一種視覺(jué)檢測(cè)下漿補(bǔ)償方法技術(shù)

本發(fā)明專利技術(shù)公開(kāi)了一種視覺(jué)檢測(cè)下漿補(bǔ)償方法，包括：視覺(jué)系統(tǒng)拍攝烤盤的圖像信息、并將其發(fā)送至圖像處理系統(tǒng)中；圖像處理系統(tǒng)提取圖像信息將其轉(zhuǎn)換為3D點(diǎn)云數(shù)據(jù)，圖像處理系統(tǒng)對(duì)3D點(diǎn)云數(shù)據(jù)進(jìn)行位置調(diào)整；根據(jù)烤盤下漿區(qū)域到3D相機(jī)的最小距離和最大距離，提取3D點(diǎn)云數(shù)據(jù)；將上述所提取的3D點(diǎn)云數(shù)據(jù)拆分并提取3D點(diǎn)云數(shù)據(jù)區(qū)域中心點(diǎn)與面積，將3D點(diǎn)云數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為機(jī)械手坐標(biāo)與面積數(shù)據(jù)發(fā)送至下漿系統(tǒng)中；下漿系統(tǒng)控制其漿管根據(jù)面積按比例計(jì)算每個(gè)區(qū)域補(bǔ)償下漿時(shí)間進(jìn)行補(bǔ)償下漿。本發(fā)明專利技術(shù)通過(guò)視覺(jué)系統(tǒng)采集烤盤的圖像信息，判斷烤盤上是否均勻下漿，并對(duì)漿量不夠的區(qū)域進(jìn)行下漿補(bǔ)償，確保烤盤區(qū)域下漿均勻。域下漿均勻。域下漿均勻。

【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
一種視覺(jué)檢測(cè)下漿補(bǔ)償方法


[0001]本專利技術(shù)涉及威化餅制備
，尤其是涉及一種視覺(jué)檢測(cè)下漿補(bǔ)償方法。

技術(shù)介紹

[0002]威化餅的制作采用加熱烘焙的方式，將烤盤上的面醬烘焙、待水分蒸發(fā)后留下威化餅片，后續(xù)通過(guò)涂覆奶油、疊片、切塊成型，得到需要的威化餅。如圖1所示，現(xiàn)有的下漿系統(tǒng)，根據(jù)用戶設(shè)定的下漿與結(jié)束位置進(jìn)行下漿，當(dāng)烤盤到達(dá)起始點(diǎn)A位置時(shí)，漿泵啟動(dòng)，面漿以固定位置對(duì)烤盤進(jìn)行下漿，當(dāng)烤盤到達(dá)結(jié)束點(diǎn)B位置時(shí)，漿泵停止運(yùn)行。面漿在固定的位置下漿，需要面漿在烤盤磨具中自由流動(dòng)，當(dāng)?shù)厥盏娇緺t溫度、面漿配方等因素影響，使得面漿無(wú)法保證均勻分布烤盤磨具，從而產(chǎn)品出現(xiàn)缺角或者厚度不均勻的現(xiàn)象。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

