【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
本專利技術(shù)涉及電路板測試，具體涉及一種帶旋鈕電路板測試用的測試設(shè)備。
技術(shù)介紹
1、電子行業(yè)針對電路板均會設(shè)計相應(yīng)夾具以進(jìn)行檢測，而目前對于滯后的手工測試及日益提升的產(chǎn)能效率需求，電路板在線測試成為一種趨勢，利用自動化測試設(shè)備，再配合現(xiàn)有的ict、fct測試設(shè)備，可以組成一條完整的自動化測試線，實(shí)現(xiàn)無人值守，自動測試，并達(dá)到提高效率、減少人工的目的。
2、對帶旋鈕的電路板進(jìn)行測試，通過旋轉(zhuǎn)電路板上的旋鈕控制輸入變量，如電流、電壓和頻率等變量，再檢測電路板的輸出變量的實(shí)際值與理論值是否一致，進(jìn)而可以檢測該電路板是否合格。目前，通常采用的是人工手持測試設(shè)備或采用半自動化測試被對帶旋鈕的電路板進(jìn)行測試，采用這種方式測試帶旋鈕的電路板，其一、需要大量人工參與，浪費(fèi)人力，提高測試成本；其二、人工參與測試，存在安全隱患，人身安全得不到保證，容易發(fā)生安全事故；其三、人工參與測試，旋轉(zhuǎn)旋鈕的角度不易控制，導(dǎo)致測試不精確，測試的精度不高；其四、電路板上的旋鈕眾多，測試人員容易漏檢，容易造成電路板檢測不全，降低電路板出廠品質(zhì)。
3、因此，急需一種測試裝置，可以實(shí)現(xiàn)對帶旋鈕的電路板進(jìn)行測試的測試設(shè)備。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
1、為解決上述技術(shù)問題，本專利技術(shù)提供了一種帶旋鈕電路板測試用的測試設(shè)備，解決了采用傳統(tǒng)方式測試帶旋鈕的電路板，其一、需要大量人工參與，浪費(fèi)人力，提高測試成本；其二、人工參與測試，存在安全隱患，人身安全得不到保證，容易發(fā)生安全事故；其三、人工參與測試，旋轉(zhuǎn)旋鈕的角度不
2、本專利技術(shù)的技術(shù)方案是：一種帶旋鈕電路板測試用的測試設(shè)備，該測試設(shè)備包括機(jī)架，沿所述機(jī)架高度方向自下而上依次設(shè)置有測試機(jī)構(gòu)、旋鈕旋轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)；
3、所述測試機(jī)構(gòu)包括母夾具組件、快換夾具組件，所述快換夾具組件能夠與所述母夾具組件之間快速插入或拔出，快換夾具組件包括用于夾持固定線路板的夾持固定單元；
4、所述旋鈕旋轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)包括支架、旋鈕組件和用于驅(qū)動所述旋鈕組件移動的驅(qū)動組件；
5、所述夾持固定單元固定電路板，快換夾具組件插入母夾具組件，所述驅(qū)動組件驅(qū)動旋鈕組件對電路板上的旋鈕進(jìn)行旋轉(zhuǎn)測試，測試結(jié)束之后拔出該快換夾具組件，下一組快換夾具組件再次插入母夾具組件一次進(jìn)行測試。
6、優(yōu)選的，母夾具組件包括底座和擋板，所述擋板設(shè)置在所述底座的上部的后側(cè)；
7、底座設(shè)置有安裝腔，所述安裝腔內(nèi)設(shè)置有若干滾筒，若干所述滾筒平行設(shè)置；
8、底座的上部的兩側(cè)設(shè)置有第一限位組件和第二限位組件，所述第一限位組件包括第一限位板、連接板和第一驅(qū)動件，所述連接板的一端與所述第一限位板連接，連接板的另一端與所述第一驅(qū)動件的移動端連接，第一限位板與底座之間通過滑軌滑動連接；
9、擋板靠近滾筒的一側(cè)設(shè)置有若干第一快插板。
