一種雙頭測試探針制造技術

本實用新型專利技術公開了一種雙頭測試探針，包括固定管和調節單元；固定管：其左右端均滑動連接有測試針頭；調節單元：包括轉動筒、齒輪和齒條板，所述轉動筒通過軸承轉動連接于固定管的內弧面中部，轉動筒的外弧面中部設有齒輪，測試針頭的內側面均設有齒條板，兩個齒條板呈前后錯位分布，兩個齒條板均與齒輪嚙合連接；其中：所述固定管的內弧面設有橫向對稱分布的導向桿，導向桿的外側端頭分別與同側相鄰的測試針頭內側面中部設置的滑孔滑動連接，該雙頭測試探針，能夠根據不同規格大小的半導體、線路板進行實時調節，大大提高了雙頭測試探針的使用范圍，確保雙頭測試探針調節時能夠同時同幅度移動。度移動。度移動。

【技術實現步驟摘要】
一種雙頭測試探針


[0001]本技術涉及半導體、線路板測試
，具體為一種雙頭測試探針。

技術介紹

[0002]由于半導體工藝的不斷進步和電子產品的不斷普及，雙頭測試探針已經成為了現代電子產業中必不可少的測試工具之一，它能夠快速準確地檢測電氣性能，從而提高了電子產品的品質和工藝水平，雙頭測試探針是電子制造行業中廣泛應用的一種測試工具，主要用于測試半導體芯片、線路板等電子產品的電氣性能；
[0003]目前使用雙頭測試探針測試半導體和線路板時，將被測試的半導體或線路板放置在成像式測試儀器上，并通過雙頭測試探針對其進行測試，雙頭測試探針由兩個金屬探針組成，通過與被測對象的電極接觸，能夠讀取其電氣性能信息，如傳導電阻、電容等；
[0004]雖然雙頭測試探針已經廣泛應用于電子制造業，但仍然存在一些不足，例如，雙頭測試探針通常是通過螺紋連接的方式固定在探針安裝筒上，在遇到不同規格大小的半導體或線路板時，需要工作人員根據實際情況更換不同長度的探針安裝筒，操作較為繁瑣，不夠簡便快捷。

