一種硬盤的穩(wěn)定性測試方法、系統(tǒng)及設(shè)備技術(shù)方案

本發(fā)明專利技術(shù)公開了一種硬盤的穩(wěn)定性測試方法、系統(tǒng)及設(shè)備，應(yīng)用于存儲測試技術(shù)領(lǐng)域，解決了傳統(tǒng)方案中硬盤不合格率高的問題，包括：基于待測試硬盤，創(chuàng)建設(shè)定的存儲模型；對存儲模型中的待測試硬盤進(jìn)行冷數(shù)據(jù)穩(wěn)定性測試，得到冷數(shù)據(jù)穩(wěn)定性測試結(jié)果；對存儲模型中的待測試硬盤進(jìn)行熱數(shù)據(jù)穩(wěn)定性測試，得到熱數(shù)據(jù)穩(wěn)定性測試結(jié)果；當(dāng)冷數(shù)據(jù)穩(wěn)定性測試結(jié)果為不通過，和/或熱數(shù)據(jù)穩(wěn)定性測試結(jié)果為不通過時(shí)，確定出待測試硬盤不通過穩(wěn)定性測試；當(dāng)冷數(shù)據(jù)穩(wěn)定性測試結(jié)果為通過，并且熱數(shù)據(jù)穩(wěn)定性測試結(jié)果為通過時(shí)，確定出待測試硬盤通過穩(wěn)定性測試。應(yīng)用本發(fā)明專利技術(shù)的方案，可以得到準(zhǔn)確可靠的穩(wěn)定性測試結(jié)果，保障通過穩(wěn)定性測試的硬盤在實(shí)際使用過程的可靠性。程的可靠性。程的可靠性。

【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
一種硬盤的穩(wěn)定性測試方法、系統(tǒng)及設(shè)備


[0001]本專利技術(shù)涉及存儲測試
，特別是涉及一種硬盤的穩(wěn)定性測試方法、系統(tǒng)及設(shè)備。

技術(shù)介紹

[0002]無論用任何存儲技術(shù)，存儲的數(shù)據(jù)都不能永遠(yuǎn)保存，即存在一個(gè)保存時(shí)間的期限，這是由于存儲自身的工作原理，存儲單元在長時(shí)間不進(jìn)行讀寫操作的情況下，浮柵門級中存放的電荷會逐步漏電，導(dǎo)致原本存儲的數(shù)據(jù)發(fā)生變化，例如數(shù)據(jù)“0”可能變?yōu)閿?shù)據(jù)“1”。當(dāng)數(shù)據(jù)錯誤達(dá)到一定數(shù)量時(shí)，便會超出SSD(Solid State Disk，固態(tài)硬盤)的糾錯能力，數(shù)據(jù)將徹底損壞。此外，SSD在沒有收到主機(jī)的掉電通知，或者收到主機(jī)的掉電通知但沒來得及處理一些事務(wù)就被斷電時(shí)數(shù)據(jù)可能丟失，即異常斷電也會導(dǎo)致數(shù)據(jù)的丟失。
[0003]目前，對于SSD會有質(zhì)量要求，即要求SSD能夠在設(shè)定壽命內(nèi)，不會發(fā)生數(shù)據(jù)出錯的情況，并且，還會要求SSD能夠在面對復(fù)雜環(huán)境，例如高溫，高濕度，異常斷電等情況下，也能夠保障所存儲的數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。然而，在實(shí)際使用過程中，還是經(jīng)常會出現(xiàn)不合格SSD的情況。
[0004]綜上所述，如何降低實(shí)際使用過程中出現(xiàn)的不合格硬盤的概率，是目前本領(lǐng)域技術(shù)人員急需解決的技術(shù)問題。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

[0005]本專利技術(shù)的目的是提供一種硬盤的穩(wěn)定性測試方法、系統(tǒng)及設(shè)備，以降低實(shí)際使用過程中出現(xiàn)的不合格硬盤的概率。
[0006]為解決上述技術(shù)問題，本專利技術(shù)提供如下技術(shù)方案：
[0007]一種硬盤的穩(wěn)定性測試方法，包括：
