一種計算受弱地磁活動影響的foF2的方法技術

本發明專利技術公開了一種計算受弱地磁活動影響的foF2的方法，涉及電離層物理研究及應用技術領域。該方法包括：獲取Ap指數和Dst指數，Ap指數和Dst指數滿足第一條件；通過處理F10.7指數獲取電離層太陽活動指數S；利用傅里葉多項式計算出太陽活動影響值T；獲取實際觀測值R；利用實際觀測值R和太陽活動影響值T獲取弱地磁活動影響值G。本發明專利技術通過改進F10.7指數進而提出一種電離層太陽活動指數S，能夠在研究foF2時，有效的將弱地磁活動對foF2的影響分離出來，有利于更直觀的研究弱地磁活動對foF2和電離層的影響；本發明專利技術所提出的方法可操作性強，數據選取簡易，易于實現。易于實現。易于實現。

【技術實現步驟摘要】
一種計算受弱地磁活動影響的foF2的方法


[0001]本專利技術屬于電離層物理研究及應用
，尤其涉及一種計算受弱地磁活動影響的foF2的方法。

技術介紹

[0002]電離層無線電波傳播因遠距離高頻(HF)通信而廣為人知。在不利的空間天氣期間，電離層變得非常不穩定，導致高頻通信等技術系統的運行受到干擾，也會影響導航和定位等其他應用。這種影響可以在多個數據源中看到，例如離子探測測量儀、全球衛星定位觀測系統(GPS)。高度動態和可變的電離層F2層可能會導致不可靠的HF通信，地磁風暴條件下電離層響應的近實時監測對于可靠通信非常重要，而弱地磁活動下電離層的響應對于提高不同通信系統的精確度和穩定性有著至關重要的作用。
[0003]電離層活動指數在研究電離層的特征參數中發揮著重要的作用。為了建立電離層活動指數，已經進行了許多研究，例如(1)電離層T指數，這是一種基于太陽黑子數的全球指數；(2)北半球地區每月電離層指數MF2，這是為了更好地長期預測foF2，而不僅僅是使用直接太陽黑子數(R12)；(3)行星電離層風暴指數(Wp)，該指數來自垂直總電子含量(VTEC)的GPS
?
IONEX圖，這個指數是為了便于觀察電離層中電子密度的減少或增加。
[0004]F2層臨界頻率(foF2)是電離層中最重要的參數之一。在目前的foF2建模方法中，大多數都是綜合利用太陽活動指數和地磁活動指數建模的，這就造成了在單獨分析地磁活動效應時，foF2的變化不能充分說明地磁活動對電離層造成的擾動影響。
[0005]許多因素表征了弱地磁活動和foF2的之間的變化。主要因素有太陽事件、地球運動(季節變化)以及太陽風與磁層之間的相互作用有關的外部變率因素。與電離層風暴相比，較弱的地磁活動頻繁發生，而電離層對較弱地磁活動響應的研究則少得多。一個原因是，通常很難將較弱的地磁活動的影響與由太陽輻照度、地磁活動和來自低層大氣的波同時引起的復雜電離層逐日變率區分開來。即便如此，在某些特定條件下，弱地磁活動的影響仍然可以被識別出來。

