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    一種半導體晶圓電鍍槽噴流裝置制造方法及圖紙

    技術編號:39366786 閱讀:13 留言:0更新日期:2023-11-18 11:06
    本實用新型專利技術公開了一種半導體晶圓電鍍槽噴流裝置,包括噴嘴和噴淋板;噴淋板內設置有用于水流經過的主道和與主道連通的支道;所述噴淋板表面設置若干與支道連通的噴嘴安裝孔;噴淋板背面設置有與主道連通的供水口;噴嘴包括噴嘴座和噴嘴頭;噴嘴座包括帶有外螺紋的管道和設置于管道前端的連接座;連接座內設置有腔體;管道與腔體連通;噴嘴頭可拆卸地安裝于腔體內;噴嘴頭的前端設置噴孔;噴嘴頭與噴嘴安裝孔螺接。本實用新型專利技術的噴嘴方便清理。本實用新型專利技術的噴嘴方便清理。本實用新型專利技術的噴嘴方便清理。

    【技術實現步驟摘要】
    一種半導體晶圓電鍍槽噴流裝置


    [0001]本技術涉及電鍍設備
    ,具體涉及一種半導體晶圓電鍍槽噴流裝置。

    技術介紹

    [0002]晶圓是指硅半導體集成電路制作所用的硅晶片,其原始材料是硅,且由于其形狀為圓形,故稱為晶圓或硅晶圓。在生產過程中,需要對晶圓進行電鍍工序,即在晶圓上電鍍一層導電金屬,后續還將對導電金屬層進行加工以制成導電線路。晶圓作為芯片的基本材料,其對于電鍍鍍層的要求是極高的,故而工藝的要求也較高。晶圓電鍍時必須保證鍍層的均勻性,方能保證晶圓的質量。
    [0003]對晶圓直接進行電鍍工藝之前首先需要對晶圓進行噴淋,現有技術的噴淋裝置噴淋時噴嘴堵塞后的噴嘴很難清理修復,常常導致噴嘴報廢。