[0008]基于待測試硬盤，創(chuàng)建設(shè)定的存儲模型；
[0009]對所述存儲模型中的所述待測試硬盤進(jìn)行冷數(shù)據(jù)穩(wěn)定性測試，得到冷數(shù)據(jù)穩(wěn)定性測試結(jié)果；
[0010]對所述存儲模型中的所述待測試硬盤進(jìn)行熱數(shù)據(jù)穩(wěn)定性測試，得到熱數(shù)據(jù)穩(wěn)定性測試結(jié)果；
[0011]當(dāng)所述冷數(shù)據(jù)穩(wěn)定性測試結(jié)果為不通過，和/或所述熱數(shù)據(jù)穩(wěn)定性測試結(jié)果為不通過時(shí)，確定出所述待測試硬盤不通過穩(wěn)定性測試；
[0012]當(dāng)所述冷數(shù)據(jù)穩(wěn)定性測試結(jié)果為通過，并且所述熱數(shù)據(jù)穩(wěn)定性測試結(jié)果為通過時(shí)，確定出所述待測試硬盤通過穩(wěn)定性測試。
[0013]在一種實(shí)施方式中，設(shè)定的所述存儲模型為采用陣列10結(jié)構(gòu)的存儲模型，采用陣列10結(jié)構(gòu)的所述存儲模型中包括第一硬盤，第二硬盤，第三硬盤以及第四硬盤，所述第一硬盤和所述第二硬盤構(gòu)成第一鏡像容錯陣列，所述第三硬盤和所述第四硬盤構(gòu)成第二鏡像容錯陣列，所述第一鏡像容錯陣列與所述第二鏡像容錯陣列構(gòu)成去冗余存儲陣列；
[0014]所述待測試硬盤為所述存儲模型的第一硬盤，第二硬盤，第三硬盤以及第四硬盤中的任一硬盤。
[0015]在一種實(shí)施方式中，對所述存儲模型中的所述待測試硬盤進(jìn)行冷數(shù)據(jù)穩(wěn)定性測試，得到冷數(shù)據(jù)穩(wěn)定性測試結(jié)果，包括：
[0016]對所述存儲模型中的所述待測試硬盤進(jìn)行N項(xiàng)冷數(shù)據(jù)穩(wěn)定性測試；
[0017]當(dāng)任意1項(xiàng)冷數(shù)據(jù)穩(wěn)定性測試不通過時(shí)，確定出冷數(shù)據(jù)穩(wěn)定性測試結(jié)果為不通過；
[0018]當(dāng)各項(xiàng)冷數(shù)據(jù)穩(wěn)定性測試均通過時(shí)，確定出冷數(shù)據(jù)穩(wěn)定性測試結(jié)果為通過；
[0019]其中，N為正整數(shù)，并且，對所述存儲模型中的所述待測試硬盤進(jìn)行的第a項(xiàng)冷數(shù)據(jù)穩(wěn)定性測試，包括：
[0020]基于預(yù)設(shè)的加密算法對第一數(shù)據(jù)進(jìn)行加密，生成所述第一數(shù)據(jù)的第一校驗(yàn)數(shù)據(jù)，并存儲所述第一校驗(yàn)數(shù)據(jù)；
[0021]將所述第一數(shù)據(jù)寫入至所述待測試硬盤之后，對所述待測試硬盤進(jìn)行K1輪異常掉電和上電；
[0022]在K1輪異常掉電和上電完成之后，讀取所述待測試硬盤中所保存的所述第一數(shù)據(jù)，并基于預(yù)設(shè)的加密算法進(jìn)行加密，生成第二校驗(yàn)數(shù)據(jù)；
[0023]判斷所述第二校驗(yàn)數(shù)據(jù)與所述第一校驗(yàn)數(shù)據(jù)是否一致；
[0024]如果是，則對所述待測試硬盤進(jìn)行的第a項(xiàng)冷數(shù)據(jù)穩(wěn)定性測試的結(jié)果為通過；
[0025]如果否，則對所述待測試硬盤進(jìn)行的第a項(xiàng)冷數(shù)據(jù)穩(wěn)定性測試的結(jié)果為不通過；其中，a為正整數(shù)且a≤N，K1為正整數(shù)。
[0026]在一種實(shí)施方式中，對所述存儲模型中的所述待測試硬盤進(jìn)行第b項(xiàng)冷數(shù)據(jù)穩(wěn)定性測試，包括：
[0027]基于預(yù)設(shè)的加密算法對第一數(shù)據(jù)進(jìn)行加密，生成所述第一數(shù)據(jù)的第一校驗(yàn)數(shù)據(jù)，并存儲所述第一校驗(yàn)數(shù)據(jù)；