10、優(yōu)選的，底座的下部對稱設(shè)置有兩推動組件，所述推動組件包括第二驅(qū)動件、側(cè)板，推動板和推動桿，所述側(cè)板設(shè)置在底座的下部，側(cè)板設(shè)置有導(dǎo)向孔，所述第二驅(qū)動件設(shè)置在側(cè)板的一側(cè)，所述推動板通過滑軌設(shè)置在側(cè)板的一側(cè)，第二驅(qū)動件的移動端與推動板連接，推動桿與推動板之間轉(zhuǎn)動連接，推動桿設(shè)置有推動部和導(dǎo)向輪，所述導(dǎo)向輪能夠在所述導(dǎo)向孔內(nèi)滾動以驅(qū)動所述推動部向前或向后移動，同時向上或向下移動；
11、另外，底座設(shè)置有兩讓位槽，推動部能夠插入所述讓位槽內(nèi)，以驅(qū)動底座向前或向后移動。
12、第一限位板的上部設(shè)置有若干第一滾輪，所述第二限位組件包括第二限位板，所述第二限位板的上部設(shè)置有若干第二滾輪。
13、優(yōu)選的，快換夾具組件還包括殼體，夾持固定單元安裝在所述殼體的內(nèi)部，夾持固定單元包括底板、兩安裝架、支撐單元、兩夾持單元和兩快插單元，兩對稱設(shè)置的所述安裝架設(shè)置在所述底板上部的兩端，所述支撐單位設(shè)置在底板的上部，且支撐單元位于兩安裝架之間，兩對稱設(shè)置的所述支撐單元設(shè)置在支撐單元的兩側(cè)，兩對稱設(shè)置的快插單元分別與兩安裝架連接。
14、優(yōu)選的，支撐單元包括定位板和驅(qū)動板，所述驅(qū)動板通過連接桿設(shè)置在所述定位板的下部，定位板的上部設(shè)置有若干定位銷。
15、優(yōu)選的，夾持單元包括第三驅(qū)動件、滑動板、若干安裝板和若干夾爪，所述第三驅(qū)動件設(shè)置在底板的上部，第三驅(qū)動件的移動端與所述滑動板連接，滑動板通過滑軌設(shè)置在底板的上部，若干所述安裝板設(shè)置在滑動板的上部，所述夾爪通過銷釘設(shè)置在安裝板的一側(cè)；
16、安裝板設(shè)置有夾爪的一側(cè)設(shè)置有第一擋塊和第二擋塊，所述銷釘設(shè)置在所述第一擋塊和所述第二擋塊一側(cè)的中間，第二擋塊與夾爪之間設(shè)置有第一彈簧；
17、夾爪的上部設(shè)置有壓合部，夾爪的下部設(shè)置有凸起部。
18、優(yōu)選的，快插單元包括第四驅(qū)動件和第二快插板，所述第二快插板與所述第四驅(qū)動件的移動端連接。
19、優(yōu)選的，驅(qū)動組件包括x軸模組、y軸模組和z軸模組，所述y軸模組與機(jī)架連接，所述x軸模組設(shè)置在y軸模組的移動端，所述z軸模組設(shè)置在x軸模組的移動端，所述旋鈕組件設(shè)置z軸模組的移動端，旋鈕組件的一側(cè)還設(shè)置有相機(jī)。
20、優(yōu)選的，旋鈕組件包括框架和若干旋轉(zhuǎn)單元，若干所述旋轉(zhuǎn)單元設(shè)置在所述框架的內(nèi)部和或上部；
21、旋轉(zhuǎn)單元包括第五驅(qū)動件、旋鈕盤、分度盤、第一同步輪、支座、旋鈕軸和傳感器，所述第五驅(qū)動件設(shè)置在所述旋鈕盤的一側(cè)，第五驅(qū)動件的輸出端依次與所述分度盤和所述第一同步輪連接，第一同步輪與所述旋鈕軸之間通過同步帶連接，旋鈕軸與旋鈕盤之間通過軸承轉(zhuǎn)動連接，所述傳感器設(shè)置在旋鈕盤的一側(cè)，傳感器用于感應(yīng)分度盤旋轉(zhuǎn)的角度；
22、旋鈕盤與框架之間通過所述支座連接。
23、優(yōu)選的，旋鈕軸包括第二同步輪、轉(zhuǎn)軸和旋鈕抓手，所述第二同步輪套設(shè)在所述轉(zhuǎn)軸的一端，轉(zhuǎn)軸的另一端設(shè)置有裝配腔，所述旋鈕抓手通過第二彈簧設(shè)置在所述裝配腔內(nèi)。
24、本專利技術(shù)的有益技術(shù)效果是：
