢測方法，其特征在于，基于所述疑似端子觸點(diǎn)區(qū)域確定端子觸...
【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：陳咸忠，陳炯，
申請(專利權(quán))人：深圳市鵬基精密工業(yè)有限公司，
類型：發(fā)明
國別省市：
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