薄膜鈮酸鋰電光調制器偏壓控制方法技術

本發明專利技術公開了一種薄膜鈮酸鋰電光調制器偏壓控制方法，涉及光通訊技術領域

【技術實現步驟摘要】
薄膜鈮酸鋰電光調制器偏壓控制方法


[0001]本專利技術涉及光通訊
，特別涉及薄膜鈮酸鋰電光調制器偏壓控制方法
。

技術介紹

[0002]薄膜鈮酸鋰電光調制器是一種常見的光電器件，其具有廣泛的應用領域，如光通信
、
激光雷達和光學測量等
。
薄膜鈮酸鋰電光調制器的工作原理是利用電光效應來調制光信號，通過施加電場，改變鈮酸鋰晶體中的折射率，從而實現光信號的調制，在薄膜鈮酸鋰電光調制器工作時，需要確認其最佳的工作點
。
[0003]目前，薄膜鈮酸鋰電光調制器的工作點通常需要進行多次實驗和測試來確認
。
在確認工作點時，首先需要確定偏置電壓和驅動電壓范圍，然后通過測量調制器的輸出特性曲線，找到調制器的最佳工作點
。
然而，通過傳統的工作點確認方法需要大量的實驗和測試
、
工作點的確認不夠準確和穩定等問題
。
[0004]因此，如何簡化薄膜鈮酸鋰電光調制器工作點的確認過程，提高確認效率和準確性，成為了亟待解決的技術難題
。

技術實現思路

[0005]本專利技術的主要目的是提供薄膜鈮酸鋰電光調制器偏壓控制方法，旨在提高其調節效率和準確性
。
[0006]為了實現上述目的，本專利技術提出一種薄膜鈮酸鋰電光調制器偏壓控制方法，包括以下步驟：
[0007]向薄膜鈮酸鋰電光調制器的控制端依次輸入多個不同的工作電壓，并記錄薄膜鈮酸鋰電光調制器輸出的與各個工作電壓所對應的反饋電壓，構建工作電壓與反饋電壓對照表；
[0008]根據所述對照表確定薄膜鈮酸鋰電光調制器的目標反饋電壓，實時檢測所述薄膜鈮酸鋰電光調制器的反饋電壓，判斷實時檢測的反饋電壓是否等于所述目標反饋電壓，若是，則對當前的反饋電壓不進行調節
。
[0009]在本申請的一實施例中，判斷實時檢測的反饋電壓是否等于所述目標反饋電壓，若否，向所述向薄膜鈮酸鋰電光調制器的控制端輸入一個測試工作電壓，并獲取與測試工作電壓對應的反饋電壓，根據和所述測試工作電壓對應的反饋電壓與所述目標反饋電壓的增量判斷當前薄膜鈮酸鋰電光調制器的目標反饋電壓的偏移方向，根據所述偏移方向和增量通過補償電路對薄膜鈮酸鋰電光調制器的控制端進行電壓調節，以使其保持在目標反饋電壓
。
[0010]在本申請的一實施例中，多個不同的工作電壓按照從大到小或者從小到大的順序依次排列，且任意兩個相鄰工作電壓之間的差值均相等
。
[0011]在本申請的一實施例中，實時檢測所述薄膜鈮酸鋰電光調制器的反饋電壓還包括：
[0012]對所述薄膜鈮酸鋰電光調制器的反饋電壓進行多次采樣，去除采樣的最大值和最小值，對采用數據進行均值計算，完成均值計算后，對所述薄膜鈮酸鋰電光調制器的反饋電壓進行結果采樣，判斷所述結果采樣與所述均值之間的差值是否落在第一預設區間，若在第一預設區間，則判定該結果采樣有效
。
[0013]在本申請的一實施例中，判斷所述結果采樣與所述均值之間的差值是否落在第一預設區間，若未落在第一預設區間，則判定該結果采樣無效，并重新進行結果采樣
。
[0014]采用上述技術方案，通過構建工作電壓與反饋電壓對照表，可以了解薄膜鈮酸鋰電光調制器在不同電壓下的輸出特性，方便快速確定薄膜鈮酸鋰電光調制器的工作點，從而更好地控制調制器的輸出結果
。
通過實時檢測反饋電壓，并根據檢測結果對輸入電壓進行調節，可以使薄膜鈮酸鋰電光調制器的輸出光信號更加穩定和精確
。
這可以提高光通信系統的傳輸質量和可靠性，同時也可以降低系統的誤碼率和功耗
。
流程簡單，便于實施
。
附圖說明
[0015]下面結合具體實施例和附圖對本專利技術進行詳細的說明，其中：
[0016]圖1為本專利技術第一種實施例的結構示意圖
。
具體實施方式
[0017]為了使本專利技術的目的
、
技術方案及優點更加清楚，以下結合附圖和實施例對本專利技術進行詳細的說明
。
應當理解，以下具體實施例僅用以解釋本專利技術，并不對本專利技術構成限制
。
[0018]如圖1所示，為了實現上述目的，本專利技術提出一種薄膜鈮酸鋰電光調制器偏壓控制方法，包括以下步驟：
[0019]向薄膜鈮酸鋰電光調制器的控制端依次輸入多個不同的工作電壓，并記錄薄膜鈮酸鋰電光調制器輸出的與各個工作電壓所對應的反饋電壓，構建工作電壓與反饋電壓對照表；
[0020]根據所述對照表確定薄膜鈮酸鋰電光調制器的目標反饋電壓，實時檢測所述薄膜鈮酸鋰電光調制器的反饋電壓，判斷實時檢測的反饋電壓是否等于所述目標反饋電壓，若是，則對當前的反饋電壓不進行調節
。
[0021]具體的，一種薄膜鈮酸鋰電光調制器偏壓控制方法，包括以下步驟：
[0022]向薄膜鈮酸鋰電光調制器的控制端依次輸入多個不同的工作電壓，并記錄薄膜鈮酸鋰電光調制器輸出的與各個工作電壓所對應的反饋電壓，構建工作電壓與反饋電壓對照表；
[0023]薄膜鈮酸鋰電光調制器是一種利用鈮酸鋰晶體的電光效應來調制光信號的設備
。
其實現的基本原理是，通過在鈮酸鋰晶體中施加電場，通過熱致效應來改變其折射率，從而實現對光信號的調制
。
因此，控制器的作用就是通過輸入電壓來控制鈮酸鋰晶體所施加的電場，從而實現對光信號的調制
。
[0024]將薄膜鈮酸鋰電光調制器的控制端與電壓源相連，向其依次輸入多個不同的工作電壓，我們可以選擇一定的步進值來逐漸增加或減小電壓，以獲取不同電壓下的輸出結果
。
需要注意的是，每個工作電壓在輸入前需要穩定一段時間，以保證電路穩定
、
充分放電
。
[0025]在每個工作電壓輸入后，需要記錄薄膜鈮酸鋰電光調制器的輸出反饋電壓
。
這可以通過將功率計與調制器的輸出端相連來實現
。
需要記錄的反饋電壓是對應每個輸入電壓下的輸出結果，所以需要將每次記錄一一對應，構建工作電壓與反饋電壓對照表，其中反饋電壓可以表征調制器對應輸出光功率的大小
。
[0026]獲取到一系列輸入電壓和對應的輸出反饋電壓后，需要對數據進行處理和分析
。
可以將這些數據繪制成電壓
?
反饋電壓的曲線圖，并根據實驗結果，對曲線進行擬合，以得到更加精確的電壓
?
反饋電壓函數關系
。
[0027]通過構建工作電壓與反饋電壓對照表，可以了解薄膜鈮酸鋰電光調制器在不同電壓下的輸出特性，方便快速確定薄膜鈮酸鋰電光調制器的工作點，從而更好地控制調制器的輸出結果
。
[0028]根據所述對照表確定薄膜鈮酸鋰電光調制器的目標反饋電壓，實時檢測所述薄膜鈮酸鋰電光調制器的反饋電壓，判斷實時檢測的反饋電壓是否等于所述目本文檔來自技高網...

