本實用新型專利技術是一種能夠快速測試鐵氧體磁導率的夾具結構,包括PCB板、底座下壓塊和夾具上壓塊,所述PCB板上印刷有NFC線圈,所述底座下壓塊覆蓋NFC線圈且壓接在PCB板的一端面上,所述夾具上壓塊與底座下壓塊壓接配合在一起,在所述夾具上壓塊和/或底座下壓塊的壓接面上設有與待測物的形狀相匹配的壓合槽,用于放入待測物,并且所述壓合槽的位置與NFC線圈所圍成的位置正對,用于檢測計算其內待測物的磁導率值。本實用新型專利技術把NFC天線的線圈單獨做成一個PCB板整合到夾具整體結構中,這種結構可以在不破壞鐵氧體片結構的前提下快速測試出其磁導率值。磁導率值。磁導率值。
【技術實現步驟摘要】
一種能夠快速測試鐵氧體磁導率的夾具結構
[0001]本技術涉及射頻、無線通信以及夾具工裝
,具體涉及一種能夠快速測試鐵氧體磁導率的夾具結構。
技術介紹
[0002]隨著無線通訊技術的發展,現在越來越多的通訊設備上面配備了NFC通訊功能,設備里面需要安裝NFC天線,NFC天線的結構主要是FPC線圈加鐵氧體片的模組結構。NFC天線需要把天線頻率點調試在13.56MHz位置。這個頻率點的位置是受線圈圈數感值的影響以及鐵氧體片磁導率的影響的。
[0003]鐵氧體片是NFC天線模塊的重要組成部分,當今世界,多種無線通訊設備上面都擁有NFC功能,在未來NFC有廣闊的應用前景,NFC天線里面鐵氧體的磁導率需要有一個測量其大概數值的簡易方法。常規的測試方法是要把鐵氧體片沖切成特定形狀后放到儀器設備里去測試磁導率,這種方式顯然不適用生產線量產的產品。而如果采用夾具輔助測試方式,則可以在不破壞鐵氧體片結構的前提下快速測試出其磁導率值。
[0004]本技術是基于在已有NFC天線成品頻率調正到13.56MHz的前提下,把NFC天線的線圈單獨做成一個PCB板,安裝在夾具中,通過單獨測試鐵氧體片和夾具PCB耦合的方式來得到一個頻率波形,把頻率調正到13.56Mhz的位置,把此批鐵氧體片作為參考金樣。后續不同批次的鐵氧體片只需放到此夾具中測試波形頻率,通過頻率點與13.56Mhz對比測出相對頻率偏移值,根據頻率的相對偏移值即可算出鐵氧體片的磁導率值。
技術實現思路
[0005]本技術的目的在于克服現有技術存在的問題,提供一種能夠快速測試鐵氧體磁導率的夾具結構。
[0006]為實現上述技術目的,達到上述技術效果,本技術通過以下技術方案實現:
[0007]一種能夠快速測試鐵氧體磁導率的夾具結構,包括PCB板、底座下壓塊和夾具上壓塊,所述PCB板上印刷有NFC線圈,所述底座下壓塊覆蓋NFC線圈且壓接在PCB板的一端面上,所述夾具上壓塊與底座下壓塊壓接配合在一起,在所述夾具上壓塊和/或底座下壓塊的壓接面上設有與待測物的形狀相匹配的壓合槽,用于放入待測物,并且所述壓合槽的位置與NFC線圈所圍成的位置正對,用于檢測計算其內待測物的磁導率值。
[0008]進一步的,所述底座下壓塊與PCB板間的壓接面上設有內凹的壓接槽,便于壓接時使得PCB板的一部分鑲入該壓接槽內固定。
[0009]進一步的,所述底座下壓塊的邊緣及對應的PCB板邊緣設有相匹配的螺絲孔,用于旋入相應的螺絲,以鎖住底座下壓塊與PCB板。
[0010]進一步的,所述PCB板上還印刷有連接NFC線圈的差分匹配電路。
[0011]進一步的,所述PCB板上還印刷有連接差分匹配電路及相應的SMA接頭的接口電路。
[0012]本技術的有益效果是:
[0013]本技術把NFC天線的線圈單獨做成一個PCB板整合到夾具整體結構中,這種結構可以在不破壞鐵氧體片結構的前提下快速測試出其磁導率值。
附圖說明
[0014]圖1為本技術的拆分爆炸結構圖;
[0015]圖2為本技術夾具壓合測試狀態圖;
[0016]圖3為利用本技術夾具進行的鐵氧體測試回波損耗圖。
[0017]圖中標號說明:A、PCB板,A1、NFC線圈,A2、差分匹配電路,A3、接口電路,B、底座下壓塊,B1、壓接槽,BA、螺絲孔,BC、壓合槽,C、夾具上壓塊,D、待測物。
具體實施方式
