本實用新型專利技術屬于光譜儀領域，提供了一種恒溫干燥的光譜儀調試及測試平臺，所述測試平臺包括箱體，所述箱體正面設有箱門，所述箱體內設有網格板將箱體分為上下兩層，其中上層箱體內設有恒溫控制裝置，所述恒溫控制裝置包括散熱片，所述散熱片開有貫穿的通孔，所述通孔內設有加熱棒，所述散熱片底部設有風扇，其中下層箱體設有氣體吸收池，所述氣體吸收池分別連接光源、光譜儀，所述測試平臺還包括放置于箱體頂面的電腦，所述電腦連接至所述光譜儀。本裝置對現場環境亮度要求較低，也極大的降低了調試人員的操作難度，同時該系統自動進行恒溫測試，模擬待測光譜儀整機測試，降低光譜儀調試的不良率，降低返修風險。降低返修風險。降低返修風險。
【技術實現步驟摘要】
一種恒溫干燥的光譜儀調試及測試平臺
[0001]本技術屬于光譜儀領域，尤其涉及一種恒溫干燥的光譜儀調試及測試平臺。
技術介紹
[0002]光譜儀中關鍵零部件線性CCD感光靈敏度極高，常用線性CCD的感光靈敏度為1300V/(lx
·
s)，即調試環境中極其微弱的光均可使CCD響應，從而影響光譜儀整體調試結果。
[0003]現階段光譜儀安裝、調試一般在專門的無塵暗室內進行，調試方法一般為將光譜儀及光學平臺置于同一無塵暗室中，通過調節光譜儀中關鍵零部件(光柵、狹縫、CCD)的相對位置，通過查看光譜可判斷光譜儀中光路的準確性。在該調試過程，特別是精調過程中，每次改變光譜儀中任一關鍵零部件(光柵、狹縫、CCD)的相對位置，都需要將光譜儀密封好，確保不漏光再使用電腦查看光譜(電腦顯示屏的燈光可使CCD響應從而影響實際光譜)，該過程不僅過程重復繁瑣，且調試人員長期在過于昏暗的環境中從事高精度調試工作易引發眼部疾病。
技術實現思路
[0004]鑒于上述問題，本技術的目的在于提供一種恒溫干燥的光譜儀調試及測試平臺，解決對現場環境亮度要求較低，調試人員的操作難度大的問題。
[0005]本技術采用如下技術方案：所述測試平臺包括箱體，所述箱體正面設有箱門，所述箱體內設有網格板將箱體分為上下兩層，其中上層箱體內設有恒溫控制裝置，所述恒溫控制裝置包括散熱片，所述散熱片開有貫穿的通孔，所述通孔內設有加熱棒，所述散熱片底部設有風扇，其中下層箱體設有氣體吸收池，所述氣體吸收池分別連接光源、光譜儀，所述測試平臺還包括放置于箱體頂面的電腦，所述電腦連接至所述光譜儀。
[0006]進一步的,所述箱門且位于下層箱體開有多個安裝口，所述安裝口處匹配設有黑布套，所述黑布套末端設有松緊帶。
[0007]進一步的,所述箱體為雙層中空結構，且箱體為雙層中空形成保溫層，所述保溫層內設有玻璃棉。
[0008]進一步的，其中下層箱體底部角落放置有氧化鈣干燥劑。
[0009]進一步的，所述上層箱體內還設有溫控算法板，所述溫控算法板連接有溫度顯示器。
[0010]本技術的有益效果是：在調試時，打開的電腦，調試人員的雙手從黑布套處伸入平臺內，調節待測光譜儀關鍵部件的相對位置，同時通過查看光譜儀查看端的光譜變化，判斷該步操作是否正確，直到光譜滿足調試要求。光譜儀調試完成后，開啟恒溫控制系統，讓光譜儀在38.5
±
0.1℃的環境下工作24h，待確認光譜效果符合使用要求后，打開箱門，調試人員在平臺內對待測光譜儀進行密封處理，并送去其他工序，進行裝整機處理。
附圖說明
[0011]圖1是本技術提供一種恒溫干燥的光譜儀調試及測試平臺整體圖。
[0012]圖2是本技術提供氣體吸收池安裝示意圖。
[0013]圖3是本技術提供恒溫控制系統電氣原理圖。
[0014]圖4是本技術提供恒溫控制系統安裝示意圖。
[0015]圖5是本技術提供光譜儀安裝示意圖。
具體實施方式
[0016]為了使本技術專利目的、技術方案及優點更加清楚明白，以下結合附圖及實施例，對本技術進行進一步詳細說明。應當理解，此處所描述的具體實施例僅僅用以解釋本技術，并不用于限定本技術。
[0017]為了說明本技術所述的技術方案，下面通過具體實施例來進行說明。
[0018]為了便于說明僅示出了與本技術實施例相關的部分。
[0019]結合圖1
