本發明專利技術公開了一種熔斷器功能檢測裝置及檢測方法，集老煉和負載熔斷為一體的功能檢測試驗裝置，既能進行加電老煉，又能進行負載熔斷試驗，并能夠對不同封裝類型的熔斷器進行老煉和負載熔斷檢測。通過設置電流產生結構拓寬了電流選擇范圍；設置熔斷器測試結構，在進行老煉試驗時，能夠在熔斷器故障時點亮發光單元，來判斷熔斷器不合格，閉合短路撥斷開關，對此工位進行短路剔除；發光單元未被點亮，熔斷器合格；在進行負載熔斷實驗時，設定電流產生結構的電流，閉合短路撥斷開關，在一定時間內所有熔斷器全部熔端，則熔斷器合格，所有熔斷器未全部熔端，則熔斷器不合格，該檢測裝置提高了熔斷器的可靠性，在電子元件可靠性篩選領域具有應用前景。域具有應用前景。域具有應用前景。
【技術實現步驟摘要】
一種熔斷器功能檢測裝置及檢測方法
[0001]本專利技術屬于電子元件可靠性篩選領域，涉及一種熔斷器功能檢測裝置及檢測方法。
技術介紹
[0002]熔斷器又稱保險絲，是故意串聯安裝在電路中，保證電路安全運行的電路保護器件。當電路發生故障或異常，電流異常升高到一定程度并維持一定時間的時候，熔斷器就會自身熔斷而切斷電流，起到保護電路安全運行的作用。該類產品廣泛應用于精密儀器、航空航天整機設備、電臺以及其他軍民的高級整機儀器、設備中，為了保證裝備的可靠性，該產品須通過苛刻的質量檢驗項目，才能夠保證其可靠使用。
[0003]其中，功能檢測是考核熔斷器元件可靠性的重要質量檢驗項目，功能檢測主要是檢測熔斷器的過載分斷能力和剔除早期缺陷產品，不同類型的熔斷器過載時間是不同的，從毫秒級、秒級甚至到分鐘級，即通過對不同類型的熔斷器施加幾倍于額定電路的過載電流，檢測其熔斷時間是否在要求范圍之內，未在規定時間內熔斷的器件將被判定為不合格批而禁止使用。除此之外且很多裝備型號在對熔斷器進行負載熔斷試驗前時還附加要求進行長時間老煉，以剔除早期缺陷器件。但是現有技術在進行測試的時候不能將集老煉試驗和負載熔斷試驗集成為一體，而且不具有計時功能。因此為了保證熔斷器的可靠性，對熔斷器進行功能檢測是十分必要的。
技術實現思路
[0004]本專利技術的目的在于解決現有技術中在對進行熔斷器性能測試的時候不能同時滿足老煉試驗和負載熔斷試驗，導致熔斷器可靠性低的問題，提供一種熔斷器功能檢測裝置及檢測方法。
[0005]為達到上述目的，本專利技術采用以下技術方案予以實現：
[0006]本專利技術提出的一種熔斷器功能檢測裝置，包括電流產生結構和若干個熔斷器測試結構；
[0007]每個熔斷器測試結構均與所述電流產生結構相連，且每個熔斷器測試結構并聯設置；所述熔斷器測試結構包括阻流電阻、短路撥斷開關和熔斷器，所述阻流電阻、所述短路撥斷開關和所述熔斷器并聯設置，在每個所述阻流電阻的支路上均連接有發光單元。
[0008]優選地，所述電流產生結構包括電流表、輸入電壓、線路總開關和若干個功率電阻；每個功率電阻并聯設置；
[0009]所述輸入電壓與線路總開關相連，所述線路總開關與所述功率電阻相連，所述功率電阻的另一端與所述電流表相連，所述電流表的另一端與熔斷器測試結構相連，且在每個功率電阻的支路上串聯有并聯撥斷開關。
[0010]優選地，還包括控制器，所述控制器的第一端口連接有計時器。
[0011]優選地，所述控制器的第二端口連接有蜂鳴器。
[0012]優選地，采用供電電源為所述控制器供電。
[0013]優選地，所述電流產生結構產生的電流是所述熔斷器測試結構的2倍。
[0014]優選地，所述電流產生結構的和所述熔斷器測試結構均集成在電路板上。
[0015]優選地，所述熔斷器采用夾具與導線連接。
[0016]優選地，所述發光單元為發光管。
[0017]本專利技術提出的一種熔斷器功能檢測方法，包括如下步驟：
[0018]在進行老煉試驗時，關閉短路撥斷開關，設定熔斷器測試結構的總電流，使電流產生結構匹配相應的電流，在設定時間內熔斷器故障則點亮發光單元，熔斷器不合格，若發光單元未被點亮，熔斷器合格；
[0019]在進行負載熔斷實驗時，設定電流產生結構的電流，閉合短路撥斷開關，在設定時間內所有熔斷器全部熔端，則熔斷器合格，所有熔斷器未全部熔端，則熔斷器不合格。
[0020]與現有技術相比，本專利技術具有以下有益效果：