[0018]下面將參考附圖并結合實施例,來詳細說明本技術。
[0019]如圖1所示,一種能夠快速測試鐵氧體磁導率的夾具結構,包括PCB板A、底座下壓塊B和夾具上壓塊C,所述PCB板A上印刷有NFC線圈A1,所述底座下壓塊B覆蓋NFC線圈A1且壓接在PCB板A的一端面上,所述夾具上壓塊C與底座下壓塊B壓接配合在一起,在本實施例中,底座下壓塊B的下端面與PCB板A的上端面配合壓接,夾具上壓塊C的下端面與底座下壓塊B的上端面壓接配合在一起,在所述夾具上壓塊C和/或底座下壓塊B的壓接面上設有與待測物D的形狀相匹配的壓合槽BC,用于放入待測物D,在本實施例中,待測物D為待測的物鐵氧體片,夾具上壓塊C和底座下壓塊B的壓接面上皆設有壓合槽BC,并且所述壓合槽BC的位置與NFC線圈A1所圍成的位置正對,用于檢測計算其內待測物D的磁導率值。
[0020]所述底座下壓塊B與PCB板A間的壓接面上設有內凹的壓接槽B1,便于壓接時使得PCB板A的一部分鑲入該壓接槽B1內固定,鑲入該壓接槽B1的PCB板A部分至少包含全部的NFC線圈A1區域。
[0021]所述底座下壓塊B的邊緣及對應的PCB板A邊緣設有相匹配的螺絲孔BA,用于旋入相應的螺絲,以鎖住底座下壓塊B與PCB板A,在本實施例中,旋入的螺絲采用塑料或樹脂等非金屬螺絲,避免干擾檢測。
[0022]所述PCB板A上還印刷有連接NFC線圈A1的差分匹配電路A2。
[0023]所述PCB板A上還印刷有連接差分匹配電路A2及相應的SMA接頭的接口電路A3。在本實施例中,如圖2所示,PCB板A的差分匹配電路A2區域和接口電路A3區域無需鑲入底座下壓塊B的壓接槽B1內。
[0024]如圖2所示,此狀態表示把待測物D放到夾具的壓合槽BC里后的夾具壓合測試狀態,跟傳統的測試磁導率方式相比,傳統方式需要把待測物D沖切成圓環形狀放到儀器中去測試,要破壞待測物D結構且測試時間長,而本夾具的壓合槽BC可設計成與待測物D的形狀匹配,可以測試各種形狀的物鐵氧體片,不用破壞結構,方便測試產線批量的鐵氧體產品,此夾具結構已能滿足批量生產的鐵氧體產品的測試并能計算出鐵氧體產品的粗略磁導率值,如需要抽樣檢測,測試精確值,可再用專業的儀器去精測試。
[0025]如圖3所示,把參考金樣的鐵氧體片放在夾具中測得頻率點在13.56MHz,并提前知曉參考金樣鐵氧體片的磁導率值為μ,其它待測鐵氧體片測試時,根據測得的頻率偏移值
(基本為頻率偏移10khz, 磁導率偏移2H/M)算出磁導率偏移值μ
’
,然后即可算出待測鐵氧體磁導率值為μ
±
μ
’
。
[0026]以上所述僅為本技術的優選實施例而已,并不用于限制本技術,對于本領域的技術人員來說,本技術可以有各種更改和變化。凡在本技術的精神和原則之內,所作的任何對夾具、PCB板和待測物各種尺寸及形狀的修改,均應包含在本技術的保護范圍之內。
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【技術保護點】
【技術特征摘要】
1.一種能夠快速測試鐵氧體磁導率的夾具結構,包括PCB板(A)、底座下壓塊(B)和夾具上壓塊(C),其特征在于,所述PCB板(A)上印刷有NFC線圈(A1),所述底座下壓塊(B)覆蓋NFC線圈(A1)且壓接在PCB板(A)的一端面上,所述夾具上壓塊(C)與底座下壓塊(B)壓接配合在一起,在所述夾具上壓塊(C)和/或底座下壓塊(B)的壓接面上設有與待測物(D)的形狀相匹配的壓合槽(BC),用于放入待測物(D),并且所述壓合槽(BC)的位置與NFC線圈(A1)所圍成的位置正對,用于檢測計算其內待測物(D)的磁導率值。2.根據權利要求1所述的能夠快速測試鐵氧體磁導率的夾具結構,其特征在于,所述底座下壓塊(B)與PCB板(A)間的...
【專利技術屬性】
技術研發人員:周益民,李洪國,
申請(專利權)人:普爾思蘇州無線通訊產品有限公司,
類型:新型
國別省市:
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