[0003]本專利技術(shù)的目的旨在提供一種視覺(jué)檢測(cè)下漿補(bǔ)償方法，通過(guò)視覺(jué)系統(tǒng)采集烤盤的圖像信息，由圖像處理系統(tǒng)分析圖像信息，判斷烤盤上是否均勻下漿，并對(duì)漿量不夠的區(qū)域進(jìn)行下漿補(bǔ)償，確保烤盤區(qū)域下漿均勻。
[0004]為實(shí)現(xiàn)上述目的，本專利技術(shù)提供的技術(shù)方案是：一種視覺(jué)檢測(cè)下漿補(bǔ)償方法，該下漿補(bǔ)償方法包括：
[0005]視覺(jué)系統(tǒng)拍攝烤盤的圖像信息、并將其發(fā)送至圖像處理系統(tǒng)中；
[0006]圖像處理系統(tǒng)提取圖像信息中的輪廓與坐標(biāo)數(shù)據(jù)、并將其轉(zhuǎn)換為3D點(diǎn)云數(shù)據(jù)，圖像處理系統(tǒng)對(duì)3D點(diǎn)云數(shù)據(jù)進(jìn)行位置調(diào)整，刪除烤盤下漿區(qū)域以外的3D點(diǎn)云數(shù)據(jù)；
[0007]根據(jù)烤盤下漿區(qū)域到3D相機(jī)的最小距離Dmin+N(N為修正值)和最大距離Dmax，提取Dmin+N≤P≤Dmax的3D點(diǎn)云數(shù)據(jù)；<br/>[0008]將上述所提取的3D點(diǎn)云數(shù)據(jù)拆分為多個(gè)不相連的3D點(diǎn)云數(shù)據(jù)，并提取3D點(diǎn)云數(shù)據(jù)區(qū)域中心點(diǎn)與面積，將3D點(diǎn)云數(shù)據(jù)區(qū)域中心點(diǎn)轉(zhuǎn)換為機(jī)械手坐標(biāo)與面積數(shù)據(jù)發(fā)送至下漿系統(tǒng)中；
[0009]下漿系統(tǒng)接收到區(qū)域中心點(diǎn)與面積數(shù)據(jù)后、控制其漿管沿X軸、Y軸方向運(yùn)動(dòng)，下漿系統(tǒng)根據(jù)面積按比例計(jì)算每個(gè)區(qū)域補(bǔ)償下漿時(shí)間，控制漿管進(jìn)行補(bǔ)償下漿。
[0010]本專利技術(shù)采用上述技術(shù)方案，通過(guò)視覺(jué)系統(tǒng)拍攝烤盤的圖像信息，發(fā)給圖像處理系統(tǒng)中進(jìn)行判斷烤盤上的面醬是否下漿均勻，當(dāng)下漿不均勻時(shí)，圖像處理系統(tǒng)提取圖像信息并將其轉(zhuǎn)環(huán)為3D點(diǎn)云數(shù)據(jù)，進(jìn)一步對(duì)該數(shù)據(jù)進(jìn)行處理，將其轉(zhuǎn)換為機(jī)械手坐標(biāo)與面積數(shù)據(jù)發(fā)送給下漿系統(tǒng)，由下漿系統(tǒng)控制漿管在烤盤上沿X軸、Y軸方向運(yùn)動(dòng)，根據(jù)面積按比例每個(gè)區(qū)域補(bǔ)償下漿時(shí)間，控制漿管進(jìn)行補(bǔ)償下漿，實(shí)現(xiàn)對(duì)漿量不夠的區(qū)域進(jìn)行下漿補(bǔ)償，確保烤盤區(qū)域下漿均勻。
[0011]上述的視覺(jué)檢測(cè)下漿補(bǔ)償方法，圖像處理系統(tǒng)包括工控機(jī)、顯示器，工控機(jī)接收與處理視覺(jué)系統(tǒng)的圖像信號(hào)，并輸出控制指令至控制器中，顯示器與工控機(jī)連接，用于顯示圖像處理信息。
[0012]上述的視覺(jué)檢測(cè)下漿補(bǔ)償方法，視覺(jué)系統(tǒng)包括3D相機(jī)，用以采集烤盤的圖像信息。
[0013]上述的視覺(jué)檢測(cè)下漿補(bǔ)償方法，下漿系統(tǒng)包括漿泵、漿管、機(jī)械手和控制器，漿泵與漿管連接，機(jī)械手與漿管連接，控制器接收?qǐng)D像處理系統(tǒng)輸出的控制指令、控制機(jī)械手移動(dòng)漿管對(duì)烤盤進(jìn)行下漿。控制器接收到區(qū)域中心點(diǎn)與面積數(shù)據(jù)后、控制機(jī)械手到達(dá)指定位置，帶動(dòng)漿管沿X軸、Y軸方向運(yùn)動(dòng)，控制器根據(jù)面積按比例計(jì)算每個(gè)區(qū)域補(bǔ)償下漿時(shí)間，啟動(dòng)漿泵和打開(kāi)電磁閥進(jìn)行補(bǔ)償下漿，補(bǔ)償下漿完成后、關(guān)閉漿泵和電磁閥，烤盤下漿補(bǔ)償完成。
[0014]上述的視覺(jué)檢測(cè)下漿補(bǔ)償方法，下漿系統(tǒng)包括傳感器，該傳感器位于烤盤下方，用于觸發(fā)3D相機(jī)采集烤盤的圖像數(shù)據(jù)的起始和結(jié)束信號(hào)。
[0015]上述的視覺(jué)檢測(cè)下漿補(bǔ)償方法，下漿系統(tǒng)還包括用于檢測(cè)烤盤移動(dòng)位置的編碼器。當(dāng)烤盤移動(dòng)至指定位置時(shí)，3D相機(jī)拍攝烤盤圖像，同時(shí)通過(guò)編碼器發(fā)出脈沖信號(hào)將烤盤劃分多個(gè)區(qū)域的輪廓，提供給圖像處理系統(tǒng)處理。
[0016]上述的視覺(jué)檢測(cè)下漿補(bǔ)償方法，漿管上設(shè)有電磁閥。電磁閥用于通斷漿管，在進(jìn)行下漿補(bǔ)漿時(shí)，電磁閥打開(kāi)，停止下漿時(shí)，電磁閥關(guān)閉。