[0021]本專利技術提出的一種熔斷器功能檢測裝置，集老煉和負載熔斷為一體的功能檢測裝置，既能進行長時間加電老煉，又能進行負載熔斷試驗，并能夠對不同封裝類型的熔斷器進行老煉和負載熔斷檢測。通過設置電流產生結構拓寬了電流選擇范圍；設置熔斷器測試結構，在進行老煉試驗時，能夠在熔斷器故障時點亮發光單元，來判斷熔斷器不合格，閉合短路撥斷開關，對此工位進行短路剔除；發光單元未被點亮，熔斷器合格；在進行負載熔斷實驗時，設定電流產生結構的電流，閉合短路撥斷開關，在一定時間內所有熔斷器全部熔端，則熔斷器合格，所有熔斷器未全部熔端，則熔斷器不合格，因此本專利技術提出的檢測裝置能夠實現老煉試驗和負載熔斷試驗，從多個方面對熔斷器的性能進行測試，提高了熔斷器的可靠性，在電子元件可靠性篩選領域具有較好的應用前景。
[0022]進一步地，采用并聯撥斷開關任意并聯合適的功率電阻能夠獲得相應的試驗電流。
附圖說明
[0023]為了更清楚的說明本專利技術實施例的技術方案，下面將對實施例中所需要使用的附圖作簡單地介紹，應當理解，以下附圖僅示出了本專利技術的某些實施例，因此不應被看作是對范圍的限定，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他相關的附圖。
[0024]圖1為本專利技術的熔斷器功能檢測裝置結構圖。
[0025]圖2為本專利技術的熔斷器功能檢測方法流程圖。
[0026]圖3為本專利技術的試驗計時報警流程圖。
具體實施方式
[0027]為使本專利技術實施例的目的、技術方案和優點更加清楚，下面將結合本專利技術實施例中的附圖，對本專利技術實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例是本專利技術一部分實施例，而不是全部的實施例。通常在此處附圖中描述和示出的本專利技術實施例的組件可以以各種不同的配置來布置和設計。
[0028]因此，以下對在附圖中提供的本專利技術的實施例的詳細描述并非旨在限制要求保護
的本專利技術的范圍，而是僅僅表示本專利技術的選定實施例。基于本專利技術中的實施例，本領域普通技術人員在沒有作出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本專利技術保護的范圍。
[0029]應注意到：相似的標號和字母在下面的附圖中表示類似項，因此，一旦某一項在一個附圖中被定義，則在隨后的附圖中不需要對其進行進一步定義和解釋。
[0030]在本專利技術實施例的描述中，需要說明的是，若出現術語“上”、“下”、“水平”、“內”等指示的方位或位置關系為基于附圖所示的方位或位置關系，或者是該專利技術產品使用時慣常擺放的方位或位置關系，僅是為了便于描述本專利技術和簡化描述，而不是指示或暗示所指的裝置或元件必須具有特定的方位、以特定的方位構造和操作，因此不能理解為對本專利技術的限制。此外，術語“第一”、“第二”等僅用于區分描述，而不能理解為指示或暗示相對重要性。
[0031]此外，若出現術語“水平”，并不表示要求部件絕對水平，而是可以稍微傾斜。如“水平”僅僅是指其方向相對“豎直”而言更加水平，并不是表示該結構一定要完全水平，而是可以稍微傾斜。
[0032]在本專利技術實施例的描述中，還需要說明的是，除非另有明確的規定和限定，若出現術語“設置”、“安裝”、“相連”、“連接”應做廣義理解，例如，可以是固定連接，也可以是可拆卸連接，或一體地連接；可以是機械連接，也可以是電連接；可以是直接相連，也可以通過中間媒介間接相連，可以是兩個元件內部的連通。對于本領域本文檔來自技高網...
【技術保護點】
【技術特征摘要】
1.一種熔斷器功能檢測裝置，其特征在于，包括電流產生結構和若干個熔斷器測試結構；每個熔斷器測試結構均與所述電流產生結構相連，且每個熔斷器測試結構并聯設置；所述熔斷器測試結構包括阻流電阻、短路撥斷開關和熔斷器，所述阻流電阻、所述短路撥斷開關和所述熔斷器并聯設置，在每個所述阻流電阻的支路上均連接有發光單元。2.根據權利要求1所述的熔斷器功能檢測裝置，其特征在于，所述電流產生結構包括電流表、輸入電壓、線路總開關和若干個功率電阻；每個功率電阻并聯設置；所述輸入電壓與線路總開關相連，所述線路總開關與所述功率電阻相連，所述功率電阻的另一端與所述電流表相連，所述電流表的另一端與熔斷器測試結構相連，且在每個功率電阻的支路上串聯有并聯撥斷開關。3.根據權利要求1所述的熔斷器功能檢測裝置，其特征在于，還包括控制器，所述控制器的第一端口連接有計時器。4.根據權利要求3所述的熔斷器功能檢測裝置，其特征在于，所述控制器的第二端口連接有蜂鳴器。5.根據權利要求3所述的熔斷器功能檢測裝置，其...
【專利技術屬性】
技術研發人員：劉剛奇，孫鵬，張富民，王耀武，
申請(專利權)人：西安太乙電子有限公司，
類型：發明
國別省市：
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