一種超細粉體制造技術

本發明專利技術涉及超細粉體制造領域，具體公開一種細粉體

【技術實現步驟摘要】
一種超細粉體SEM制樣設備及粒度分布檢測方法


[0001]本專利技術屬于超細粉體制造領域，具體涉及一種超細粉體
SEM
制樣設備及粒度分布檢測方法
。

技術介紹

[0002]不同的應用領域，對超細粉體特性的要求各不相同，在所有反映超細粉體特性的指標中，粒度分布是所有應用領域中最受關注的一項指標，因此，客觀真實地反映超細粉體的粒度分布是至關重要的，在超細粉體加工生產過程中，粉體粒度檢測是控制產品生產指標和調整優化生產工藝的主要依據
。
[0003]對于超細粉體產品，其顆粒尺寸大小和粒度分布直接影響其特性
、
價格和用途，對于納米材料，其顆粒大小和形狀對材料的性能起著決定性的作用，因此粉體粒度檢測必不可少
。
[0004]現有行業通用的粉體
SEM
粒度分布檢測方法是：
1、
用取樣工具從樣品袋中取適量的粉末，放置到樣品臺上，用制樣工具（不銹鋼平鏟）將粉末壓平；
2、
用吸耳球將附于樣品臺上的未貼住的粉吹掉；
3、
將制好的樣品放入
SEM
，鎖定固定螺母；
4、
在視野模式或廣角模式下找到要觀察的樣品，掃描電鏡拍攝照片
。
由于粉體存在的重疊，無法通過機器有效識別顆粒直徑進行粒度分布的測量和分析，只能通過人工將拍攝的照片用標注方式進行測量所有顆粒的直徑，然后統計測量結果到
EXCELL
表格，使用
PERCENTILE
函數統計
k
為 0.1、0.5
和
0.9
時對應的粒徑，得到粒度分布
D10、D50
和
D90
，人工測量存在效率低下，根據顆粒數多少一般用時在
30
?
60
分鐘；并且不同操作人員測量直徑差異大，檢查結果一致性差
。

