一種基于PCI-E總線的IGIR-B碼授時卡誤差測量裝置制造方法及圖紙

本實用新型專利技術公開了計算機系統技術領域的一種基于PCI

【技術實現步驟摘要】
一種基于PCI
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E總線的IGIR
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B碼授時卡誤差測量裝置


[0001]本技術涉及計算機系統
，具體為一種基于PCI
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E總線的IGIR
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B碼授時卡誤差測量裝置。

技術介紹

[0002]B碼是一種電力術語，它是IRIG
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B碼的通俗叫法，如今已經是國際通用的時間碼方面的標準碼型。IGIR
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B碼授時卡可以接收外部授時信號，為計算機系統提供高精度授時服務，基于PCI
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E總線的IGIR
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B碼授時卡能夠提供比其他接口實現技術路線更高的授時同步精度。在對授時精度有較高要求的計算機系統中，授時卡誤差測量是重要的測試項目，目前市場上沒有基于PCI
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E總線的授時卡誤差測量裝置，降低了測試效率和可靠性，基于此，本技術設計了一種基于PCI
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E總線的IGIR
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B碼授時卡誤差測量裝置，以解決上述問題。

技術實現思路

[0003]本技術的目的在于提供一種基于PCI
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E總線的IGIR
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B碼授時卡誤差測量裝置，以解決上述
技術介紹
中提出的問題。
[0004]為實現上述目的，本技術提供如下技術方案：一種基于PCI
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E總線的IGIR
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B碼授時卡誤差測量裝置，包括機箱，所述機箱內部設有供電模塊和主控制電路，所述機箱表面設有與主控制電路電氣連接的電源接口、電源開關、信號輸入輸出接口、PCIE插槽、通信接口、控制按鍵、顯示屏和指示燈，所述主控制電路包括相互信號連接的單片機和FPGA，所述指示燈包括電源指示燈、運行指示燈、錯誤指示燈、測試結果指示燈、B碼同步指示燈和PCIE
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LINK指示燈，所述通信接口包括RS232接口和USB接口，所述信號輸入輸出接口包括B
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AC/DC碼輸入和B
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AC/DC碼輸出，所述控制按鍵包括功能按鍵和復位按鍵，所述電源接口、電源開關、電源指示燈和供電模塊從左到右依次電連接，所述供電模塊分別電連接顯示屏、單片機和FPGA，所述單片機雙向信號連接有通信接口、控制按鍵、運行指示燈和錯誤指示燈，所述FPGA雙向信號連接有測試結果指示燈、B碼同步指示燈和PCIE
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LINK指示燈，所述PCIE
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LINK指示燈雙向信號連接有PCI
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E接口，所述PCI
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E接口設置在PCIE插槽內，所述FPGA通過第一電平轉換和第二電平轉換分別單向信號連接B
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AC/DC碼輸入和B
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AC/DC碼輸出。
[0005]優選的，所述機箱采用金屬結構且表面涂覆有黑色油漆涂層。
[0006]優選的，所述單片機采用兆易創新GD32F103RKT6GD32ARM Cortex
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M3微控制器，所述FPGA采用紫光同創PG2L100H芯片。
[0007]優選的，所述單片機與FPGA之間通過FSMC總線電氣連接。
[0008]優選的，所述電源接口位于機箱后面板左側，所述電源開關位于機箱左側板左側，所述復位按鍵位于左側板電源開關右側，所述PCIE插槽位于機箱上面板右側。
[0009]優選的，所述電源指示燈、運行指示燈、錯誤指示燈、B碼同步指示燈、PCIE
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LINK指示燈和測試結果指示燈位于機箱前面板左側，所述顯示屏位于指示燈右側，所述功能按鍵位于機箱前面板顯示屏右側，所述信號輸入輸出接口位于機箱前面板右側，所述通信接口
位于前面板信號輸入輸出接口左側與功能按鍵右側之間。
[0010]與現有技術相比，本技術的有益效果是：本技術具有PCI
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E總線接口，可以對PCI
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E總線授時卡的同步精度進行測量，且測量精度高；測試參數可通過單片機加載的內部程序進行調整和自定義；滿足了高精度授時設備測量標準化的需求，提高了高精度時間同步計算機系統的生產測試效率，具有市場推廣價值和實用性。
附圖說明
[0011]為了更清楚地說明本技術實施例的技術方案，下面將對實施例描述所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本技術的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。
[0012]圖1為本技術整體結構俯視架構框圖；
[0013]圖2為本技術前控制面板架構框圖；
[0014]圖3為本技術電路架構框圖；
[0015]圖4為本技術單片機程序執行流程圖；
[0016]圖5為本技術FPGA程序執行流程圖。
[0017]附圖中，各標號所代表的部件列表如下：
[0018]1?
機箱，2
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電源接口，3
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電源開關，4
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復位按鍵，5
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指示燈，6
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顯示屏，7
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功能按鍵，8
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通信接口，9
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信號輸入輸出接口，10
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PCIE插槽，11
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供電模塊，12
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控制按鍵，13
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單片機，14
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FPGA，15
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PCI
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E接口，50
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電源指示燈，51
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運行指示燈，52
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錯誤指示燈，53
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測試結果指示燈，54
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B碼同步指示燈，55
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PCIE
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LINK指示燈，90
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B
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AC/DC碼輸入，91
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B
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AC/DC碼輸出。
具體實施方式
[0019]下面將結合本技術實施例中的附圖，對本技術實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本技術一部分實施例，而不是全部的實施例?；诒炯夹g中的實施例，本領域普通技術人員在沒有作出創造性勞動前提下所獲得的所有其它實施例，都屬于本技術保護的范圍。
[0020]在本技術的描述中，需要理解的是，術語“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“頂”、“底”、“內”、“外”等指示的方位或位置關系為基于附圖所示的方位或位置關系，僅是為了便于描述本技術和簡化描述，而不是指示或暗示所指的裝置或元件必須具有特定的方位、以特定的方位構造和操作，因此不能理解為對本技術的限制。
[0021]請參閱圖1
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3，本技術提供一種技術方案本文檔來自技高網...