25、本專利技術(shù)提供一種帶旋鈕電路板測試用的測試設(shè)備，通過旋轉(zhuǎn)各個旋鈕抓手對電路板上的旋鈕進(jìn)行旋轉(zhuǎn)測試，避免了漏檢，提高電路板出廠品質(zhì)，同時，實(shí)現(xiàn)自動化測試，提高了測試效率，節(jié)約檢測成本，降低了人工成本，另外，提高了測試的安全性，避免了人員安全事故的發(fā)生。
26、同時，通過傳感器感應(yīng)分度盤旋轉(zhuǎn)的角度，第五驅(qū)動件驅(qū)動旋轉(zhuǎn)軸精確的旋轉(zhuǎn)特定角度，提高了電路板的測試的精確性。
本文檔來自技高網(wǎng)...【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
1.一種帶旋鈕電路板測試用的測試設(shè)備，其特征在于：該測試設(shè)備包括機(jī)架，沿所述機(jī)架高度方向自下而上依次設(shè)置有測試機(jī)構(gòu)、旋鈕旋轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)；
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種帶旋鈕電路板測試用的測試設(shè)備，其特征在于：母夾具組件包括底座和擋板，所述擋板設(shè)置在所述底座的上部的后側(cè)；
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種帶旋鈕電路板測試用的測試設(shè)備，其特征在于：底座的下部對稱設(shè)置有兩推動組件，所述推動組件包括第二驅(qū)動件、側(cè)板，推動板和推動桿，所述側(cè)板設(shè)置在底座的下部，側(cè)板設(shè)置有導(dǎo)向孔，所述第二驅(qū)動件設(shè)置在側(cè)板的一側(cè)，所述推動板通過滑軌設(shè)置在側(cè)板的一側(cè)，第二驅(qū)動件的移動端與推動板連接，推動桿與推動板之間轉(zhuǎn)動連接，推動桿設(shè)置有推動部和導(dǎo)向輪，所述導(dǎo)向輪能夠在所述導(dǎo)向孔內(nèi)滾動以驅(qū)動所述推動部向前或向后移動，同時向上或向下移動；
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種帶旋鈕電路板測試用的測試設(shè)備，其特征在于：快換夾具組件還包括殼體，夾持固定單元安裝在所述殼體的內(nèi)部，夾持固定單元包括底板、兩安裝架、支撐單元、兩夾持單元和兩快插單元，兩對稱設(shè)置的所述安裝架設(shè)置在所述底板上部的兩端，所述支撐單位
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種帶旋鈕電路板測試用的測試設(shè)備，其特征在于：支撐單元包括定位板和驅(qū)動板，所述驅(qū)動板通過連接桿設(shè)置在所述定位板的下部，定位板的上部設(shè)置有若干定位銷。
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種帶旋鈕電路板測試用的測試設(shè)備，其特征在于：夾持單元包括第三驅(qū)動件、滑動板、若干安裝板和若干夾爪，所述第三驅(qū)動件設(shè)置在底板的上部，第三驅(qū)動件的移動端與所述滑動板連接，滑動板通過滑軌設(shè)置在底板的上部，若干所述安裝板設(shè)置在滑動板的上部，所述夾爪通過銷釘設(shè)置在安裝板的一側(cè)；