[0017]本專利技術(shù)取得的有益效果是：通過(guò)視覺(jué)檢測(cè)烤盤下漿區(qū)域的輪廓、判斷是否均勻下漿，并對(duì)漿量不夠的區(qū)域進(jìn)行下漿補(bǔ)償，確保烤盤的區(qū)域均勻下漿。
附圖說(shuō)明
[0018]圖1是現(xiàn)有技術(shù)的下漿系統(tǒng)的下漿方式示意圖；
[0019]圖2是本專利技術(shù)的視覺(jué)檢測(cè)下漿補(bǔ)償系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0020]圖3是本專利技術(shù)的視覺(jué)檢測(cè)下漿補(bǔ)償系統(tǒng)的視覺(jué)系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0021]圖4是本專利技術(shù)的視覺(jué)檢測(cè)下漿補(bǔ)償系統(tǒng)的圖像處理系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0022]圖5是本專利技術(shù)的視覺(jué)檢測(cè)下漿補(bǔ)償系統(tǒng)的視覺(jué)系統(tǒng)拍攝烤盤圖像的示意圖。
[0023]附圖標(biāo)記說(shuō)明：視覺(jué)系統(tǒng)1，3D相機(jī)11，圖像處理系統(tǒng)2，工控機(jī)21，顯示器22，下漿系統(tǒng)3，漿泵31，漿管32，機(jī)械手33，控制器34，傳感器35，編碼器36，電磁閥37，烤盤4。
具體實(shí)施方式
[0024]下面結(jié)合附圖和具體實(shí)施方式對(duì)本專利技術(shù)作進(jìn)一步的說(shuō)明。
[0025]圖1所示，為現(xiàn)有技術(shù)的下漿系統(tǒng)的下漿方式示意圖，在下漿時(shí)，下漿系統(tǒng)根據(jù)用戶設(shè)定的下漿開(kāi)始與結(jié)束位置進(jìn)行下漿，當(dāng)烤盤4到達(dá)起始點(diǎn)A位置時(shí)，漿泵啟動(dòng)，面漿以固定位置對(duì)烤盤進(jìn)行下漿，當(dāng)烤盤4到達(dá)結(jié)束點(diǎn)B位置時(shí)，漿泵停止運(yùn)行。面漿在固定的位置下漿，需要面漿在烤盤模具中自由流動(dòng)，當(dāng)收到烤爐溫度、面漿配方等因素影響，使得面漿無(wú)法保證均勻分布烤盤模具，從而產(chǎn)品會(huì)出現(xiàn)缺角或厚度不均勻的現(xiàn)象。
[0026]如圖2至圖5所示，本專利技術(shù)的一種視覺(jué)檢測(cè)下漿補(bǔ)償方法，該下漿補(bǔ)償方法包括：
[0027]視覺(jué)系統(tǒng)1拍攝烤盤4的圖像信息、并將其發(fā)送至圖像處理系統(tǒng)2中；
[0028]圖像處理系統(tǒng)2提取圖像信息中的輪廓與坐標(biāo)數(shù)據(jù)、并將其轉(zhuǎn)換為3D點(diǎn)云數(shù)據(jù)，圖像處理系統(tǒng)2對(duì)3D點(diǎn)云數(shù)據(jù)進(jìn)行位置調(diào)整，刪除烤盤下漿區(qū)域以外的3D點(diǎn)云數(shù)據(jù)；
[0029]根據(jù)烤盤下漿區(qū)域到3D相機(jī)(11)的最小距離Dmin+N(N為修正值)和最大距離Dmax，提取Dmin+N≤P≤Dmax的3D點(diǎn)云數(shù)據(jù)；
[0030]將上述所提取的3D點(diǎn)云數(shù)據(jù)拆分為多個(gè)不相連的3D點(diǎn)云數(shù)據(jù)，并提取3D點(diǎn)云數(shù)據(jù)區(qū)域中心點(diǎn)與面積，將3D點(diǎn)云數(shù)據(jù)區(qū)域中心點(diǎn)轉(zhuǎn)換為機(jī)械手坐標(biāo)與面積數(shù)據(jù)發(fā)送至下漿系統(tǒng)3中；
[0031]下漿系統(tǒng)3接收到區(qū)域中心點(diǎn)與面積數(shù)據(jù)后、控制其漿管32沿X軸、Y軸方向運(yùn)動(dòng)，下漿系統(tǒng)3根據(jù)面積按比例計(jì)算每個(gè)區(qū)域補(bǔ)償下漿時(shí)間，控制漿管32進(jìn)行補(bǔ)償下漿。
[0032]其中，3D相機(jī)11為3D線掃描相機(jī)，其工作原理為：首先，3D相機(jī)上的激光源產(chǎn)生一條精確的激光線，然后漿激光線掃描到烤盤上，激光線反射回來(lái)的信號(hào)被激光探測(cè)器接收，并將其轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號(hào)。通過(guò)數(shù)據(jù)處理器處理激光探測(cè)器接收到的數(shù)字信號(hào)，獲得烤盤的三維形狀，并將該數(shù)字信號(hào)發(fā)送給圖像處理系統(tǒng)2中。
[0033]圖像處理系統(tǒng)2包括工控機(jī)21、顯示器22，工控機(jī)21接收與處理視覺(jué)系統(tǒng)1的圖像信號(hào)，并輸出控制指令至控制器34中，顯示器22與工控機(jī)21連接，用于顯示圖像處理信息。
[0034]視覺(jué)系統(tǒng)1包括3D相機(jī)1本文檔來(lái)自技高網(wǎng)...