[0028]將所述第一數(shù)據(jù)寫入至所述待測試硬盤之后，對所述待測試硬盤進(jìn)行異常掉電，并且在經(jīng)過了第一時(shí)長之后，對所述待測試硬盤進(jìn)行上電；
[0029]在對所述待測試硬盤進(jìn)行上電之后，讀取所述待測試硬盤中所保存的所述第一數(shù)據(jù)，并基于預(yù)設(shè)的加密算法進(jìn)行加密，生成第三校驗(yàn)數(shù)據(jù)；
[0030]判斷所述第三校驗(yàn)數(shù)據(jù)與所述第一校驗(yàn)數(shù)據(jù)是否一致；
[0031]如果是，則對所述待測試硬盤進(jìn)行的第b項(xiàng)冷數(shù)據(jù)穩(wěn)定性測試的結(jié)果為通過；
[0032]如果否，則對所述待測試硬盤進(jìn)行的第b項(xiàng)冷數(shù)據(jù)穩(wěn)定性測試的結(jié)果為不通過；其中，b為正整數(shù)，b≠a且b≤N。
[0033]在一種實(shí)施方式中，對所述存儲模型中的所述待測試硬盤進(jìn)行第c項(xiàng)冷數(shù)據(jù)穩(wěn)定性測試，包括：
[0034]基于預(yù)設(shè)的加密算法對第一數(shù)據(jù)進(jìn)行加密，生成所述第一數(shù)據(jù)的第一校驗(yàn)數(shù)據(jù)，并存儲所述第一校驗(yàn)數(shù)據(jù)；
[0035]將所述第一數(shù)據(jù)寫入至所述待測試硬盤之后，對所述待測試硬盤進(jìn)行全盤注錯；
[0036]在全盤注錯之后，對所述待測試硬盤進(jìn)行異常下電，并在異常下電之后再次上電；
[0037]讀取所述目標(biāo)硬盤中所保存的所述第一數(shù)據(jù)，并基于預(yù)設(shè)的加密算法進(jìn)行加密，生成第四校驗(yàn)數(shù)據(jù)；
[0038]判斷所述第四校驗(yàn)數(shù)據(jù)與所述第一校驗(yàn)數(shù)據(jù)是否一致；
[0039]如果否，則對所述待測試硬盤進(jìn)行的第c項(xiàng)冷數(shù)據(jù)穩(wěn)定性測試的結(jié)果為不通過；
[0040]如果是，則返回執(zhí)行所述對所述待測試硬盤進(jìn)行異常下電，并在異常下電之后再次上電的操作，直到重復(fù)了K2輪且K2輪中的每一輪的所述第四校驗(yàn)數(shù)據(jù)均通過驗(yàn)證時(shí)，對所述待測試硬盤進(jìn)行的第c項(xiàng)冷數(shù)據(jù)穩(wěn)定性測試的結(jié)果為通過；
[0041]其中，c為正整數(shù)，c≠a且c≤N；所述目標(biāo)硬盤表示的是在所述存儲模型中，與所述待測試硬盤構(gòu)成鏡像容錯陣列的硬盤。
[0042]在一種實(shí)施方式中，對所述存儲模型中的所述待測試硬盤進(jìn)行熱數(shù)據(jù)穩(wěn)定性測試，得到熱數(shù)據(jù)穩(wěn)定性測試結(jié)果，包括：
[0043]對所述存儲模型中的所述待測試硬盤進(jìn)行M項(xiàng)熱數(shù)據(jù)穩(wěn)定性測試；
[0044]當(dāng)任意1項(xiàng)熱數(shù)據(jù)穩(wěn)定性測試不通過時(shí)，確定出熱數(shù)據(jù)穩(wěn)定性測試結(jié)果為不通過；
[0045]當(dāng)各項(xiàng)熱數(shù)據(jù)穩(wěn)定性測試均通過時(shí)，確定出熱數(shù)據(jù)穩(wěn)定性測試結(jié)果為通過；
[0046]其中，M為正整數(shù)，并且，對所述存儲模型中的所述待測試硬盤進(jìn)行的第d項(xiàng)熱數(shù)據(jù)穩(wěn)定性測試，包括：
[0047]將x條數(shù)據(jù)寫入至所述待測試硬盤，并在寫入完成之后，對所述待測試硬盤進(jìn)行異常掉電和上電；
[0048]在上電之后，驗(yàn)證所述待測試硬盤是否正確存儲有最新被寫入的x條數(shù)據(jù)；
