本發(fā)明專利技術(shù)提供一種雷達模塊頻率補償調(diào)試系統(tǒng)、補償調(diào)試方法及存儲器；所述系統(tǒng)至少包括頻譜儀、上位機和雷達模塊；頻譜儀用于檢測雷達模塊的補償前和補償后的頻率值并進行顯示；上位機用于當頻譜儀檢測到的頻率值不處于預(yù)設(shè)頻率值范圍內(nèi)時，發(fā)送補償調(diào)試指令至雷達模塊；雷達模塊至少包括單片機和雷達芯片；其中，單片機用于響應(yīng)上位機發(fā)出的補償調(diào)試指令，并輸出PWM信號；雷達芯片用于根據(jù)PWM信號進行頻率補償。本發(fā)明專利技術(shù)解決了雷達模塊頻率偏移的技術(shù)問題；并且頻譜儀可以實時顯示雷達模塊補償前和補償后的頻率值，在一定程度上可以提高頻率補償效率；此外，所述雷達模塊頻率補償調(diào)試系統(tǒng)所需人力成本和物力成本都較低，有利于投入大規(guī)模的應(yīng)用中去。大規(guī)模的應(yīng)用中去。大規(guī)模的應(yīng)用中去。
【技術(shù)實現(xiàn)步驟摘要】
雷達模塊頻率補償調(diào)試系統(tǒng)、補償調(diào)試方法及存儲器
[0001]本專利技術(shù)涉及雷達
，特別涉及一種雷達模塊頻率補償調(diào)試系統(tǒng)、補償調(diào)試方法及存儲器。
技術(shù)介紹
[0002]作為毫米波雷達的核心器件
?
雷達芯片，一般主要分為射頻的發(fā)射、接收芯片和基帶處理芯片，雷達芯片在整個雷達產(chǎn)品中成本占比大，同時由于雷達芯片在雷達中屬于上游技術(shù)，雷達芯片向來是巨頭的戰(zhàn)場。
[0003]雷達芯片內(nèi)部集成有VCO器件，所述VCO器件用于產(chǎn)生高頻的雷達載波在介質(zhì)中傳輸，由于設(shè)備工作環(huán)境溫度變化，進而對VCO器件造成一定影響，導(dǎo)致雷達芯片產(chǎn)生頻率偏移；當頻率發(fā)生偏移時，就會影響到一些射頻標準所制定的范圍，所述射頻標準例如FCC（聯(lián)邦通信委員會認證）、CE（歐洲統(tǒng)一認證）、KC（韓國認證）等。
[0004]因此，需要一種可以解決、調(diào)整雷達波頻率偏移，對工作頻率進行相應(yīng)補償調(diào)試的系統(tǒng)。
技術(shù)實現(xiàn)思路
[0005]本專利技術(shù)提供一種可以解決頻率偏移問題的雷達模塊頻率補償調(diào)試系統(tǒng)、補償調(diào)試方法及存儲器。
[0006]具體地，本專利技術(shù)提供一種雷達模塊頻率補償調(diào)試系統(tǒng)，至少包括頻譜儀、上位機和雷達模塊。
[0007]所述上位機分別與所述頻譜儀和雷達模塊連接。
[0008]所述頻譜儀用于檢測所述雷達模塊的補償前和補償后的頻率值并進行顯示。
[0009]所述上位機用于當所述頻譜儀檢測到的頻率值不處于預(yù)設(shè)頻率值范圍內(nèi)時，發(fā)送補償調(diào)試指令至雷達模塊。
[0010]所述雷達模塊至少包括單片機和雷達芯片。
[0011]其中，所述單片機用于響應(yīng)所述上位機發(fā)出的補償調(diào)試指令，并輸出PWM信號；所述雷達芯片用于根據(jù)所述PWM信號進行頻率的補償調(diào)試。
[0012]通過所述雷達模塊頻率補償調(diào)試系統(tǒng)解決了頻率偏移的技術(shù)問題；并且頻譜儀可以實時顯示雷達模塊的頻率值，方便用戶查看以進行對應(yīng)頻率補償調(diào)試，在一定程度上可以提高頻率補償調(diào)試的效率；此外，所述雷達模塊頻率補償調(diào)試系統(tǒng)的實現(xiàn)方式較為簡單，所需要的設(shè)備硬件較少，人力成本和物力成本都較低，有利于投入大規(guī)模的應(yīng)用中去。
[0013]所述上位機用于當所述頻譜儀檢測到的雷達模塊工作的頻率值不處于預(yù)設(shè)頻率值范圍內(nèi)時，用于獲取當前頻率值的層級，并根據(jù)所述層級發(fā)送補償調(diào)試指令給雷達模塊的單片機。
[0014]所述層級分為兩個，即當前頻率值是高于預(yù)設(shè)頻率值范圍的上限還是低于預(yù)設(shè)頻率值范圍的下限，再根據(jù)相應(yīng)的層級發(fā)送補償調(diào)試指令，以保證后續(xù)頻率補償調(diào)試結(jié)果的