技術實現思路

[0006]本專利技術的目的在于提供一種計算受弱地磁活動影響的foF2的方法，利用電離層太陽活動指數S，將受弱地磁活動影響的foF2分離出來，有利于更直觀的研究弱地磁活動對電離層，尤其是弱地磁對foF2的影響。
[0007]本專利技術的目的可以通過以下技術方案實現：
[0008]本申請實施例提供了一種計算受弱地磁活動影響的foF2的方法，包括：
[0009]獲取Ap指數和Dst指數，所述Ap指數和所述Dst指數滿足第一條件；
[0010]通過處理F10.7指數獲取電離層太陽活動指數S；
[0011]利用傅里葉多項式計算出太陽活動影響值T；
[0012]獲取實際觀測值R；
[0013]利用所述實際觀測值R和所述太陽活動影響值T獲取弱地磁活動影響值G。
[0014]作為本專利技術的一種優選技術方案，所述第一條件為：所述Ap指數位于第一指數范圍和/或所述Dst指數位于第二指數范圍內。
[0015]作為本專利技術的一種優選技術方案，所述第一指數范圍為8<Ap<30，所述第二指數范圍為
?
30<Dst<10。
[0016]作為本專利技術的一種優選技術方案，對所述F10.7指數進行加權處理，通過公式S＝(0.35F
10.7
+0.65F
10.7A
)獲取所述太陽活動指數S。
[0017]作為本專利技術的一種優選技術方案，通過公式
[0018][0019]獲取所述太陽活動影響值T。
[0020]作為本專利技術的一種優選技術方案，通過公式G＝R
?
T獲取所述弱地磁活動影響值G。
[0021]本專利技術的有益效果為：
[0022](1)本專利技術通過改進F10.7指數提出一種電離層太陽活動指數S，能夠在研究foF2時，有效的將弱地磁活動對foF2的影響分離出來，有利于更直觀的研究弱地磁活動對foF2和電離層的影響。
[0023](2)本專利技術所提出的方法可操作性強，數據選取簡易，易于實現。
附圖說明
[0024]為了更好地理解和實施，下面結合附圖詳細說明本申請的技術方案。
[0025]圖1為本申請實施例提供的一種計算受弱地磁活動影響的foF2的方法步驟流程圖；
[0026]圖2為本申請另一種實施例提供的一種計算受弱地磁活動影響的foF2的方法步驟流程圖；
[0027]圖3為本申請實施例提供的弱地磁活動對海南站觀測點foF2的影響的示意圖；
[0028]圖4為本申請實施例提供的弱地磁活動對昆明站觀測點foF2的影響的示意圖；圖5為本申請實施例提供的弱地磁活動對長春站觀測點foF2的影響的示意圖；圖6為本申請實施例提供的弱地磁活動對滿洲里站觀測點foF2的影響的示意圖。
具體實施方式
[0029]為更進一步闡述本專利技術為實現預定專利技術目的所采取的技術手段及功效，這里將詳細地對示例性實施例進行說明，其示例表示在附圖中。下面的描述涉及附圖時，除非另有表示，不同附圖中的相同數字表示相同或相似的要素。以下示例性實施例中所描述的實施方式并不代表與本申請相一致的所有實施方式。相反，它們僅是與如所附權利要求書中所詳述的、本申請的一些方面相一致的方法和系統的例子。
[0030]在本申請使用的術語是僅僅出于描述特定實施例的目的，而非旨在限制本申請。
在本申請和所附權利要求書中所使用的單數形式的“一種”、“所述”和“該”也旨在包括多數形式，除非上下文清楚地表示其他含義。還應當理解，本文中使用的術語“和/或”是指并包含一個或多個相關聯的列出項目的任何或所有可能組合。
[0031]以下結合附圖及較佳實施例，對依據本專利技術的具體實施方式、特征及其功效做詳細說明。
[0032]實施例1
[0033]請參閱圖1，本申請實施例提供了一種計算受弱地磁活動影響的foF2的方法，所述方法包括：
[0034]S101：獲取Ap指數和Dst指數，Ap指數和Dst指數滿足第一條件；
[0035]S102：通過處理F10.7指數獲取電離層太陽活動指數S；
[0036]S103：利用傅里葉多項式計算出太陽活動影響值T；
[0037]S104：獲取實際觀測值R；
[0038]S105：利用實際觀測值R和太陽活動影響值T獲取弱地磁活動影響值G。
[0039]下面將針對步驟S101～S105進行詳細說明。
[0040]地磁活動指數是度量地磁活動的強弱的常用指標，Ap指數和Dst指數是不同類型的地磁活動指數。
[0041]電離層與磁層和太陽風密切耦合，當磁層和太陽風的能量沉積到高緯電離層和高層大氣時，電離層會受到明顯的擾動。一般來說，這種能量沉積非常頻繁，通常較弱，偶爾較強。伴隨這種能量沉積，空間電流系統本文檔來自技高網...

【技術保護點】

【技術特征摘要】
1.一種計算受弱地磁活動影響的foF2的方法，其特征在于，所述方法包括：獲取Ap指數和Dst指數，所述Ap指數和所述Dst指數滿足第一條件；通過處理F10.7指數獲取電離層太陽活動指數S；利用傅里葉多項式計算出太陽活動影響值T；獲取實際觀測值R；利用所述實際觀測值R和所述太陽活動影響值T獲取弱地磁活動影響值G。2.根據權利要求1所述的一種計算受弱地磁活動影響的foF2的方法，其特征在于，所述第一條件為：所述Ap指數位于第一指數范圍和/或所述Dst指數位于第二指數范圍內。3.根據權利要求2所述的一種計算受弱地磁活動影響的foF2的方法，其特征在于，所述第一指數范圍為8<Ap<30，所述...

【專利技術屬性】
技術研發人員：安玲玲，曹博鑫，馮靜，蔚娜，魯轉俠，齊東玉，王岳松，
申請(專利權)人：中國電子科技集團公司第二十二研究所，
類型：發明
國別省市：