【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】

【技術(shù)特征摘要】
1.一種視覺(jué)檢測(cè)下漿補(bǔ)償方法，其特征在于：該下漿補(bǔ)償方法包括：視覺(jué)系統(tǒng)(1)拍攝烤盤(4)的圖像信息、并將其發(fā)送至圖像處理系統(tǒng)(2)中；圖像處理系統(tǒng)(2)提取圖像信息中的輪廓與坐標(biāo)數(shù)據(jù)、并將其轉(zhuǎn)換為3D點(diǎn)云數(shù)據(jù)，圖像處理系統(tǒng)(2)對(duì)3D點(diǎn)云數(shù)據(jù)進(jìn)行位置調(diào)整，刪除烤盤下漿區(qū)域以外的3D點(diǎn)云數(shù)據(jù)；根據(jù)烤盤下漿區(qū)域到3D相機(jī)(11)的最小距離Dmin+N(N為修正值)和最大距離Dmax，提取Dmin+N≤P≤Dmax的3D點(diǎn)云數(shù)據(jù)；將上述所提取的3D點(diǎn)云數(shù)據(jù)拆分為多個(gè)不相連的3D點(diǎn)云數(shù)據(jù)，并提取3D點(diǎn)云數(shù)據(jù)區(qū)域中心點(diǎn)與面積，將3D點(diǎn)云數(shù)據(jù)區(qū)域中心點(diǎn)轉(zhuǎn)換為機(jī)械手坐標(biāo)與面積數(shù)據(jù)發(fā)送至下漿系統(tǒng)(3)中；下漿系統(tǒng)(3)接收到區(qū)域中心點(diǎn)與面積數(shù)據(jù)后、控制其漿管(32)沿X軸、Y軸方向運(yùn)動(dòng)，下漿系統(tǒng)(3)根據(jù)面積按比例計(jì)算每個(gè)區(qū)域補(bǔ)償下漿時(shí)間，控制漿管(32)進(jìn)行補(bǔ)償下漿。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的視覺(jué)檢測(cè)下漿補(bǔ)償方法，其特征在于：圖像處理系統(tǒng)(2)包括工控機(jī)(21)、顯示器(22)，工控機(jī)(21)接收與處理視覺(jué)系統(tǒng)(1)的圖像信號(hào)，并輸出控制...

【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：馮偉亮，張智雄，張景華，
申請(qǐng)(專利權(quán))人：廣東省金貝殼食品機(jī)械有限公司，
類型：發(fā)明
國(guó)別省市：