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【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
一種用于多能譜X射線的定量CT成像方法和裝置
[0001]本專利技術(shù)涉及
CT(
英文全稱為“X
?
ray Computed Tsomography”,中文全稱為“X
射線計(jì)算機(jī)斷層掃描”)
成像
,特別是關(guān)于一種用于多能譜
X
射線的定量
CT
成像方法和裝置
。
技術(shù)介紹
[0002]在實(shí)際的醫(yī)學(xué)診斷與工業(yè)成像應(yīng)用中,
CT
設(shè)備使用的
X
射線通常是多色
(
多能量
)
的
。
不同物質(zhì)對(duì)
X
射線的吸收能力不相同,因此,如果直接利用傳統(tǒng)
CT
重建算法,其會(huì)引起物質(zhì)
CT
值得不準(zhǔn)確,重建圖像的質(zhì)量會(huì)受到影響,出現(xiàn)例如硬化偽影
(
即同質(zhì)異像
)
,或物質(zhì)區(qū)分能力低
(
異質(zhì)同像
)
等類型的問(wèn)題
。
[0003]為了解決以上問(wèn)題,研究人員近年來(lái)發(fā)展了能譜
CT
成像技術(shù)
。
能譜
CT
成像是使用不同
X
射線能譜來(lái)掃描物體,得到不同能量下的多組投影數(shù)據(jù)
。
通常的掃描方式是設(shè)置不同管電壓,或者采用光子計(jì)數(shù)探測(cè)器獲得多個(gè)能量區(qū)間的計(jì)數(shù)
。
重建得到物質(zhì)的電子密度和等效原子序數(shù)或基材料的密度圖像
。
...
【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
【技術(shù)特征摘要】
1.
一種用于多能譜
X
射線的定量
CT
成像方法,其特征在于,包括:將采集到的帶噪聲的投影數(shù)據(jù)輸入到下式
(1)
描述的基于
MSTV
約束的能譜
CT
成像優(yōu)化模型中,采用如下步驟重建基材料圖像
f
;式中,
v
為基材料圖像
f
的邊界圖像變量,為根據(jù)成像正過(guò)程的統(tǒng)計(jì)最大似然原理構(gòu)造得到數(shù)據(jù)項(xiàng),為采用
MS
模型與
TV
結(jié)合得到的正則項(xiàng),
I
為當(dāng)前估計(jì)的投影數(shù)據(jù),為采集到的投影數(shù)據(jù),
δ
P
(f)
表示用于控制基材料圖像非負(fù)的示性函數(shù),
α
、
β
和
ε
均為預(yù)先設(shè)置的優(yōu)化參數(shù),為
f
的梯度,
|| ||
l1
為
l1
范數(shù),
|| ||
為
l2
范數(shù),為
v
的梯度,
U
為單位矩陣;步驟1,采用固定兩個(gè)變量
f
和
v
的中的一個(gè)變量,求另一個(gè)變量的方式,將式
(1)
描述的優(yōu)化問(wèn)題轉(zhuǎn)變?yōu)榈谝蛔訂?wèn)題和第二子問(wèn)題,第一子問(wèn)題被描述為下式
(2)
,用于求解變量
f
,第二子問(wèn)題被描述為下式
(3)
,用于求解變量
v
;;式中,
R
為實(shí)數(shù)域,
N
x
為
x
軸方向上的基材料圖像
f
的離散,
N
y
為
y
軸方向基材料圖像
f
的離散,
F
convex
()
為根據(jù)
MOCCA
凸逼近,
Q(f0;
f)
在
z0點(diǎn)的近似凸函數(shù),
z0為凸逼近點(diǎn),
z
為凸優(yōu)化過(guò)程中間變量,
δ
P
()
為用于保證待求解變量非負(fù)的示性函數(shù);步驟2,使用如下式
(4)
獲取
f
在
n+1
次的迭代結(jié)果
f
(n+1)
:式中,
f
(n)
為
f
在
n
次的迭代結(jié)果,
γ
為步長(zhǎng),
K
為中間變量,
K
=
A(f0)Z
,
f0為
f
的初始值,
μ
為線性衰減系數(shù),為克羅克內(nèi)積,
I
size(X
,
1)
為大小為
size(X
,
1)
的單位矩陣,
X
為
X
射線與
f
交線長(zhǎng)矩陣,
I
m
為大小為
m
的單位矩陣,
(f
(n)
)
T
為
f
(n)
的轉(zhuǎn)置,為
Kf
的對(duì)偶變量的
n+1
次迭代結(jié)果,描述為下式
(5)
,為梯度轉(zhuǎn)置算子,為的對(duì)偶變量
n+1
次迭代結(jié)果,描述為下式
(6)
;;式中,
D、b、E
均為用于簡(jiǎn)化公式的中間量,隨
f
的更新而更新,在初始迭代時(shí),
E
=
r
?
(f0)
,
b
=
(D
?
E)Kf0?
r(f0)
,為理想情況下
X
射線穿過(guò)
f0,探測(cè)器接收到的數(shù)據(jù),
r
?
(f0)
=
max{
?
r(f0)
,
0}
,
∑1為步長(zhǎng),為
Kf
的對(duì)偶變量的
n
次迭代結(jié)果,為
f
的迭代解,
σ1為步長(zhǎng),為的對(duì)偶變量
n
次迭代結(jié)果,
σ2為步長(zhǎng),為的梯度,為
n+1
次迭代后的
z0,其描述下式
(7)
;式中,為
Kf
的對(duì)偶變量的
n
?1次迭代結(jié)果,為的梯度;步驟3,先將
v
在
[0
,
1]
范圍內(nèi)取值,
f
的邊緣的
v
的值設(shè)為0,
f
的內(nèi)部
v
的值設(shè)為1,再采用下式
(8)
描述的梯度下降法求解
v
(n+1)
:式中,
v
(n+1)
為
v
在
n+1
次迭代后的結(jié)果,次迭代后的結(jié)果,分別為
x、y
軸方向梯度算子,分別為的轉(zhuǎn)置算子,為傅里葉逆變換,為傅里葉變換
。2.
如權(quán)利要求1所述的用于多能譜
X
射線的定量
CT
成像方法,其特征在于,
CP
算法中的步長(zhǎng)
∑1、∑2、T1、T2更新與
K
的最大奇異值
||K||2和的最大奇異值相關(guān),具體包括:
L1接近于或等于
||K||2,
L2接近于或等于令對(duì)角陣
∑1,
∑2,
T1,
T2代替步長(zhǎng)
σ1、
σ2、
γ1、
γ2且滿足
3.
如權(quán)利要求1或2所述的用于多能譜
X
射線的定量
CT
成像方法,其特征在于,還包括對(duì)基材料的線性衰減系數(shù)
μ
進(jìn)行如下式
(9)
所示的預(yù)處理的步驟,則
f
′
=
pf
:式中,
μ
′
為
μ
預(yù)處理后的值,
p
為歸一化參數(shù),為
4.
如權(quán)利要求3所述的用于多能譜
X
射線的定量
CT
成像方法,其特征在于,描述為下式
(10)
:
5.
一種用于多能譜
X
射線的定量
...
【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員:朱溢佞,王琳,張慧滔,
申請(qǐng)(專利權(quán))人:首都師范大學(xué),
類型:發(fā)明
國(guó)別省市:
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