【技術保護點】

【技術特征摘要】
1.
一種薄膜鈮酸鋰電光調制器偏壓控制方法，其特征在于，包括以下步驟：向薄膜鈮酸鋰電光調制器的控制端依次輸入多個不同的工作電壓，并記錄薄膜鈮酸鋰電光調制器輸出的與各個工作電壓所對應的反饋電壓，構建工作電壓與反饋電壓對照表；根據所述對照表確定薄膜鈮酸鋰電光調制器的目標反饋電壓，實時檢測所述薄膜鈮酸鋰電光調制器的反饋電壓，判斷實時檢測的反饋電壓是否等于所述目標反饋電壓，若是，則對當前的反饋電壓不進行調節
。2.
如權利要求1所述的薄膜鈮酸鋰電光調制器偏壓控制方法，其特征在于，判斷實時檢測的反饋電壓是否等于所述目標反饋電壓，若否，向所述向薄膜鈮酸鋰電光調制器的控制端輸入一個測試工作電壓，并獲取與測試工作電壓對應的反饋電壓，根據和所述測試工作電壓對應的反饋電壓與所述目標反饋電壓的增量判斷當前薄膜鈮酸鋰電光調制器的目標反饋電壓的偏移方向，根據所述偏移方向和增量通過補償電路對薄膜鈮酸鋰電光調制器的控制端進行電壓調節，以使其保持在...

【專利技術屬性】
技術研發人員：楊鵬毅，姚宗影，王為，劉金鵬，李鴻高，李韜，喬鵬飛，
申請(專利權)人：中國電子科技集團公司第四十三研究所，
類型：發明
國別省市：