技術實現思路

[0005]本專利技術針對
技術介紹
中的問題，研發了一種細粉體
SEM
粒制樣設備及自動檢測方法，通過提供一種細粉體
SEM
粒制樣設備，在樣品測量前將粉體充分分散，使粉體顆粒不存在團聚現象，并通過自動檢測，有效提高檢測效率及檢測效果
。
[0006]為實現上述目的，本專利技術是通過以下技術方案實現的：一種超細粉體
SEM
制樣設備，包括底座
、
安裝于底座上的樣品臺，置于樣品臺上方的高速氣流分散器，所述高速氣流分散器為中空圓柱體，上部和下部為圓臺形開口，兩圓臺形開口的小口處連通，中部有高壓氣體環形腔，所述高壓氣體環形腔外連通高壓氣管，內下部連通環形噴射腔的進氣端，所述環形噴射腔的出氣端與兩圓臺開口的小口處連通，環形噴射腔進氣端至出氣端由大到小漸變
。
[0007]進一步地，所述樣品臺上設有導電膠帶
。
[0008]優選地，所述樣品臺通過固定器與底座連接，固定器高度可調節，通過調節其高度，可以控制粉體在導電膠帶分散密度
。
[0009]優選地，所述固定器為固定柱，其頂部與樣品臺固定連接，底部通過氣缸與底座連接，通過調節氣缸使固定器升降，從而帶動樣品臺升降
。
[0010]進一步地，所述高速氣流分散器一側通過高壓氣管與底座連接
。
[0011]一種超細粉體
SEM
粒度分布檢測方法，具體包括以下步驟：
1、
將粉末樣品放入高速氣流分散器上部的圓臺形開口，高壓氣體經環形噴腔產生高速氣流，在氣流交匯處產生激烈碰撞將團聚粉體分散；
2、
分散后的粉體被氣流帶到有導電膠帶的樣品臺上，通過調節固定器高度，可以控制粉體在導電膠帶分散密度，制作成顆粒均勻分布的
SEM
樣品；
3、
電鏡拍攝樣品臺上樣品照片，打開圖像分析軟件對每顆顆粒最大直徑
、
最小直徑和平均直徑分別進行測量，將數據粘貼至
Excel
表格，篩選出最大直徑
/
最小直徑小于
1.1
?
1.5
（比值參數根據顆粒的球形度情況適當設置）的顆粒，將篩選出顆粒的平均直徑數據使用
PERCENTILE(array,k)
函數，統計
k
為
0.1、0.5
和
0.9
時對應的粒徑，得到粒度分布
D10、D50
和
D90
數據
。
[0012]相對于現有技術，本專利技術的有益效果是：本專利技術通過設計了粉末樣品專用制樣設備，將粉末樣品進行分散后落入樣品臺，有效解決了現有直接將樣品放置樣品臺上檢測存在的團聚導致無法自動進行檢測只能依靠人工檢測的問題，本專利技術將粉末分散后可以通過自動進行檢測分析，無需人工一個個畫出直徑測量，有效提高了測量準確度，同時，通過智能自動識別檢測，1分鐘內即可完成，極大地提高了檢測效率
。
附圖說明
[0013]圖1為本專利技術結構示意圖；圖2為本專利技術結構主視圖
。
[0014]圖中：
1、
粉末樣品進樣口，
2、
高速氣流分散器，
3、
高壓氣管，
4、
樣品臺，
5、
導電膠帶，
6、
固定器，
7、
底座，
8、
粉末樣品，
9、
高壓氣體環形腔，
10、
環形噴射腔
。
具體實施方式
[0015]結合附圖和實施例對本專利技術做進一步描述，雖然進行清楚完整地描述，顯然所描述的實施例僅僅是本專利技術一部分實施例，而不是全部的實施例
。
基于本專利技術中的實施例，本領域普通技術人員在沒有做出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬本專利技術保護的范圍
。
[0016]如圖1和圖2所示，本專利技術的一種超細粉體
SEM
制樣設備，包括：底座7，帶導電膠帶5的樣品臺4，樣品臺4固定在固定器6上，固定器6安裝在底座7上，置于樣品臺上方的高速氣流分散器
2。
[0017]高速氣流分散器2為中空圓柱體，上部是粉末樣品進樣口1，下部為圓臺形開口，兩圓臺小口處連通，中部有高壓氣體環形腔9，其外連通高壓氣管3，內下部連通環形噴射腔
10
的進氣端，環形噴射腔
10
的出氣端與兩圓臺開口的小口處連通，環形噴射腔
10
進氣端與高壓氣體環形腔9連通，環形噴射腔
10
進氣端至出氣端由大到小漸變
。
[0018]高壓氣體經環形噴腔
10
產生高速氣流，在氣流交匯處產生激烈碰撞將團聚粉體分散
。
分散后的粉體被氣流帶到有導電膠帶5的樣品臺4上本文檔來自技高網...

【技術保護點】

【技術特征摘要】
1.
一種超細粉體
SEM
制樣設備，其特征在于：包括底座
、
安裝于底座上的樣品臺，置于樣品臺上方的高速氣流分散器，所述高速氣流分散器為中空圓柱體，上部和下部為圓臺形開口，兩圓臺形開口的小口處連通，中部有高壓氣體環形腔，所述高壓氣體環形腔外連通高壓氣管，內下部連通環形噴射腔的進氣端，所述環形噴射腔的出氣端與兩圓臺開口的小口處連通，環形噴射腔進氣端至出氣端由大到小漸變
。2.
如權利要求1所述的一種超細粉體
SEM
制樣設備，其特征在于：所述樣品臺上設有導電膠帶
。3.
如權利要求1所述的一種超細粉體
SEM
制樣設備，其特征在于：所述樣品臺通過固定器與底座連接，固定器高度可調節，通過調節其高度，控制粉體在導電膠帶分散密度
。4.
如權利要求3所述的一種超細粉體
SEM
制樣設備，其特征在于：所述固定器為固定柱，其頂部與樣品臺固定連接，底部通過氣缸與底座連接，通過調節氣缸使固定器升降，從而帶動樣品臺升降
。5.
如權利要求1所述的一種超細粉體
SEM
制樣設備，其特征在...

【專利技術屬性】
技術研發人員：蔣超，楊超，彭家斌，崔士洋，梁凱，范軍，
申請(專利權)人：江蘇博遷新材料股份有限公司，
類型：發明
國別省市：