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【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】

【技術(shù)特征摘要】
1.一種硬盤的穩(wěn)定性測試方法，其特征在于，包括：基于待測試硬盤，創(chuàng)建設(shè)定的存儲模型；對所述存儲模型中的所述待測試硬盤進(jìn)行冷數(shù)據(jù)穩(wěn)定性測試，得到冷數(shù)據(jù)穩(wěn)定性測試結(jié)果；對所述存儲模型中的所述待測試硬盤進(jìn)行熱數(shù)據(jù)穩(wěn)定性測試，得到熱數(shù)據(jù)穩(wěn)定性測試結(jié)果；當(dāng)所述冷數(shù)據(jù)穩(wěn)定性測試結(jié)果為不通過，和/或所述熱數(shù)據(jù)穩(wěn)定性測試結(jié)果為不通過時(shí)，確定出所述待測試硬盤不通過穩(wěn)定性測試；當(dāng)所述冷數(shù)據(jù)穩(wěn)定性測試結(jié)果為通過，并且所述熱數(shù)據(jù)穩(wěn)定性測試結(jié)果為通過時(shí)，確定出所述待測試硬盤通過穩(wěn)定性測試。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的硬盤的穩(wěn)定性測試方法，其特征在于，設(shè)定的所述存儲模型為采用陣列10結(jié)構(gòu)的存儲模型，采用陣列10結(jié)構(gòu)的所述存儲模型中包括第一硬盤，第二硬盤，第三硬盤以及第四硬盤，所述第一硬盤和所述第二硬盤構(gòu)成第一鏡像容錯陣列，所述第三硬盤和所述第四硬盤構(gòu)成第二鏡像容錯陣列，所述第一鏡像容錯陣列與所述第二鏡像容錯陣列構(gòu)成去冗余存儲陣列；所述待測試硬盤為所述存儲模型的第一硬盤，第二硬盤，第三硬盤以及第四硬盤中的任一硬盤。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的硬盤的穩(wěn)定性測試方法，其特征在于，對所述存儲模型中的所述待測試硬盤進(jìn)行冷數(shù)據(jù)穩(wěn)定性測試，得到冷數(shù)據(jù)穩(wěn)定性測試結(jié)果，包括：對所述存儲模型中的所述待測試硬盤進(jìn)行N項(xiàng)冷數(shù)據(jù)穩(wěn)定性測試；當(dāng)任意1項(xiàng)冷數(shù)據(jù)穩(wěn)定性測試不通過時(shí)，確定出冷數(shù)據(jù)穩(wěn)定性測試結(jié)果為不通過；當(dāng)各項(xiàng)冷數(shù)據(jù)穩(wěn)定性測試均通過時(shí)，確定出冷數(shù)據(jù)穩(wěn)定性測試結(jié)果為通過；其中，N為正整數(shù)，并且，對所述存儲模型中的所述待測試硬盤進(jìn)行的第a項(xiàng)冷數(shù)據(jù)穩(wěn)定性測試，包括：基于預(yù)設(shè)的加密算法對第一數(shù)據(jù)進(jìn)行加密，生成所述第一數(shù)據(jù)的第一校驗(yàn)數(shù)據(jù)，并存儲所述第一校驗(yàn)數(shù)據(jù)；將所述第一數(shù)據(jù)寫入至所述待測試硬盤之后，對所述待測試硬盤進(jìn)行K1輪異常掉電和上電；在K1輪異常掉電和上電完成之后，讀取所述待測試硬盤中所保存的所述第一數(shù)據(jù)，并基于預(yù)設(shè)的加密算法進(jìn)行加密，生成第二校驗(yàn)數(shù)據(jù)；判斷所述第二校驗(yàn)數(shù)據(jù)與所述第一校驗(yàn)數(shù)據(jù)是否一致；如果是，則對所述待測試硬盤進(jìn)行的第a項(xiàng)冷數(shù)據(jù)穩(wěn)定性測試的結(jié)果為通過；如果否，則對所述待測試硬盤進(jìn)行的第a項(xiàng)冷數(shù)據(jù)穩(wěn)定性測試的結(jié)果為不通過；其中，a為正整數(shù)且a≤N，K1為正整數(shù)。