7.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種帶旋鈕電路板測試用的測試設(shè)備，其特征在于：快插單元包括第四驅(qū)動件和第二快插板，所述第二快插板與所述第四驅(qū)動件的移動端連接。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種帶旋鈕電路板測試用的測試設(shè)備，其特征在于：驅(qū)動組件包括X軸模組、Y軸模組和Z軸模組，所述Y軸模組與機(jī)架連接，所述X軸模組設(shè)置在Y軸模組的移動端，所述Z軸模組設(shè)置在X軸模組的移動端，所述旋鈕組件設(shè)置Z軸模組的移動端，旋鈕組件的一側(cè)還設(shè)置有相機(jī)。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的一種帶旋鈕電路板測試用的測試設(shè)備，其特征在于：旋鈕組件包括框架和若干旋轉(zhuǎn)單元，若干所述旋轉(zhuǎn)單元設(shè)置在所述框架的內(nèi)部和或上部；
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的一種帶旋鈕電路板測試用的測試設(shè)備，其特征在于：旋鈕軸包括第二同步輪、轉(zhuǎn)軸和旋鈕抓手，所述第二同步輪套設(shè)在所述轉(zhuǎn)軸的一端，轉(zhuǎn)軸的另一端設(shè)置有裝配腔，所述旋鈕抓手通過第二彈簧設(shè)置在所述裝配腔內(nèi)。
...【技術(shù)特征摘要】
1.一種帶旋鈕電路板測試用的測試設(shè)備，其特征在于：該測試設(shè)備包括機(jī)架，沿所述機(jī)架高度方向自下而上依次設(shè)置有測試機(jī)構(gòu)、旋鈕旋轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)；
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種帶旋鈕電路板測試用的測試設(shè)備，其特征在于：母夾具組件包括底座和擋板，所述擋板設(shè)置在所述底座的上部的后側(cè)；
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種帶旋鈕電路板測試用的測試設(shè)備，其特征在于：底座的下部對稱設(shè)置有兩推動組件，所述推動組件包括第二驅(qū)動件、側(cè)板，推動板和推動桿，所述側(cè)板設(shè)置在底座的下部，側(cè)板設(shè)置有導(dǎo)向孔，所述第二驅(qū)動件設(shè)置在側(cè)板的一側(cè)，所述推動板通過滑軌設(shè)置在側(cè)板的一側(cè)，第二驅(qū)動件的移動端與推動板連接，推動桿與推動板之間轉(zhuǎn)動連接，推動桿設(shè)置有推動部和導(dǎo)向輪，所述導(dǎo)向輪能夠在所述導(dǎo)向孔內(nèi)滾動以驅(qū)動所述推動部向前或向后移動，同時向上或向下移動；
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種帶旋鈕電路板測試用的測試設(shè)備，其特征在于：快換夾具組件還包括殼體，夾持固定單元安裝在所述殼體的內(nèi)部，夾持固定單元包括底板、兩安裝架、支撐單元、兩夾持單元和兩快插單元，兩對稱設(shè)置的所述安裝架設(shè)置在所述底板上部的兩端，所述支撐單位設(shè)置在底板的上部，且支撐單元位于兩安裝架之間，兩對稱設(shè)置的所述支撐單元設(shè)置在支撐單元的兩側(cè)，兩對稱設(shè)置的快插單元分別與兩安裝架連接。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種帶旋鈕電路板測試用的測試設(shè)備，其特征在于：支撐單元包括定位板和...
【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：徐兵，操根平，張宜坤，段友任，丁森，
申請(專利權(quán))人：蘇州歐菲特電子股份有限公司，
類型：發(fā)明
國別省市：
還沒有人留言評論。發(fā)表了對其他瀏覽者有用的留言會獲得科技券。