    技術實現思路

    [0004]本技術要解決的技術問題是提供一種半導體晶圓電鍍槽噴流裝置,噴嘴方便清理。
    [0005]為解決上述技術問題,本技術采取如下技術方案:一種半導體晶圓電鍍槽噴流裝置,包括噴嘴和噴淋板;所述的噴淋板內設置有用于水流經過的主道和與主道連通的支道;所述噴淋板表面設置若干與支道連通的噴嘴安裝孔;噴淋板背面設置有與主道連通的供水口;
    [0006]所述的噴嘴包括噴嘴座和噴嘴頭;所述的噴嘴座包括帶有外螺紋的管道和設置于管道前端的連接座;所述連接座內設置有腔體;所述管道與腔體連通;所述的噴嘴頭可拆卸地安裝于腔體內;所述的噴嘴頭的前端設置噴孔;所述噴嘴頭與噴嘴安裝孔螺接。
    [0007]進一步地,所述腔體的兩側設置有通孔。
    [0008]進一步地,所述噴嘴頭的外側設置有定位槽;所述腔體內壁設置有與定位槽匹配的定位凸塊,所述噴嘴頭后端兩側設置有卡凸;所述腔體內壁設置有卡槽。
    [0009]進一步地,所述的噴淋板設置兩塊,位于工件的兩側,每塊噴淋板的供水口連接Y型接頭;所述Y型接頭連接供水管和負壓管;所述的供水管通過高壓泵體連接供液罐;所述的負壓管與負壓發生器連接;供水管和負壓管均設置開關閥。
    [0010]進一步地,所述的負壓管上還連接液體回收罐。
    [0011]進一步地,所述的噴淋板的頂部通過螺栓與橫移桿固定連接;所述橫移桿與搖擺組件連接,有搖擺組件控制其往復橫移。
    [0012]本技術的有益效果為:
    [0013]1)本技術通過噴嘴結構的設置,噴嘴噴出的水霧輻射的范圍更大,使作用于晶圓表面的水霧更加均勻。
    [0014]2)本技術的噴嘴為分體式結構,且與噴淋板可拆卸連接,降低加工難度,便于后續清理。
    [0015]3)本技術設置負壓管和負壓發生器,一側噴淋一側負壓吸氣,提高噴淋均勻性。
    附圖說明
    [0016]下面結合附圖和實施例對本技術作進一步說明。
    [0017]圖1為本技術的結構示意圖。
    [0018]圖2為噴嘴示意圖。
    [0019]圖3為實施例3的示意圖。
    具體實施方式
    [0020]下面將通過具體實施方式對本技術的技術方案進行清楚、完整地描述。
    實施例
    [0021]參考圖1和圖2,為本技術的一種半導體晶圓電鍍槽噴流裝置,包括噴嘴1和噴淋板2;所述的噴淋板2內設置有用于水流經過的主道3和與主道3連通的支道4;所述噴淋板2表面設置若干與支道4連通的噴嘴安裝孔;噴淋板2背面設置有與主道3連通的供水口5;
    [0022]噴嘴1包括噴嘴座11和噴嘴頭12;噴嘴座11包括帶有外螺紋的管道111和設置于管道前端的連接座112;所述連接座112內設置有腔體113;所述管道111與腔體113連通;所述的噴嘴頭12可拆卸地安裝于腔體113內;所述的噴嘴頭12的前端設置噴孔121;所述噴嘴頭12的與噴嘴安裝孔螺接。
    [0023]本實施例中噴嘴1為分體式結構,噴嘴座11通過螺紋與噴嘴安裝孔螺接,使得噴嘴整體可以拆卸。噴嘴頭12的外側設置有定位槽;所述腔體113內壁設置有與定位槽匹配的定位凸塊,所述噴嘴頭12后端兩側設置有卡凸;腔體113內壁設置有卡槽,噴嘴頭12通過定位槽和定位凸塊,插入噴嘴座11后,卡凸與卡槽配合卡接,需要清理時,可以直接拔出噴嘴頭12,清理,也可以拆卸噴嘴座11,整體清理或者更換。
    [0024]優選地,噴淋板2的頂部通過螺栓與橫移桿10固定連接;所述橫移桿10與搖擺組件連接,由搖擺組件控制其往復橫移。
    [0025]本實施例的噴淋板2通過搖擺組件控制器左右移動,提高噴淋的均勻性。
    實施例
    [0026]腔體113的兩側設置有通孔114,通孔114傾斜設置,擴大了噴嘴的輻射范圍。
    [0027]此外,本實施例中的噴嘴設置通孔114,噴淋板浸沒在電鍍槽中,通過通孔噴出的液體使得電鍍槽中液體上涌,可消除化學藥劑內的氣泡。
    實施例
    [0028]如圖3所示,本實施例中,噴淋板2設置兩塊,位于工件的兩側,每塊噴淋板2的供水口5連接Y型接頭6;所述Y型接頭6連接供水管7和負壓管8;所述的供水管7通過高壓泵體連接供液罐(圖中未畫出);所述的負壓管8與負壓發生器(圖中未畫出)連接;供水管7和負壓管8均設置開關閥。
    [0029]優選的,負壓管8上還連接液體回收罐9。
    [0030]本實施例的兩塊噴淋板2均連接供水管7和負壓管8,一側噴淋板噴淋時,另一側負壓吸氣,通過負壓吸氣引導高壓射流走向,流動更加順暢,噴淋更加均勻。
    [0031]以上所述,僅是本技術的較佳實施例而已,不用于限制本技術,本領域技術人員可以在本技術的實質和保護范圍內,對本技術做出各種修改或等同替換,這種修改或等同替換也應視為落在本技術技術方案的保護范圍內。
    本文檔來自技高網
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    【技術保護點】

    【技術特征摘要】
    1.一種半導體晶圓電鍍槽噴流裝置,其特征在于:包括噴嘴(1)和噴淋板(2);所述的噴淋板(2)內設置有用于水流經過的主道(3)和與主道(3)連通的支道(4);所述噴淋板(2)表面設置若干與支道(4)連通的噴嘴安裝孔;噴淋板(2)背面設置有與主道(3)連通的供水口(5);所述的噴嘴(1)包括噴嘴座(11)和噴嘴頭(12);所述的噴嘴座(11)包括帶有外螺紋的管道(111)和設置于管道前端的連接座(112);所述連接座(112)內設置有腔體(113);所述管道(111)與腔體(113)連通;所述的噴嘴頭(12)可拆卸地安裝于腔體(113)內;所述的噴嘴頭(12)的前端設置噴孔(121);所述噴嘴頭(12)與噴嘴安裝孔螺接。2.根據權利要求1所述的一種半導體晶圓電鍍槽噴流裝置,其特征在于:所述腔體(113)的兩側設置有通孔(114)。3.根據權利要求1所述的一種半導體晶圓電鍍槽噴流裝置,其特征在...

    【專利技術屬性】
    技術研發人員:劉杰田香軍
    申請(專利權)人:晶微電子材料北京有限公司
    類型:新型
    國別省市:

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