【技術保護點】

【技術特征摘要】
1.一種基于PCI
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E總線的IGIR
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B碼授時卡誤差測量裝置，包括機箱(1)，其特征在于：所述機箱(1)內部設有供電模塊(11)和主控制電路，所述機箱(1)表面設有與主控制電路電氣連接的電源接口(2)、電源開關(3)、信號輸入輸出接口(9)、PCIE插槽(10)、通信接口(8)、控制按鍵(12)、顯示屏(6)和指示燈(5)，所述主控制電路包括相互信號連接的單片機(13)和FPGA(14)，所述指示燈(5)包括電源指示燈(50)、運行指示燈(51)、錯誤指示燈(52)、測試結果指示燈(53)、B碼同步指示燈(54)和PCIE
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LINK指示燈(55)，所述通信接口(8)包括RS232接口和USB接口，所述信號輸入輸出接口(9)包括B
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AC/DC碼輸入(90)和B
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AC/DC碼輸出(91)，所述控制按鍵(12)包括功能按鍵(7)和復位按鍵(4)，所述電源接口(2)、電源開關(3)、電源指示燈(50)和供電模塊(11)從左到右依次電連接，所述供電模塊(11)分別電連接顯示屏(6)、單片機(13)和FPGA(14)，所述單片機(13)雙向信號連接有通信接口(8)、控制按鍵(12)、運行指示燈(51)和錯誤指示燈(52)，所述FPGA(14)雙向信號連接有測試結果指示燈(53)、B碼同步指示燈(54)和PCIE
?
LINK指示燈(55)，所述PCIE
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LINK指示燈(55)雙向信號連接有PCI
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E接口(15)，所述PCI
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E接口(15)設置在PCIE插槽(10)內，所述FPGA(14)通過第一電平轉換和第二電平轉換分別單向信號連接B
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AC/DC碼輸入(90)和B
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AC/D...

【專利技術屬性】
技術研發人員：陳晨，
申請(專利權)人：國科環宇南京電子技術有限公司，
類型：新型
國別省市：