鍍膜質量檢測方法、裝置、設備及存儲介質制造方法及圖紙

本發明專利技術屬于鏡片鍍膜技術領域，公開了一種鍍膜質量檢測方法、裝置、設備及存儲介質。該方法包括：獲取完成鍍膜的金剛石鏡片的鏡片圖像信息；對所述鏡片圖像信息進行圖像識別，得到鍍膜完成度信息；對所述金剛石鏡片進行透光檢測，得到所述金剛石鏡片的光照質檢信息；根據所述鍍膜完成度信息和所述光照質檢信息得到所述金剛石鏡片的鍍膜質量結果。通過上述方式，通過金剛石鏡片的圖像信息進行圖像識別和比對，從而可以檢測金剛石鏡片的鍍膜完成度，再進行透光檢測，可以得到金剛石鏡片在光照檢測下的質量，從而結合鍍膜完成度和光照質檢信息判定金剛石鏡片鍍膜后是否符合質量標準，提高了質檢的效率和準確性。高了質檢的效率和準確性。高了質檢的效率和準確性。

【技術實現步驟摘要】
鍍膜質量檢測方法、裝置、設備及存儲介質


[0001]本專利技術涉及鏡片鍍膜
，尤其涉及一種鍍膜質量檢測方法、裝置、設備及存儲介質。

技術介紹

[0002]為了使得制造出的金剛石光學鏡片獲得適于應用的良好性能，需要經過后續處理，而鍍膜工序為后續處理中的重要步驟之一，而目前通常采用鍍膜機對光學鏡片進行鍍膜，而很多鍍膜機對裝夾在其上的光學鏡片進行均勻鍍膜作業容易出現失誤，使得光學鏡片鍍膜膜層厚度容易出現分布不均勻的情況，如此便影響了光學鏡片的性能，但是對于鍍膜過后的光學鏡片的質量檢測一直是一個耗時耗力的工作，需要大量的人工和時間來進行處理和檢測，效率低下。
[0003]上述內容僅用于輔助理解本專利技術的技術方案，并不代表承認上述內容是現有技術。

技術實現思路

[0004]本專利技術的主要目的在于提供一種鍍膜質量檢測方法、裝置、設備及存儲介質，旨在解決現有技術鏡片鍍膜的質量檢測效率低且準確率不高的技術問題。
[0005]為實現上述目的，本專利技術提供了一種鍍膜質量檢測方法，所述方法包括以下步驟：
[0006]獲取完成鍍膜的金剛石鏡片的鏡片圖像信息；
[0007]對所述鏡片圖像信息進行圖像識別，得到鍍膜完成度信息；
[0008]對所述金剛石鏡片進行透光檢測，得到所述金剛石鏡片的光照質檢信息；
[0009]根據所述鍍膜完成度信息和所述光照質檢信息得到所述金剛石鏡片的鍍膜質量結果。
[0010]可選地，所述對所述鏡片圖像信息進行圖像識別，得到鍍膜完成度信息，包括：
[0011]將所述鏡片圖像信息導入預設識別模型，得到鍍膜識別圖像；
[0012]根據所述鍍膜識別圖像計算所述金剛石鏡片的鍍膜覆蓋率；
[0013]根據所述鍍膜覆蓋率確定所述金剛石鏡片的鍍膜完成度信息。
[0014]可選地，所述根據所述鍍膜識別圖像計算所述金剛石鏡片的鍍膜覆蓋率，包括：
[0015]獲取所述金剛石鏡片的鏡片面積；
[0016]根據所述鍍膜識別圖像確定所述金剛石鏡片對應的鍍膜平面圖；
[0017]根據所述鍍膜平面圖確定鍍膜未完成圖塊；
[0018]根據所述鍍膜未完成圖塊確定未鍍膜面積；
[0019]根據所述未鍍膜面積和所述鏡片面積計算鍍膜覆蓋率。
[0020]可選地，所述對所述金剛石鏡片進行透光檢測，得到所述金剛石鏡片的光照質檢信息，包括：
[0021]向所述金剛石鏡片發射預設測試光線，并檢測所述預設測試光線透過所述金剛石
鏡片的射出光線；
[0022]根據所述預設測試光線和所述射出光線計算所述金剛石鏡片的透光率和折射率；
[0023]根據所述透光率和所述折射率得到所述金剛石鏡片的光照質檢信息。
[0024]可選地，所述根據所述預設測試光線和所述射出光線計算所述金剛石鏡片的透光率和折射率，包括：
[0025]根據所述預設測試光線確定入射光線角度信息和入射光線強度信息；
[0026]根據所述射出光線確定折射光線角度信息和出射光線強度信息；
[0027]根據所述入射光線角度信息和所述折射光線角度信息計算所述金剛石鏡片的折射率；
[0028]根據所述入射光線強度信息和所述出射光線強度信息計算所述金剛石鏡片的透光率。
[0029]可選地，所述根據所述鍍膜完成度信息和所述光照質檢信息得到所述金剛石鏡片的鍍膜質量結果，包括：
[0030]根據所述鍍膜完成度信息和預設完成度閾值確定鍍膜質檢結果；
[0031]根據所述光照質檢信息、預設折射率標準和預設透光率標準確定產品質檢結果；
[0032]根據所述鍍膜質檢結果和所述產品質檢結果確定鍍膜質量結果。
[0033]可選地，所述根據所述鍍膜質檢結果和所述產品質檢結果確定鍍膜質量結果，包括：
[0034]根據所述鍍膜質檢結果確定鍍膜完成偏差信息；
[0035]根據所述產品質檢結果確定質量偏差信息；
[0036]將所述鍍膜完成偏差信息和所述質量偏差信息分別與合格標準進行比較，確定所述金剛石鏡片的鍍膜質量結果。
[0037]此外，為實現上述目的，本專利技術還提出一種鍍膜質量檢測裝置，所述鍍膜質量檢測裝置包括：
[0038]圖像獲取模塊，用于獲取完成鍍膜的金剛石鏡片的鏡片圖像信息；
[0039]圖像識別模塊，用于對所述鏡片圖像信息進行圖像識別，得到鍍膜完成度信息；
[0040]透光檢測模塊，用于對所述金剛石鏡片進行透光檢測，得到所述金剛石鏡片的光照質檢信息；
[0041]質檢結果模塊，用于根據所述鍍膜完成度信息和所述光照質檢信息得到所述金剛石鏡片的鍍膜質量結果。
[0042]此外，為實現上述目的，本專利技術還提出一種鍍膜質量檢測設備，所述鍍膜質量檢測設備包括：存儲器、處理器及存儲在所述存儲器上并可在所述處理器上運行的鍍膜質量檢測程序，所述鍍膜質量檢測程序配置為實現如上文所述的鍍膜質量檢測方法的步驟。
[0043]此外，為實現上述目的，本專利技術還提出一種存儲介質，所述存儲介質上存儲有鍍膜質量檢測程序，所述鍍膜質量檢測程序被處理器執行時實現如上文所述的鍍膜質量檢測方法的步驟。
[0044]本專利技術獲取完成鍍膜的金剛石鏡片的鏡片圖像信息；對所述鏡片圖像信息進行圖像識別，得到鍍膜完成度信息；對所述金剛石鏡片進行透光檢測，得到所述金剛石鏡片的光照質檢信息；根據所述鍍膜完成度信息和所述光照質檢信息得到所述金剛石鏡片的鍍膜質
量結果。通過這種方式，實現了通過金剛石鏡片的圖像信息進行圖像識別和比對，從而可以檢測金剛石鏡片的鍍膜完成度，再進行透光檢測，可以得到金剛石鏡片在光照檢測下的質量，從而結合鍍膜完成度和光照質檢信息判定金剛石鏡片鍍膜后是否符合質量標準，提高了質檢的效率和準確性。
附圖說明
[0045]圖1是本專利技術實施例方案涉及的硬件運行環境的鍍膜質量檢測設備的結構示意圖；
[0046]圖2為本專利技術鍍膜質量檢測方法第一實施例的流程示意圖；
[0047]圖3為本專利技術鍍膜質量檢測方法第二實施例的流程示意圖；
[0048]圖4為本專利技術鍍膜質量檢測裝置第一實施例的結構框圖。
[0049]本專利技術目的的實現、功能特點及優點將結合實施例，參照附圖做進一步說明。
具體實施方式
[0050]應當理解，此處所描述的具體實施例僅用以解釋本專利技術，并不用于限定本專利技術。
[0051]參照圖1，圖1為本專利技術實施例方案涉及的硬件運行環境的鍍膜質量檢測設備結構示意圖。
[0052]如圖1所示，該鍍膜質量檢測設備可以包括：處理器1001，例如中央處理器(Central Processing Unit，CPU)，通信總線1002、用戶接口1003，網絡接口1004，存儲器1005。其中，通信總線1002用于實現這些組件之間的連接通信。用戶接口1003可以包括顯示屏(Display)、輸入單元比如鍵盤(Keyb本文檔來自技高網...