準確性。
[0015]所述雷達模塊頻率補償調(diào)試系統(tǒng)還包括：PCB板，所述PCB板上設(shè)置有熱敏電阻，以及與上位機相連的串口線接口。
[0016]設(shè)置熱敏電阻供后續(xù)采集對應(yīng)的ADC值進行PWM信號的計算輸出。
[0017]所述單片機采集所述熱敏電阻的ADC值，根據(jù)所述ADC值計算并輸出對應(yīng)的PWM信號至雷達芯片。
[0018]所述雷達芯片內(nèi)部集成有VCO器件，所述VCO器件接收到PWM信號后，調(diào)節(jié)輸入調(diào)諧電壓對所述VCO器件進行頻率的補償調(diào)試。
[0019]需要說明的是，調(diào)節(jié)輸入調(diào)諧電壓的方式為手動調(diào)節(jié)，在調(diào)節(jié)過程中，用戶實時觀察頻譜儀上所顯示的頻率值，直至該頻率值處于預(yù)設(shè)頻率值范圍內(nèi)時停止調(diào)節(jié)。
[0020]所述上位機通過第一串口線與所述單片機和雷達芯片通訊連接；所述上位機通過第二串口線與所述頻譜儀通訊連接。
[0021]通過第一串口線和第二串口線完成上位機、頻譜儀和雷達芯片之間的連接，可以理解為該種通訊方式為串口通訊，然而串口通訊的普及率較高，是設(shè)備之間進行通信最簡單也最容易的方法。
[0022]采用串口工具進行系統(tǒng)設(shè)備之間的通訊連接，具有成本低和容易實現(xiàn)的優(yōu)點。
[0023]基于同一構(gòu)思，本專利技術(shù)還提供一種應(yīng)用于雷達模塊頻率補償調(diào)試系統(tǒng)的補償調(diào)試方法，包括以下步驟：S10：通過頻譜儀檢測雷達模塊的頻率值。
[0024]S20：當步驟S10檢測到的頻率值不處于預(yù)設(shè)頻率值范圍內(nèi)時，上位機發(fā)送補償調(diào)試指令至雷達模塊；所述雷達模塊至少包括單片機和雷達芯片。
[0025]S30：所述單片機響應(yīng)于所述補償調(diào)試指令，并輸出PWM信號，所述雷達芯片根據(jù)所述PWM信號進行頻率的補償調(diào)試。
[0026]所述補償調(diào)試方法解決了雷達模塊頻率偏移的問題，使得雷達模塊的頻率值根據(jù)相關(guān)計算處理得到了準確的補償實現(xiàn)。
[0027]所述步驟S20包括：當所述雷達模塊工作的頻率值不處于預(yù)設(shè)頻率值范圍內(nèi)時，獲取當前頻率值的層級，并根據(jù)所述層級發(fā)送補償調(diào)試指令。
[0028]所述雷達芯片內(nèi)部集成有VCO器件。
[0029]VCO器件的關(guān)鍵性能參數(shù)例如輸入調(diào)諧電壓、頻率，通過調(diào)節(jié)輸入調(diào)諧電壓可以對應(yīng)改變其頻率，進而實現(xiàn)雷達模塊的頻率的補償調(diào)試。
[0030]通過頻率的補償調(diào)試，確保了電路的穩(wěn)定性和精確性。
[0031]所述步驟S30中的頻率得補償調(diào)試包括：實時觀察頻譜儀顯示的頻率值，并通過調(diào)節(jié)輸入調(diào)諧電壓對所述VCO器件進行頻率的補償調(diào)試，直至輸入調(diào)諧電壓確定時，對應(yīng)的雷達模塊工作的頻率值處于預(yù)設(shè)頻率值范圍內(nèi)；其中，在調(diào)節(jié)輸入調(diào)諧電壓之前需要接收到PWM信號，具體包括：采集熱敏電阻的ADC值，根據(jù)所述ADC值計算并輸出對應(yīng)的PWM信號。
[0032]基于同一構(gòu)思，本專利技術(shù)還提供一種存儲器，所述存儲器與處理器通訊連接，所述存儲器和處理器均位于上位機，所述存儲器包括可被處理器執(zhí)行的計算機程序，所述計算機程序用于執(zhí)行所述的補償調(diào)試方法。
[0033]與現(xiàn)有技術(shù)相比，本專利技術(shù)的有益效果在于：