4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的硬盤的穩(wěn)定性測試方法，其特征在于，對所述存儲模型中的所述待測試硬盤進(jìn)行第b項(xiàng)冷數(shù)據(jù)穩(wěn)定性測試，包括：基于預(yù)設(shè)的加密算法對第一數(shù)據(jù)進(jìn)行加密，生成所述第一數(shù)據(jù)的第一校驗(yàn)數(shù)據(jù)，并存儲所述第一校驗(yàn)數(shù)據(jù)；將所述第一數(shù)據(jù)寫入至所述待測試硬盤之后，對所述待測試硬盤進(jìn)行異常掉電，并且
在經(jīng)過了第一時(shí)長之后，對所述待測試硬盤進(jìn)行上電；在對所述待測試硬盤進(jìn)行上電之后，讀取所述待測試硬盤中所保存的所述第一數(shù)據(jù)，并基于預(yù)設(shè)的加密算法進(jìn)行加密，生成第三校驗(yàn)數(shù)據(jù)；判斷所述第三校驗(yàn)數(shù)據(jù)與所述第一校驗(yàn)數(shù)據(jù)是否一致；如果是，則對所述待測試硬盤進(jìn)行的第b項(xiàng)冷數(shù)據(jù)穩(wěn)定性測試的結(jié)果為通過；如果否，則對所述待測試硬盤進(jìn)行的第b項(xiàng)冷數(shù)據(jù)穩(wěn)定性測試的結(jié)果為不通過；其中，b為正整數(shù)，b≠a且b≤N。5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的硬盤的穩(wěn)定性測試方法，其特征在于，對所述存儲模型中的所述待測試硬盤進(jìn)行第c項(xiàng)冷數(shù)據(jù)穩(wěn)定性測試，包括：基于預(yù)設(shè)的加密算法對第一數(shù)據(jù)進(jìn)行加密，生成所述第一數(shù)據(jù)的第一校驗(yàn)數(shù)據(jù)，并存儲所述第一校驗(yàn)數(shù)據(jù)；將所述第一數(shù)據(jù)寫入至所述待測試硬盤之后，對所述待測試硬盤進(jìn)行全盤注錯；在全盤注錯之后，對所述待測試硬盤進(jìn)行異常下電，并在異常下電之后再次上電；讀取所述目標(biāo)硬盤中所保存的所述第一數(shù)據(jù)，并基于預(yù)設(shè)的加密算法進(jìn)行加密，生成第四校驗(yàn)數(shù)據(jù)；判斷所述第四校驗(yàn)數(shù)據(jù)與所述第一校驗(yàn)數(shù)據(jù)是否一致；如果否，則對所述待測試硬盤進(jìn)行的第c項(xiàng)冷數(shù)據(jù)穩(wěn)定性測試的結(jié)果為不通過；如果是，則返回執(zhí)行所述對所述待測試硬盤進(jìn)行異常下電，并在異常下電之后再次上電的操作，直到重復(fù)了K2輪且K2輪中的每一輪的所述第四校驗(yàn)數(shù)據(jù)均通過驗(yàn)證時(shí)，對所述待測試硬盤進(jìn)行的第c項(xiàng)冷數(shù)據(jù)穩(wěn)定性測試的結(jié)果為通過；其中，c為正整數(shù)，c≠a且c≤N；所述目標(biāo)硬盤表示的是在所述存儲模型中，與所述待測試硬盤構(gòu)成鏡像容錯陣列的硬盤。6.根據(jù)權(quán)利要求2所述的硬盤的穩(wěn)定性測試方法，其特征在于，對所述存儲模型中的所述待測試硬盤進(jìn)行熱數(shù)據(jù)穩(wěn)定性測試，得到熱數(shù)據(jù)穩(wěn)定性測試結(jié)果，包括：對所述存儲模型中的所述待測試硬盤進(jìn)行M項(xiàng)熱數(shù)據(jù)穩(wěn)...

【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：欒玉雪，王帆，孫海濤，
申請(專利權(quán))人：山東云海國創(chuàng)云計(jì)算裝備產(chǎn)業(yè)創(chuàng)新中心有限公司，
類型：發(fā)明
國別省市：