【技術保護點】

【技術特征摘要】
1.一種鍍膜質量檢測方法，其特征在于，所述鍍膜質量檢測方法包括：獲取完成鍍膜的金剛石鏡片的鏡片圖像信息；對所述鏡片圖像信息進行圖像識別，得到鍍膜完成度信息；對所述金剛石鏡片進行透光檢測，得到所述金剛石鏡片的光照質檢信息；根據所述鍍膜完成度信息和所述光照質檢信息得到所述金剛石鏡片的鍍膜質量結果。2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述對所述鏡片圖像信息進行圖像識別，得到鍍膜完成度信息，包括：將所述鏡片圖像信息導入預設識別模型，得到鍍膜識別圖像；根據所述鍍膜識別圖像計算所述金剛石鏡片的鍍膜覆蓋率；根據所述鍍膜覆蓋率確定所述金剛石鏡片的鍍膜完成度信息。3.如權利要求2所述的方法，其特征在于，所述根據所述鍍膜識別圖像計算所述金剛石鏡片的鍍膜覆蓋率，包括：獲取所述金剛石鏡片的鏡片面積；根據所述鍍膜識別圖像確定所述金剛石鏡片對應的鍍膜平面圖；根據所述鍍膜平面圖確定鍍膜未完成圖塊；根據所述鍍膜未完成圖塊確定未鍍膜面積；根據所述未鍍膜面積和所述鏡片面積計算鍍膜覆蓋率。4.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述對所述金剛石鏡片進行透光檢測，得到所述金剛石鏡片的光照質檢信息，包括：向所述金剛石鏡片發射預設測試光線，并檢測所述預設測試光線透過所述金剛石鏡片的射出光線；根據所述預設測試光線和所述射出光線計算所述金剛石鏡片的透光率和折射率；根據所述透光率和所述折射率得到所述金剛石鏡片的光照質檢信息。5.如權利要求4所述的方法，其特征在于，所述根據所述預設測試光線和所述射出光線計算所述金剛石鏡片的透光率和折射率，包括：根據所述預設測試光線確定入射光線角度信息和入射光線強度信息；根據所述射出光線確定折射光線角度信息和出射光線強度信息；根據所述入射光線角度信息和所...

【專利技術屬性】
技術研發人員：張亞娟，戎榮，
申請(專利權)人：浙江天霽材料科技有限公司，
類型：發明
國別省市：