技術實現思路

[0005]本技術要解決的技術問題是克服現有的缺陷，提供一種雙頭測試探針，能夠根據不同規格大小的半導體、線路板進行實時調節，大大提高了雙頭測試探針的使用范圍，確保雙頭測試探針調節時能夠同時同幅度移動，可以有效解決
技術介紹
中的問題。
[0006]為實現上述目的，本技術提供如下技術方案：一種雙頭測試探針，包括固定管和調節單元；
[0007]固定管：其左右端均滑動連接有測試針頭；
[0008]調節單元：包括轉動筒、齒輪和齒條板，所述轉動筒通過軸承轉動連接于固定管的內弧面中部，轉動筒的外弧面中部設有齒輪，測試針頭的內側面均設有齒條板，兩個齒條板呈前后錯位分布，兩個齒條板均與齒輪嚙合連接，能夠根據不同規格大小的半導體、線路板進行實時調節，大大提高了雙頭測試探針的使用范圍，確保雙頭測試探針調節時能夠同時同幅度移動。
[0009]進一步的，所述固定管的內弧面設有橫向對稱分布的導向桿，導向桿的外側端頭分別與同側相鄰的測試針頭內側面中部設置的滑孔滑動連接，對測試針頭起到移動導向的作用。
[0010]進一步的，所述測試針頭的外弧面均設有刻度線，實時觀察測試針頭調節的長度。
[0011]進一步的，所述轉動筒上端面中部設置的矩形滑孔內滑動連接有滑動限位桿，固定管外弧面中部設置的開口處設有固定罩，滑動限位桿的上表面與固定罩的頂壁面配合設置，起到限制的作用。
[0012]進一步的，所述滑動限位桿的上表面設有環形均勻分布的凸臺，凸臺分別與固定
罩頂壁面一一對應設置的限位槽配合設置，對齒輪、齒條板及其附屬機構進行限位鎖定。
[0013]進一步的，所述滑動限位桿下表面中部設置的凹槽頂壁面與滑動限位桿所在矩形滑孔的底壁面之間設有彈簧，起到彈性支撐的作用。
[0014]進一步的，所述滑動限位桿的上表面中部設有矩形開槽，方便工作人員進行快速操作。
[0015]與現有技術相比，本技術的有益效果是：本雙頭測試探針，具有以下好處：
[0016]當需要測試不同規格大小的半導體、線路板時，相關工作人員選取與矩形開槽相匹配的平頭螺絲刀，然后將平頭螺絲刀批頭與矩形開槽活動插接，并向下按壓滑動限位桿，滑動限位桿克服彈簧的彈力并沿轉動筒上端面中部設置的矩形滑孔向下移動，從而使凸臺與固定罩頂壁面一一對應設置的限位槽分離，然后通過平頭螺絲刀批頭轉動矩形開槽、滑動限位桿、凸臺、轉動筒和齒輪同步轉動，齒輪轉動的同時通過與之嚙合連接的齒條板帶動兩個測試針頭沿導向桿同時同幅度靠近，同理反向轉動，則使得兩個測試針頭沿導向桿同時同幅度遠離，與此同時通過刻度線實時觀察測試針頭調節的長度，直至兩個測試針頭之間的距離調節至與需要測試的不同規格大小的半導體、線路板相配后，相關工作人員停止轉動滑動限位桿，并使得平頭螺絲刀批頭與矩形開槽分離，這時在彈簧回彈力的作用下頂動滑動限位桿和凸臺沿轉動筒上端面中部設置的矩形滑孔向上移復位，最終使得凸臺與固定罩頂壁面一一對應設置的限位槽重新活動插接，以此對齒輪、齒條板及其附屬機構進行限位，能夠根據不同規格大小的半導體、線路板進行實時調節，大大提高了雙頭測試探針的使用范圍，確保雙頭測試探針調節時能夠同時同幅度移動。
附圖說明
[0017]圖1為本技術結構示意圖；
[0018]圖2為本技術調節單元的結構示意圖；
[0019]圖3為本技術A處放大結構示意圖。
[0020]圖中：1固定管、2測試針頭、3調節單元、31轉動筒、32齒輪、33齒條板、4導向桿、5刻度線、6滑動限位桿、7凸臺、8固定罩、9彈簧。
具體實施方式
[0021]下面將結合本技術實施例中的附圖，對本技術實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本技術一部分實施例，而不是全部的實施例。基于本技術中的實施例，本領域普通技術人員在沒有做出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本技術保護的范圍。
[0022]請參閱圖1
?
3，本實施例提供一種技術方案：一種雙頭測試探針，包括固定管1和調節單元3；
[0023]固定管1：固定管1對其附屬機構單元提供安裝支撐場所，其左右端均滑動連接有測試針頭2，測試針頭2則對半導體、線路板起到測試的作用；
[0024]調節單元3：包括轉動筒31、齒輪32和齒條板33，轉動筒31通過軸承轉動連接于固定管1的內弧面中部，轉動筒31的外弧面中部設有齒輪32，測試針頭2的內側面均設有齒條板33，兩個齒條板33呈前后錯位分布，兩個齒條板33均與齒輪32嚙合連接，齒輪32轉動的同
時通過與之嚙合連接的齒條板33帶動兩個測試針頭2沿導向桿4同時同幅度靠近，同理反向轉動，則使得兩個測試針頭2沿導向桿4同時同幅度遠離，能夠根據不同規格大小的半導體、線路板進行實時調節，大大提高了雙頭測試探針的使用范圍，確保雙頭測試探針調節時能夠同時同幅度移動。
[0025]其中：固定管1的內弧面設有橫向對稱分布的導向桿4，導向桿4的外側端頭分別與同側相鄰的測試針頭2內側面中部設置的滑孔滑動連接，兩個測試針頭2在移動時沿導向桿4同時同幅度移動，起到對測試針頭2移動導向的作用。
[0026]其中：測試針頭2的外弧面均設有刻度線5，通過刻度線5實時觀察測試針頭2調節的長度。
[0027]其中：轉動筒31上端面中部設置的矩形滑孔內滑動連接有滑動限位桿6，固定管1外弧面中部設置的開口處設有固定罩8，滑動限位桿6的上表面與固定罩8的頂壁面配合設置，當需要測試不同規格大小的半導體、線路板時，相關工作人員向下按壓滑動限位桿6，滑動限位桿6與固定罩8分離，調節完成之后，相關工作人員停止轉動滑動限位桿6，滑動限位桿6與固定罩8重新截胡吃，以此對齒輪32及其附屬機構進行限位，起到限制的作用。
[0028]其中：滑動限位桿6的上表面設有環形均勻分本文檔來自技高網...

【技術保護點】

【技術特征摘要】
1.一種雙頭測試探針，其特征在于：包括固定管(1)和調節單元(3)；固定管(1)：其左右端均滑動連接有測試針頭(2)；調節單元(3)：包括轉動筒(31)、齒輪(32)和齒條板(33)，所述轉動筒(31)通過軸承轉動連接于固定管(1)的內弧面中部，轉動筒(31)的外弧面中部設有齒輪(32)，測試針頭(2)的內側面均設有齒條板(33)，兩個齒條板(33)呈前后錯位分布，兩個齒條板(33)均與齒輪(32)嚙合連接。2.根據權利要求1所述的一種雙頭測試探針，其特征在于：所述固定管(1)的內弧面設有橫向對稱分布的導向桿(4)，導向桿(4)的外側端頭分別與同側相鄰的測試針頭(2)內側面中部設置的滑孔滑動連接。3.根據權利要求1所述的一種雙頭測試探針，其特征在于：所述測試針頭(2)的外弧面均設有刻...

【專利技術屬性】
技術研發人員：方經軍，
申請(專利權)人：蘇州斯丹德電子科技有限公司，
類型：新型
國別省市：