【技術實現步驟摘要】
激光投影光機的圖像優化方法、裝置、設備及存儲介質
[0001]本專利技術涉及圖像優化領域，尤其涉及一種激光投影光機的圖像優化方法
、
裝置
、
設備及存儲介質
。
技術介紹
[0002]在當今科技發展的背景下，激光投影光機在商業
、
娛樂和工業等領域得到廣泛應用
。
然而，隨著激光投影技術的不斷進步，對投影圖像質量的要求也日益提高
。
為了滿足用戶對高質量投影圖像的需求，研究人員開始關注激光投影光機圖像優化方法的開發與改進
。
[0003]激光投影光機的圖像質量受多種因素的影響，其中之一是光機設備的工作溫度
。
溫度的變化會導致光學元件的性能變化，進而影響投影圖像的清晰度
、
顏色分布和畸變等特征，進而影響激光圖像的投影效果
。
技術實現思路
[0004]本專利技術提供了一種激光投影光機的圖像優化方法
、
裝置
、
設備及存儲介質，用于提高激光投影光機的激光圖像投影效果
。
[0005]本專利技術第一方面提供了一種激光投影光機的圖像優化方法，所述激光投影光機的圖像優化方法包括：對目標激光投影光機進行激光投影測試，并采集所述目標激光投影光機的光機設備溫度數據，同時，通過預置的激光投影成像系統獲取對應的
S
個第一激光投影圖像，
S
為正整數；對所述光機設備溫度數據進行溫度特征檢測和特...
【技術保護點】
【技術特征摘要】
1.
一種激光投影光機的圖像優化方法，其特征在于，所述激光投影光機的圖像優化方法包括：對目標激光投影光機進行激光投影測試，并采集所述目標激光投影光機的光機設備溫度數據，同時，通過預置的激光投影成像系統獲取對應的
S
個第一激光投影圖像，
S
為正整數；對所述光機設備溫度數據進行溫度特征檢測和特征區間劃分，得到多個設備特征溫度區間，并對所述多個設備特征溫度區間與所述
S
個第一激光投影圖像進行對應匹配，得到每個設備特征溫度區間對應的
F
個第二激光投影圖像，
F
為正整數，
F
＜
S
；分別對每個設備特征溫度區間對應的
F
個第二激光投影圖像進行投影圖像異常特征參數分析，得到每個第二激光投影圖像的投影圖像異常特征參數集合；對所述投影圖像異常特征參數集合進行綜合圖像評價指標計算，得到每個第二激光投影圖像的綜合圖像評價指標，并根據所述綜合圖像評價指標分別計算每個設備特征溫度區間對應的平均圖像評價指標；計算每個設備特征溫度區間對應的平均區間溫度值，并對所述平均區間溫度值和所述平均圖像評價指標進行溫度影響系數分析和矩陣轉換，得到對應的溫度
?
圖像關系影響矩陣；將所述溫度
?
圖像關系影響矩陣輸入預置的光機投影溫度控制分析模型進行光機投影溫度控制分析，得到光機投影溫度控制策略，并根據所述光機投影溫度控制策略對所述目標激光投影光機進行投影圖像動態優化
。2.
根據權利要求1所述的激光投影光機的圖像優化方法，其特征在于，所述對目標激光投影光機進行激光投影測試，并采集所述目標激光投影光機的光機設備溫度數據，同時，通過預置的激光投影成像系統獲取對應的
S
個第一激光投影圖像，
S
為正整數，包括：構建目標激光投影光機對應的激光投影成像系統，并通過所述激光投影成像系統生成對應的激光投影場；對目標激光投影光機進行激光投影測試，并獲取所述目標激光投影光機的深度參數集合，并基于預設的重聚焦算法對所述激光投影場進行參數計算，得到重聚焦參數集合；對所述深度參數集合以及所述重聚焦參數集合進行關系曲線構建，得到目標關系曲線，并根據所述目標關系曲線，對所述目標激光投影光機進行初始化標定；對所述目標激光投影光機進行激光投影區域識別和定位，得到目標激光投影區域，并通過所述激光投影成像系統對所述目標激光投影區域進行圖像采集，得到對應的
S
個第一激光投影圖像，
S
為正整數；采集所述目標激光投影光機的初始設備溫度數據，并對所述初始設備溫度數據進行數據預處理，得到光機設備溫度數據
。3.
根據權利要求1所述的激光投影光機的圖像優化方法，其特征在于，所述對所述光機設備溫度數據進行溫度特征檢測和特征區間劃分，得到多個設備特征溫度區間，并對所述多個設備特征溫度區間與所述
S
個第一激光投影圖像進行對應匹配，得到每個設備特征溫度區間對應的
F
個第二激光投影圖像，
F
為正整數，
F
＜
S
，包括：計算所述光機設備溫度數據的協方差矩陣，并對所述協方差矩陣進行特征分解，得到多個第一特征值以及每個第一特征值對應的第一特征向量；
對所述多個第一特征值與預設目標值進行比較，得到每個第一特征值的特征值比較結果，并根據所述特征值比較結果對所述多個第一特征值進行特征值篩選，得到多個第二特征值；獲取所述多個第二特征值對應的第二特征向量，并根據所述多個第二特征值以及所述第二特征向量生成對應的主成分矩陣；根據所述主成分矩陣對所述光機設備溫度數據進行溫度數據投影，得到目標設備溫度數據；對所述目標設備溫度數據進行溫度特征檢測，得到多個溫度特征檢測點，并根據所述多個溫度特征檢測點對所述目標設備溫度數據進行特征區間劃分，得到多個設備特征溫度區間；獲取所述多個設備特征溫度區間的第一時間戳數據，并獲取所述
S
個第一激光投影圖像的第二時間戳數據；對所述第一時間戳數據和所述第二時間戳數據進行匹配，得到時間戳數據匹配結果，并根據所述時間戳數據匹配結果確定每個設備特征溫度區間對應的
F
個第二激光投影圖像，
F
為正整數，
F
＜
S。4.
根據權利要求1所述的激光投影光機的圖像優化方法，其特征在于，所述分別對每個設備特征溫度區間對應的
F
個第二激光投影圖像進行投影圖像異常特征參數分析，得到每個第二激光投影圖像的投影圖像異常特征參數集合，包括：通過預置的圖像清晰度檢測模型，分別對每個第二激光投影圖像進行圖像清晰度檢測，得到每個第二激光投影圖像的圖像清晰度參數，所述圖像清晰度檢測模型包括兩層卷積網絡
、
池化層以及歸一化函數；通過預置的圖像顏色分布檢測模型，分別對每個第二激光投影圖像進行圖像顏色分布檢測，得到每個第二激光投影圖像的圖像顏色分布參數，所述圖像顏色分布檢測模型為高斯混合模型；通過預置的圖像畸變檢測模型，分別對每個第二激光投影圖像進行圖像畸變檢測，得到每個第二激光投影圖像的圖像畸變參數，所述圖像畸變檢測模型為感知模型；根據所述圖像清晰度參數
、
所述圖像顏色分布參數以及所述圖像畸變參數生成每個第二激光投影圖像的投影圖像異常特征參數集合
。5.
根據權利要求4所述的激光投影光機的圖像優化方法，其特征在于，所述對所述投影圖像異常特...
【專利技術屬性】
技術研發人員：任治輝，吳新民，
申請(專利權)人：洛陽拜波赫光電科技有限公司，
類型：發明
國別省市：
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