本專利技術(shù)的雷達模塊頻率補償調(diào)試系統(tǒng)至少包括頻譜儀、上位機和雷達模塊，當頻譜儀檢測到雷達模塊的頻率值不處于預(yù)設(shè)頻率值范圍內(nèi)時，上位機發(fā)送補償調(diào)試指令，所述雷達模塊響應(yīng)于該補償調(diào)試指令，并輸出相應(yīng)的PWM信號，以根據(jù)該PWM信號完成頻率補償。
[0034]本專利技術(shù)解決了頻率偏移的技術(shù)問題；并且頻譜儀可以實時顯示雷達模塊的頻率值，方便用戶查看以進行對應(yīng)頻率補償，在一定程度上可以提高頻率補償效率；此外，所述雷達模塊頻率補償調(diào)試系統(tǒng)的實現(xiàn)方式較為簡單，所需要的設(shè)備硬件較少，人力成本和物力成本都較低，有利于投入大規(guī)模的應(yīng)用中去。
附圖說明
[0035]圖1為本專利技術(shù)所述的雷達模塊頻率補償調(diào)試系統(tǒng)框架圖。
[0036]圖2為本專利技術(shù)所述的對VCO器件進行頻率補償?shù)牧鞒虉D。
[0037]圖3為應(yīng)用圖1所述的雷達模塊頻率補償調(diào)試系統(tǒng)的補償調(diào)試方法流程圖。
具體實施方式
[0038]本專利技術(shù)提供一種雷達模塊頻率補償調(diào)試系統(tǒng)、補償調(diào)試方法及存儲器，以解決頻率偏移的技術(shù)問題。
[0039]本專利技術(shù)提供一種雷達模塊頻率補償調(diào)試系統(tǒng)，總體框架如下：至少包括頻譜儀、上位機和雷達模塊；所述上位機通過第一串口線與所述單片機和雷達芯片通訊連接，并通過第二串口線與所述頻譜儀通訊連接；所述頻譜儀用本文檔來自技高網(wǎng)...
【技術(shù)保護點】
【技術(shù)特征摘要】
1.一種雷達模塊頻率補償調(diào)試系統(tǒng)，其特征在于，至少包括頻譜儀、上位機和雷達模塊；所述上位機分別與所述頻譜儀和雷達模塊連接；所述頻譜儀用于檢測所述雷達模塊的補償前和補償后的頻率值并進行顯示；所述上位機用于當所述頻譜儀檢測到的頻率值不處于預(yù)設(shè)頻率值范圍內(nèi)時，發(fā)送補償調(diào)試指令至雷達模塊；所述雷達模塊至少包括單片機和雷達芯片；其中，所述單片機用于響應(yīng)所述上位機發(fā)出的補償調(diào)試指令，并輸出PWM信號；所述雷達芯片用于根據(jù)所述PWM信號進行頻率的補償調(diào)試。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述雷達模塊頻率補償調(diào)試系統(tǒng)，其特征在于，所述上位機用于當所述頻譜儀檢測到的雷達模塊工作的頻率值不處于預(yù)設(shè)頻率值范圍內(nèi)時，用于獲取當前頻率值的層級，并根據(jù)所述層級發(fā)送補償調(diào)試指令給雷達模塊的單片機。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述雷達模塊頻率補償調(diào)試系統(tǒng)，其特征在于，所述雷達模塊頻率補償調(diào)試系統(tǒng)還包括：PCB板，所述PCB板上設(shè)置有熱敏電阻，以及與上位機相連的串口線接口。4.根據(jù)權(quán)利要求3所述雷達模塊頻率補償調(diào)試系統(tǒng)，其特征在于，所述單片機采集所述熱敏電阻的ADC值，根據(jù)所述ADC值計算并輸出對應(yīng)的PWM信號至雷達芯片。5.根據(jù)權(quán)利要求4所述雷達模塊頻率補償調(diào)試系統(tǒng)，其特征在于，所述雷達芯片內(nèi)部集成有VCO器件，所述VCO器件接收到PWM信號后，調(diào)節(jié)輸入調(diào)諧電壓對所述VCO器件進行頻率的補償調(diào)試。6.根據(jù)權(quán)利要求5所述雷達模塊頻率補償調(diào)試系統(tǒng)，其特征在于，所述上位機通過第一串口線與所述單片機和雷達芯片通訊...
【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：匡瑞，劉耀義，丁凡，張偉，
申請(專利權(quán))人：廣東德賽矽鐠技術(shù)有限公司，
類型：發(fā)明
國別省市：
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