采集芯片的采樣數據的處理方法技術

本發明專利技術實施例公開了一種采集芯片的采樣數據的處理方法

【技術實現步驟摘要】
采集芯片的采樣數據的處理方法、裝置、設備及存儲介質


[0001]本專利技術實施例涉及數據采樣
，尤其涉及一種采集芯片的采樣數據的處理方法
、
裝置
、
設備及存儲介質
。

技術介紹

[0002]供電電壓
、
基準電壓和環境溫度都會影響模擬信號轉數字信號的采集芯片
(
簡稱
AD
芯片
)
采樣的準確度及精度
。
如果供電電壓
、
基準電壓和環境溫度中的至少一項不滿足額定條件，
AD
芯片可能產生異常采樣值，引起保護裝置不正常動作，也有可能使得采樣值的誤差超范圍，造成測量誤差過大
。

技術實現思路

[0003]本專利技術實施例提供一種采集芯片的采樣數據的處理方法
、
裝置
、
設備及存儲介質，基于采集芯片的工作狀態調整濾波參數，提高濾波處理后的采樣數據的準確度及精度
。
[0004]第一方面，本專利技術實施例提供了一種采集芯片的采樣數據的處理方法，包括：
[0005]獲取采集芯片的實際電壓信息；其中，所述實際電壓信息包括實際供電電壓及實際基準電壓；
[0006]根據所述實際電壓信息確定所述采集芯片的工作狀態；其中，所述工作狀態包括異常狀態及正常狀態；
[0007]根據所述工作狀態確定濾波參數；其中，所述濾波參數包括窗長度及偏差系數；
[0008]根據所述濾波參數對所述采集芯片的采樣數據進行濾波處理
。
[0009]第二方面，本專利技術實施例還提供了一種采集芯片的采樣數據的處理裝置，該裝置包括：
[0010]實際電壓信息獲取模塊，用于獲取采集芯片的實際電壓信息；其中，所述實際電壓信息包括實際供電電壓及實際基準電壓；
[0011]工作狀態確定模塊，用于根據所述實際電壓信息確定所述采集芯片的工作狀態；其中，所述工作狀態包括異常狀態及正常狀態；
[0012]濾波參數確定模塊，用于根據所述工作狀態確定濾波參數；其中，所述濾波參數包括窗長度及偏差系數；
[0013]濾波處理模塊，用于根據所述濾波參數對所述采集芯片的采樣數據進行濾波處理
。
[0014]第三方面，本專利技術實施例還提供了一種電子設備，所述電子設備包括：
[0015]至少一個處理器；以及
[0016]與所述至少一個處理器通信連接的存儲器；其中，
[0017]所述存儲器存儲有可被所述至少一個處理器執行的計算機程序，所述計算機程序被所述至少一個處理器執行，以使所述至少一個處理器能夠執行本專利技術實施例所述的采集芯片的采樣數據的處理方法
。
[0018]第四方面，本專利技術實施例還提供了一種計算機可讀存儲介質，所述計算機可讀存儲介質存儲有計算機指令，所述計算機指令用于使處理器執行時實現本專利技術實施例所述的采集芯片的采樣數據的處理方法
。
[0019]本專利技術實施例公開了一種采集芯片的采樣數據的處理方法
、
裝置
、
設備及存儲介質，包括：獲取采集芯片的實際電壓信息；其中，實際電壓信息包括實際供電電壓及實際基準電壓；根據實際電壓信息確定采集芯片的工作狀態；其中，工作狀態包括異常狀態及正常狀態；根據工作狀態確定濾波參數；其中，濾波參數包括窗長度及偏差系數；根據濾波參數對采集芯片的采樣數據進行濾波處理
。
本專利技術實施例提供的采集芯片的采樣數據的處理方法，基于采集芯片的實際電壓信息確定芯片所處的工作狀態，根據采集芯片的工作狀態調整濾波參數，基于該濾波參數對采集芯片的采樣數據進行濾波處理，提高采樣數據的準確度及精度，避免保護裝置的不正確動作，提高裝置采樣值容錯糾錯能力
。
附圖說明
[0020]圖1是本專利技術實施例一中的一種采集芯片的采樣數據的處理方法的流程圖；
[0021]圖2是本專利技術實施例中對采集芯片的實際電壓信息進行采樣的示例圖；
[0022]圖3是本專利技術實施例二中的一種采集芯片的采樣數據的處理方法的流程圖；
[0023]圖4是本專利技術實施例三中的一種采集芯片的采樣數據的處理方法的流程圖
。
[0024]圖5是本專利技術實施例四中的一種采集芯片的采樣數據的處理裝置的結構示意圖；
[0025]圖6是本專利技術實施例五中的一種電子設備的結構示意圖
。
具體實施方式
[0026]下面結合附圖和實施例對本專利技術作進一步的詳細說明
。
可以理解的是，此處所描述的具體實施例僅僅用于解釋本專利技術，而非對本專利技術的限定
。
另外還需要說明的是，為了便于描述，附圖中僅示出了與本專利技術相關的部分而非全部結構
。
[0027]實施例一
[0028]圖1為本專利技術實施例一提供的一種采集芯片的采樣數據的處理方法的流程圖，本實施例可適用于對采集芯片的采樣數據進行處理的情況，該方法可以由采集芯片的采樣數據的處理裝置來執行，該裝置可以通過軟件和
/
或硬件的形式實現，可選的，通過電子設備來實現，該電子設備可以是移動終端
、PC
端或服務器等
。
具體包括如下步驟：
[0029]S110、
獲取采集芯片的實際電壓信息
。
[0030]其中，實際電壓信息包括實際供電電壓及實際基準電壓
。
[0031]本實施例中，通過采集芯片的交叉采樣設計，使用一片采集芯片對另一片采集芯片的實際供電電壓和基準電壓進行采樣，獲得采集芯片的實際電壓信息
。
示例性的，圖2是本專利技術實施例中對采集芯片的實際電壓信息進行采樣的示例圖，如圖2所示，
Vcc
表示供電電壓，
Vref
表示基準電壓，
In1
和
In2
表示
AD
芯片的模擬輸入，
Out
表示
AD
芯片的數字輸出
。
[0032]具體的，當采用
AD2
芯片對
AD1
芯片的實際供電電壓和基準電壓進行采樣時，將
AD1
的
Vcc
引腳與
AD2
的模擬輸入引腳
In2
進行連接，同時將
AD1
的
Vref
引腳與
AD2
的模擬輸入引腳
In1
進行連接，最后通過
AD2
的輸出引腳，輸出
AD1
芯片的實際供電電壓和基準電壓
。
反之，當采用
AD1
芯片對
AD2
芯片的實際供電電壓和基準電壓進行采樣時，將
AD2
的
Vcc
引腳與
AD1
的模擬輸入引腳...