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5所示，所述測試平臺包括箱體1，所述箱體正面設有箱門2，所述箱體內設有網格板3將箱體分為上下兩層，其中上層箱體內設有恒溫控制裝置4，所述恒溫控制裝置4包括散熱片41，所述散熱片開有貫穿的通孔42，所述通孔內設有加熱棒43，所述散熱片41底部設有風扇44，其中下層箱體設有氣體吸收池5，所述氣體吸收池5分別連接光源6、光譜儀7，所述測試平臺還包括放置于箱體頂面的電腦8，所述電腦連接至所述光譜儀。
[0020]本結構中，所述電腦主要作為光譜查看端，所述電腦和待測光譜儀通過待測光譜儀的專用通信線連接，根據經驗粗調光譜儀關鍵部件的相對位置，具體來講:根據經驗手動粗調光譜儀關鍵部件的相對位置，使光譜儀關鍵部件的中心點均處于同一水平面上，且測試光源發出的光，經過光譜儀關鍵部件后，其出射光斑高度小于2mm，寬度可覆蓋CCD感光區域的后半段。而所述光譜儀7包括底座15，所述底座上分別設有光柵12、狹縫13、CCD14，關閉箱門，確保平臺內的部件處于完全黑暗的環境中。
[0021]作為一種優選結構，所述箱門且位于下層箱體開有多個安裝口9，所述安裝口處匹配設有黑布套(圖中未示出)，所述黑布套末端設有松緊帶。
[0022]在調試時，打開的電腦，調試人員的雙手從黑布套處伸入平臺內，調節待測光譜儀關鍵部件的相對位置，同時通過查看光譜儀查看端的光譜變化，判斷該步操作是否正確，直到光譜滿足調試要求。光譜儀調試完成后，開啟恒溫控制系統，讓光譜儀在38.5
±
0.1℃的環境下工作24h，待確認光譜效果符合使用要求后，打開平臺主殼體的前面板，調試人員在平臺內對待測光譜儀進行密封處理，并送去其他工序，進行裝整機處理。
[0023]在調試過程中，調試人員可邊調試邊看實時光譜，極大的降低了調試難度和時間，同時調試人員無需長期在黑暗環境下工作，降低了眼部疾病的風險。另外所述箱體內設有網格板將箱體分為上下兩層，恒溫控制系統和操作區域由網格板隔開，避免操作失誤導致工傷。
[0024]在整機調試后，可直接進行整機模擬，待模擬測試通過后，再對光譜儀進行密封，降低了整機測試不合格重新調試光譜儀的風險。
[0025]所述恒溫控制裝置包括加熱棒，散熱片底部設有風扇且連接于溫控算法板10連接有溫度顯示器11，所述箱體通過所述恒溫控制裝置保證了箱體內的恒溫環境。本結構中，通
過溫控算法板來進行控制箱體內的恒溫環境，箱體內的環境溫度通過所述溫度顯示器顯示出來。
[0026]在箱體內安裝黑布套，且黑布套末端設有松緊帶，保證了在調試時，不需要建造專用無塵暗室，而且調試人員也不需要長期在光線昏暗的環境下工作，同時，光譜儀調試及測試平臺除更換待測光譜儀期間，其他時間均處于密閉情況，最大程度的避免了灰塵進入調試區域。其次，調試及測試平臺在調試結束后，可在不密封光譜儀的情況下直接開啟模擬整機測試功能，確保光譜儀的穩定性，避免后期整機失效風險。
[0027]本結構中，所述箱體為雙層中空結構，且箱體為雙層中空形成保溫層，所述保溫層內設有玻璃棉。所述箱體內形成有保溫層，所述保溫層內填充有玻璃棉，避免箱體內的溫度受到外界環境的干擾，同時保證了箱體內處于恒溫的環境。其中下層箱體底部角落放置有氧化鈣干燥劑，所述氧化鈣可以保證箱體內時刻處于干燥的環境，當然，所述氧化鈣也是需要根據環境的變化時刻進行更換的。
[0028]以上所述僅為本技術的較佳實施本文檔來自技高網...
【技術保護點】
【技術特征摘要】
1.一種恒溫干燥的光譜儀調試及測試平臺，其特征在于：所述測試平臺包括箱體，所述箱體正面設有箱門，所述箱體內設有網格板將箱體分為上下兩層，其中上層箱體內設有恒溫控制裝置，所述恒溫控制裝置包括散熱片，所述散熱片開有貫穿的通孔，所述通孔內設有加熱棒，所述散熱片底部設有風扇，其中下層箱體設有氣體吸收池，所述氣體吸收池分別連接光源、光譜儀，所述測試平臺還包括放置于箱體頂面的電腦，所述電腦連接至所述光譜儀。2.如權利要求1所述一種恒溫干燥的光譜儀調試及測試平臺，其特征在于：所述箱門且位...
【專利技術屬性】
技術研發人員：程志濤，胡翩，杜勤耕，
申請(專利權)人：湖北曼德克環境科技有限公司，
類型：新型
國別省市：
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