【技術保護點】

【技術特征摘要】
1.
一種采集芯片的采樣數據的處理方法，其特征在于，包括：獲取采集芯片的實際電壓信息；其中，所述實際電壓信息包括實際供電電壓及實際基準電壓；根據所述實際電壓信息確定所述采集芯片的工作狀態；其中，所述工作狀態包括異常狀態及正常狀態；根據所述工作狀態確定濾波參數；其中，所述濾波參數包括窗長度及偏差系數；根據所述濾波參數對所述采集芯片的采樣數據進行濾波處理
。2.
根據權利要求1所述的方法，其特征在于，根據所述實際電壓信息確定所述采集芯片的工作狀態，包括：若所述實際供電電壓與額定供電電壓間的偏差大于第一設定閾值，和
/
或，所述實際基準電壓與額定基準電壓間的偏差大于第二設定閾值，則所述采集芯片處于異常狀態；若所述實際供電電壓與額定供電電壓間的偏差小于或等于所述第一設定閾值，且所述實際基準電壓與額定基準電壓間的偏差小于或等于所述第二設定閾值，則所述采集芯片處于正常狀態
。3.
根據權利要求1所述的方法，其特征在于，根據所述工作狀態確定濾波參數，包括：若所述采集芯片處于異常狀態，則將所述窗長度調整為第一長度，將所述偏差系數調整為第一系數；若所述采集芯片處于正常狀態，則將所述窗長度調整為第二長度，將所述偏差系數調整為第二系數；其中，所述第一長度大于所述第二長度，所述第一系數小于所述第二系數
。4.
根據權利要求1所述的方法，其特征在于，在根據所述濾波參數對所述采集芯片的采樣數據進行濾波處理之后，還包括：獲取所述采集芯片的實際環境溫度；確定所述實際環境溫度與額定環境溫度間的偏差；根據所述偏差確定調整比例；基于所述調整比例對濾波處理后的采樣數據進行調整
。5.
根據權利要求1所述的方法，其特征在于，根據所述濾波參數對所述采集芯片的采樣數據進行濾波處理，包括：提取所述窗長度的采樣數據的中位值；確定各所述采樣數據分別與所述中位值的差值；提取各差值的中位值，...

【專利技術屬性】
技術研發人員：鮑凱鵬，苗文彬，劉龍，宋忠鵬，趙琦，孫啟銳，
申請(專利權)人：上海思源弘瑞自動化有限公司，
類型：發明
國別省市：